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HINTERGRUND DER ERFINDUNG
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GEBIET DER ERFINDUNG
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Die
vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Justierung von
mindestens einem optischen Element in einem Objektiv, insbesondere
einem Objektiv für die Mikrolithographie sowie ein entsprechendes
Datenverarbeitungsprogramm und einen Manipulator für ein
derartiges optisches Element.
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STAND DER TECHNIK
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Optische
Elemente, wie Linsen, Spiegel oder dergleichen müssen in
einem Objektiv, insbesondere einem Objektiv für die Mikrolithographie
exakt positioniert werden, damit sie ihre Aufgabe optimal erfüllen können.
Um die optimale Positionierung der optischen Elemente in einem Objektiv
zu erreichen, werden diese entsprechend justiert und ausgerichtet. Dazu
sind Manipulatoren vorgesehen, die eine Bewegung des optischen Elements
beispielsweise in einer Ebene ermöglichen.
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Üblicherweise
erfolgen die Justierung bzw. die Justage des optischen Elements
so, dass die Ausrichtung bzw. Zentrierung des optischen Elements
unter Abbildungsbedingungen erfolgt, so dass aufgrund des zu beobachtenden
oder zu messenden Abbildungsergebnisses eine unmittelbare Ausrichtung
und Zentrierung erfolgen kann.
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Obwohl
dieses System letztendlich zu guten Ergebnissen führen
kann, ist es doch relativ aufwändig, da nach trial-and-error-Prinzip
eine entsprechende Abänderung der Position des optischen
Elements vorgenommen werden muss.
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Die
US 2002/0159048 A1 offenbart
eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Messung von Abberationen,
bei welchem durch gemessene Abberationskomponenten mittels Korrekturinformationen
zusätzliche Abberationskomponenten ermittelt werden, um so
eine exakte Abberationsbestimmung zu erhalten.
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Die
US 2005/0237506 A1 beschreibt
ein Verfahren zur Optimierung von Abbildungseigenschaften bei Projektionsbelichtungssystemen,
bei welchem anstelle oder zusätzlich zur Optimierung durch die
Justierung von optischen Elementen ein Wechsel des Belichtungsfeldes
vorgenommen wird, wobei bei den unterschiedlichen Belichtungsfeldern
optimale Abbildungseigenschaften eingestellt werden.
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Die
US 6,678,240 B2 beschreibt
ein Verfahren zur Optimierung der Abbildungseigenschaften von mehreren
optischen Elementen, bei denen wenigstens eines relativ zu wenigstens
einem stationären optischen Element beweglich ist. Bei
dem entsprechenden Verfahren wird der gesamte Abbildungsfehler in
einer ersten und einer zweiten Position des mindestens einen beweglichen
Elements gemessen, wobei aus den Messwerten die Abbildungsfehler
des bzw. der beweglichen und des bzw. der stationären Elemente
berechnet werden. Daraus wird dann wiederum eine Sollposition des
oder der beweglichen Elemente mit einem minimalen Abbildungsfehler
bestimmt. Allerdings sind hierzu zwei Messungen erforderlich.
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Ein ähnliches
Verfahren offenbart die
US 6,934,011
B2 , bei welcher allerdings aus einer Messung eines gesamten
Abbildungsfehlers des optischen Systems mit mindestes einem beweglichen optischen
Element eine Sollposition des beweglichen optischen Elements berechnet
werden kann.
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OFFENBARUNG DER ERFINDUNG
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AUFGABE DER ERFINDUNG
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Es
ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung ein Verfahren und entsprechende
Einrichtungen bereitzustellen, welche ermöglichen eine
definierte Justierung von optischen Elementen in einem Objektiv mittels
entsprechender Manipulatoren vorzunehmen. Insbesondere soll die
Justierung auch möglich sein, ohne dass gleichzeitig eine
Abbildung oder Messung der Abbildungseigenschaften durch das Objektiv
erfolgen müssen.
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TECHNISCHE LÖSUNG
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Diese
Aufgabe wird gelöst durch ein Verfahren mit den Merkmalen
des Anspruchs 1, einem Programmprodukt mit den Merkmalen des Anspruchs
19 sowie einem Manipulator mit den Merkmalen des Anspruchs 20. Vorteilhafte
Ausgestaltungen sind Gegenstand der abhängigen Ansprüche.
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Die
Erfindung geht aus von der Erkenntnis, dass eine Einstellung und
Justage eines optischen Elements in einem Objektiv und insbesondere
mit der Genauigkeit, die für ein Objektiv der Mikrolithographie
notwendig ist, auch ohne gleichzeitige Abbildung oder Messung der
Abbildungseigenschaften möglich ist und damit ein ständiger
Vergleich der erzielten mit der gewünschten Abbildungseigenschaften
während der Justage vermieden werden kann. Ausgehend von
einer einzigen Abbildung oder Messung der Abbildungseigenschaften
ist es nämlich möglich, die Abweichung der Abbildungseigenschaften
von den gewünschten, berechneten Abbildungseigenschaften
zu ermitteln und ausgehend davon die Abweichung des optischen Elements
von der Idealposition zu bestimmen. Mit dieser ermittelten Abweichung
der Istposition des optischen Elements von der Idealposition kann
jedoch eine Sollposition des optischen Elements bestimmt werden.
Diese Sollposition kann wiederum dazu verwendet werden, die Manipulatoren
zur Bewegung des optischen Elements entsprechend zu betätigen,
so dass das optische Element in die Sollposition oder an diese heran
bewegt wird.
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Entsprechend
können Mittel zur Erfassung eines Bildes vorgesehen werden,
die es erlauben, auf die Position oder Abweichung eines oder mehrerer
optischer Elemente von einer Idealposition zurück zu rechnen.
Die Messung der Abbildungseigenschaften kann örtlich verteilt über
das Bild erfolgen.
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Die
Sollposition kann als Relativposition ermittelt werden, d. h. als
Angabe, wie das optische Element von seiner derzeitigen Position
aus bewegt werden muss, um in die optimal zentrierte bzw. justierte
Position zu gelangen.
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Bei
der vorliegenden Erfindung wird unter Objektiv jegliche optische
Abbildungsvorrichtung verstanden, also nicht nur das eigentliche
Projektionsobjektiv zur Abbildung eines Retikels auf ein Substrat (Wafer)
sondern auch das Belichtungssystem zur Belichtung des Retikels.
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Die
Berechnung der Abbildungseigenschaften erfolgt vorzugsweise in einem
Koordinatensystem, welches beliebig oder willkürlich festgelegt
werden kann (erstes Koordinatensystem oder Berechnungskoordinatensystem).
Demgegenüber wird jedoch die Bewegung durch den oder die
Manipulatoren durch die Bewegungsmöglichkeiten der Manipulatoren
bzw. deren Stellelemente festgelegt. So wird beispielsweise für
eine Bewegung eines optischen Elements, wie einer optischen Linse,
in der Linsenebene durch das Vorsehen von x-y-Manipulatoren, die eine
Bewegung in x- und y-Richtung innerhalb der Ebene ermöglichen,
das Bewegungskoordinatensystem (zweites Koordinatensystem) festgelegt.
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Da
beim Einbau eines optischen Elements in ein Objektiv unter Umständen
aus Platzgründen die Manipulatoren, wie z. B. Stellschrauben
in bestimmten Richtungen vorgesehen werden müssen, ist
ein Abweichen des Bewegungskoordinatensystems von dem Berechnungskoordinatensystem,
mit dem die Abbildungseigenschaften theoretisch berechnet worden
sind, nicht unwahrscheinlich. Darüber hinaus besteht die
Problematik, dass unter Umständen beim Einbau, z. B. aufgrund übereinander
liegender Manipulatoren oder dergleichen, auch die Anordnung des Bewegungssystems
innerhalb einer optischen Fassung von einer vorher vorgesehenen
Position abweichen kann. Gleiches gilt für den Einbau der
Fassung in das Objektiv an sich.
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Da
somit das Koordinatensystem für die Berechnung der Abbildungseigenschaften
(erstes Koordinatensystem) und das Koordinatensystem für
die Bewegung des optischen Elements (zweites Koordinatensystem)
nicht in jedem Fall übereinstimmen, kann bei der Ermittlung
der Sollposition zunächst eine Ermittlung einer ersten
Sollposition des optischen Elements im ersten Koordinatensystem
und anschließend eine Ermittlung einer zweiten Sollposition
im zweiten Koordinatensystem oder umgekehrt erfolgen.
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Die
Ermittlung der zweiten Sollposition im zweiten Koordinatensystem
(Bewegungskoordinatensystem) kann durch Koordinatentransformation der
Koordinaten der ersten Sollposition im ersten Koordinatensystem
(Berechnungskoordinatensystem) auf das zweite Koordinatensystem
erfolgen.
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Die
Abweichung von erstem Koordinatensystem und zweitem Koordinatensystem
kann darin bestehen, dass unterschiedliche Koordinatensysteme zu
Grunde liegen und/oder eine unterschiedliche Ausrichtung von gleichen
Koordinatensystemen vorliegt.
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Beispielsweise
kann das erste Koordinatensystem ein kartesisches Koordinatensystem
sein, in dem die x- und y-Achse senkrecht aufeinander stehen, während
das zweite Koordinatensystem (Bewegungskoordinatensystem) ein Koordinatensystem sein
kann, bei welchem x- und y-Achse nicht senkrecht aufeinander stehen.
Dies kann dadurch gegeben sein, dass die Manipulatoren bzw. Stellelemente für
die Bewegung in x- und y-Richtung nicht exakt senkrecht zueinander
ausgerichtet sind.
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In
einem derartigen Fall kann zunächst die Koordinatentransformation
in einem ersten Schritt (erste Koordinatentransformation) eine Anpassung des
ersten Koordinatensystems an das zweite Koordinatensystem vorsehen,
wobei entsprechend eine erste Anpassung erfolgt. Beispielsweise
kann das kartesische Koordinatensystem des ersten Koordinatensystems
(Berechnungskoordinatensystem) in ein dem Koordinatensystem der
x-y-Manipulatoren (zweites Koordinatensystem oder Bewegungskoordinatensystem)
entsprechendes nicht-kartesisches Koordinatensystem transformiert
werden.
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Sofern
alternativ oder zusätzlich eine unterschiedliche Ausrichtung
der Koordinatensysteme vorliegt, also beispielsweise eine Verdrehung
von erstem Koordinatensystem zu zweitem Koordinatensystem, so kann
durch eine zweite Koordinatentransformation eine Ausrichtung der
Koordinatensysteme erfolgen. In dem Fall, dass gleichzeitig eine
Anpassung der Koordinatesysteme und Ausrichtung der Koordinatensysteme
erfolgen muss, kann bei der ersten Koordinatentransformation das
erste Koordinatensystem (Berechnungskoordinatensystem) in ein Zwischenkoordinatensystem
transformiert werden, welches in seiner Art dem zweiten Koordinatensystem
(Bewegungskoordinatensystem) entspricht, welches durch die Manipulatoren
vorgegeben ist. Erst in der zweiten Koordinatentransformation kann dann
durch eine entsprechende zweite Koordinatentransformation das Zwischenkoordinatensystem
in das zweite Koordinatensystem transformiert werden. Die Transformationen
können auch in umgekehrter Reihenfolge stattfinden.
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Die
einzelnen Transformationen der Koordinatensysteme können
auch in mehrere Teilschritte unterteilt sein. Beispielsweise kann
es sich bei der Ausrichtung des Bewegungskoordinatensystems und
des Berechnungskoordinatensystems, z. B. durch eine Rotation um
die z-Achse (optische Achse) um Transformationen um verschiedene
Transformationswinkel handeln. So kann ein Transformationswinkel
die theoretisch vorliegende Verdrehung des Bewegungskoordinatensystems
gegenüber dem Berechnungskoordinatensystem berücksichtigen,
während ein weiterer Transformationswinkel die tatsächliche
Verdrehung erfasst. Hierbei kann es sich bei der tatsächlichen
Verdrehung wiederum um unterschiedliche Beiträge handeln,
beispielsweise eine abweichende Anordnung des Manipulatorsystems
in der Fassung für das optische Element oder eine abweichende
Anordnung der Fassung an sich im Objektiv.
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Die
Manipulatoren können unterschiedliche Stellelemente aufweisen,
welche zu einer entsprechenden Bewegung der optischen Elemente beitragen.
Entsprechend kann die Sollposition und insbesondere die zweite Sollposition
im zweiten Koordinatensystem (Bewegungskoordinatensystem) in entsprechende
Stellpositionen der Manipulatoren umgerechnet werden.
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Für
den Fall, dass die Manipulatoren Stellschrauben aufweisen, kann
beispielsweise die Sollposition in eine Stellposition der Stellschraube
umgerechnet werden, wobei das Über- oder Untersetzungsverhältnis
der Stellschraube einbezogen wird, um die translatorische Bewegung
des optischen Elements in Abhängigkeit von dem Verdrehwinkel
der Stellschraube bzw. umgekehrt die translatorische Bewegung ausgehend
von dem Verdrehwinkel zu bestimmen.
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Auf
diese Weise ist es möglich, aus einer einzigen erfassten
Abbildung oder Messung der Abbildungseigenschaften anzugeben, wie
das optische Element aus seiner Istposition während der
Abbildung bzw. Messung der Abbildungseigenschaften bewegt werden
muss, um die gewünschten, theoretisch berechneten Abbildungseigenschaften
zu erzielen, wobei die ermittelten Werte unmittelbar die Werte zur
Betätigung des oder der Manipulatoren sind, also im Fall
von Stellschrauben die Verdrehwinkel sowie die Verdrehrichtung der
Stellschrauben.
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Die
Justierung kann sowohl ein-, zwei- oder dreidimensional als auch
durch unterschiedliche Bewegungen, wie translatorische Bewegungen
oder Rotationen erfolgen.
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Das
Verfahren kann zudem zur Justierung einzelner optischer Elemente
oder mehrerer optischer Elemente eingesetzt werden, wobei die Justierung
bei mehreren optischen Elementen nacheinander oder gleichzeitig
erfolgen kann, je nach dem, ob die Wirkung der einzelnen optischen
Elemente in der Berechnung separiert werden kann oder nicht. Sofern
dies nicht der Fall ist, müssen die mehreren optischen
Elemente nacheinander einzeln in das Objektiv eingeführt
und justiert werden, wobei dann die gewünschte, theoretische
Abbildungseigenschaft entsprechend für die Gruppen von
optischen Elementen berechnet werden muss, welche bereits im Objektiv befindlich
sind.
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Das
Verfahren kann dahingehend weiter optimiert werden, dass zusätzlich
zu der mindestens einen Ermittlung der Abbildungseigenschaften und
einer ersten Justierung gemäß dem vorliegenden
Verfahren eine zweite Messung bzw. Ermittlung der Abbildungseigenschaften
erfolgt und ausgehend von dieser zweiten Messung eine weitere Justierung
bzw. Zentrierung des optischen Elements erfolgt. Dadurch kann inkrementell
eine besonders gute Annäherung an die theoretische Position
des optischen Elements erzielt werden.
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Außerdem
können die unterschiedlichen Messergebnisse bzgl. der Abbildungseigenschaften und
die dazwischen erfolgte Justierung mit in die weiteren Berechnungen
einfließen, so dass eine Erhöhung der Berechnungsqualität
möglich ist.
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Das
entsprechende Verfahren bzw. wesentliche Schritte, wie die Berechnung
der Abbildungseigenschaften, Vergleich der ermittelten bzw. der
gemessenen und berechneten theoretischen Abbildungseigenschaften,
die Bestimmung der Sollposition, insbesondere der ersten und/oder
der zweiten Sollposition und/oder eine Berechnung von Stellpositionen
der Manipulatoren können mittels einer Datenverarbeitungsanlage
erfolgen, wobei die Verfahrensschritte in einem entsprechenden Programm
hinterlegt sein können.
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Entsprechend
wird auch Schutz begehrt für ein Computerprogrammprodukt,
welches eine Vielzahl von abgespeicherten Daten umfasst, die bei
geeignet hergerichteten Datenverarbeitungsanlagen und entsprechendem
Programmablauf mit einer Abfolge von Daten verursachen, dass das
entsprechende Verfahren bzw. Teilen davon durchgeführt
werden. Darüber hinaus sind bei dem Computerprogrammprodukt
entsprechende Schnittstellen vorgesehen, die das Einlesen der Messdaten
bzgl. der Abbildungseigenschaften, insbesondere der über
das optische Element örtlich verteilten Abbildungseigenschaften
und/oder die Angaben bzgl. des Aufbaus, also der Basis und/oder
der Orientierung des zweiten Koordinatensystems ermöglichen.
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Gemäß einer
Ausführungsform der Erfindung wird für ein optisches
Element eines Objektivs, insbesondere eines Objektivs für
die Mikrolithographie, mindestens ein Stellelement vorgesehen, welches
das optische Element entlang einer Raumachse oder um eine Raumachse
bewegen kann, wobei dem Stellelement ein Anzeigeelement zugeordnet
ist, welches zumindest die relative Stellposition oder die Veränderung
der Stellposition anzeigt und welches so ausgebildet ist, dass sich
eine nach dem erfindungsgemäßen Verfahren berechnete
Veränderung der Stellposition einstellen lässt.
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Bei
einer weiteren Ausgestaltung kann das Stellelement automatisch basierend
auf den ermittelten Stelldaten in die berechnete Stellposition bewegt werden,
wobei eine entsprechende Informationsverbindung zwischen einer Datenverarbeitungsanlage, in
der ein Programm zur Abarbeitung der Verfahrensschritte vorgesehen
ist, und dem Manipulator vorliegt.
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KURZBESCHREIBUNG DER FIGUR
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Weitere
Vorteile, Kennzeichen und Merkmale der vorliegenden Erfindung werden
bei der nachfolgenden detaillierten Beschreibung eines Ausführungsbeispiels
deutlich. Die einzige Figur zeigt in einer schematischen Darstellung
ein optisches Element, in Bezug zu dem die unterschiedlichen Koordinatensysteme
dargestellt sind.
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AUSFÜHRUNGSBEISPIEL
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Die
Figur zeigt im Teilbild rechts oben die Ausrichtung des ersten Koordinatensystems
(Berechnungskoordinatensystem) zur theoretischen Berechnung der
Abbildungseigenschaften eines kreisrunden optischen Elements mit
der x-Achse in Richtung Süden, wobei die y-Achse in Richtung
3 Uhr ausgerichtet ist. Die x-Achse des Bewegungskoordinatensystems
ist als Winkelhalbierende des zweiten Quadranten zwischen 4 und
5 Uhr orientiert, während die y-Achse Richtung 2 Uhr zeigt.
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Aus
dem Vergleich zwischen berechneten und gemessenen Abbildungseigenschaften über
das optische Element lässt sich nach bekannten Verfahren
eine Sollposition bestimmen, die gemäß dem Berechnungskoordinatensystem
entsprechende Koordinaten aufweist.
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Die
Bewegung erfolgt jedoch gemäß der xy-Manipulatoren
im Bewegungskoordinatensystem, wobei die Stellschrauben in einem
Winkel zu den Koordinatenachsen des Bewegungskoordinatensystems
angeordnet sind.
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Sollte
das Bewegungskoordinatensystem nicht ein kartesisches Koordinatesystem
sein (nicht gezeigt), muss zunächst das Bewegungskoordinatensystem
auf ein kartesisches Zwischenkoordinatensystem oder das Berechnungskoordinatensystem auf
das entsprechende nicht-kartesische Koordinatensystem transformiert
werden.
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Wie
sich somit aus der Figur ergibt, muss das Berechnungskoordinatensystem
(1. Koordinatensystem) gemäß einer Rotation um
den Winkel β so transformiert werden, dass es mit dem Bewegungskoordinatensystem
(2. Koordinatensystem) übereinstimmt.
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Da
bei dem gezeigten Ausführungsbeispiel berücksichtigt
werden soll, dass die auf der Fassung angegebene äußere
Positionsmarkierung an der Stellung „Azimut" nicht exakt
mit der Ausrichtung des Bewegungskoordinatensystems (2. Koordinatensystem),
die theoretisch vorgegeben ist, übereinstimmt, wird in
einem zweiten Transformationsschritt eine Korrektur der Ausrichtung
des Bewegungskoordinatensystems bzgl. einer der beiden Stellschrauben vorgenommen.
Da die Orientierung der Stellschrauben zum Bewegungskoordinatensystem
durch den Bewegungsmechanismus exakt definiert und vorgegeben ist,
können die Stellschrauben zur Bestimmung der exakten Position
des Bewegungskoordinatensystems besser herangezogen werden, als
eine beliebig anordenbare äußere Markierung, wie
dies beispielsweise die Azimut-Stellung ist. Entsprechend wird bei
dem gezeigten Ausführungsbeispiel in einer zweiten Teiltransformation
eine Verdrehung des Bewegungskoordinatensystems gegenüber
der Azimut-Stellung berücksichtigt, welche durch den Winkel α angedeutet
ist. Somit muss bei der Koordinatentransformation vom ersten Koordinatensystem
(Berechnungskoordinatensystem) zum zweiten Koordinatensystem (Bewegungskoordinatensystem)
ein Transformationswinkel t1 = β – α berücksichtigt
werden.
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Bei
dem gezeigten Ausführungsbeispiel ist es ferner möglich,
dass die gesamte Fassung des optischen Elements gedreht in dem Objektiv
angeordnet sein kann, was durch den Clocking-Winkel ε beschrieben
ist. Falls somit die Anordnung der Fassung mit dem optischen Element
in dem Objektiv um einen Clocking-Winkel ε gegenüber
der Fassungsposition, die der Berechnung der Abbildungseigenschaften
zugrunde gelegt ist, abweicht, muss in einem dritten Teiltransformationsschritt
die Rotation um den Clocking-Winkel ε ebenso berücksichtigt
werden.
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Insgesamt
zeigt dies, dass in dem Verfahren mehrere Teilschritte der Koordinatentransformation von
dem ersten Koordinatensystem (Berechnungskoordinatensystem) zu dem
zweiten Koordinatensystem oder umgekehrt durchgeführt werden
können, wobei berücksichtigt werden kann, dass
unterschiedliche Abweichungen des tatsächlichen Bewegungssystems
von dem Koordinatensystem, das der Berechnung zugrunde lag, vorliegen
können.
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Obwohl
die verschiedenen Teiltransformationen beim vorgestellten Ausführungsbeispiel
detailliert beschrieben worden sind, ist klar ersichtlich, dass
auch andere Teiltransformationen aufgrund anderer Gestaltung der
Bezugssysteme bzw. des Bewegungssystems möglich sind.
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Bei
dem gezeigten Ausführungsbeispiel sind die Winkel β und α für
jedes Objektiv bestimmbar bzw. fest vorgegeben. Gleiches gilt für
den Clocking-Winkel ε, der ebenfalls für jedes
Objektiv zumindest bestimmbar ist.
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Aufgrund
der Koordinatentransformation lassen sich die Soll-Positionen des
optischen Elements aus dem Vergleich zwischen den berechneten und gemessenen
Abbildungseigenschaften in entsprechende Soll-Positionen im Bewegungskoordinatensystem
transformieren.
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Mit
den so ermittelten Sollpositionen im Bewegungskoordinatensystem
lassen sich die entsprechenden x- und y-Manipulatoren betätigen,
wobei entsprechend der verwendeten Stellelemente eine Umrechnung
in entsprechende Stellpositionen erfolgt. Bei den verwendeten Stellschrauben
erfolgt dies durch die Berücksichtigung der Untersetzung
einer durch Drehbewegung erzeugten translatorischen Bewegung des
optischen Elements.
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Auf
diese Weise ist es möglich, gezielt eine Justierung lediglich
aufgrund einer einzigen Messung der Abbildungseigenschaften vorzunehmen,
ohne während der Justierung bzw. Zentrierung des oder der
optischen Elemente eine ständige Messung der Abbildungseigenschaften
oder Überprüfung der Abbildungsergebnisse vornehmen
zu müssen.
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Obwohl
die Erfindung im Bezug auf ein Ausführungsbeispiel detailliert
beschrieben worden ist, ist für den Fachmann klar verständlich,
dass Abwandlungen und Abänderungen des Erfindungsgegenstandes
möglich sind, ohne den Schutzbereich der beigefügten
Ansprüche zu verlassen. Insbesondere können einzelne
Merkmale der Erfindung weggelassen oder verschiedene Merkmale unterschiedlich
miteinander kombiniert werden.
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ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Zitierte Patentliteratur
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- - US 2002/0159048
A1 [0005]
- - US 2005/0237506 A1 [0006]
- - US 6678240 B2 [0007]
- - US 6934011 B2 [0008]