DE102008016262B4

DE102008016262B4 - Verfahren zur Ermittlung der Konfiguration eines Mikroskops

Info

Publication number: DE102008016262B4
Application number: DE102008016262.0A
Authority: DE
Inventors: Steffen Leidenbach
Original assignee: Carl Zeiss Microscopy GmbH
Current assignee: Carl Zeiss Microscopy GmbH
Priority date: 2008-03-29
Filing date: 2008-03-29
Publication date: 2016-05-04
Anticipated expiration: 2028-03-30
Also published as: DE102008016262A1

Abstract

Verfahren zur Ermittlung der Konfiguration unterschiedlicher ansteuerbarer Mikroskope, bei dem ein Mikroskopbenutzer durch Zugriff auf vorhandene Gerätekonfigurationsdaten eines anzusteuernden Mikroskops und durch eine Benutzerführung im Dialog neue für Arbeiten am Mikroskop angepasste Gerätekonfigurationsdaten erhält, dadurch gekennzeichnet, dass der automatische Suchablauf einer Mikroskopsteuersoftware so erweitert wird, dass, wenn benötigte Informationen zu Gerätekonfigurationen nicht automatisch durch Abfrage am Mikroskop ermittelt werden können, die zu diesen nicht erkannten Geräteinformationen in Frage kommenden Alternativen in einem Dialogfenster aufgelistet werden und der Mikroskopbenutzer entscheiden kann, welche Alternative angewendet wird, dass nach einer Entscheidung des Mikroskopbenutzers entweder ein Teil der davon abhängigen Alternativen ausgeschlossen wird, oder neue, davon abhängige Alternativen hinzugefügt werden, und dass abschließend nach Durchlauf der Gerätekonfigurationsdaten eine neue vollständige Gerätekonfiguration für das anzusteuernde Mikroskop erstellt wird.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ermittlung der Konfiguration unterschiedlicher ansteuerbarer Mikroskope, bei dem ein Mikroskopbenutzer durch Zugriff auf vorhandene Gerätekonfigurationsdaten eines anzusteuernden Mikroskops und durch eine Benutzerführung im Dialog neue, für Arbeiten am Mikroskop angepasste Gerätekonfigurationsdaten erhält.
Um unterschiedliche Mikroskope mittels einer Software richtig ansteuern zu können, braucht diese Software Informationen über die Gerätekonfiguration der anzusteuernden Mikroskope, beispielsweise welcher Gerätetyp angesteuert wird, über welche Schnittstelle das Mikroskop mit dem Rechner verbunden ist, mit welchen Objektiven und dergleichen Bauelementen das Mikroskop ausgestattet ist, welches Zubehör verwendet wird und über welche Schnittstelle dieses Zubehör mit dem Rechner verbunden ist, welche Software und welche Daten im Mikroskop gespeichert sind. In der Praxis werden diese Informationen über die Mikroskope meist in Gerätekonfigurationsdateien abgelegt, die von der Steuersoftware beim Programmstart eingelesen werden. Diese Gerätekonfigurationsdateien werden dabei entweder einfach von Hand editiert oder es werden Konfigurationsprogramme, in die die geforderten Informationen über die Mikroskope per Hand eingegeben oder durch einen automatischen Suchablauf ermittelt werden, verwendet. Bei einem automatischen Suchablauf treten aber Probleme vor allem bei älteren oder weniger automatisierten Mikroskopen auf, bei denen die geforderten Informationen nicht oder nur unvollständig abgefragt werden können. Dann kann eine solche automatisch ermittelte Konfiguration unvollständig, oder wenn Defaultwerte verwendet werden, auch falsch sein. Für einen Mikroskopbenutzer ist es bei Benutzung dieser Software dann vielfach schwierig festzustellen, welche Informationen einer Gerätekonfiguration stimmen und welche noch korrigiert werden müssen. Aus der DE 103 61 158 B4 ist eine Einrichtung und ein Verfahren zur Konfiguration eines Mikroskops, das zumindest teilweise automatisiert oder motorisiert ist, bekannt, wobei die Einrichtung mindestens eine konfigurierbare Baugruppe mit mehreren Positionen für unterschiedliche Elemente und ein Display für mehrere User-Interfaces-Darstellungen aufweist, die alle aus mindestens drei Bereichen aufgebaut sind. Der erste Bereich umfasst eine Auswahl von mindestens drei Modulen, der zweite Bereich einen Baum, der für den Benutzer die verschiedenen Möglichkeiten des ausgewählten Moduls aus dem ersten Bereich darstellt, und in dem dritten Bereich wird auf dem User-Interface die zu konfigurierende Baugruppe graphisch dargestellt, wobei die ausgewählten Elemente tabellarisch im dritten Bereich des User-Interface aufgelistet sind. Mittels des Verfahrens soll für einen Mikroskopbenutzer das Einlernen und Konfigurieren einzelner Komponenten des zumindest teilweise automatisierten Mikroskops ermöglicht werden, wobei das Stativ des Mikroskops im Betrieb auf die unterschiedlichen Mikroskopierverfahren automatisch reagieren soll.
Aus der DE 198 53 407 C2 ist weiterhin ein Verfahren zur Einstellung der Systemparameter eines konfokalen Laserscanmikroskops bekannt, bei dem die Einstellung der Systemparameter über einen Steuercomputer und eine interaktive Benutzerführung im Dialog auf der Grundlage physikalischer Zusammenhänge und Formeln oder abgespeicherter Erfahrungswerte erfolgt. Auf die Eingabe mindestens eines Systemparameters werden dem Benutzer eindeutig festlegbare übrige Systemparameter durch den Steuercomputer automatisch eingestellt oder die auf diese Weise nicht festlegbaren übrigen Systemparameter vorgeschlagen, wobei nach der Benutzereingabe vorzugsweise diejenigen Systemparameter angezeigt werden, die durch die Benutzereingabe beeinflussbar sind. Bei diesem Verfahren wird im Dialog eine optimale Einstellung der Systemparameter vorgeschlagen. Je nach Auswahl eines oder mehrerer Systemparameter werden die anderen Systemparameter auf die getätigte Auswahl angepasst und es erfolgt in Bezug auf die Vorgaben eine Optimierung. In der DE 198 29 944 C2 wird ein Verfahren zur Konfiguration eines Fluoreszenz-Laserscanmikroskops beschrieben, mittels dem das aus dem Stand der Technik bekannte subjektive Auswählen von Laser- und Transmissionsspektren durch Verfahrensschritte ersetzt wird, um für jeden Fluoreszenzfarbstoff die in Datensätzen erfassten und in Datenspeichern abgespeicherten Anregungs- und Emissionswellenlängen eine Bestimmung und Vorgabe der zugehörigen Mikroskopkonfiguration zu ermöglichen. Diese genannten Verfahren betreffen nur die Einstellung von Parametern für die Bedienung der Mikroskope, es können mit diesen Verfahren aber keine Informationen über die Ausstattung, d. h. die Gerätekonfiguration, das Mikroskopzubehör und die Software, die diese Mikroskope enthalten, ermittelt werden. Für einen Mikroskopbenutzer sind aber diese Informationen eine Grundvoraussetzung zur Durchführung von Arbeitsaufgaben an insbesondere älteren oder weniger automatisierten Mikroskopen, um festzustellen, welche Gerätekonfigurationen zur Ansteuerung mittels der Software vorhanden sind und ob sie noch korrigiert werden müssen.
In DE 10 2004 029 912 A1 wird eine Steuersoftware beschrieben, die Kalibrierdaten für ein bekanntes Mikroskop oder für bekannte Mikroskopkomponenten ermittelt, die Kalibrierdaten ins Mikroskop schreiben und auch wieder auslesen kann.
Informationen darüber, wie vorgegangen werden soll, wenn die Daten nicht aus dem Mikroskop auslesbar sind, werden nicht angegeben.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zu schaffen, mit dem ein Mikroskopbenutzer über eine Mikroskopsteuersoftware in kürzester Zeit korrekte und vollständige Informationen über die Ausstattung und Konfiguration des anzusteuernden Mikroskops sowie seines Zubehörs erhält.
Das erfindungsgemäße Verfahren löst diese voranstehende Aufgabe durch die Merkmale des Patentanspruchs 1. Das Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, dass der automatische Suchablauf einer Mikroskopsteuersoftware so erweitert wird, dass, wenn benötigte Informationen zu Gerätekonfigurationen nicht automatisch durch Abfrage am Mikroskop ermittelt werden können, die zu diesen nicht erkannten Geräteinformationen in Frage kommenden Alternativen vorzugsweise in einem Dialogfenster, in der Mikroskopsteuersoftware aufgelistet werden, und der Mikroskopbenutzer dann entscheiden kann, welche Alternative angewendet wird. Dabei kann nach einer Entscheidung des Mikroskopbenutzers entweder ein Teil der davon abhängigen Alternativen ausgeschlossen oder neue, davon abhängige Alternativen hinzugefügt werden, so dass abschließend nach Durchlauf der Gerätekonfigurationsdateien eine neue vollständige Gerätekonfiguration für das anzusteuernde Mikroskop erstellt wird.
Vorteilhaft ist vorgesehen, dass dieses Verfahren zur Ansteuerung unterschiedlicher ansteuerbarer Mikroskope nicht nur auf die gesamte Gerätekonfiguration eines anzusteuernden Mikroskops, sondern auch auf Teilbereiche einer Gerätekonfiguration anwendbar ist, so dass beispielsweise nur ein Auflichtstrahlengang einer bestehenden Gerätekonfiguration betrachtet wird.
In besonders vorteilhafter Weise ist vorgesehen, dass bei Ausschluss eines Teils der Alternativen zu den nicht erkannten Geräteinformationen, diese in dem Auswahldialog nicht mehr aufgeführt werden. Der in dem vorliegenden Verfahren erstellte Auswahldialog enthält dabei Erläuterungen, Bilder, Diagramme, Zeichnungen und dergleichen Informationen zur Auswahl der Gerätekomponenten.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren kann ein Mikroskopbenutzer über eine Mikroskopsteuersoftware in kürzester Zeit korrekte und vollständige Informationen über die Ausstattung und Konfiguration des anzusteuernden Mikroskops sowie seines Zubehörs erhalten, so dass damit nach dem automatischen Durchlauf der Gerätekonfigurationsdateien eine vollständige und korrekte Gerätekonfiguration für das Arbeiten am Mikroskop vorliegt.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand eines in einem Blockschaltbild dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert.
Es zeigt:
1
ein Blockschaltbild des erfindungsgemäßen Verfahrens.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren zur Ermittlung der Konfiguration unterschiedlicher ansteuerbarer Mikroskope kann ein Mikroskopbenutzer durch Zugriff auf vorhandene und in Datenbanken abgelegte Gerätekonfigurationsdateien des anzusteuernden Mikroskops beispielsweise abfragen, welcher Gerätetyp wird angesteuert, über welche Schnittstelle ist das Mikroskop mit dem Rechner verbunden, wie ist das Mikroskop ausgestattet, beispielsweise Fokus, Objektivrevolver und dergleichen Bauelemente, mit welchen Objektiven, Reflektorblöcken und dergleichen Bauelementen ist das Mikroskop bestückt, welches Zubehör, wie Tische, Shutter, Lichtquellen werden verwendet, welche Software und Gerätekomponenten enthält das Mikroskop, so dass die in einem Benutzerdialog abgefragten, erforderlichen und anzupassenden Gerätekomponenten vervollständigt und eine korrekte Gerätekonfiguration ermittelt wird. 1 zeigt ein Ablaufdiagramm, in welchem die Komponenten, die an einem Knoten in einem Konfigurationsbaum vorhanden sind, dargestellt sind. Wird von einem Mikroskopbenutzer ein automatischer Suchablauf in bekannter Weise mit dem Zugriff auf die in den Datenbanken abgelegten Gerätekonfigurationsdateien des anzusteuernden Mikroskops gestartet, wird eine Liste der möglichen Gerätekomponenten für den auszuwählenden Knoten erstellt, beispielsweise Objektivrevolver, Strahlengang, Lampenanschluss oder dergleichen Bauelemente. Wird bei der Abfrage der Hardware zur Erkennung dieser Gerätekomponenten festgestellt, dass diese Gerätekomponenten nicht eindeutig erkannt oder ausgeschlossen wurden, wird der Mikroskopbenutzer nach dieser Information gefragt, indem die in Frage kommenden Alternativen zu den Gerätekomponenten beispielsweise in einem Dialogfenster in der Mikroskopsteuersoftware aufgelistet werden und der Mikroskopbenutzer dann entscheiden kann, welche Alternativen anwendbar sind. Dabei werden nach einer Entscheidung des Mikroskopbenutzers entweder schon ein Teil der Alternativen ausgeschlossen oder neue Gerätekomponenten zur Liste der verbleibenden Komponenten hinzugefügt, so dass abschließend nach Durchlauf der Konfigurationsdateien eine neue vollständige Gerätekonfiguration für das anzusteuernde Mikroskop erstellt wird.

Claims

Verfahren zur Ermittlung der Konfiguration unterschiedlicher ansteuerbarer Mikroskope, bei dem ein Mikroskopbenutzer durch Zugriff auf vorhandene Gerätekonfigurationsdaten eines anzusteuernden Mikroskops und durch eine Benutzerführung im Dialog neue für Arbeiten am Mikroskop angepasste Gerätekonfigurationsdaten erhält, dadurch gekennzeichnet, dass der automatische Suchablauf einer Mikroskopsteuersoftware so erweitert wird, dass, wenn benötigte Informationen zu Gerätekonfigurationen nicht automatisch durch Abfrage am Mikroskop ermittelt werden können, die zu diesen nicht erkannten Geräteinformationen in Frage kommenden Alternativen in einem Dialogfenster aufgelistet werden und der Mikroskopbenutzer entscheiden kann, welche Alternative angewendet wird, dass nach einer Entscheidung des Mikroskopbenutzers entweder ein Teil der davon abhängigen Alternativen ausgeschlossen wird, oder neue, davon abhängige Alternativen hinzugefügt werden, und dass abschließend nach Durchlauf der Gerätekonfigurationsdaten eine neue vollständige Gerätekonfiguration für das anzusteuernde Mikroskop erstellt wird.
Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Abfrage der Gerätekomponenten zur Gerätekonfiguration des anzusteuernden Mikroskops auch für Teilbereiche einer Gerätekonfiguration durchgeführt wird.
Verfahren nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass bei Ausschluss eines Teils der Alternativen zu den nichterkannten Geräteinformationen diese in dem Auswahldialog nicht mehr aufgeführt werden.
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Auswahldialog Erläuterungen, Bilder, Diagramme, Zeichnungen zur Auswahl der Gerätekomponenten enthält.
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die aufgelisteten Alternativen in einem Dialogfenster in der Mikroskopsoftware dargestellt sind.