DE102008003903A1 - Verfahren und Handhabungsvorrichtung zum Handhaben von elektronischen Bauelementen, insbesondere ICs, bei Niedrigtemperaturtests - Google Patents

Verfahren und Handhabungsvorrichtung zum Handhaben von elektronischen Bauelementen, insbesondere ICs, bei Niedrigtemperaturtests Download PDF

Info

Publication number
DE102008003903A1
DE102008003903A1 DE200810003903 DE102008003903A DE102008003903A1 DE 102008003903 A1 DE102008003903 A1 DE 102008003903A1 DE 200810003903 DE200810003903 DE 200810003903 DE 102008003903 A DE102008003903 A DE 102008003903A DE 102008003903 A1 DE102008003903 A1 DE 102008003903A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
components
handling device
radiation source
radiation
ambient temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE200810003903
Other languages
English (en)
Inventor
Günther JESERER
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Multitest Elektronische Systeme GmbH
Original Assignee
Multitest Elektronische Systeme GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Multitest Elektronische Systeme GmbH filed Critical Multitest Elektronische Systeme GmbH
Priority to DE200810003903 priority Critical patent/DE102008003903A1/de
Publication of DE102008003903A1 publication Critical patent/DE102008003903A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/2872Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
    • G01R31/2874Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to temperature
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2865Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices

Abstract

Bei einem Verfahren und einer Handhabungsvorrichtung zum Handhaben von elektronischen Bauelementen, insbesondere ICs, werden die getesteten Bauelemente (1) unmittelbar nach dem Verlassen einer Niedertemperaturkammer (9) mittels einer elektromagnetischen Strahlungsquelle (37) gezielt bestrahlt und damit erwärmt, wodurch Kondensationseffekte an den Bauelementen (1) bei Kalttests vermieden werden.

Description

  • Die Erfindung beschreibt ein Verfahren und eine Handhabungsvorrichtung zum Handhaben von elektronischen Bauelementen, insbesondere ICs, bei Niedrigtemperaturtests, wobei die Bauelemente in einer Niedrigtemperaturkammer der Handhabungsvorrichtung auf Temperaturen unter der Umgebungstemperatur abgekühlt und nach den Tests in einen Umgebungstemperaturraumbereich der Handhabungsvorrichtung überführt werden.
  • Elektronische Bauelemente, wie beispielsweise integrierte Schaltungen aufweisende Bausteine (ICs), werden üblicherweise nach ihrer Herstellung elektrischen und/oder mechanischen Funktionstests unterzogen. Hierzu werden Handhabungsautomaten, auch Handler genannt, verwendet, welche die Bauelemente mit hohen Geschwindigkeiten mit einer Testvorrichtung kontaktieren und nach Durchführung des Funktionstests wieder von dieser entfernen, um sie in Abhängigkeit des Testergebnisses zu sortieren. Häufig wird der Funktionstest unter bestimmten Temperaturbedingungen durchgeführt, wobei der Temperaturbereich von –60°C bis +160°C reichen kann.
  • Werden die getesteten Bauelemente bei einem Niedrigtemperaturtest aus der Niedertemperaturkammer 9, in der, wie bereits erwähnt, Temperaturen bis zu –60°C herrschen können, in einen Bereich überführt, in dem atmosphärische Umgebungsbedingungen herrschen, wie beispielsweise 20°C und normale Luftfeuchte, kann es auf den Bauelementen zur Kondensation von Feuchtigkeit kommen, welche unter Umständen sogar vereist. Da diese Feuchtigkeit auf den elektronischen Bauelementen Schaden anrichten kann, beispielsweise indem das Bauelement beschädigt wird oder unter dem Einfluss der Feuchte schlechter gehandhabt werden kann, ist es wünschenswert, derartige Kondensationen zu vermeiden. Auch können Kondensationen in der Handhabungsvorrichtung zur Tropfenbildung führen. Hierdurch kann einerseits die Funktionsweise der Handhabungsvorrichtung beeinträchtigt werden, da elektronische Teile in der Handhabungsvorrichtung beschädigt werden können, oder es kann sogar zu einer Gefährdung des bedienenden Personals durch Stromschlag kommen.
  • Weiterhin ist es bekannt, die Bauelemente nach ihrem Funktionstest in einen sogenannten Desoakbereich einzubringen, in welchem sie sich über einen längeren Zeitraum der Umgebungstemperatur anpassen können oder in welchem sie, wenn der Desoakbereich als Temperaturkammer ausgeführt ist, allmählich erwärmt werden. Nachteil dieses Verfahrens ist ein relativ hoher Platzbedarf. Weiterhin geschieht die Erwärmung relativ langsam.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und eine Handhabungsvorrichtung der eingangs genannten Art zu schaffen, mit dem bzw. der Kondensationen auf den elektronischen Bauelementen auf möglichst schnelle und wirksame Weise vermieden werden können.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Verfahren und eine Handhabungsvorrichtung mit den Merkmalen der Ansprüche 1 bzw. 3 gelöst. Vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung sind in den weiteren Ansprüchen beschrieben.
  • Gemäß dem erfindungsgemäßen Verfahren werden die getesteten Bauelemente unmittelbar nach dem Verlassen der Niedertemperaturkammer mittels einer elektromagnetischen Bestrahlungsquelle gezielt bestrahlt und dadurch erwärmt. Hierdurch kann die Erwärmung der Bauelemente auf Umgebungstemperatur auf sehr schnelle und wirksame Weise vorgenommen werden, so dass Kondensationen auf den Bauelementen mit Sicherheit vermieden werden können. Die Gefahr einer Beschädigung und einer schlechteren Handhabung der Bauelemente, eine Tropfenbildung und eine Beschädigung elektronischer Teile in der Handhabungsvorrichtung und eine Gefährdung des Personals können damit ausgeschlossen werden.
  • Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform werden die Bauelemente mit Strahlung im nahen Infrarotbereich (NIR), d. h. im Bereich von 750–3000 nm, während einer Bestrahlungsdauer von 0,2 bis 15 Sek. bestrahlt. Es hat sich gezeigt, dass eine Bestrahlung im NIR-Bereich besonders effektiv ist. Die Bestrahlungsdauer kann in weitem Umfang variiert werden und hängt maßgeblich von den Testtemperaturen, der Art der Bausteine und dem zu erzielenden Durch satz der Handhabungsvorrichtung ab.
  • Bei der erfindungsgemäßen Handhabungsvorrichtung ist im Umgebungstemperaturraumbereich eine Strahlungsvorrichtung mit einer auf die Bauelemente ausgerichteten oder ausrichtbaren elektromagnetischen Strahlungsquelle zur Schnellerwärmung der Bauelemente mittels elektromagnetischer Strahlung vorgesehen. Die damit verbundenen Vorteile entsprechen denjenigen, die im Zusammenhang mit dem erfindungsgemäßen Verfahren bereits beschrieben wurden.
  • Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform befindet sich die Strahlungsquelle in einem Abschnitt des Umgebungstemperaturraumbereichs, der in Bewegungsrichtung der Bauelemente unmittelbar an die Niedertemperaturkammer anschließt. Dies reduziert die Zeit, in der sich Feuchtigkeit oder Eis auf den Bauelementen bilden kann.
  • Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform ist die Strahlungsquelle Teil einer beweglichen Strahlungseinheit, die mittels eines Bewegungsmechanismus zwischen einer aktiven Betriebsstellung und einer Rückzugsstellung bewegbar ist, wobei die Strahlungseinheit in der aktiven Betriebsstellung in Nachbarschaft der zu erwärmenden Bauelemente angeordnet ist, während sie in der Rückzugstellung von den Bauelementen weiter entfernt ist, derart, dass sie außerhalb der Bewegungsbahn der Bauelemente, von Bauelementhalteeinrichtungen oder von Bauelementtransporteinrichtungen angeordnet ist. Durch die Beweglichkeit der Strahlungseinheit kann diese auf einfache Weise in Handlersysteme integriert werden, ohne dass es zu Kollisionen mit Bauelementhalteeinrichtungen, wie beispielsweise Trays, oder Bauelementtransporteinrichtungen, wie beispielsweise Pick & Place-Einheiten, kommt.
  • Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform umfasst der Bewegungsmechanismus einen Hebelmechanismus mit einem Parallelogrammgestänge, das einerseits an der Strahlungseinheit und andererseits an einer stationären Konsole der Handhabungsvorrichtung schwenkbar gelagert und mittels einer Antriebseinrichtung schwenkbar ist. Auf diese Weise lässt sich die Strahlungseinheit auf einfache, schnelle und präzise Weise zwischen ihrer Rückzugsstellung und der aktiven Betriebsstellung hin- und herschwenken.
  • Die Erfindung wird nachfolgend anhand von Zeichnungen beispielhaft näher erläutert. Es zeigen:
  • 1: eine teilweise aufgeschnitten und vereinfacht dargestellte Handhabungsvorrichtung gemäß dem Stand der Technik,
  • 2: eine Handhabungsvorrichtung gemäß 1, jedoch mit einer erfindungsgemäßen Strahlungsvorrichtung,
  • 3: die Strahlungsvorrichtung von 2 in Alleinstellung, wobei sich die Strahlungseinheit in der Rückzugsstellung befindet, und
  • 4: die Strahlungsvorrichtung von 3, wobei sich die Strahlungseinheit in der aktiven Betriebsstellung befindet.
  • Eine übliche Handhabungsvorrichtung für Kalt- oder Nied rigtemperaturtests, d. h. für Tests, bei denen die Bauelemente auf Temperaturen abgekühlt werden, die unterhalb der Umgebungstemperatur, insbesondere unterhalb des Taupunktes liegen, ist in 1 dargestellt, welche einzelne Elemente der Handhabungsvorrichtung lediglich schematisch zeigt. 1 zeigt einen sogenannten Pick & Place-Handler. Es ist jedoch ohne weiteres möglich, einen Gravityhandler zu verwenden, bei dem die Bauelemente nicht mittels Pick & Place-Einheiten, sondern mittels Schwerkraft innerhalb des Handlers fortbewegt werden. Bei dem in 1 dargestellten Ausführungsbeispiel liegen die zu testenden Bauelemente 1 in sogenannten Trays (Tabletts) 2, die zu einem Stapel 3 gestapelt sind und sich in einem Beladebereich der Handhabungsvorrichtung befinden.
  • Die zu testenden Bauelemente 1 werden mittels einer äußeren Pick & Place-Einheit 5 aus den Trays 2 entnommen und zu einer Beladezwischenstation 6 gefördert, wie durch den Pfeil 7 veranschaulicht.
  • Von der Beladezwischenstation 6 werden die Bauelemente 1, wie durch den Pfeil 8 veranschaulicht, in eine wärmeisolierte Niedertemperaturkammer 9 eingeführt. Dies erfolgt mittels einer inneren Pick & Place-Einheit 10. In der Niedertemperaturkammer 9 werden die Bauelemente 1 in Transport-Trays 11 abgelegt und dort auf die gewünschte Temperatur abgekühlt. Die gefüllten Transport-Trays 11 werden dabei in Richtung des Pfeils 12 und quer zu dieser Richtung bewegt, bis sie unterhalb einer Plungeranordnung 13 zu liegen kommen. Die Plungeranordnung 13 weist eine Mehrzahl von Plungern 14, d. h. von Sauggreifern auf, welche in ihrer Längsrichtung, wie durch die Pfeile 15 veranschaulicht, verschoben und um eine Drehachse 16, wie durch die Pfeile 17 veranschaulicht, geschwenkt werden können. Im gezeigten Ausführungsbeispiel werden jeweils vier Bauelemente 1 von den Plungern 14 gleichzeitig angesaugt und aus dem Transport-Trag 11 entnommen. Anschließend wird die Plungeranordnung 13 um 90° geschwenkt, so dass die betreffenden Plunger 14 horizontal ausgerichtet sind, und diese Plunger 14 in horizontaler Richtung ausgefahren, bis die Bauelemente 1 an einem nicht dargestellten Kontaktsockel der Testvorrichtung anliegen und dadurch mit der Testvorrichtung elektrisch kontaktiert sind. Dies ist durch den Pfeil 18 veranschaulicht.
  • Nach Durchführung des Tests werden die Plunger wieder zurückgezogen und die Plungeranordnung 13 derart geschwenkt, dass die getesteten Bauelemente 1 wieder in einem unterhalb der Plungeranordnung 13 wartenden Transport-Trag 11 eingesetzt werden können. Nach Füllen dieses Transport-Trays 11 wird dieses innerhalb der Niedertemperaturkammer 9 in Richtung der Pfeile 20, 21 weiter bewegt und schließlich mittels einer innerhalb der Niedertemperaturkammer 9 angeordneten Pick & Place-Einheit 22 aus dem Transport-Trag 11 entnommen.
  • Die Pick & Place-Einheit 22 befördert nun die Bauelemente 1, wie durch den Pfeil 23 veranschaulicht, aus der Niedertemperaturkammer 9 hinaus in eine Entladezwischenstation 24, die sich in einem an die Niedertemperaturkammer 9 unmittelbar angrenzenden Umgebungstemperaturraumbereich 4 befindet. Der Umgebungstemperaturraumbereich 4 ist nicht speziell temperiert, so dass darin zumindest annähernd die Temperatur und Luftfeuchtigkeit der Umgebung herrschen. Von der Entladezwischenstation 24 werden die Bauelemente 1 mittels einer äußeren Pick & Place-Einheit 25 auf unter schiedliche Trays 26 oder 27 abgelegt, je nach dem, ob die Bauelemente 1 den Funktionstest bestanden haben oder nicht. Die Trays 26, 27, die wiederum gestapelt vorliegen, befinden sich im gezeigten Ausführungsform in zwei nebeneinander liegenden Schubfächern 28, 29 der Handhabungsvorrichtung, die wiederum zum Umgebungstemperaturraumbereich 4 gehören und die Entladestation bilden.
  • Die Eingabe von Werten und Parametern sowie die Überwachung des Prozesses erfolgt über eine Eingabe-/Anzeigeeinrichtung (Panel) 30. Weiterhin ist in den Figuren noch eine Warnleuchte 31 eingezeichnet.
  • Zusammenfassend kann somit festgestellt werden, dass bei der aus 1 ersichtlichen Handhabungsvorrichtung die zu testenden Bauelemente 1 aus dem Beladebereich 4 entnommen, in die Niedertemperaturkammer 9 eingeführt und dort im Uhrzeigersinn herumgeführt werden, wobei sie zwischenzeitlich von der Plungeranordnung 13 in Richtung Testvorrichtung bewegt und von dieser wieder entfernt werden, und anschließend aus der Niedertemperaturkammer 9 in den Umgebungstemperaturraumbereich 4 zurückgeführt werden, von dem die Trays 26, 27 dann manuell entnommen werden können.
  • Anhand von 2 wird im Folgenden ein Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Handhabungsvorrichtung beschrieben. Diese Handhabungsvorrichtung ist bezüglich sämtlicher Komponenten und bezüglich der Wirkungsweise, die im Zusammenhang mit der in 1 dargestellten, bekannten Handhabungsvorrichtung beschrieben worden sind, identisch oder zumindest im Wesentlichen identisch aufgebaut, so dass diesbezüglich auf die Beschreibung von 1 verwiesen wird. Wesentlich ist, dass bei der erfindungs gemäßen Handhabungsvorrichtung von 2 eine zusätzliche Strahlungsvorrichtung 32 vorgesehen ist, um die Bauelemente 1 unmittelbar, nachdem sie von der inneren Entlade-Pick & Place-Einheit 22 aus der Niedertemperaturkammer 9 entnommen und in die Entladezwischenstation 24 gebracht worden sind, auf schnellstem Weg zu erwärmen, um die Bildung von Feuchtigkeit und Eis auf den Bauelementen 1 durch Kondensation zu verhindern.
  • Die Strahlungsvorrichtung 32 ist an einem Träger 33 befestigt, der innerhalb des Umgebungstemperaturraumbereichs 4 in unmittelbarer Nachbarschaft einer nicht näher dargestellten Trennwand angeordnet ist, welche den Umgebungstemperaturraumbereich 4 von der Niedertemperaturkammer 9 trennt. Der Träger 33 erstreckt sich derart quer durch die Handhabungsvorrichtung, dass eine die Entladezwischenstation 24 bildende Nesteinheit 34, auf der insgesamt acht Bauelementnester 35 angebracht sind, auf dem Träger 33 an einer Stelle befestigt werden kann, an der die Nesteinheit 34 von der Entlade-Pick & Place-Einheit 23 mit getesteten Bauelementen 1 bestückt werden kann.
  • Sobald die getesteten, noch gekühlten Bauelemente in die Bauelementnester 35 der Nesteinheit 34 eingesetzt sind, wird die Strahlungsvorrichtung 32 aktiviert, um diese Bauelemente 1 während einer Zeit, die von Bruchteilen einer Sekunde bis zu mehreren Sekunden dauern kann, zu bestrahlen und dadurch in sehr kurzer Zeit zu erwärmen. Diese Strahlungsvorrichtung 32 wird im Folgenden anhand der 3 und 4 näher beschrieben.
  • Die Strahlungsvorrichtung 32 weist eine bewegliche Strahlungseinheit 36 auf, die zwischen einer in 3 ge zeigten Rückzugsstellung und einer in 4 gezeigten aktiven Betriebsstellung bewegbar ist. Die Strahlungseinheit 36 enthält eine Strahlungsquelle 37, die im gezeigten Ausführungsbeispiel aus zwei Röhren besteht, welche Strahlen im nahen Infrarotbereich ausstrahlen. Solche Strahlungsquellen werden auch als NIR-Strahler bezeichnet. Im Ausführungsbeispiel von 3 ist nur eine der beiden Röhren sichtbar. Die Röhren können jeweils beispielsweise eine Leistung von 500 bis 1.000 Watt, insbesondere etwa 700 Watt, haben. Die Röhren können nach oben hin durch einen Reflektor abgedeckt sein, welcher die ausgesandten Strahlen nach unten, d. h. in Richtung Bauelemente 1, reflektiert.
  • Die Strahlungseinheit 36 ist mit einem Bewegungsmechanismus gekoppelt, der ein Parallelogrammgestänge 38 mit zwei parallelen Schwenkhebeln 38a, 38b, einen Zwischenhebel 39 und einen Antriebshebel 40 umfasst. Die Schwenkhebel 38a, 38b sind einerseits an der Strahlungseinheit 36 und andererseits an einer stationären Konsole 41 der Handhabungsvorrichtung schwenkbar gelagert. Der Zwischenhebel 39 ist einerseits mit einem mittleren Bereich des Schwenkhebels 38b und andererseits mit einem Endbereich des Antriebshebels 40 gelenkig verbunden. Das andere Ende des Antriebshebels 40 ist drehfest an einer um eine Drehachse 43 drehbaren Welle 42 einer nicht näher dargestellten Antriebseinrichtung befestigt. Wird die Welle 42 durch die Antriebseinrichtung, beispielsweise durch einen pneumatischen Schwenkzylinder oder Elektromotor, entgegen dem Uhrzeigersinn gedreht, wird die Strahlungseinheit 36, wie aus 4 ersichtlich, längs des Trägers 33 unter Beibehaltung ihrer Ausrichtung nach innen verschwenkt, bis sich die Strahlungseinheit 36 unmittelbar über den Bauelement nestern 35 und damit über den darin liegenden Bauelementen 1 befindet. Zweckmäßigerweise wird dabei die Strahlungseinheit 36 direkt auf die Nesteinheit 34 aufgesetzt, so dass sich die Strahlungsquelle 37 in unmittelbarer Nachbarschaft zu den Bauelementen 1 befindet, d. h. in einem Abstand, der zweckmäßigerweise in einem Bereich zwischen 1 mm und 5 cm liegt.
  • Nach Ablauf der gewünschten Bestrahlungszeit wird die Welle 42 im Uhrzeigersinn zurückgedreht, wodurch die Strahlungseinheit 36 wieder nach außen in ihre Rückzugsstellung zurückgeschwenkt wird, die in 3 dargestellt ist. In dieser Rückzugsstellung ist die Strahlungseinheit 36 derart zur Nesteinheit 34 beabstandet, dass weder die Entlade-Pick & Place-Einheit 23 noch die äußere Pick & Place-Einheit 25 in ihren Funktionen behindert werden.
  • Um die Bewegung der Strahlungseinheit 36 kurz vor Erreichen ihrer beiden Endstellungen zu dämpfen, ist weiterhin ein stationärer Stoßdämpfer 44 vorgesehen, der mit der Unterseite des Antriebshebels 40 zusammenwirkt, sowie ein stationärer Stoßdämpfer 45 (4), auf den die gegenüberliegende Seite des Antriebshebels 40 auftrifft, wenn die Strahlungseinheit 36 ihre aktive Betriebsstellung erreicht.
  • Der gesamte Bewegungsmechanismus der Strahlungsvorrichtung 32 ist an einer Trägerplatte 46 befestigt, die am äußeren Ende des Trägers 33 festgeschraubt ist. Im oberen Endbereich der Trägerplatte 46 ist eine Sitzplatte 47 befestigt, auf welcher die Strahlungseinheit 36 in ihrer Rückzugsstellung zu liegen kommt. Die Sitzplatte 47 dient einerseits dazu, eine Auflage für die Strahlungseinheit 36 zu schaffen, und andererseits als Hitzeschutz, welcher die Wärme der Strahlungseinheit 36 von den darunter liegenden Teilen, insbesondere vom Schwenkzylinder oder Elektromotor, abhält.
  • Alternativ zu dem beschriebenen Ausführungsbeispiel einer beweglichen Strahlungsquelle ist es auch möglich, die Strahlungsquelle stationär in der Handhabungsvorrichtung anzuordnen, falls hierdurch die Handhabung der Bauelemente 1 nicht behindert wird. Weiterhin sind auch vielerlei andere Bewegungsmechanismen zum Bewegen einer oder mehrerer Strahlungseinheiten möglich, beispielsweise mittels ausfahrbaren Pneumatikzylindern.

Claims (8)

  1. Verfahren zum Handhaben von elektronischen Bauelementen, insbesondere ICs, bei Niedrigtemperaturtests mittels einer Handhabungsvorrichtung, wobei die Bauelemente (1) in einer Niedertemperaturkammer (9) der Handhabungsvorrichtung auf Temperaturen unter der Umgebungstemperatur abgekühlt und nach dem Test in einen Umgebungstemperaturraumbereich (4) der Handhabungsvorrichtung überführt werden, dadurch gekennzeichnet, dass die getesteten Bauelemente (1) unmittelbar nach dem Verlassen der Niedertemperaturkammer (9) mittels einer elektromagnetischen Strahlungsquelle (37) gezielt bestrahlt und damit erwärmt werden.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Bauelemente (1) mit Strahlung im nahen Infrarotbereich (750–3.000 nm) während einer Bestrahlungsdauer von 0,2–15 Sek. bestrahlt werden.
  3. Handhabungsvorrichtung zum Handhaben von elektronischen Bauelementen, insbesondere ICs, bei Niedrigtemperaturtests mit einer Niedertemperaturkammer (9), in der die Bauelemente (1) auf eine vorbestimmte Temperatur abgekühlt wer den, die unterhalb der Umgebungstemperatur liegt, und einem Umgebungstemperaturraumbereich (4), in dem die Bauelemente (1) nach Durchführung des Bauelementtests überführt werden, dadurch gekennzeichnet, dass im Umgebungstemperaturraumbereich (4) eine Strahlungsvorrichtung (32) mit einer auf die Bauelemente (1) ausgerichteten oder ausrichtbaren elektromagnetischen Strahlungsquelle (37) zur Schnellerwärmung der Bauelemente (1) mittels elektromagnetischer Strahlung vorgesehen ist.
  4. Handhabungsvorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass sich die Strahlungsquelle (37) in einem Abschnitt des Umgebungstemperaturraumbereichs (4) befindet, der in Bewegungsrichtung der Bauelemente (1) unmittelbar an die Niedertemperaturkammer (9) anschließt.
  5. Handhabungsvorrichtung nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlungsquelle (37) aus einer Infrarot-Strahlungsquelle besteht.
  6. Handhabungsvorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlungsquelle (37) Infrarotstrahlen im nahen Infrarotbereich (NIR) erzeugt.
  7. Handhabungsvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlungsquelle (37) Teil einer beweglichen Strahlungseinheit (36) ist, die mittels eines Bewegungsmechanismus zwischen einer aktiven Betriebsstellung und einer Rückzugsstellung bewegbar ist, wobei die Strahlungseinheit (36) in der aktiven Betriebsstellung in Nachbarschaft der zu erwärmenden Bauelemente (1) angeordnet ist, während sie in der Rückzugsstellung von den Bauelementen (1) weiter entfernt ist, derart, dass sie außerhalb der Bewegungsbahn der Bauelemente (1), von Bauelementhalteeinrichtungen oder von Bauelementtransporteinrichtungen angeordnet ist.
  8. Handhabungsvorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass der Bewegungsmechanismus einen Hebelmechanismus mit einem Parallelogrammgestänge (38) umfasst, das einerseits an der Strahlungseinheit (36) und andererseits an einer stationären Konsole (41) der Handhabungsvorrichtung schwenkbar gelagert und mittels einer Antriebseinrichtung schwenkbar ist.
DE200810003903 2008-01-10 2008-01-10 Verfahren und Handhabungsvorrichtung zum Handhaben von elektronischen Bauelementen, insbesondere ICs, bei Niedrigtemperaturtests Withdrawn DE102008003903A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200810003903 DE102008003903A1 (de) 2008-01-10 2008-01-10 Verfahren und Handhabungsvorrichtung zum Handhaben von elektronischen Bauelementen, insbesondere ICs, bei Niedrigtemperaturtests

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200810003903 DE102008003903A1 (de) 2008-01-10 2008-01-10 Verfahren und Handhabungsvorrichtung zum Handhaben von elektronischen Bauelementen, insbesondere ICs, bei Niedrigtemperaturtests

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102008003903A1 true DE102008003903A1 (de) 2009-09-10

Family

ID=40935971

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE200810003903 Withdrawn DE102008003903A1 (de) 2008-01-10 2008-01-10 Verfahren und Handhabungsvorrichtung zum Handhaben von elektronischen Bauelementen, insbesondere ICs, bei Niedrigtemperaturtests

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102008003903A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108535578A (zh) * 2018-05-30 2018-09-14 深圳市易捷测试技术有限公司 一种用于元器件电离辐照测试的装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3822008A1 (de) * 1987-07-07 1989-01-19 Jakobs Dieter Ausziehbarer telefon - schwenkarm
JPH04115546A (ja) * 1990-09-05 1992-04-16 Hitachi Ltd 高低温ハンドラ
DE102006015365A1 (de) * 2006-04-03 2007-10-11 Multitest Elektronische Systeme Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Temperieren von elektronischen Bauelementen

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3822008A1 (de) * 1987-07-07 1989-01-19 Jakobs Dieter Ausziehbarer telefon - schwenkarm
JPH04115546A (ja) * 1990-09-05 1992-04-16 Hitachi Ltd 高低温ハンドラ
DE102006015365A1 (de) * 2006-04-03 2007-10-11 Multitest Elektronische Systeme Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Temperieren von elektronischen Bauelementen

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108535578A (zh) * 2018-05-30 2018-09-14 深圳市易捷测试技术有限公司 一种用于元器件电离辐照测试的装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE10216786C5 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Konditionierung von Halbleiterwafern und/oder Hybriden
EP0597053B1 (de) Vorrichtung zur wärmebehandlung eines magazins für systemträger mit elektronischen bauelementen
DE102012024105A1 (de) Kryo-Lagereinrichtung und Verfahren zu deren Betrieb
EP2483700B1 (de) Vorrichtung zur konditionierung von halbleiterchips und testverfahren unter verwendung der vorrichtung
DE102007047772B4 (de) Temperierkammer zum Temperieren von elektronischen Bauelementen, insbesondere IC's
DE102006041788A1 (de) Luftfahrzeug-Elektronikkühleinrichtung für ein Luftfahrzeug mit einem Flüssigkeitskühlsystem
EP2326941A1 (de) Vorrichtung zur materialprüfung von prüfobjekten mittels röntgenstrahlung
DE102011009259A1 (de) Fügekopf zum Befestigen eines Befestigungselements sowie ein Befestigungsverfahren
EP2743675B1 (de) Prüfanlage mit Prüfkammer, Temperiereinheit und Pufferspeicher und Verfahren zum Betreiben derselben
DE102008003903A1 (de) Verfahren und Handhabungsvorrichtung zum Handhaben von elektronischen Bauelementen, insbesondere ICs, bei Niedrigtemperaturtests
DE112015000714B4 (de) Halbleiterwaferinspektionsvorrichtung und Halbleiterwafer-Inspektionsverfahren
DE102012219684B4 (de) Tragbare Einrichtung zum Transportieren einer histologischen Probe
EP2195669A1 (de) Plunger zum halten und bewegen von elektronischen bauelementen, insbesondere ic's mit wärmeleitkörper
EP1889133B1 (de) Verfahren und vorrichtung zum temperieren von elektronischen bauelementen
EP2195668B1 (de) Plunger zum halten und bewegen elektronischer bauelemente, insbesondere ic's
EP2195671A2 (de) Handhabungsvorrichtung für elektronische bauelemente, insbesondere ic's, mit pneumatikzylinderbewegungseinrichtung zum verschieben von plungern
DE102014203782A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Verhindern des Einfrierens eines Relais
EP2122375B1 (de) Testvorrichtung zum testen von prüflingen unter temperatur
DE102009003447B4 (de) Verfahren zum Vulkanisieren von Fahrzeugreifen mit einer Heizpresse
DE102018105354B3 (de) Testhandler zum Durchführen von Funktionstests an Halbleiterelementen
DE102022122723A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Trocknen und/oder Reinigen von topfförmigen Hohlkörpern, insbesondere von Transportbehältern für Halbleiterwafer oder für EUV-Lithografie-Masken
DE102022123550A1 (de) Vorrichtung zum Auftragschweißen, sowie ein Verfahren zum Vorwärmen eines Werkstücks
DE102020126740A1 (de) Ein aus zumindest einer Ladeeinrichtung und einem Akkumulator gebildetes System und Verfahren zur Temperierung eines Akkumulators
EP2040108A2 (de) Vorrichtung zum betrachten eines Films
EP1153670A2 (de) Reinigungssystem

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8139 Disposal/non-payment of the annual fee