DE102008041290A1 - Microscopy arrangement with focus offset - Google Patents

Microscopy arrangement with focus offset

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DE102008041290A1
DE102008041290A1 DE200810041290 DE102008041290A DE102008041290A1 DE 102008041290 A1 DE102008041290 A1 DE 102008041290A1 DE 200810041290 DE200810041290 DE 200810041290 DE 102008041290 A DE102008041290 A DE 102008041290A DE 102008041290 A1 DE102008041290 A1 DE 102008041290A1
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DE
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nm
focus offset
characterized
microscopy arrangement
arrangement according
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Ceased
Application number
DE200810041290
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German (de)
Inventor
Martin Fanenbruck
Joachim Steffen
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CARL ZEISS MEDITEC AG, DE
Original Assignee
Carl Zeiss Surgical GmbH
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure
    • G02B21/241Devices for focusing

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Mikroskopieanordnung 100 zur Betrachtung eines Objekts 108 oder eines von einem Objekt 108 erzeugten Zwischenbildes 126, 127, insbesondere in der Mikrochirurgie. The invention relates to a microscope assembly 100 for observing an object 108, or a signal generated by an object 108 intermediate image 126, 127, particularly in microsurgery. Die Mikroskopieanordnung 100 hat eine Objektivanordnung 102 mit einer Objektebene 195 zur Anordnung des zu betrachtenden Objekts 108 bzw. Zwischenbildes 126, 127. Die Mikroskopieanordnung 100 enthält eine Fokusversatz-Einstelleinheit 190, welche ein Fokusversatzsignal an eine Verstelleinheit für die Objektivanordnung 101 abgibt, um die Objektivanordnung 101 relativ zu einem Fokussierzustand definiert zu defokussieren. Microscopy assembly 100 has a lens assembly 102 having an object plane 195 to the arrangement of the object to be viewed 108 and intermediate image 126, 127. The microscope assembly 100 includes a focus offset adjustment unit 190 which outputs a focus offset signal to an adjustment unit for the lens assembly 101 to the lens assembly defined relative to a focusing state 101 to defocus. Erfindungsgemäß ist eine Schärfentiefen-Berechnungseinheit 160 vorgesehen, die mit der Fokusversatz-Einstelleinheit 190 verbunden ist und die bei Aktivierung aus Einstellungsparametern der Mikroskopieanordnung 100 einen Schärfentiefenwert berechnet. According to the invention, a depth of field calculation unit 160 is provided, which is connected to the focus offset adjustment unit 190 and calculates a sharpness depth value upon activation of setting parameters of the microscope assembly 100th Die Fokusversatz-Einstelleinheit 160 generiert ein Fokusversatzsignal, das einem Fokusversatz für die Objektivanordnung 102 um einen Bruchteil des berechneten Schärfentiefenwerts in Richtung der Objektivanordnung 101 oder in Richtung der Objektebene 200 entspricht. The focus offset adjustment unit 160 generates a focus offset signal corresponding to a focus offset for the lens assembly 102 by a fraction of the calculated sharpness depth value in the direction of the lens assembly 101 or in the direction of the object plane 200th

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Mikroskopieanordnung zur Betrachtung eines Objekts oder eines von einem Objekt erzeugten Zwischenbildes, insbesondere in der Mikrochirurgie, die eine Objektivanordnung mit einer Objektebene zur Anordnung des zu betrachtenden Objekts bzw. Zwischenbilds aufweist und eine Fokusversatz-Einstelleinheit enthält, welche ein Fokusversatzsignal an eine Verstelleinheit für die Objektivanordnung abgibt, um die Objektivanordnung relativ zu einem Fokussierzustand definiert zu defokussieren. The invention relates to a microscopy system for observing an object or an intermediate image produced of an object, particularly in microsurgery, comprising an objective arrangement with an object plane for positioning the object to be viewed, or the intermediate image, and includes a focus offset adjustment unit, which is a focus offset signal to a write adjustment for the lens assembly to defocus the lens assembly defined relative to a focusing state.
  • Eine Mikroskopieanordnung der eingangs genannten Art ist aus der Microscopy arrangement of the type mentioned above is from the JP 2006 122 232 A2 JP 2006 122 232 A2 und aus der and from the DE 10 2005 011 781 A1 DE 10 2005 011 781 A1 bekannt. known. Dort sind Operationsmikroskope mit einem fokussierbaren Hauptobjektivsystem beschrieben, bei denen das Einstellen eines definierten Fokusversatzes durch eine Beobachtungsperson vorgesehen ist. Where surgical microscopes are described with a focusable main objective system, in which the setting of a defined focus offset is provided by a viewing person.
  • Operationen am menschlichen Auge, zum Beispiel Kateraktoperationen, werden in der Regel unter Einsatz eines Operationsmikroskops ausgeführt. Operations on the human eye, for example Kateraktoperationen are typically performed using a surgical microscope. Beim menschlichen Auge handelt es sich um ein räumlich ausgedehntes Organ, das einem Operateur nur von der Seite der Cornea zugänglich ist. The human eye is a spatially extended body that is accessible to a surgeon only from the side of the cornea. Im Verlauf einer Operation besteht deshalb für einen Operateur das Bedürfnis, unterschiedliche Ebenen im Augen scharf zu sehen. During an operation, therefore, is for a surgeon to see different levels in the eyes sharply the need.
  • Die visuelle Schärfentiefe ST einer Mikroskopieanordnung ist einerseits von deren Vergrößerung β, andererseits aber auch von der numerischen Apertur NA für den Abbildungsstrahlengang abhängig, der das Mikroskop-Hauptobjektivsystem durchsetzt. The visual depth of field ST of a microscopy arrangement is on the one hand β of their magnification, but on the other hand also depends on the numerical aperture NA of the imaging beam path, which passes through the microscope main objective system. Darüber hinaus wird die Schärfentiefe ST von der Wellenlänge λ des Beobachtungslichts im Abbildungsstrahlengang beeinflusst. In addition, the depth of field ST is influenced by the wavelength λ of the observation light in the imaging beam path. Nach Berek gilt für die visuelle Schärfentiefe ST folgende Beziehung: After Berek applies to the visual depth ST following relationship:
    Figure 00010001
  • Um einem Operateur mit einem Operationsmikroskop das Beobachten eines Objektbereichs mit guter Schärfentiefe zu ermöglichen, sind Operationsmikroskopsysteme bekannt, die verstellbare Aperturblenden aufweisen, welche in den Beobachtungsstrahlengängen angeordnet sind. To allow a surgeon with a surgical microscope observing an object region with good depth of field, the surgical microscope systems are known which have adjustable aperture diaphragms, which are arranged in the observation beam paths. Ein solches Operationsmikroskopsystem ist z. Such a surgical microscope system is for. B. das Carl Zeiss Operationsmikroskop OPMI ® Pentero. As the Carl Zeiss OPMI ® Pentero.
  • Indem der Durchmesser der Blendenöffnungen der Aperturblenden verkleinert wird, lässt sich die Schärfentiefe ST des Beobachtungsbildes erhöhen. By the diameter of the apertures of the aperture diaphragms is reduced, this can increase the depth of field of the observation image ST. Das Verringen der Blendenöffnungen der Aperturblenden geht jedoch grundsätzlich mit einem Verlust an Bildhelligkeit einher. However, shorten the apertures of the aperture diaphragms is basically associated with a loss of image brightness.
  • Das Erhöhen der Vergrößerung für den Abbildungsstrahlengang in einem Operationsmikroskop wirkt sich in zweifacher Hinsicht auf die Schärfentiefe aus: Gemäß der Beziehung nach Berek nimmt die Schärfentiefe ST mit wachsender Vergrößerung β ab. Increasing the magnification of the imaging beam path in a surgical microscope affects in two ways on the depth of field from: According to the relationship according to the depth of field Berek ST β decreases with increasing magnification. Das Erhöhen der Vergrößerung β bewirkt jedoch gleichzeitig eine Verringerung der numerischen Apertur NA des Abbildungsstrahlenganges, der das Mikroskop-Hauptobjektiv durchsetzt. However, increasing the magnification β simultaneously causes a reduction in the numerical aperture NA of the imaging beam path which passes through the microscope main objective. Das Steigern der Mikroskopvergrößerung hat somit ebenfalls einen Verlust an Bildhelligkeit zur Folge. Increasing the microscope magnification is therefore also a loss of image brightness result.
  • Bei marktüblichen Operationsmikroskopsystemen, die ein stereoskopisches Beobachten eines Objektbereichs mit Abbildungsstrahlengängen ermöglichen, die ein gemeinsames Mikroskop-Hauptobjektiv durchsetzen, beträgt die visuelle Schärfentiefe für einen Vergrößerungsfaktor β > 10 nur noch ca. 2 mm oder weniger. Regular way surgical microscope systems that enable stereoscopic observation of an object region with imaging paths that pass through a common microscope main objective, is the visual depth of field with a magnification factor β> 10 only about 2 mm or less.
  • In der Neurochirurgie und in der Ophthalmochirurgie wird jedoch häufig mit bis zu 30-facher Vergrößerung unter einem Operationsmikroskop operiert. but are often operated with up to 30-fold magnification under a surgical microscope for neurosurgery and in ophthalmic surgery. Wenn hier Gewebeoberflächen betrachtet werden, die uneben sind und die Licht stark streuen, ist eine geringe Schärfentiefe eines entsprechenden optischen Abbildungssystems sehr nachteilhaft. Here, when tissue surfaces are considered which are uneven and scatter light strongly, a shallow depth of a corresponding imaging optical system is very disadvantageous.
  • Auf dem Gebiet der Neurochirurgie ist es bekannt, tumorbefallenes Gewebe mittels Fluoreszenzfarbstoff in einem Operationsmikroskop zu visualisieren. In the field of neurosurgery, it is known to visualize tumor tissue infested by means of fluorescent dye in a surgical microscope. Hierzu wird dem Patient über die Blutbahn ein Fluoreszenzfarbstoff injiziert, der über das Beleuchtungssystem des Operationsmikroskops für Fluoreszenz angeregt wird. For this, a fluorescent dye is injected into the patient through the bloodstream, is excited about the lighting system of the surgical microscope for fluorescence. Ein entsprechendes Operationsmikroskop, das sich zur Beobachtung von Fluoreszenzlicht eignet, ist beispielsweise in der An appropriate surgical microscope which is suitable for the observation of fluorescence light, for example, in the WO 2007/090591 A1 WO 2007/090591 A1 beschrieben. described. Das Fluoreszenzbild des Objektbereichs ist im Vergleich zu einem Beobachtungsbild, das auf normalem Streulicht basiert, relativ lichtschwach. The fluorescence image of the object region is compared to an observation image based on normal stray light, relatively faint. Dies bedingt, dass bei Operationsmikroskopen, die im Fluoreszenzmodus betrieben werden, nur vergleichsweise große numerische Aperturen für die Abbildungsstrahlengänge eingestellt werden können. This means that in surgical microscopes, which are operated in fluorescence mode only comparatively large numerical apertures can be set for the imaging beam paths due.
  • Aufgabe der Erfindung ist es, eine Mikroskopieanordnung bereitzustellen, mit der auch bei Beobachten eines unebenen Objektbereichs ein Zwischenbild oder Bild für eine Beobachtungsperson mit hoher Schärfentiefe erzeugt wird. The object of the invention is to provide a microscope device with which an intermediate image or picture for a viewing person with high depth of focus is produced even when observing an uneven object region.
  • Diese Aufgabe wird durch eine Mikroskopieanordnung der eingangs genannten Art gelöst, bei der eine Schärfentiefen-Berechnungseinheit vorgesehen ist, die mit der Fokusversatz-Einstelleinheit verbunden ist und die bei Aktivierung aus Einstellungsparametern der Mikroskopieanordnung einen Schärfentiefenwert berechnet, wobei die Fokusversatz-Einstelleinheit ein Fokusversatzsignal generiert, das einem Fokusversatz für die Objektivanordnung um einen Bruchteil des berechneten Schärfentiefenwerts in Richtung der Objektivanordnung oder in Richtung der Objektebene entspricht. This object is achieved by a microscope arrangement of the aforementioned type, in which a depth of field calculation unit is provided which is connected to the focus offset setting unit and that calculates a sharpness depth value upon activation of setting parameters of the microscope array, the focus offset setting unit generates a focus offset signal, corresponding to a focus offset for the objective arrangement by a fraction of the calculated sharpness depth value in the direction of the objective arrangement or towards the object plane.
  • Die Fokusebene der Mikroskopieanordnung wird so definiert in das zu untersuchende Objekt hinein oder aus diesem heraus verlagert. The focal plane of the microscopy arrangement is defined into the object to be examined or moved out of this. Indem die Fokusebene der Mikroskopieanordnung aus dem zu untersuchenden Objekt in Richtung von dessen Hauptobjektsystem heraus verlagert wird, lassen sich Objektstrukturen mit Ablage von der Fokusebene der Mikroskopieanordnung im Schärfentiefenbereich der Mikroskopieanordnung in einen Abschnitt erfassen, in dem bei einer üblichen Justage des Systems insbesondere bei einem unebenen Objektbereich nicht mehr alle Objektstrukturen, scharf gesehen werden können. By setting the focal plane of the microscopy arrangement of the examined object in the direction of its main object system out is shifted to the object structures blank with storage of the focal plane of the microscopy arrangement in the depth of field of microscopy arrangement detect in a section in which uneven in a conventional adjustment of the system in particular in a object area, can be seen sharply, not all object structures. Dies ist insbesondere auf dem Gebiet der Neurochirurgie bei minimal-invasiven Eingriffen vorteilhaft, im Rahmen derer kleine Trepanationsöffnungen präpariert werden. This is advantageous to be prepared within the framework of those small Trepanationsöffnungen particularly in the field of neurosurgery, minimally invasive procedures. Hier entstehen enge und tiefe Kanäle, in denen operiert wird. This is where narrow and deep channels in which is operates. Beim Operieren in derartigen engen und tiefen Kanälen besteht das Bedürfnis, dass der Operateur nicht nur den Frontabschnitt von chirurgischen Instrumenten mit einer Mikroskopieanordnung in Form eines Operationsmikroskops scharf sehen kann, sondern auch einen Mittenabschnitt dieser Instrumente, etwa wenn diese in eine Trepanationsöffnung eingeführt werden. When operating in such a narrow and deep channels there is a need that the operator can see the front section of surgical instruments, sharp with a microscope arrangement in the form of a surgical microscope not only, but also a center portion of these instruments, such as when they are introduced into a trepanation. Das Verlagern der Fokusebene der Mikroskopieanordnung gewährleistet hier, dass ein entsprechendes Instrument in einem engen Operationskanal auch unter optischen Abbildungsbedingungen präzise geführt werden kann, in denen das Vergrößern der Schärfentiefe durch Abblenden der Beobachtungsstrahlengänge der Mikroskopieanordnung wegen zu geringem Lichteinfall nicht möglich ist. The displacement of the focal plane of the microscopy arrangement ensures here that an appropriate tool in a narrow operating channel can be performed accurately even in optical imaging conditions in which increasing the depth of field by stopping the observation beam paths of microscopy arrangement due to low light is not possible.
  • Auf dem Gebiet der Ophthalmologie ermöglicht das Verlagern der Fokusebene hin zum untersuchten Objekt, unterschiedliche Ebenen eines Patientenauges schnell scharf zu betrachten, nachdem die Mikroskopieanordnung auf die Cornea des Patientenauges fokussiert wurde. In the field of ophthalmology, the displacement of the focal plane allows towards the object under study to look at different levels of a patient's eye quickly focuses after microscopy arrangement was focused on the cornea of ​​the patient's eye.
  • In Weiterbildung der Erfindung umfassen die Einstellungsparameter die numerische Apertur eines Abbildungsstrahlenganges der Mikroskopieanordnung. In the invention, the setting parameters include the numerical aperture of an imaging beam path of the microscopy arrangement. Dieser Abbildungsstrahlengang kann z. This imaging beam path for can. B. als visueller Abbildungsstrahlengang für ein Beobachterauge oder als Kamera-Abbildungsstrahlengang ausgeführt sein. For example, be designed as a visual imaging beam path for an observer's eye or a camera imaging beam path.
  • Indem Einstellungsparameter der Mikroskopieanordnung zur Berechnung des Schärfentiefenwerts auch die Vergrößerung des Abbildungsstrahlengangs der Mikroskopieanordnung und die Wellenlänge des Beobachtungslichts umfassen, ist mittels der Beziehung nach Berek präzise Berechnung der maximalen Tiefe eines Objektbereichs möglich, der einer Beobachtung mit guter Schärfentiefe zugänglich ist. By setting parameters of the microscope arrangement for calculating the depth of value include the magnification of the imaging beam path of the microscopy arrangement and the wavelength of the observation light, is possible by means of the relationship by Berek precise calculation of the maximum depth of an object region which is accessible to an observation with good depth of field.
  • Es ist günstig, für die Berechnung der Schärfentiefe eine Wellenlänge für Beobachtungslicht Bereich 490 nm bis 590 nm, vorzugsweise 500 nm vorzusehen. It is favorable to provide a wavelength for observation light range 490 nm to 590 nm, preferably 500 nm to calculate the depth of field. Auf diese Weise lässt sich der Schärfentiefenbereich der Mikroskopieanordnung für eine Objektuntersuchung mit sichtbarem Licht optimieren, dessen spektrale Zusammensetzung dem natürlichen Sonnenlicht entspricht. In this way, the depth of field of the microscope assembly for an object scan can be optimized with visible light, whose spectral composition corresponds to natural sunlight.
  • In Weiterbildung der Erfindung liegt die entsprechende Wellenlänge im Bereich 820 nm bis 900 nm. Sie beträgt vorzugsweise 840 nm. Auf diese Weise wird das System für eine Fluoreszenzbeobachtung des Objektbereichs mit guter Schärfentiefe unter Verwendung des Fluoreszenzfarbstoffs Indocyianingrün (ICG) ausgelegt. In the invention, the corresponding wavelength is in the range 820 nm to 900 nm. It is preferably 840 nm. In this way, the system for a fluorescence observation of the object region with good depth of field using the fluorescent dye Indocyianingrün (ICG) is designed.
  • In Weiterbildung der Erfindung liegt die in die Berechnung der Schärfentiefe eingehende Lichtwellenlänge im Bereich 620 nm bis 740 nm, vorzugsweise bei 630 nm oder auch 704 nm. Auf diese Weise lässt sich das System für gute Schärfentiefe bei Einsatz des Fluoreszenzfarbstoffes 5A1a bzw. Protoporphyrin IX konfigurieren. In the invention, the depth in the calculation of the depth of light wavelength is in the range 620 nm to 740 nm, preferably at 630 nm or 704 nm. In this way, the system for good depth of field when using the fluorescent dye 5A1a or protoporphyrin IX can configure ,
  • Indem eine Berechnung der Schärfentiefe auf Grundlage der Wellenlänge 650 nm erfolgt, kann das System für Fluoreszenzbeobachtung mit dem Fluoreszenzfarbstoff Hyperizin optimiert werden. By a calculation of the depth of field on the basis of the wavelength 650 nm is carried out, the system for fluorescence observation with the fluorescent dye hypericin can be optimized.
  • Für den Fluoreszenzfarbstoff Fluoreszin lässt sich mit einer entsprechenden Mikroskopieanordnung ein optimaler Schärfentiefenbereich erzielen, wenn zu deren Berechnung der Wellenlängebereich 520 nm bis 530 nm berücksichtigt wird. For the fluorescent dye can be fluorescein microscopy with a corresponding arrangement, an optimum depth of field achieved if 520 nm is considered to 530 nm to the calculation of the wavelength range. Für den Einsatz des Fluoreszenzfarbstoffs ITC ist zur Schärfentiefenberechnung eine Wellenlänge im Bereich 540 nm bis 560 nm, insbesondere 550 nm günstig. For the use of the fluorescent dye to the ITC depth of calculation is a wavelength in the range 540 nm to 560 nm, especially 550 nm low. Indem für die Schärfentiefenberechnung die Wellenlänge 590 nm, 461 nm, 556 nm, 480 nm, 510 nm, 528 nm oder 565 nm verwendet werden, lässt sich das entsprechende Mikroskopiesystem für die Fluoreszenzuntersuchung des Objektbereichs mit guter Schärfentiefe unter Verwendung der Fluoreszenzfarbstoffe GFP, DAPI, Rodamin, BFP, GFP, YFP oder OFP optimieren. By 590 nm, 461 nm, 556 nm, 480 nm, 510 nm, 528 nm or 565 nm are used for the depth of calculating the wavelength, the corresponding microscopy system for fluorescence examination of the object space with a good depth of field can be performed using fluorescent dyes GFP, DAPI, optimize rhodamine, BFP, GFP, YFP or OFP.
  • In Weiterbildung der Erfindung entspricht der Fokusversatz für die Objektivanordnung der Hälfte (50%) des berechneten Schärfentiefenwerts. In a further development of the invention, the focus offset of the lens assembly of the half (50%) of the calculated depth of field value corresponds. Auf diese Weise kann ein Oberflächenbereich des Objektbereichs in einer Tiefe, der dem berechneten Schärfentiefenwert entspricht, mit guter Auflösung scharfbeobachtet werden. In this way, a surface area of ​​the object region can be scharfbeobachtet with good resolution in a depth corresponding to the calculated depth of field value.
  • Eine vorteilhafte Ausführungsform der Erfindung ist in den Figuren dargestellt und wird nachfolgend beschrieben. An advantageous embodiment of the invention is illustrated in the figures and is described below.
  • Es zeigen: Show it:
  • 1 1 eine Mikroskopieanordnung mit Schärfentiefen-Berechnungseinheit und Fokusversatz-Einstelleinheit; a microscopy device with shallow depth computing unit and focus offset setting unit;
  • 2 2 das Hauptobjektivsystem der Mikroskopieanordnung in einem ersten Fokussierzustand; the main lens system of the microscope arrangement in a first focus condition;
  • 3 3 das Hauptobjektivsystem der Mikroskopieanordnung in einem zweiten Fokussierzustand mit Fokusversatz in Richtung des Hauptobjektivsystems; the main lens system of the microscope arrangement in a second focusing with the focus offset in direction of the main lens system; und and
  • 4 4 das Hauptobjektivsystem der Mikroskopieanordnung in einem dritten Fokussierzustand mit Fokusversatz in Richtung der Objektebene. the main lens system of the microscope arrangement in a third focusing with the focus offset in the direction of the object plane.
  • Die Mikroskopieanordnung Microscopy arrangement 100 100 in in 1 1 hat eine Schärfentiefen-Berechnungseinheit has a depth of field calculation unit 160 160 und eine Fokusversatz-Einstelleinheit and a focus offset setting 190 190 . ,
  • Die Mikroskopieanordnung Microscopy arrangement 100 100 ist als Operationsmikroskop ausgelegt. is designed as an operating microscope. Sie umfasst als Objektivanordnung ein fokussierbares Hauptobjektivsystem as objective arrangement it includes a focusable main objective system 101 101 mit einer Objektebene with an object plane 200 200 , das von einem linken Beobachtungsstrahlengang That of a left observation beam path 102 102 und einem rechten Beobachtungsstrahlegang and a right observation beam passage 103 103 durchsetzt wird. is penetrated. Die Mikroskopieanordnung Microscopy arrangement 100 100 enthält ein stufenlos steuerbares Zoomsystem contains a continuously controllable zoom system 104 104 . , Es hat einen Binokulartubus It has a binocular 105 105 , durch den einer Beobachtungsperson mit linkem Beobachterauge Through which a viewing person with left observer's eye 106 106 und rechtem Beobachterauge and right observer's eye 107 107 das stereoskopische Betrachten eines Objektbereichs the stereoscopic viewing of an object region 108 108 ermöglicht wird. is made possible.
  • In der Mikroskopieanordnung In microscopy arrangement 100 100 ist ein Beleuchtungssystem is a lighting system 109 109 mit Lichtquelle with light source 110 110 vorgesehen. intended. Das Beleuchtungssystem The lighting system 109 109 umfasst ein Filterrad comprises a filter 111 111 mit unterschiedlichen Filtern für Beleuchtungslicht, die in den Beleuchtungsstrahlengang with different filters for illumination light in the illumination beam path 109a 109a eingeschwenkt werden können. can be swiveled.
  • Der Beleuchtungsstrahlengang The illumination beam path 109a 109a wird über eine Objektlinse is an object lens 112 112 und einen Umlenkspiegel and a reflecting mirror 113 113 zum Objektbereich the object region 108 108 geführt. guided.
  • Dem Beleuchtungssystem The lighting system 109 109 ist eine Beleuchtungssystem-Steuereinheit is a lighting system control unit 140 140 zugeordnet. assigned. Diese dient zur Steuerung des Lampenstroms für die Lichtquelle This is used to control the lamp current for the light source 110 110 und zur Einstellung des Filterrads and for setting the filter wheel 111 111 . ,
  • Durch geeignete Wahl von Lampenstrom und Filterradeinstellung kann Wellenlängenspektrum und Intensität des Beleuchtungslichts für den Objektbereich By suitable choice of lamp current and Filterradeinstellung can wavelength spectrum and intensity of the illumination light for the commercial sector 108 108 definiert eingestellt werden. be set defined.
  • Die Mikroskopieanordnung Microscopy arrangement 100 100 umfasst weiter ein Filterrad further comprises a filter wheel 151 151 und ein Filterrad and a filter 152 152 mit entsprechenden Filterrad-Steuereinheiten with corresponding filter control units 153 153 und and 154 154 . , Durch Verstellen der Filterräder By adjusting the filter wheels 151 151 , . 152 152 können unterschiedliche Filter für Beobachtungslicht zwischen dem Hauptobjektivsystem , different filters for observation light between the main objective system 101 101 und dem steuerbaren Zoomsystem and the controllable zoom system 104 104 in den linken und rechten Beobachtungsstrahlengang in the left and right observation beam path 102 102 , . 103 103 geschwenkt werden. are pivoted. Dies ermöglicht insbesondere, die Mikroskopieanordnung This allows particularly microscopy arrangement 100 100 in einem Fluoreszenzmodus zu betreiben, in welchem der Objektbereich to operate in a fluorescence mode in which the object region 130 130 mit einem geeigneten Fluoreszenzfarbstoff markiert ist, der mit Licht passender Wellenlänge aus dem Beleuchtungssystem is labeled with a suitable fluorescent dye with light of appropriate wavelength from the illumination system 109 109 zu Fluoreszenz angeregt wird. is excited to fluorescence. Indem über die Filterräder By using the filter wheels 111 111 sowie as 151 151 und and 152 152 solche Filter in die Strahlengänge für Beleuchtungs- und Beobachtungslicht geschaltet werden, welche Beleuchtungslicht im Spektralbereich der Wellenlänge von Fluoreszenzlicht unterdrücken und die Beobachtungslicht im Wellenlängenbereich der Anregungsbande für Fluoreszenz ausfiltern, ist es möglich, mittels der Mikroskopieanordnung Such filters are connected in the beam paths for illumination and observation light which suppress the illumination light in the spectral range of the wavelength of fluorescent light and filter out the observation light in the wavelength range of the excitation band for fluorescence, it is possible by means of the microscope assembly 100 100 fluoreszierende Strukturen im Objektbereich fluorescent structures in the commercial sector 108 108 mit gutem Kontrast zu visualisieren. to visualize with good contrast.
  • In der Mikroskopieanordnung In microscopy arrangement 100 100 ist eine Kameraeinheit is a camera unit 114 114 und eine Kameraeinheit and a camera unit 115 115 vorgesehen. intended. Der Kamera The camera 114 114 wird über einen Strahlteiler is a beam splitter 116 116 Bildinformation aus dem linken Beobachtungsstrahlengang Image information from the left-hand viewing beam path 102 102 zugeführt. fed. Der Kameraeinheit The camera unit 115 115 ist ein Strahlteiler is a beam splitter 117 117 im rechten Beobachtungsstrahlengang In the right observation beam path 103 103 zugeordnet. assigned.
  • Weiter umfasst die Mikroskopieanordnung Displayeinheiten Next microscopy arrangement includes display units 118 118 und and 119 119 , die über Strahlteiler , Which beam splitter 120 120 und and 121 121 das Einspiegeln von Bildinformation in den linken und rechten Beobachtungsstrahlengang mirroring in the image information in the left and right observation beam path 102 102 , . 103 103 ermöglichen. enable.
  • Zwischen den Strahlengang Between the beam path 116 116 sowie as 117 117 und dem steuerbaren Zoomsystem and the controllable zoom system 104 104 gibt es im linken und rechten Beobachtungsstrahlengang there are the left and right observation beam path 102 102 , . 103 103 jeweils eine einstellbare Aperturblende in each case an adjustable aperture 122 122 und and 123 123 . , Darüber hinaus ist der Kameraeinheit In addition, the camera unit 114 114 eine steuerbare Aperturblende a controllable aperture stop 124 124 zugeordnet. assigned. Entsprechend befindet sich im Abbildungsstrahlengang für die Kameraeinheit Accordingly located in the imaging beam path of the camera unit 115 115 eine Aperturblende an aperture 125 125 . ,
  • Im Binokulartubus in binocular 105 105 der Mikroskopieanordnung microscopy arrangement 100 100 steht im linken und rechten Beobachtungsstrahlengang is at the left and right observation beam path 102 102 , . 103 103 jeweils ein Zwischenbild in each case an intermediate image 126 126 , . 127 127 , das über eine Okularlinse That through an eyepiece lens 128 128 , . 129 129 im Binokulartubus in the binocular tube 105 105 nach unendlich abgebildet wird. is imaged to infinity.
  • Über einen Schärfentiefenbereich A depth of field 130 130 wird von einer Beobachtungsperson das Zwischenbild is of a viewing person, the intermediate image 125 125 , . 126 126 im Binokulartubus in the binocular tube 105 105 des Objektbereich the commercial sector 108 108 als scharfe Abbildung wahrgenommen. perceived as a sharp image.
  • Der Schärfentiefenbereich The depth of field 130 130 für die jeweiligen Beobachtungsstrahlgänge for the respective observation beam paths 102 102 , . 103 103 ist von der durch den objektseitigen Öffnungswinkel bestimmten numerischen Apertur NA 102 , NA 103 für das Beobachtungslicht im linken und rechten Beobachtungsstrahlengang is the determined through the object-side opening angle of numerical aperture NA 102 NA 103 for the observation light in the left and right observation beam path 102 102 , . 103 103 , von der mit dem Zoomsystem From which the zoom system 104 104 und dem fokussierbaren Hauptobjektivsystem and the focusable main objective system 101 101 eingestellten Vergrößerung β 102 , β 103 und der Wellenlänge λ des Beobachtungslichts bestimmt. set magnification β 102 β 103 and the wavelength λ of the observation light determined.
  • Die Schärfentiefe des mittels der Kameraeinheiten The depth of field of the camera units by means of the 114 114 und and 115 115 erfassten Beobachtungsbildes hängt entsprechend von der numerischen Apertur NA 133 , NA 134 des Abbildungsstrahlenganges acquired observation image corresponding depends on the numerical aperture NA 133, NA 134 of imaging beam path 133 133 , . 134 134 mit objektseitigen Öffnungswinkeln with object-side opening angles 135 135 , . 136 136 zu den Kameras to the cameras 114 114 , . 115 115 , der optischen Vergrößerung β 114 , β 115 des Kamerabildes sowie der Wellenlänge des Lichts λ im Abbildungsstrahlengang zu den Kameras ab. , The optical magnification β 114 β 115 of the camera image and the wavelength of light λ in the imaging beam path to the cameras from.
  • Bei der Mikroskopieanordnung In microscopy arrangement 100 100 ist eine Schärfentiefen-Berechnungseinheit is a depth of field calculation unit 160 160 vorgesehen. intended. Die Schärfentiefen-Berechnungseinheit The depth of field calculator 160 160 ist über eine Datenleitung is via a data line 161 161 mit einer Steuereinheit a control unit 162 162 für ein Zoomsystem a zoom system 104 104 und über eine Datenleitung and via a data line 163 163 mit einer Steuereinheit a control unit 164 164 für das fokussierbare Hauptobjektivsystem for the focusable main objective system 101 101 verbunden. connected. Mittels der Datenleitungen By means of the data lines 141 141 und and 142 142 wird der Schärfentiefen-Berechnungseinheit is the depth of field calculation unit 160 160 die Einstellungsinformation des Hauptobjektivsystems the setting information of the main lens system 101 101 und des Zoomsystems and the zoom system 104 104 zugeführt. fed.
  • Die Mikroskopieanordnung enthält darüber hinaus Datenleitungen Microscopy arrangement also includes data lines 165 165 , . 166 166 , . 167 167 und and 168 168 zu Steuereinheiten to control units 170 170 , . 171 171 , . 172 172 und and 173 173 für die Aperturblenden the aperture diaphragms 122 122 und and 123 123 im linken bzw. rechten Beobachtungsstrahlengang the left and right observation beam path 102 102 bzw. or. 103 103 und die Aperturblenden and the aperture diaphragms 124 124 und and 125 125 für die Kameraeinheiten for the camera units 114 114 bzw. or. 115 115 erhält die Schärfentiefen-Berechnungseinheit obtains the depth of field calculation unit 140 140 entsprechend der Einstellungsinformation über den Blendenöffnungs-Durchmesser der Aperturblenden according to the setting information on the Aperture diameters of the aperture diaphragms 122 122 , . 123 123 , . 124 124 und and 125 125 . ,
  • Einstellungsinformation zu dem Beleuchtungssystem Setting information to the lighting system 109 109 wird der Schärfentiefen-Berechnungseinheit is the depth of field calculation unit 160 160 mittels einer Datenleitung by means of a data line 181 181 von der Beleuchtungssystem-Steuereinheit from the lighting system control unit 140 140 zugeführt. fed.
  • Weiter umfasst die Mikroskopieanordnung Datenleitungen Next microscopy assembly includes data lines 182 182 und and 183 183 , welche zur Übertragung von Information betreffend der Einstellung der Filterräder Which are designated for transmitting information of the setting of the filter wheels 151 151 und and 153 153 in den Beobachtungsstrahlengängen an die Schärfentiefen-Berechnungseinheit in the observation beam paths of the depth of field calculation unit 160 160 vorgesehen sind. are provided.
  • Die Schärfentiefen-Berechnungseinheit The depth of field calculator 160 160 umfasst eine Bedieneinheit includes a control unit 191 191 sowie eine Anzeigeeinheit and a display unit 192 192 . , Mittels der Bedieneinheit By means of the control unit 191 191 kann sie von einer Beobachtungsperson in einem Berechnungsmodus versetzt werden. they may be offset from a viewing person in a calculation mode. In diesem Berechnungsmodus wird in der Schärfentiefen-Berechnungseinheit In this calculation mode is in the depth of field calculator 160 160 die Schärfentiefe ST ZB126 und ST ZB127 der Zwischenbilder the depth of field ST ZB126 and ZB127 ST of the intermediate images 126 126 und and 127 127 im Binokulartubus in the binocular tube 125 125 sowie die Schärfentiefe ST K114 bzw. ST K115 der mittels der Kamera as well as the depth of field ST or ST K114 K115 by means of the camera 114 114 und and 115 115 erfassten Bilder entsprechend der folgenden Beziehung ermittelt: captured images according to the following relationship determined:
    Figure 00100001
  • Die ermittelten Werte für die entsprechenden Schärfentiefen werden auf der Anzeigeeinheit The values ​​determined for the corresponding depth of focus are on the display unit 192 192 angezeigt. displayed. Auf diese Weise wird eine Beobachtungsperson in die Lage versetzt, Beleuchtungssystem, Zoomsystem und Aperturblenden für optimale Schärfentiefe zu konfigurieren. In this way, an observation person is able to configure lighting system, zoom system and aperture diaphragms for optimum depth of field.
  • Der Schärfentiefen-Berechnungseinheit The depth of field calculator 160 160 ist eine benutzerbetätigbare Fokusversatz-Einstelleinheit is a user operable focus offset setting 190 190 zugeordnet, die in einem ersten und in einem zweiten Betriebszustand betrieben werden kann: Bei Betätigung der Fokusversatz-Einstelleinheit assigned, which can be operated in a first and in a second operating state: Upon actuation of the focus offset adjustment unit 190 190 in dem ersten Betriebszustand gibt diese ein Stellsignal an die Steuereinheit in the first operating state, this gives a control signal to the control unit 164 164 für das Hauptobjektivsystem the main objective system 101 101 ab, um den Fokus F des Hauptobjektivsystems off to the focus F of the main objective system 102 102 um einen wählbaren Betrag F 1 = α × ST ZB126 oder F 1 = α × ST ZB127 bzw. F 1 = α × ST K114 oder F 1 = α × ST K115 in Richtung des Pfeils by a selectable amount F 1 = α × ST ZB126 or F 1 = α × ST ZB127 or F 1 = α × ST K114 or F 1 = α × K115 ST in the direction of arrow 198 198 aus dem Objektbereich from the object region 108 108 heraus zu verlagern, wobei 0 < α ≤ 1 und vorzugsweise α = 0.5. to shift out, where 0 <α ≤ 1, and preferably α = 0.5.
  • Wird die Fokusversatz-Einstelleinheit If the focus offset setting 190 190 in dem zweiten Betriebszustand betrieben, gibt diese ein Stellsignal an die Steuereinheit operated in the second operating state, this gives a control signal to the control unit 164 164 für das Hauptobjektivsystem the main objective system 101 101 ab, um den Fokus F des Hauptobjektivsystems off to the focus F of the main objective system 101 101 um einen wählbaren Betrag F 2 = α × ST ZB126 oder F 2 = α × ST ZB127 bzw. F 2 = α × ST K114 oder F 2 = α × ST K115 in Richtung des Pfeils by a selectable amount F 2 = α × ST ZB126 or F 2 = α × ST ZB127 and F 2 = α × ST K114 or F 2 = α × K115 ST in the direction of arrow 199 199 aus dem Objektbereich from the object region 108 108 heraus zu verlagern, wobei 0 < α ≤ und vorzugsweise α = 0.5. to shift out, where 0 <α ≤, and preferably α = 0.5.
  • 2 2 zeigt das Hauptobjektivsystem shows the main lens system 101 101 der Mikroskopieanordnung microscopy arrangement 100 100 aus out 1 1 mit den Beobachtungsstrahlengängen with the observation beam paths 102 102 und and 103 103 in einem ersten Fokussierzustand bei einer Einstellung ohne Fokusversatz. in a first focusing state at a setting without focus offset.
  • In In 3 3 ist das Hauptobjektivsystem is the main objective system 101 101 der Mikroskopieanordnung in einem zweiten Fokussierzustand bei einem entsprechenden Fokusversatz F 1 in Richtung des Hauptobjektivsystems microscopy arrangement in a second focusing state at a corresponding focus offset F 1 in the direction of the main lens system 101 101 gezeigt. shown. Diese Einstellung des Fokusversatzes ist für das Operieren in einem tiefen und engen Operationskanal, wie er bei Bezugszeichen This adjustment of the focus offset is for operating in a deep and narrow operation channel as at reference numeral 301 301 in in 3 3 gezeigt ist, günstig. is shown favorable. So kann einerseits gewährleistet werden, dass mit der Mikroskopieanordnung der Bodenabschnitt Thus, one can be assured that with the arrangement of the bottom portion microscopy 302 302 des Operationskanals the operating channel 301 301 scharf zu sehen ist, und andererseits, dass nicht nur der Frontabschnitt is keen to see, and also that not only the front section 303 303 eines chirurgischen Instruments a surgical instrument 304 304 , das in den Operationskanal Which in the operating channel 301 301 geführt wird, sondern auch dessen Mittenabschnitt is performed, but also the central portion thereof 305 305 , was ein besonders präzises Arbeiten mit dem Instrument What a particularly precise work with the instrument 304 304 für den Operateur ermöglicht. allows for the surgeon.
  • In In 4 4 zeigt das Hauptobjektivsystem shows the main lens system 101 101 der Mikroskopieanordnung bei einem Fokusversatz F 2 des Hauptobjektivsystems microscopy arrangement in a focus offset F 2 of the main lens system 101 101 in Richtung der Objektebene in the direction of the object plane 200 200 . , Diese Einstellung kann sich insbesondere für das Visualisieren von Strukturen in transparenten Objektbereich als günstig erweisen. This can be useful especially for visualization of structures in transparent object area to be favorable.
  • Die erläuterte Mikroskopieanordnung ist vorteilhafterweise mit einem Autofokussystem ausgestattet, die ein automatisiertes Scharfstellen des Systems auf einen Objektbereich ermöglicht. The illustrated arrangement microscopy is advantageously equipped with an autofocus system that enables an automatic focusing of the system to an object region. Die Mikroskopieanordnung kann jedoch genauso gut als System für manuelles Scharfstellen auf eine Objektebene ausgelegt sein. However, microscopy arrangement may be just as well designed as a system for manual focusing on an object plane.
  • Die Mikroskopieanordnung kann auch ein Head Mounted Display (HMD) umfassen. Microscopy arrangement may also include a head-mounted display (HMD). Es ist nicht erforderlich, dass bei der Mikroskopieanordnung optische Beobachtungsstrahlengänge zu einem Beobachterauge geführt werden. It is not necessary that optical observation beam paths are guided to an observer's eye in microscopy arrangement. Das Bild des Objektbereichs mit erhöhter Schärfentiefe kann z. The image of the object region with increased depth z can. B. auch auf einem externen Monitor angezeigt werden. B. also be displayed on an external monitor.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDED IN THE DESCRIPTION
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    • - WO 2007/090591 A1 [0010] - WO 2007/090591 A1 [0010]

Claims (14)

  1. Mikroskopieanordnung ( Microscopy arrangement ( 100 100 ) zur Betrachtung eines Objekts ( ) (For observing an object 108 108 ) oder eines von einem Objekt erzeugten Zwischenbildes ( ), Or an intermediate image produced of an object ( 126 126 , . 127 127 ), insbesondere in der Mikrochirurgie, umfassend: – eine Objektivanordnung ( ), Particularly in microsurgery, comprising: - a lens assembly ( 101 101 ) mit einer Objektebene ( ) With an object plane ( 200 200 ) zur Anordnung des zu betrachtenden Objekts bzw. Zwischenbildes; ) For placing the object to be viewed or intermediate image; – eine Fokusversatz-Einstelleinheit ( - a focus offset adjusting unit ( 190 190 ), welche ein Fokusversatzsignal an eine Verstelleinheit für die Objektivanordnung ( ) Which (a focus offset signal to an adjustment of the lens assembly 101 101 ) abgibt, um die Objektivanordnung ( ), Emits to the objective arrangement ( 101 101 ) relativ zu einem Fokussierzustand definiert zu defokussieren; to defocus) defined relative to a focusing state; dadurch gekennzeichnet , dass – eine Schärfentiefen-Berechnungseinheit ( characterized in that - a sharpness depth computing unit ( 160 160 ) vorgesehen ist, die mit der Fokusversatz-Einstelleinheit ( ) Is provided, which (with the focus offset adjustment unit 190 190 ) verbunden ist und die bei Aktivierung aus Einstellungsparametern der Mikroskopieanordnung ( ) And the (upon activation of setting parameters of the microscope assembly 100 100 ) einen Schärfentiefenwert (ST) berechnet; ) Calculates a sharpness depth value (ST); wobei – die Fokusversatz-Einstelleinheit ( wherein - the focus offset adjustment unit ( 160 160 ) ein Fokusversatzsignal generiert, das einem Fokusversatz (F 1 , F 2 ) für die Objektivanordnung ( ) Generates a focus offset signal corresponding to a focus offset (F 1, F 2) (for the lens assembly 102 102 ) um einen Bruchteil des berechneten Schärfentiefenwerts (ST) in Richtung ( ) By a fraction of the calculated depth of focus value (ST) (in the direction 198 198 ) der Objektvanordnung ( () Of the Objektvanordnung 101 101 ) oder in Richtung ( () Or in the direction 199 199 ) der Objektebene ( () Of the object plane 200 200 ) entspricht. ) Corresponds.
  2. Mikrokopieanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Einstellungsparameter die numerische Apertur (NA 102 , NA 103 , NA 133 , NA 134 ) eines Abbildungsstrahlenganges ( Microscopy arrangement according to claim 1, characterized in that the setting parameters, the numerical aperture (NA 102, NA 103, NA 133, NA 134) of an imaging beam path ( 102 102 , . 103 103 , . 133 133 , . 134 134 ) der Mikroskopieanordnung ( () Microscopy arrangement 100 100 ) umfassen. ) Include.
  3. Mikroskopieanordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Abbildungsstrahlengang ein visueller Abbildungsstrahlengang ( Microscopy arrangement according to claim 2, characterized in that the imaging beam path (a visual imaging beam path 102 102 , . 103 103 ) ist. ) Is.
  4. Mikroskopieanordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Abbildungsstrahlengang ein Kamera-Abbildungsstrahlengang ( Microscopy arrangement according to claim 2, characterized in that the imaging beam path (a camera imaging beam path 133 133 , . 134 134 ) ist. ) Is.
  5. Mikroskopieanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Einstellungsparameter die Vergrößerung (β) eines Abbildungsstrahlenganges ( Microscopy arrangement according to one of the preceding claims, characterized in that the setting parameters (the magnification (β) of an imaging beam path 102 102 , . 103 103 , . 133 133 , . 134 134 ) der Mikroskopieanordnung ( () Microscopy arrangement 100 100 ) umfassen. ) Include.
  6. Mikroskopieanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Einstellungsparameter eine Wellenlänge (λ) für Beobachtungslicht umfassen. Microscopy arrangement according to one of the preceding claims, characterized in that the setting parameters comprise a wavelength (λ) for observation light.
  7. Mikroskopieanordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Wellenlänge im Bereich 490 nm bis 510 nm liegt und dass sie vorzugsweise 500 nm beträgt. Microscopy arrangement according to claim 6, characterized in that the wavelength range is 490 nm to 510 nm and that it is preferably 500 nm.
  8. Mikroskopieanordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Wellenlänge im Bereich 820 nm bis 900 nm liegt und dass sie vorzugsweise 840 nm beträgt. Microscopy arrangement according to claim 6, characterized in that the wavelength range is 820 nm to 900 nm and that it is preferably 840 nm.
  9. Mikroskopieanordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Wellenlänge im Bereich 620 nm bis 740 nm liegt und dass sie vorzugsweise 630 nm oder 704 nm beträgt. Microscopy arrangement according to claim 6, characterized in that the wavelength range is 620 nm to 740 nm and that it is preferably 630 nm or 704 nm.
  10. Mikroskopieanordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Wellenlänge im Bereich 520 nm bis 530 nm liegt Microscopy arrangement according to claim 6, characterized in that the wavelength in the range 520 nm to 530 nm
  11. Mikroskopieanordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Wellenlänge im Bereich 540 nm bis 560 nm liegt und dass sie vorzugsweise 550 nm beträgt. Microscopy arrangement according to claim 6, characterized in that the wavelength in the range of 540 nm to 560 nm and that it is preferably 550 nm.
  12. Mikroskopieanordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Wellenlänge 509 nm oder 461 nm oder 556 nm oder 480 nm oder 510 nm oder 528 nm oder 565 nm beträgt. Microscopy arrangement according to claim 6, characterized in that the wavelength is 509 nm or 461 nm or 556 nm or 480 nm or 510 nm or 528 nm or 565 nm.
  13. Mikroskopieanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass der Fokusversatz F 1 , F 2 für die Objektivanordnung ( Microscopy arrangement according to one of claims 1 to 12, characterized in that the focus offset F 1, F 2 (for the lens assembly 101 101 ) dem Bruchteil 0.5 des berechneten Schärfentiefenwerts (ST) entspricht. ) Corresponds to the fraction of 0.5 of the calculated depth of focus value (ST).
  14. Verfahren zum Einstellen einer Mikroskopieanordnung ( A method for adjusting a microscope assembly ( 100 100 ) mit den Merkmalen der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass – aus Einstellungsparametern der Mikroskopieanordnung ( ) With the features of claims 1 to 13, characterized in that - (from setting parameters of the microscope assembly 100 100 ) ein Schärfentiefenwert (ST) berechnet wird; ) A depth-value is calculated (ST); und ein Fokusversatz (F 1 ) eingestellt sind, der einem Bruchteil des berechneten – Schärfentiefenwerts (ST) in Richtung ( and a focus offset (F 1) are set corresponding to a fraction of the computed - (sharpness depth value (ST) in the direction 198 198 ) der Objektivanordnung ( () Of the lens assembly 101 101 ) entspricht; ) Corresponds; oder – ein Fokusversatz F 2 eingestellt wird, der einem Bruchteil des berechneten Schärfentiefenwerts (ST) in Richtung ( or - a focus offset F is set to 2, the (a fraction of the calculated depth of focus value (ST) in the direction 199 199 ) der Objektebene ( () Of the object plane 200 200 ) entspricht. ) Corresponds.
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