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Technisches Gebiet
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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine Anordnung zur optischen Inspektion
von Bestückungsvorgängen in herkömmlichen
Bestückanordnungen, insbesondere in einem Bestückautomaten
zum Bestücken von Substraten mit elektronischen Bauelementen.
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Stand der Technik
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Bei
automatischen Bestückungsvorgängen werden elektronische
Bauelemente in Bestückanordnungen, insbesondere Bestückautomaten,
mit Hilfe von Bauelementehalteeinrichtungen auf ein Substrat (z.
B. Leiterplatte) aufgebracht. Dabei werden mit der Bauelementehalteeinrichtung,
beispielsweise einem Bestückkopf, der mindestens einen
Greifer oder eine Saugpipette oder auch eine Mehrzahl von Greifern bzw.
Saugpipetten aufweisen kann, Bauelemente aus Zuführeinrichtungen
entnommen. Die Bauelemente werden dann mit Hilfe eines so genannten
Bestückportals, an welchem die Bauelementehalteeinrichtung
beweglich angebracht ist, in Richtung eines Substrats bewegt und
dort an einer vorgegebenen Position auf das Substrat aufgesetzt.
Das Bestückportal ist dabei beispielsweise mittels Portalführungen
in zumindest eine Richtung, beispielsweise in Y-Richtung verfahrbar.
Durch eine bewegliche Anbringung der Bauelementehalteeinrichtung
kann beispielsweise ein zweidimensionale bzw. X-Y-Positionierbarkeit
der Bauelementehalteeinrichtung bzw. des Bestückkopfes
für ein exaktes Platzieren des Bauelements erreicht.
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In
der Regel werden die Substrate mit Hilfe von Transportvorrichtungen
in einer Transportrichtung durch eine Bestücklinie bewegt
und dabei mit verschiedenen Bauelementen bestückt. In einer
Bestücklinie können mehrere Bestückautomaten
bzw. Bestückanordnungen vorgesehen sein. Zu Beginn einer
solchen Bestücklinie wir in der Regel ein Drucker zum Bedrucken
der Substrate – üblicherweise mit Lotpaste – aufgebaut
und am Ende einer Bestücklinie ist ein so genannter Reflow-Ofen
vorgesehen, welcher dafür sorgt, dass die Bauelemente durch Schmelzen
der Lotpaste mit dem Substrat verbunden werden.
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Zur
Inspektion der Qualität des Druckvorgangs bzw. zur Inspektion
der bestückten Substrate bzw. Leiterplatten werden heutzutage,
wie beispielsweise in der Schrift
JP 2006237236 A beschrieben und dargestellt,
separate Automaten verwendet. Diese Automaten weisen eine so genannte
Automated-Optical-Inspection(AOI)-Funktion auf, wobei mit Hilfe
eines Bildverarbeitungssystem bedruckte bzw. bestückte
Substrate inspiziert, Fehler gefunden und gemeldet werden können.
Die AOI-Automaten befinden sich beispielsweise in der Bestücklinie
im Anschluss an den Drucker bzw. im Anschluss an einen Bestückautomaten.
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Ein
Einsatz von AOI-Automaten zur optischen Inspektion als unabhängige
Einheiten in einer Bestücklinie von Bestückvorgängen
weist allerdings den Nachteil auf, dass ihr Einsatz in der Fertigung
mit hohen Kosten, einem hohem Platzbedarf und geringer Flexibilität
verbunden ist. So muss beispielsweise eine Kontrolle von unterschiedlich
bestückten Substraten in einer Bestücklinie im
Voraus geplant werden, da spätere Änderungen nur
mit großem Aufwand bzw. mit einem Umbau der Bestücklinie
und eventuellen Stillstandzeiten möglich sind. Auch ein
Ausfall eines AOI-Automaten kann zum Stillstand der Fertigung bzw.
der Bestücklinie führen.
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Wie
aus der Schrift
US
2006/0174480 A1 hervorgeht, kann um Stellplatz einzusparen
und die optische Inspektion direkt nach dem Bestücken des Substrats
durchzuführen, eine optische Aufnahmeeinheit – bestehend
aus beispielsweise mehreren Kameras in einem Deckenbereich bzw.
im Bereich der oberen Abdeckung der Bestückanordnung bzw. des
Bestückautomaten angebracht sein. Mit dieser optischen
Aufnahmeeinheit können dann Bilder des Substrat beispielsweise
vor und/oder nach einem Bestückvorgang aufgenommen und
an eine außerhalb der Bestückanordnung liegende
Steuer- und Verarbeitungseinheit weitergeleitet werden. Da die Aufnahmeeinheit
an der Decke der Bestückanordnung fix angebracht ist, muss
das Substrat für die Aufnahme jeweils zu einer für
die optische Inspektion vorbestimmte Position innerhalb der Bestückanordnung transferiert
und dort für die jeweiligen Aufnahmen festgehalten werden.
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Ein
Problem der in der Schrift
US 2006/0174480 A1 beschriebenen optischen
Aufnahmeeinheit besteht allerdings darin, dass eine optische Inspektion
des unbestückten bzw. bestückten Substrats nur
an einer vordefinierten Position durchgeführt werden kann,
an welche das Substrat transportiert werden muss. Dadurch ergeben
sich für die optische Inspektion während eines
Bestückvorgangs ein zusätzlicher Kosten- und Zeitaufwand
sowie eine geringere Flexibilität. Außerdem erweist
sich eine außerhalb der Bestückanordnung gelegene
Steuer- und Verarbeitungseinheit als nachteilig, da für
diese zusätzlich Stellplatz vorgesehen werden muss.
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Darstellung der Erfindung
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Der
Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Anordnung zur optischen
Inspektion für Bestückvorgänge in herkömmlichen
Bestückanordnungen anzugeben, durch welche eine optische
Inspektion auf kostengünstige und platzsparende Weise flexibel
während eines Bestückvorgangs durchgeführt
werden kann.
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Diese
Aufgabe wird durch eine Anordnung der eingangs genannten Art mit
den Merkmalen gemäß dem unabhängigen
Patentanspruch 1 gelöst. Vorteilhafte Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung sind in den abhängigen Ansprüchen
beschrieben.
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Die
Lösung der Aufgabe erfolgt damit durch eine Anordnung der
eingangs angegebenen Art, wobei ein Portal für eine optische
Inspektion und eine mobile Datenverarbeitungseinheit in der Weise
in eine herkömmliche Bestückanordnung integriert sind,
dass das Portal für die optische Inspektion anstelle von
zumindest einem Bestückportal oder als zusätzliches
Portal vorgesehen ist und dass an einem für Zuführeinrichtungen
vorgesehenen Stellplatz der Bestückanordnung die mobile
Datenverarbeitungseinheit angebracht ist.
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Der
Hauptaspekt der erfindungsgemäß vorgeschlagenen
Lösung besteht darin, dass mit Hilfe des universell einsetzbaren
Portals für die optische Inspektion und eine mobile Datenverarbeitungseinheit,
welche auf einen Stellplatz für Zuführeinrichtungen
angepasst ist, eine optische Inspektion kosten- und platzsparend
durchführbar ist. Außerdem ist die erfindungsgemäße
Anordnung durch einen modularen Aufbau flexibel einsetzbar und an
die jeweilige Produktion auf einfache Weise anpassbar. Zusätzlich kann
ein Austausch des Portals für die optische Inspektion bzw.
der Datenverarbeitung rasch und ohne lange Ausfallzeiten durchgeführt
werden. Aufgrund des modularen Aufbaus der Anordnung zur optischen
Inspektion kann eine Wartung oder Reparatur abseits einer produzierenden
Bestückanordnung oder Bestücklinie vorgenommen
werden. Die mobile Datenverarbeitungseinheit weist noch zusätzlich
den Vorteil auf, dass offline – das heißt ohne
Anbindung an eine Bestückanordnung – verschiedene
Programme wie beispielsweise eine Adaption an eine Produktion, eine
Auswertung bereits abgeschlossener Produktionsaufträge,
Testversuche oder auch Wartungs- und Optimierungsarbeiten durchgeführt
werden können, wodurch ebenfalls Zeit und Kosten gespart
bzw. Stillstandzeiten reduziert werden.
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Es
ist vorteilhaft, wenn das Portal für die optische Inspektion
eine modulare Portaleinheit zur Anbringung in der Bestückanordnung,
einen Kabelschlepp zur Verbindung mit der Bestückanordnung und
eine sogenannten AOI-Einrichtung umfasst. Durch die modulare Portaleinheit
kann das Portal für die optische Inspektion rasch – beispielsweise
mit wenigen Handgriffen – in der Bestückanordnung
zusätzlich oder anstatt eines Bestückportals in
zumindest eine Richtung verfahrbar (z. B. Y-Richtung) angebracht
werden. Durch den Kabelschlepp ist das optische Portal z. B. elektrisch
für eine Stromversorgung und/oder datentechnisch mit der
Bestückanordnung verbunden.
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Die
sogenannte AOI-Einrichtung, welche mindestens eine Kamera (z. B.
Zeilenkamera, etc.) oder einen Scanner für die optische
Inspektion von Substraten umfasst, ist idealerweise in zumindest
einer Richtung (z. B. X-Richtung) verfahrbar an der modularen Portaleinheit
angebracht, wodurch mit der AOI-Einrichtung auf einfache Weise präzise
Scan- bzw. Inspektionsergebnisse der Substrate erzielt werden können.
Für einen Antrieb bzw. eine Positionierung der AOI-Einrichtung
werden in vorteilhafter Weise Linearmotoren eingesetzt, welche z.
B. von der Bestückanordnung bereitgestellt werden.
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Alternativ
ist aber auch eine feste Anbindung der AOI-Einrichtung mit der modularen
Portaleinheit oder einen Integration einer oder mehrerer AOI-Einrichtungen
in die modulare Portaleinheit denkbar, wobei die modulare Portaleinheit
bzw. das gesamte Portal zur optischen Inspektion in eine erste Richtung, beispielweise
in Y-Richtung, verfahrbar und positionierbar ist. Eine Positionierung
in eine zweite Richtung (z. B. X-Richtung) kann dann durch eine
Transporteinrichtung für das Substrat (z. B. Fließband
für Leiterplattentransport, etc.) der Bestückanordnung vorgenommen
werden.
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Es
ist auch günstig, wenn für eine Verbindung des
Portals für die optische Inspektion mit der Datenverarbeitungseinheit
eine Schnittstelle vorgesehen ist. Die Schnittstelle wird idealerweise
von der Bestückanordnung bereitgestellt und kann beispielsweise
an einem Ende des Kabelschlepp angebracht sein. Dadurch kann das
Portal für die optische Inspektion auf einfache Weise und
ohne Zusatzaufwand mit der mobilen und an einem für Zuführeinrichtungen
vorgesehenen Stellplatz der Bestückanordnung untergebrachten
Datenverarbeitungseinheit verbunden werden kann.
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Bei
einer bevorzugten Fortbildung der Erfindung ist die mobile Datenverarbeitungseinheit
dazu eingerichtet, neben einem ersten Portal für die optische
Inspektion zumindest ein zweites Portal für die optische
Inspektion anzusteuern. Auf diese Weise können weitere
Kombinationsvorteile durch den modularen Aufbau der Anordnung zur
optischen Inspektion erzielt werden. Da das Portal für
die optische Inspektion an einer beliebigen Stelle innerhalb einer Bestückanordnung
bzw. an jeder Stelle, an welcher ein Bestückportal anbringbar
ist, angebracht werden kann, können für unterschiedliche
Inspektionsschritte beispielsweise zwei Portale für die
optische Inspektion in einer Bestückanordnung eingesetzt
werden. Die Ansteuerung und Datenauswertung kann allerdings dann
mit einer mobilen Datenverarbeitungseinheit erfolgen, wodurch Platz
gespart wird und bessere oder vielfältigere Inspektionsergebnisse
erzielt werden können.
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Es
ist auch vorteilhaft, wenn eine zweite Schnittstelle vorgesehen
ist, durch welche eine Integration in eine Stationssoftware der
Bestückanordnung oder in eine Liniensoftware der Bestücklinie durchführbar
ist. Durch eine derartige Integration von optischer Inspektion und
Bestückung können beispielsweise ohne zusätzlichen
Aufwand Fehlermeldungen (z. B. ein gemeldeter Abholverlust eines
Bauelements beim Bestücken, etc.) direkt und unmittelbar überprüft
und gegebenenfalls in der gleichen Bestückanordnung bzw.
im gleichen Bestückautomaten nachbestückt werden.
Dadurch können Fehler rasch und ohne Zeitverlust sowie
ohne aufwendige Überprüfung behoben werden.
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Zweckmäßigerweise
weist die Datenverarbeitungseinheit neben einem Hauptprozessor und
einer Speichereinheit eine Steuer einheit und eine geeignete Visualisierungseinheit
auf. Mit Hilfe der Steuereinheit und/oder der Visualisierungseinheit
können auf vorteilhafte Weise offline z. B. Programme optimiert
oder neu adaptiert bzw. für neue Produktionen aufgespielt
und/oder Auswertungen von Inspektionsergebnissen durchgeführt
werden. Es ist daher günstig, wenn auch ein Einsatz der
Anordnung zur optischen Inspektion zu Wartungs-, Optimierungs-,
Test- und/oder Programmierungszwecken außerhalb der Bestückanordnung
vorgesehen ist. Für diesen Offline-Einsatz kann einen Minimalversion
der erfindungsgemäßen Anordnung zur optischen
Inspektion verwendet werden, welche beispielsweise aus einer Kombination
der AOI-Einrichtung und der mobilen Dateneinheit besteht.
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Kurzbeschreibung der Zeichnung
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Die
Erfindung wird nachfolgend in beispielhafter Weise anhand der beigefügten
Figur erläutert. Es zeigt 1 beispielhaft
und schematisch die erfindungsgemäße Anordnung
zur optischen Inspektion für Bestückvorgänge
in einer herkömmlichen Bestückanordnung.
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Ausführung der Erfindung
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In 1 ist
beispielhaft und in schematischer Weise eine herkömmliche
Bestückanordnung BA zum Bestücken von Substraten
LP1, LP2 mit elektronischen Bauelementen, in welche die erfindungsgemäße
Anordnung zur optischen Inspektion für Bestückvorgänge
integriert ist, dargestellt.
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Die
Bestückanordnung BA umfasst eine Basis B, bei welcher auf
beiden Seiten Stellplätze für eine Unterbringung
von auf Wagen gelagerten Zuführeinrichtungen ZF für
elektronische Bauelemente vorgesehen sind. An beiden Anschlussenden, über welche
die Bestückanordnung BA beispielsweise mit weiteren Bestückanordnungen
BA, einem Drucker und/oder einem Reflow-Ofen zu einer Bestücklinie kombiniert
werden kann, sind eine erste Portalführung PF1 und eine
zweite Portalführung PF2 zum Anbringen bzw. Einhängen
von Bestückportalen und/oder Portalen zur optischen Inspektion
AOI angebracht.
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Für
den Bestückvorgang sind mehrere Zuführeinrichtungen
ZF auf einem Wagen untergebracht. Die Wagen mit den Zuführeinrichtungen
ZF können dann für eine Fertigung von bestückten
Substraten an den jeweiligen Stellplätzen der Bestückanordnung
BA angebracht und mit der Bestückanordnung BA verbunden
werden.
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Die
in 1 beispielhaft dargestellte Bestückanordnung
BA umfasst weiters zwei Transporteinrichtungen LT1, LT2 für
einen Transport des Substrats bzw. der Leiterplatten LP1, LP2 in
einen Transportrichtung Y. Mit Hilfe der Transporteinrichtungen LT1,
LT2 (z. B. Fließbänder) werden die Leiterplatten LP1,
LP2 in der Bestückanordnung BA bzw. von einer Einheit zu
einer nächsten Einheit einer Bestücklinie weitergeleitet.
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Auf
einer ersten Seite der beispielhaften Bestückanordnung
BA, an welcher ein Bestückportal vorgesehen ist, wird eine
Leiterplatte LP1 von einer ersten Transporteinrichtung LT1 an einen
vorgegeben Position, eine sogenannte Bestückposition, transportiert.
Das Bestückportal besteht dabei zumindest aus einer Portaleinheit
P, einem ersten Kabelschlepp KS1 und einem Bestückkopf
BK. Durch die Portaleinheit P ist das Bestückportal z.
B. in eine Richtung X verschiebbar an der Bestückanordnung BA
angebracht. Über den ersten Kabelschlepp KS1 wird der Bestückkopf
BK elektrisch und datentechnisch mit der Bestückanordnung
verbunden. Mit dem Bestückkopf BK, welcher beispielsweise
mindestens einen Greifer oder eine Saugpipette oder auch eine Mehrzahl
von Greifern bzw. Saugpipetten aufweisen kann, werden dann die von
den Zuführeinrichtungen ZF bereitgestellten, elektronischen
Bauelemente entnommen und auf einer ersten Leiterplatte LP1 an einer
vorgegebenen Position aufgesetzt. Nach Abschluss des für
dieses Bestückportal vorgesehen Bestückvorgangs
wird die erste Leiterplatte LP1 von der ersten Transporteinrichtung LT1
in Richtung Y z. B. zur nächsten Einheit der Bestücklinie
weitertransportiert.
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Auf
einer zweiten Seite weist die Bestückanordnung BA die erfindungsgemäße
Anordnung zur optischen Inspektion auf. Die Anordnung zur optischen
Inspektion umfasst dabei ein Portal für die optische Inspektion
AOI und eine mobile Datenverarbeitungseinheit DV. Das Portal für
die optische Inspektion AOI besteht zumindest aus einer modularen Portaleinheit
MP, einem zweiten Kabelschlepp KS2 und einer AOI-Einrichtung AK.
Mit der modularen Portaleinheit MP ist das Portal für die
optische Inspektion AOI beispielweise in eine Richtung X verfahrbar
an den Portalführungen PF1, PF2 angebracht.
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Mit
Hilfe des zweiten Kabelschlepp KS2 ist das Portal für die
optische Inspektion AOI für eine Versorgung mit Strom und
Daten mit der Bestückanordnung BA verbunden. Der zweite
Kabelschlepp weist z. B. an einem der zweiten Portalführung
PF2 näher gelegenen Ende einen Anschluss für eine Schnittstelle
S auf. Über die Schnittstelle S wird das Portal für
die optische Inspektion AOI mit der mobilen Datenverarbeitungseinheit
DV z. B. Datenübertragung, Übertragung von Ansteuerungsbefehlen,
etc. verbunden. Die Schnittstelle S kann dabei von der Bestückanordnung
BA bereitgestellt werden.
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Die
AOI-Einrichtung AK kann z. B. in eine Richtung Y beweglich an der
modularen Portaleinheit MP angebracht sein und beispielsweise durch
Linearmotoren der Bestückanordnung BA verfahren werden.
Durch die Verfahrbarkeit der modularen Portaleinheit MP in Richtung
X und eine Verschiebbarkeit der AOI-Einrichtung AK in Richtung Y
können besonders präzise Scan- bzw. Inspektionsergebnisse bei
einer Überprüfung einer zweiten Leiterplatte LP2 erzielt
werden, wobei die zweite Leiterplatte LP2 mit Hilfe der zweiten
Transporteinrichtung LT2 der Bestückanordnung zur Überprüfung
transportiert wird.
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Alternativ
ist aber auch eine feste Verbindung der AOI-Einrichtung AK mit der
modularen Portaleinheit MP oder ein Einbau der AOI-Einrichtung AK in
die modulare Portaleinheit MP denkbar. Die modulare Portaleinheit
MP würde in diesen Fällen eine Positionierung
der AOI-Einrichtung AK in Richtung X für eine Überprüfung
der zweiten Leiterplatte LP2 vornehmen. Die zweite Transporteinrichtung
LT2 würde dabei die zweite Leiterplatte für die Überprüfung
in Richtung Y positionieren.
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Mit
der AOI-Einrichtung AK, welche z. B. über eine oder mehrere
Kameras oder zumindest einen Scanner verfügt, werden dann
die Inspektionsergebnisse der zu überprüfenden
zweiten Leiterplatte LP2 ermittelt. Mittels einer im zweiten Kabelschlepp KS2
untergebrachten Datenleitung und die Schnittstelle S werden die
Inspektionsergebnisse dann an die mobile Datenverarbeitungseinheit
DV weitergeleitet. Von der mobilen Datenverarbeitungseinheit DV können
z. B. aber auch Steuersignale, Ansteuerungsbefehle, etc. über
Schnittstelle S an das Portal für die optische Inspektion
AOI bzw. an die AOI-Einrichtung AK übertragen werden.
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Die
mobile Datenverarbeitungseinheit DV ist dabei platzsparend an einem
Stellplatz, welcher an einer Seite der Bestückanordnung
BA gelegen und üblicherweise für Zuführeinrichtungen
ZF vorgesehen ist, angebracht. Abmessungen der Datenverarbeitungseinheit
DV sollten daher auf den bei der Bestückanordnung BA vorgesehen
Stellplatz für Zuführeinrichtungen ZF angepasst
sein. Die mobile Datenverarbeitungseinheit DV umfasst zumindest
neben einem Hauptprozessor und einer Speichereinheit eine Steuereinheit
und eine Visualisierungseinheit, mit deren Hilfe beispielsweise
offline vor oder nach einer optischen Inspektion Programme an neue
Produktionen angepasst, abgeschlossene Aufträge bzw. Inspektionsdaten
ausgewertet, sowie Kalibrierungen, Wartungen und Tests durchgeführt
werden können. Die mobile Datenverarbeitungseinheit DV
kann für einen Transport z. B. auf einem geeigneten Wagen
untergebracht sein.
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Zusätzlich
kann auch eine weitere Schnittstelle bei der erfindungsgemäßen
Anordnung zur optischen Inspektion vorgesehen sein, über
welche das Portal für die optische Inspektion AOI und die
Datenverarbeitungseinheit DV in eine Stationssoftware des Bestückanordnung
BA bzw. in eine Liniensoftware einer Bestücklinie integriert
werden. Auf diese Weise können z. B. Fehlermeldungen wie
ein Abholverlust eines elektronischen Bauelements direkt überprüft und
behoben werden.
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Es
besteht auch die Möglichkeit, bei einer Bestückanordnung
BA mehr als ein Portal für die optische Inspektion AOI
anzubringen. So kann z. B., wenn alle Bestückanordnungen
BA mit maximaler Bestückleistung genutzt werden, der Fall
auftreten, dass kein Stellplatz bzw. Platz an den Portalführungen
PF1, PF2 für die Datenverarbeitungseinheit DV bzw. das
Portal für die optische Inspektion AOI mehr frei ist. In
diesem Fall kann eine zusätzliche Bestückanordnung
nur mit Portalen für die optische Inspektion AOI ausgestattet
werden. Die mobile Datenverarbeitungseinheit DV kann dabei neben
einem ersten Portal für die optische Inspektion AOI zumindest noch
ein weiteres Portal für die optische Inspektion AOI ansteuern.
Die mit einer oder mehreren Anordnungen zur optischen Inspektion
ausgestattete Bestückanordnung BA kann dann beliebig in
der Bestücklinie eingefügt werden. Auch ein Einsatz
von mehreren Bestückanordnungen BA mit integrierter Anordnung
zur optischen Inspektion innerhalb einer Bestücklinie ist
denkbar.
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Eine
Integration des Portals für die optische Inspektion AOI
gemeinsam mit der Datenverarbeitungseinheit DV ist nicht nur in
Bestückanordnungen BA für die sogenannte Surface
Mounted Technology (SMT) – also für ein Bestücken
mit sogenannten Surface Mounted Device-Bauteilen bzw. Bauteilen
mit Gehäusen (z. B. Widerstände, Kondensatoren,
Induktivitäten, Quarze, Dioden, Transistoren, Operationsverstärker,
gehäuste integrierte Schaltungen, etc.) – denkbar,
sondern auch bei sogenannten Die-Maschinen, von denen ungehäuste
Halbleiter- Bauelemente (z. B. Silikon-Chips, Wafer, etc.) bestückt
werden. Bei einem Einsatz der erfindungsgemäßen
Anordnung zur optischen Inspektion in sogenannten Die-Maschinen
ist allerdings ein gesonderter Lift vorzusehen bzw. ein Lift in
den Wagen der mobilen Datenverarbeitungseinheit DV zu integrieren.
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ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Zitierte Patentliteratur
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- - JP 2006237236
A [0004]
- - US 2006/0174480 A1 [0006, 0007]