DE102008059112A1

DE102008059112A1 - Probensammler und Probensammeleinrichtung für eine Analyseeinrichtung sowie Verfahren zu dessen Betrieb

Info

Publication number: DE102008059112A1
Application number: DE102008059112A
Authority: DE
Inventors: Sebastian Beer; Thomas Ziemann; Ulrich Dr. Martin; Wolfgang Legner; Matthias Kessler
Original assignee: EADS Deutschland GmbH
Current assignee: Airbus Defence and Space GmbH
Priority date: 2008-11-26
Filing date: 2008-11-26
Publication date: 2010-06-17
Also published as: AU2009319010A1; CA2744295A1; US20110259127A1; WO2010060899A1; EP2350604A1

Abstract

Ein Probensammler (10) für eine Analyseeinrichtung zur Analyse von Spurenelementen mit einem Wischelement (16), an dem mittels eines Wischvorgangs Probenmaterial von einer zu prüfenden Oberfläche abwischbar und daran adsorbierbar ist, umfasst ein Stützteil (14) mit konvex geformter Oberfläche, auf der das Wischelement (16) angebracht ist. Ferner beschrieben ist eine Probensammelvorrichtung unter Verwendung dieses Probensammlers (10) sowie ein Verfahren zur Probennahme.

Description

Die Erfindung betrifft einen Probensammler sowie eine Probensammeleinrichtung für eine Analyseeinrichtung zur Analyse von Spurenelementen sowie ein Verfahren zu dessen Betrieb.
Die Erfassung von Spurenelementen, beispielsweise toxischer oder explosiver Stoffe, gewinnt angesichts der zunehmenden Bedrohungen durch terroristische Aktionen immer mehr an Bedeutung. Dabei sind grundsätzlich zwei verschiedene Verfahren zu unterscheiden nämlich die Probenentnahme aus der Umgebungsluft durch deren Ansaugung, insbesondere aus der Nähe eines zu untersuchenden Gegenstandes. Dies kann beispielsweise dadurch geschehen, dass eine hinsichtlich der Spurenelemente zu untersuchende Person in eine Kammer geführt wird und aus dieser anschließend Gas abgesaugt und einer Analyse zugeführt wird.
Das zweite Verfahren ist die Untersuchung von Oberflächen eines zu untersuchenden Objektes, z. B. eines Koffergriffs oder einer menschlichen Hand, in Hinblick auf daran anhaftende Spurenelemente. Dazu wird herkömmlicherweise manuell mittels eines gewebeartigen Wischelements die zu untersuchende Oberfläche abgewischt und damit mögliche Spurenelemente von dieser Oberfläche abgeschert. Anschließend wird das Wischelement mit dem Probenmaterial in eine Desorbierkammer plaziert und dort werden bei erhöhter Temperatur mittels eines Gasstromes die im Wischelement gefangenen Spurenelemente desorbiert, in molekulare Form überführt und einer Analyseeinrichtung, insbesondere einem Ionenspektrometer, zugeführt.
Die für letzteres Verfahren verwendeten Probensammler bzw. Verfahren zum Betrieb von Probensammeleinrichtungen haben den Nachteil inhärenter Unsicherheiten bzw. Messungenauigkeiten. Aufgrund unterschiedlicher Wischtechniken durch unterschiedliches Bedienungspersonal ist bereits die Plazierung des Pro benmaterials im Wischelement undefiniert was dazu führen kann, dass das Analysesystem unzureichend oder gar nicht funktioniert, wenn beispielsweise mit einem Geweberand gewischt wurde. Denn wenn die Heizquelle in der Desorbierkammer nicht die korrekte Stelle auf dem Wischelement beaufschlagt, können die an sich vorhandenen Spurenelemente nicht oder nur unzureichend erfasst werden. Eine weitere Fehlerquelle kann aus einer falschen oder unbestimmten Anordnung des Wischelements in der Desorbierkammer resultieren. Eine weitere Fehlerquelle kann aus einer wiederholten Probenentnahme durch die gleiche Bedienungsperson aufgrund Verunreinigungen, insbesondere über die Hände, resultieren. Probenmaterial aus einer vorherigen Probeentnahme können am Handschuh der Bedienungsperson haften bleiben und bei der folgenden Probeentnahme auf das Wischelement gelangen und damit zur fälschlichen Anzeige von nicht vorhandenen Spurenelementen führen.
Wenn nicht ein Gegenstand sondern eine Person zu untersuchen ist, also eine Probe von einer Hautpartie der zu untersuchenden Person genommenen werden soll durch Abwischen der Hautpartie (z. B. der Hände der zu untersuchenden Person) führt dies zu einem direkten Kontakt zwischen Bedienungsperson und Untersuchungsperson, was als Zudringlichkeit aufgefasst werden könnte. Um dies zu verhindern wird herkömmlicherweise die Untersuchungsperson aufgefordert, den Wischvorgang an sich selber vorzunehmen, was auch zu einer Fehlerquelle führt, weil die Untersuchungsperson zum einen nicht weiß, wie der Wischvorgang genau erfolgen soll und unter Umständen ein Eigeninteresse daran haben kann, dass Spurenelemente nicht detektiert werden.
Schließlich besteht bei der Probenentnahme von Gegenständen auch ein Verletzungsrisiko für das Bedienungspersonal aufgrund versteckter scharfer oder spitzer Gegenstände oder Kanten und Ecken.
Hiervon ausgehend liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, einen Probensammler bereit zu stellen, der eine möglichst definierte und zuverlässige Probenaufnahme ermöglicht, eine Probensammeleinrichtung anzugeben, welche eine möglichst zuverlässige Erfassung der am Probensammler anhaftenden Probe ermöglicht bzw. ein Verfahren bereit zu stellen, welches eine möglichst zuverlässige Probenentnahme ermöglicht.
Erfindungsgemäß werden diese Aufgaben durch die in den unabhängigen Ansprüchen genannten Merkmalen gelöst. Weiterbildungen der Erfindung sowie bevorzugte Ausbildungen und Vorteile ergeben sich aus den Unteransprüchen, der Beschreibung sowie den Figuren.
Ein erstes Merkmal der Erfindung sieht vor, dass der Probensammler mit einem Stützteil mit einer konvexen Oberfläche versehen ist, auf der das Wischelement flächig aufliegend angebracht ist. Unter „konvex” wird im Zusammenhang mit der Erfindung eine geometrische Form verstanden, die entweder in einer oder zwei zueinander senkrechten Richtungen gekrümmt ist. Bevorzugt ist eine Krümmung in einer Richtung in Form eines Zylindermantelflächenausschnitts. Dadurch ergibt sich beim Wischvorgang eine etwa linienförmige Auflage auf ebenen Flächen und damit ein schmaler Probenaufnahmebereich, der bei Handhabung durch geübtes Bedienungspersonal in etwa in der Mitte des Wischelements liegen wird und damit im nachfolgenden Desorbtionsschritt in der Desorbierkammer gezielt behandelt werden kann. Diese Oberflächenform ermöglicht ferner ein effizientes Abwischen einer Vielzahl unterschiedlicher Oberflächenformen und Oberflächenunregelmäßigkeiten der zu prüfenden Oberflächen. Der Wischvorgang ist gleichzeitig einfach und leicht zu standardisieren bzw. Bedienungspersonal schnell zu vermitteln. Auch ergeben sich reproduzierbare Probennahmenbedingungen auch bei unterschiedlichen Bedienungspersonal.
Alternativ kann das Stützteil auch in zwei Richtungen gekrümmt sein um eine kugelkalottenartige Form zu ermöglichen, die eine Sammlung des Probenmaterials auf einem begrenzten Fleck ermöglicht.
Durch die konvexe Oberflächenform des Stützteils ist die Wischfläche des Wischelements definiert geformt und ermöglicht eine konzentrierte Sammlung von Probenmaterial in dem kleinen apikalen Bereich, der normalerweise etwa mittig auf dem Wischelement liegt.
Das Stützteil ist vorzugsweise zumindest im apikalen Bereich flexibel ausgebildet, um unregelmäßige Oberflächen abtasten zu können.
Eine vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass das Stützteil im wesentlichen aus einem Metallblech besteht. Diese Weiterbildung ist einfach und kostengünstig in der Fertigung, leicht in der Handhabung und ermöglicht einen Desorbiervorgang in der Desorbierkammer bei erhöhten Temperaturen.
Gemäß einer vorteilhaften Weiterbildung ist dieses Stützblech mit einer Vielzahl von Durchlässen zur Durchleitung von Gas versehen, was insbesondere dann von Vorteil ist, wenn im Desorbiervorgang zum Zweck der Desorbierung des Probenmaterials ein Gas durch das Wischelement geleitet werden soll. Anstelle der Verwendung eines Stützteils mit Durchlässen kann das Stützteil alternativ auch im wesentlichen als Gitterstruktur gefertigt sein, wodurch eine hohe Gasdurchlässigkeit entlang der gesamten Oberfläche gewährleistet ist. Das Stützteil kann alternativ auch aus einem offenporigen Metallschaum bestehen oder aus einer rigiden Metallstruktur, in deren Mitte ein aus derartigem Metallschaum bestehender Bereich vorhanden ist.
Es ist natürlich auch möglich, diese Varianten zu kombinieren, also ein Stützteil aus Metallblech zu verwenden und im Mittelbereich, wo mit größter Wahrscheinlichkeit das Probenmaterial angesammelt wird, eine Gitterstruktur zu integrieren.
Das Wischelement besteht vorzugsweise aus einem Gewebe, einem Vlies oder einem offenporigen Schaum, um das Anhaften von Spurenelementen beim Wischvorgang zu erleichtern aber gleichzeitig auch eine Entfernung des Probenmaterials beim Desorbiervorgang in die Desorbierkammer zu ermöglichen.
Eine bevorzugte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass das Stützteil und das Wischelement fest miteinander verbunden sind, also eine integrale Einheit bilden, was die Handhabung sehr erleichtert. So kann ein solches Kombinationsteil aus einem Vorratsreservois entnommen werden, dann wird der Wischvorgang ausgeführt und dann wird dieses Teil komplett in die Desorbierkammer gebracht. Dadurch werden die wesentlichen zusätzlichen Handhabungsschritte herkömmlicher Systeme, die zu Kontaminationen oder Fehlern führen können, vermieden. Nach dem Desorbiervorgang wird das aus Kombinationsteil aus der Desorbierkammer entnommen und entsorgt.
Eine vorteilhafte Weiterbildung sieht vor, dass der Probensammler einen Handhabungsgriff umfasst, der am Stützteil befestigt ist. Ein solcher Handhabungsgriff kann integraler Bestandteil des Probensammlers sein, so dass Handhabungsgriff, Stützteil und Wischelement eine Einheit bilden, die zusammen benutzt und entsorgt wird. Alternativ ist es auch zweckmäßig, den Handhabungsgriff vom Stützteil entfernbar zu gestalten, um den Entsorgungsaufwand zu reduzieren, in dem der Handhabungsgriff wiederverwendet wird.
Eine Probensammeleinrichtung unter Verwendung des erfindungsgemäßen Probensammlers ermöglicht die bereits oben geschilderten Vorteile. Eine solche Probensammeleinrichtung weist vorzugsweise einen Einsteckschlitz auf, welcher die Querschnittsform des Probensammlers umfasst und so gewährleistet, dass dieser nur in klar definierter Weise eingesteckt werden kann. In diesem Fall ist auch eine weitgehende Trennung des Probensammelinneren von der Umgebung erzielbar und damit eine Verfälschung des Messergebnisses durch die Umgebungsluft vermeidbar.
Eine vorteilhafte Weiterbildung dieser Idee sieht vor, dass die Desorbierkammer eine Heizvorrichtung umfasst, die zur definierten kontinuierlichen Erwärmung des Probenmaterials zu dessen Desorbierung betreibbar ist. Das bedeutet, dass die Heizvorrichtung zunächst abgeschaltet ist und erst nach dem Plazieren des Probensammlers im Inneren der Desorbierkammer die Heizvorrichtung aktiviert wird, wodurch sich eine kontinuierliche Erwärmung des Probensammlers und damit des Probenmaterials ergibt. Gleichzeitig wird die Desorbierkammer mit einem gezielten Luftstrom durchströmt, der das Probenmaterial von dem Wischelement desorbiert, wobei durch die zunehmende Erwärmung dann unterschiedliche Spurenelemente bei unterschiedlichen Temperaturen desorbiert und in Molekülform überführt werden. Vorzugsweise ist diese Heizvorrichtung als Halogenstrahler ausgebildet, weil dadurch eine baulich einfache und hoch effiziente schnell wirkende Heizvorrichtung bereit gestellt werden kann.
Alternativ kann die Heizvorrichtung auch als Heizplatte ausgebildet sein, die dann an die rückseitige Form des Stützteils angepasst ist. Bei Ausbildung des Stützteils als gekrümmtes Metallblech wird die Heizplatte im wesentlichen die gleiche Form wie das gekrümmte Stützteil aufweisen, so dass das Stützteil mit der rückwärtigen Seite gegen die Heizplatte zum Zweck seiner Erwärmung gedrückt wird bzw. bei fest montiertem Probensammler im Inneren der Desorbierkammer wird die Heizplatte gegen das Stützteil bewegt.
Eine vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass die Desorbierkammer Führungs- und Halterungselemente umfasst, durch welche der Probensammler definiert einführbar und plazierbar ist. Durch entsprechende Schienen und Anschläge, die an die Form des Probensammlers angepasst sind, kann das Bedienungspersonal den mit Probenmaterial versehenen Probensammler in die Desorbierkammer schieben, wobei das Risiko von Fehlern bzw. Kontaminationen vermeidbar ist. Gleichzeitig wird der Vorgang beschleunigt. Derartige Elemente umfassen vorzugsweise auch spezielle Gestaltungen, die eine verkehrte Einführung (z. B. das Wischelement auf der falschen Seite) verhindern.
Für die Desorbierkammer sind zwei alternative Formen besonders geeignet. Bei der einen Ausbildung ist das Stützteil des Probensammlers nicht gasdurchlässig, so dass der Gasstrom, der zum Desorbieren des Probenmaterials vom Wischelement dient, auf der Wischelementseite vorbei geführt werden muss. Zweckmäßigerweise ist die Heizvorrichtung dann auf der gegenüberliegenden Seite des in der Desorbierkammer befindlichen Probensammlers angeordnet und erwärmt damit den Probensammler von der Rückseite. Zusätzlich ist es natürlich auch möglich, weitere Heizvorrichtungen auf der Vorderseite des Probensammlers vorzusehen, um auch von dieser Seite eine direkte Wärmeeinwirkung auf das Wischelement bzw. das darin gefangene Probenmaterial zu bewirken.
Bei einer alternativen Ausführungsform der Desorbierkammer unter Verwendung eines gasdurchlässigen Probensammlers wird das Spülgas zum Desorbieren des Probenmaterials von der Rückseite des Probensammlers durch das gasdurchlässige Stützteil und das Wischelement hindurch geleitet und dann nach Austritt aus dem Wischelement der Analyseeinheit zugeführt. Dabei ist auch hier das Heizelement rückseitig des Wischelements zur Einwirkung auf das gasdurchlässige Stützteil vorgesehen.
Ein erfindungsgemäßes Verfahren zum Betreiben einer Probensammlervorrichtung sieht vor, dass ein Probensammler mit dem oben beschriebenen Merkmalen verwendet und dieser über die zu untersuchende Oberfläche gewischt wird und anschließend unmittelbar der Desorbierkammer zugeführt wird, in der mittels Erwärmung des Probensammlers eine Desorbierung des Probenmaterials erfolgt. Dadurch, dass keine weiteren Handhabungsschritte des Probensammlers durch das Bedienungspersonal erforderlich wird, sondern der Probensammler direkt nach dem Wischvorgang der Desorbierkammer zugeführt werden kann, ist die Gefahr von Kontaminationen bzw. Messfehlern gegenüber herkömmlichen Systemen weitgehend vermieden. Vorzugsweise wird der konvexe Probensammler senkrecht zur wesentlichen linienförmigen Auflagefläche auf der zu untersuchenden Oberfläche bewegt um in maximal möglicher Breite eine Probensammlung zu bewirken.
Die Erfindung wird anhand bevorzugter Ausführungsformen nachfolgend anhand der beigefügten Zeichnungen näher erläutert. Dabei zeigt:
1: eine perspektivische Darstellung eines Probensammlers;
2: eine zweite perspektivische Darstellung des Probensammlers gemäß 1 von der Rückseite;
3: eine perspektivische Explosionsdarstellung des Probensammlers gemäß 1 und 2 im zerlegten Zustand;
4: eine schematische Schnittdarstellung einer ersten Ausführungsform für eine Desorbierkammer;
5: eine schematische Schnittdarstellung einer zweiten Ausführungsform für eine Desorbierkammer.
In den 1 bis 3 ist ein Probensammler 10 jeweils perspektivisch dargestellt. Dieser umfasst einen Handhabungsgriff 12, an dem ein gewölbtes Stützteil 14 sowie ein Wischelement 16 angebracht ist. In der gezeigten Ausführungsform umfasst der Handhabungsgriff 12 einen bügelförmigen Haltebereich sowie zwei Haltestifte 18, die mit daran angepassten Führungen 20 im Stützteil 14 kooperieren, um eine schnelle Befestigung bzw. Entfernung des Handhabungsgriffs 12 vom Stützteil 14 zu bewirken.
Auf der konvex geformtem Oberseite des Stützteils 14 ist das Wischelement 16 befestigt. Es kann entweder vom Stützteil 14 entfernbar, wie in 3 dargestellt, oder daran befestigt sein, insbesondere durch Verklebung oder Einklemmung entlang der Außenränder. Zur Handhabung wird der Probensammler 10 vom Bedienpersonal am Handhabungsgriff 12 genommen und entlang des in 2 gezeigten Pfeiles bewegt, wodurch beim Wischen auf einer ebenen Oberfläche das Probenmaterial in einem schmalen Bereich in der Mitte des Wischelements 16 angesammelt wird.
In 4 ist eine erste Ausführungsform einer Desorbierkammer 40a dargestellt, die Gaseinlässe 42a für die Einleitung von Spülgas sowie einen Gasauslass 44 umfasst, der mit einer nicht gezeigten Analyseeinheit verbunden ist. Die Desorbierkammer 40a umfasst Führungen 46 zur Führung und Halterung eines Probensammlers 10. Dabei ist der Probensammler 10 derart in der Desorbierkammer 40a angeordnet, dass das Stützteil 14 unten und das Wischelement 16 oben angeordnet ist. Unterhalb des Probensammlers 10 ist eine Halogen-Heizvorrichtung 48 angeordnet, die Strahlung 50 auf das Stützteil 14 richtet.
Im Betrieb wird ein mit Probenmaterial behafteter Probensammlers 10 unter Zuhilfenahme der Führungen 46 in die Desorbierkammer 40a geschoben. Anschließend erfolgt eine Erwärmung des Stützteils 14 mittels der von der Halogen-Heizvorrichtung 48 ausgesandten Wärmestrahlung 50, wodurch das Stützteil 14 in wenigen Sekunden bis auf über 200°C erwärmt wird. Diese Wärme wird vom Stützteil 14 auf das Wischelement 16 und das darin befindliche Probenmaterial übertragen, wodurch dieses vom Wischelement 16 desorbiert und in molekulare Gasform überführt wird. Gleichzeitig werden mittels des von den Gaseinlässen 42a zum Gasauslass 44 erfolgenden Spülgasstroms die vom Wischelement 16 desorbierten Spurenelemente mitgerissen und zu deren physikalischer oder chemischer Analyse der nicht gezeigten Analyseeinheit zugeführt.
Die in 5 gezeigte zweite Ausführungsform einer Desorbierkammer 40b ist sehr ähnlich aufgebaut. Ein Unterschied liegt darin, dass nur eine gasdurchlässige Probensammlerausführung 10b verwendbar ist, bei der das Stützteil 14b gas durchlässig ist, in der gezeigten Ausführungsform aus einem offenporigen Metallschaum besteht.
Im Betrieb wird ein mit Probenmaterial behafteter Probensammler 10b unter Zuhilfenahme der Führungen 46 in die Desorbierkammer 40b geschoben. Anschließend erfolgt eine Erwärmung des Stützteils 14b mittels der von der Halogen-Heizvorrichtung 48 ausgesandten Wärmestrahlung 50, wodurch das Stützteil 14 in wenigen Sekunden bis auf über 200°C erwärmt wird. Diese Wärme wird vom Stützteil 14b auf das Wischelement 16 und das darin befindliche Probenmaterial übertragen, wodurch dieses vom Wischelement 16 desorbiert und in molekulare Gasform überführt wird. Gleichzeitig tritt über die Gaseinlässe 42b ein Spülgas in die Desorbierkammer 40b, durchströmt das gasdurchlässige Stützteil 14b und das probenmaterialbehaftete Wischelement 16 und desorbiert dabei die Spurenelemente des Probenmaterials vom Wischelement 16 und leitet diese über den Gasauslass 44 der nicht gezeigten Analyseeinheit zu.

Claims

Probensammler für eine Analyseeinrichtung zur Analyse von Spurenelementen, mit einem Wischelement (16), an dem mittels eines Wischvorgangs Probenmaterial von einer zu prüfenden Oberfläche abwischbar und daran adsorbierbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass dieser (10) ein Stützteil (14) mit konvex geformter Oberfläche umfasst, auf der das Wischelement (16) angebracht ist.
Probensammler nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Stützteil (14) ein eindimensional gekrümmtes Flächenelement ist.
Probensammler nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der mittige Bereich Stützteil (14) flexibel ausgebildet ist.
Probensammler nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass das Stützteil (14) eine Vielzahl von Durchlässen zur Durchleitung von Gas aufweist.
Probensammler nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Stützteil (14) im wesentlichen als Gitterstruktur aufgebaut ist oder aus einem offenporigen Metallschaum besteht.
Probensammler nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Wischelement (16) aus einem Gewebe, einem Vlies oder einem offenporigen Schaum besteht.
Probensammler nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Stützteil (14) und das Wischelement (16) eine integrale Einheit bilden.
Probensammler nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass dieser einen Handhabungsgriff (12) umfasst, der am Stützteil (14) befestigt ist.
Probensammler nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass der Handhabungsgriff (12) vom Stützteil (14) entfernbar ist.
Probensammeleinrichtung für eine Analyseeinrichtung zur Analyse von Spurenelementen, umfassend einen Probensammler (10) mit einem weichen Wischelement (16), an dem mittels eines Wischvorgangs das Probenmaterial adsorbierbar ist, ferner umfassend eine Desorbierkammer (40), in die der Probensammler (10) einbringbar ist, um das Probenmaterial zu desorbieren und einer Analyse auf das Vorhandensein bestimmter Spurenelemente zuzuführen, dadurch gekennzeichnet, dass der Probensammler (10) gemäß einem der vorherigen Ansprüche ausgebildet ist.
Probensammeleinrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Desorbierkammer (40) eine Heizvorrichtung (48) umfasst, die für kontinuierliche Erwärmung des Probensammlers (10) betreibbar ist.
Probensammeleinrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Heizvorrichtung (48) als Halogenstrahler ausgebildet ist.
Probensammeleinrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Heizvorrichtung (48) als Heizplatte ausgebildet ist, die an die Form der rückseitigen, dem Wischelement (16) gegenüberliegende Seite des Stützteils (14) angepasst ist.
Probensammeleinrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass diese eine Gasführung (42, 44) umfasst, mittels der Gas zur Desorbierung des Probenmaterials von dem Wischelement durch das Stützteil und das Wischelement leitbar ist.
Probensammeleinrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Analyseeinrichtung ein Ionenspektrometer ist.
Probensammeleinrichtung nach einem der Ansprüche 10 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass die Desorbierkammer (40) Führungs- und Halterungselemente (46) umfasst, durch welche der Probensammler (10) definiert einführbar und plazierbar ist.
Probensammeleinrichtung nach einem der Ansprüche 10 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass die Desorbierkammer (40a) eine Heizeinrichtung (48) umfasst, die Wärmestrahlung auf die Rückseite des Probensammlers (10a) leitet und auf der bezüglich des Probensammlers (10a) der Heizeinrichtung (48) gegenüberliegenden Seite mindestens eine Gaszuführung (42a) sowie eine Gasabführung (44) vorgesehen ist, mittels der Gas über das Wischelement (16) zur Desorption der Spurenelemente leitbar ist.
Probensammeleinrichtung nach einem der Ansprüche 10 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass die Desorbierkammer (40b) eine Heizeinrichtung (48) umfasst, die Wärmestrahlung auf die Rückseite des Probensammlers (10b) leitet und im Bereich der Rückseite des Probensammlers (10b) eine Gaszuführung (42b) und auf der gegenüberliegenden Seite des Probensammlers (10b) eine Gasabführung (44) vorgesehen ist, mittels der Gas durch das Wischelement (16) zur Desorption der Spurenelemente leitbar ist.
Verfahren zum Betreiben einer Probensammeleinrichtung für eine Analyseeinrichtung zur Analyse von Spurenelementen, umfassend einen Probensammler (10) mit einem Wischelement (16), an dem mittels eines Wischvorgangs das Probenmaterial adsorbierbar ist, ferner mit einer Desorbierkammer (40), in die der Probensammler (10) einbringbar ist, um das Probenmaterial zu desorbieren und auf das Vorhandensein bestimmter Spurenstoffe zu analysieren, dadurch gekennzeichnet, dass ein Probensammler (10) nach einem der Ansprüche 1 bis 9 verwendet und über eine zu untersuchende Oberfläche bewegt wird und anschließend unmittelbar der Desorbierkammer (40) zugeführt wird, in der mittels Erwärmung des Probensammler (10) eine Desorbierung des Probenmaterials erfolgt.
Verfahren nach Anspruch 19 unter Verwendung eines Probensammlers nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Probensammler (10) zur Aufnahme von Probenmaterial senkrecht zu seiner im wesentlichen linienartigen Auflagefläche auf einer zu untersuchenden Oberfläche bewegt wird.
Verfahren nach Anspruch 19 unter Verwendung einer Probensammeleinrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass der Probensammler (10) in der Desorbierkammer (40) plaziert wird; die Heizvorrichtung (48) aktiviert und dessen Temperatur definiert bis zu einer Maximaltemperatur erhöht wird; dabei ein Gas über das Wischelement (16) und anschließend einer Analyseeinheit zugeführt wird, wodurch Probenmaterial vom Wischelement (16) desorbiert und zur Bestimmung der molekularen Bestandteile der Analyseeinheit zugeführt wird, nach Abschluss der Temperaturerhöhung der Probensammler aus der Desorbierkammer entfernt wird.