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Die
Erfindung betrifft eine LED mit einer Stromaufweitungsschicht gemäß Patentanspruch
1.
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Bei
herkömmlichen Licht emittierenden Dioden (LED) erfolgt
die elektrische Kontaktierung in der Regel durch zwei elektrische
Kontaktschichten, wobei oftmals nur ein vergleichsweise kleiner
Bereich der Chipoberfläche mit einer Kontaktfläche
versehen wird. Diese Art der Kontaktierung kann nachteilig zu einer
inhomogenen Bestromung des Halbleiterchips führen, die
zu einer erhöhten Vorwärtsspannung und zu einer
geringen Quanteneffizienz in der aktiven Zone führt. Dieser
Effekt tritt insbesondere bei Halbleitermaterialien auf, die eine
geringe Querleitfähigkeit aufweisen, insbesondere bei Nitridverbindungshalbleitern.
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Der
Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine LED mit einer verbesserten
Stromaufweitungsstruktur anzugeben, die sich insbesondere durch eine
verbesserte Querleitfähigkeit und einen verbesserten vertikalen
Stromtransport auszeichnet.
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Diese
Aufgabe wird durch eine LED mit den Merkmalen des Patentanspruchs
1 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen
der Erfindung sind Gegenstand der abhängigen Ansprüche.
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Erfindungsgemäß ist
eine LED, die eine strahlungsemittierende aktive Schicht, einen
n-Kontakt, einen p-Kontakt und eine Stromaufweitungsschicht aufweist,
vorgesehen. Die Stromaufweitungsschicht ist zwischen der aktiven
Schicht und dem n-Kontakt angeordnet. Ferner weist die Stromaufweitungsschicht
eine sich mehrfach wiederholende Schichtfolge auf. Die Schichtfolge
weist eine erste n-dotierte Schicht, eine undotierte Schicht und
eine Schicht aus AlxGa1-xN,
mit 0 < x < 1, auf, wobei die Schicht
aus AlxGa1-xN einen
Konzentrationsgradienten des Al-Gehalts aufweist.
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In
der Stromaufweitungsschicht, die eine sich mehrfach wiederholende
Schichtfolge aufweist, bildet sich an der Grenzfläche zwischen
der undotierten Schicht und der Schicht aus AlxGa1-xN ein zweidimensionales Elektronengas
aus. Durch die Ausbildung eines zweidimensionalen Elektronengases
erhöht sich mit Vorteil die Querleitfähigkeit
der Stromaufweitungsschicht. Die erhöhte Querleitfähigkeit
der Stromaufweitungsschicht führt zu einer homogenen Bestromung
der aktiven Schicht und erhöht dadurch vorteilhaft die
Effizienz der LED.
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Der
Konzentrationsgradient des Aluminiumgehalts der Schicht aus AlxGa1-xN verbessert
den vertikalen Stromtransport in der Stromaufweitungsschicht. Ferner
vermindern sich dadurch Verspannungen an der Grenzfläche
zwischen den einzelnen Schichten. Das führt zu einer reduzierten
Degradation der LED, wodurch sich die Langzeitstabilität
und die Lebensdauer der LED mit Vorteil erhöht.
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Durch
die Zusammensetzung der Stromaufweitungsschicht wird somit sowohl
eine hohe Querleitfähigkeit durch das Ausbilden eines zweidimensionalen
Elektronengases an der Grenzfläche zwischen der undotierten
Schicht und der AlxGa1-xN-Schicht
erzeugt. Weiterhin wird eine Optimierung des vertikalen Stromtransports
in der Stromaufweitungsschicht durch den Konzentrationsgradienten
des Aluminiumgehalts der Schicht aus AlxGa1-xN erzielt.
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Die
Licht emittierende Diode (LED) ist vorzugsweise als Dünnfilm-LED
ausgeführt. Bei einer Dünnfilm-LED ist das Herstellungssubstrat,
auf dem der Schichtstapel für die LED hergestellt, insbesondere
abgeschieden wurde, bereichsweise oder vollständig entfernt.
Das Herstellungssubstrat ist vorzugsweise das Aufwachssubstrat,
auf dem der Schichtstapel epitaktisch aufgewachsen ist.
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Ein
Grundprinzip eines Dünnschicht-Leuchtdiodenchips ist beispielsweise
in I. Schnitzer et al., Appl. Phys. Lett. 63 (16), 18. Oktober
1993, 2174–2176 beschrieben, deren Offenbarungsgehalt insofern
hiermit durch Rückbezug aufgenommen wird.
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Bevorzugt
basiert die LED auf einem Nitridverbindungshalbleiter. „Auf
Nitrid-Verbindungshalbleitern basierend" bedeutet im vorliegenden
Zusammenhang, dass die aktive Epitaxie-Schichtenfolge oder zumindest
eine Schicht davon ein Nitrid-III/V-Verbindungshalbleitermaterial,
vorzugsweise AlnGamIn1-n-mN umfasst, wobei 0 ≤ n ≤ 1,
0 ≤ m ≤ 1 und n + m ≤ 1. Dabei muss dieses
Material nicht zwingend eine mathematisch exakte Zusammensetzung nach
obiger Formel aufweisen. Vielmehr kann es einen oder mehrere Dotierstoffe
sowie zusätzliche Bestandteile aufweisen, die die charakteristischen
physikalischen Eigenschaften des AlnGamIn1-n-mN-Materials
im Wesentlichen nicht ändern. Der Einfachheit halber beinhaltet
obige Formel jedoch nur die wesentlichen Bestandteile des Kristallgitters
(Al, Ga, In, N), auch wenn diese teilweise durch geringe Mengen weiterer
Stoffe ersetzt sein können.
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Bevorzugt
ist die Schicht aus AlxGa1-xN
zwischen der undotierten Schicht und der n-dotierten Schicht angeordnet.
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An
der Grenzfläche zwischen der undotierten Schicht und der
Schicht aus AlxGa1-xN
bilden sich Bereiche mit besonders hoher Querleitfähigkeit
aus. Die erhöhte Querleitfähigkeit dieser Bereiche
lässt sich im Bändermodell derart erklären,
dass an dieser Grenzfläche jeweils eine Verbiegung der
Bandkante des Leitungsbandes und des Valenzbandes auftritt, die
zur Ausbildung einer Potentialmulde führt, in der ein zweidimensionales
Elektronengas mit besonders hoher Querleitfähigkeit auftritt.
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An
der Grenzfläche zwischen der Schicht aus AlxGa1-xN und der n-dotierten Schicht kann sich eine
negative Polarisationsladung ausbilden, sodass sich eine Barriere
für die Elektronen ausbildet, welche sich nachteilig auf
den vertikalen Stromtransport in der Stromaufweitungsschicht auswirken
könnte. Eine derartige Barriere kann durch einen Konzentrationsgradienten
des Aluminiumgehaltes in der Schicht aus AlxGa1-xN vermindert werden, ohne dass sich die
Ladungsträgerdichte in dem zweidimensionalen Elektronengas
signifikant ändert. Zusätzlich vermindern sich
dadurch auftretende Verspannungen an der Grenzfläche zwischen
der undotierten Schicht und der Schicht aus AlxGa1-xN, sowie an der Grenzfläche zwischen
der Schicht aus AlxGa1-xN
und der n-dotierten Schicht.
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Bevorzugt
weist die Schicht aus AlxGa1-xN
einen in Richtung zur aktiven Schicht abfallenden Konzentrationsgradienten
des Aluminiumgehalts auf.
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Durch
die so aufgebaute Stromaufweitungsschicht bildet sich an der Grenzfläche
zwischen der undotierten Schicht und der Schicht aus AlxGa1-xN ein zweidimensionales Elektronengas
aus, das die Querleitfähigkeit der Stromaufweitungsschicht
erhöht und so eine homogene Bestromung der aktiven Schicht bewirkt.
Der Konzentrationsgradient des Aluminiumgehalts der Schicht aus
AlxGa1-xN, der zur
aktiven Schicht hin abfällt, verbessert den vertikalen
Stromtransport in der Stromaufweitungsschicht, wodurch eine verbesserte
Bestromung der aktiven Schicht erzielt wird.
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Bevorzugt
weist der Konzentrationsgradient des Aluminiumgehalts einen linearen
Abfall auf. Alternativ kann der Konzentrationsgradient des Aluminiumgehalts
einen stufenförmigen Abfall aufweisen.
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Vorzugsweise
weist die Stromaufweitungsschicht mindestens 10 Wiederholungen der
Schichtfolge auf, besonders bevorzugt weist die Stromaufweitungsschicht
mindestens 20 Wiederholungen der Schichtfolge auf.
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Auf
diese Weise wird in der Stromaufweitungsschicht eine Vielzahl von
Grenzflächen zwischen undotierten Schichten und Schichten
aus AlxGa1-xN ausgebildet,
an denen sich aufgrund der Bandverbiegung jeweils eine Potentialmulde
ausbildet, in der ein zweidimensionales Elektronengas mit hoher
Querleitfähigkeit auftritt. Die Querleitfähigkeit der
gesamten Stromaufweitungsschicht wird dadurch im Vergleich zu einer
Stromaufweitungsschicht mit nur einer eingebetteten Schicht aus
AlxGa1-xN weiter erhöht.
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Ferner
erhöht sich durch die Vielzahl der Schichten aus AlxGa1-xN, die einen
Konzentrationsgradienten des Aluminiumgehalts aufweisen, der vertikale
Stromtransport in der gesamten Stromaufweitungsschicht, wodurch
sich insgesamt die Effizienz der LED erhöht.
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Die
Schicht aus AlxGa1-xN
weist bevorzugt eine Dicke zwischen 10 nm und 20 nm auf, beispielsweise
eine Dicke von 12 nm, auf.
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Für
den Aluminiumgehalt x in der Schicht aus AlxGa1-xN gilt bevorzugt 0,1 ≤ x ≤ 0,3.
Zum Beispiel beträgt der Aluminiumanteil x in der Schicht
aus AlxGa1-xN an
der Grenzfläche zur undotierten Schicht 0,2.
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Ein
so gewählter Aluminiumgehalt in der Schicht aus AlxGa1-xN, der beispielsweise
an der Grenzfläche zur undotierten Schicht x = 0,2 beträgt und
in Richtung zur aktiven Schicht hin abfällt, führt zu
einem optimalen Kompromiss zwischen einer erwünschten Erhöhung
der Ladungsträgerdichte im zweidimensionalen Elektronengas
und einer unerwünschten Erhöhung der vertikalen
Stromtransportbarriere an der Grenzfläche zwischen der
Schicht aus AlxGa1-xN
und der n-dotierten Schicht. Insgesamt erhöht sich die
Effizienz der LED mit Vorteil.
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Bevorzugt
weist die Schicht aus AlxGa1-xN zumindest
teilweise eine Dotierung auf. Bevorzugt weist die Schicht aus AlxGa1-xN zumindest
teilweise eine Si-Dotierung auf.
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Bevorzugt
ist ein der aktiven Schicht zugewandter Teilbereich der Schicht
aus AlxGa1-xN dotiert und
ein der aktiven Schicht abgewandter Teilbereich der Schicht aus
AlxGa1-xN undotiert.
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Die
hohe Mobilität der Elektronen im zweidimensionalen Elektronengas
wird zum großen Teil auf die verminderte Streuung an ionisierten
Dotieratomen zurückgeführt. Das zweidimensionale
Elektronengas bildet sich an der Grenzfläche zwischen der undotierten
Schicht und der Schicht aus AlxGa1-xN aus, wobei das zweidimensionale Elektronengas
in der undotierten Schicht konzentriert vorliegt. Durch den der
aktiven Schicht abgewandten, undotierten Teilbereich der Schicht
aus AlxGa1-xN wird
die Mobilität der Elektronen im zweidimensionalen Elektronengas
weiter erhöht, da sich die Streuung an ionisierten Dotieratomen
weiter vermindert. Dadurch verbessern sich weiter die Querleitfähigkeit
und die Stromaufweitung, wodurch sich die Effizienz der LED mit
Vorteil erhöht.
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Weitere
Merkmale, Vorteile, bevorzugte Ausgestaltungen und Zweckmäßigkeiten
der LED ergeben sich aus den im Folgenden in Verbindung mit den 1 bis 5 erläuterten Ausführungsbeispielen.
Es zeigen:
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1 einen
schematischen Querschnitt eines Ausführungsbeispiels einer
erfindungsgemäßen LED,
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2 einen
schematischen Querschnitt eines Ausführungsbeispiels einer
Schichtfolge einer Stromaufweitungsschicht einer erfindungsgemäßen LED,
und
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3 einen
Verlauf des Aluminiumgehaltes in einem schematischen Querschnitt
eines Ausführungsbeispiels einer Stromaufweitungsschicht
einer erfindungsgemäßen LED.
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Gleiche
oder gleich wirkende Bestandteile sind jeweils mit den gleichen
Bezugszeichen versehen. Die dargestellten Bestandteile sowie die
Größenverhältnisse der Bestandteile untereinander
sind nicht als maßstabsgerecht anzusehen.
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In 1 ist
ein schematischer Querschnitt einer erfindungsgemäßen
LED mit einem epitaktischen Schichtaufbau 13 dargestellt,
wobei die LED vorzugsweise als Dünnfilm-LED ausgeführt
ist. Bei einer Dünnfilm-LED ist das Herstellungssubstrat,
auf dem der Schichtstapel für die LED hergestellt, insbesondere
abgeschieden wurde, bereichsweise oder vollständig entfernt.
Das Herstellungssubstrat ist vorzugsweise das Aufwachssubstrat,
auf dem der Schichtstapel epitaktisch aufgewachsen ist.
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Die
Epitaxieschichtenfolge 13 der LED weist eine aktive Schicht 7 auf.
Die aktive Schicht 7 der LED umfasst bevorzugt einen pn-Übergang,
eine Doppelheterostruktur, eine Mehrfachquantentopfstruktur (MQW)
oder besonders bevorzugt eine Einfachquantentopfstruktur (SQW) zur
Strahlungserzeugung. Die Bezeichnung Quantentopfstruktur umfasst im
Rahmen der Anmeldung insbesondere jegliche Struktur, bei der Ladungsträger
durch Einschluss („confinement") eine Quantisierung ihrer
Energiezustände erfahren können. Insbesondere
beinhaltet die Bezeichnung Quantentopfstruktur keine Angabe über
die Dimensionalität der Quantisierung. Sie umfasst somit
unter anderem Quantentröge, Quantendrähte und
Quantenpunkte und jede Kombination dieser Strukturen.
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Die
aktive Schicht 7 ist beispielsweise zwischen einer p-dotierten
Halbleiterschicht 8 und einer n-dotierten Übergangsschicht 6 angeordnet.
Die p-dotierte Halbleiterschicht 8 der LED ist nicht als
einzelne Schicht zu verstehen. Vielmehr kann sich die p-dotierte
Halbleiterschicht 8 ebenso aus einer p-dotierten Schichtenfolge
zusammensetzen.
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An
die n-dotierte Übergangsschicht 6 schließt
beispielsweise eine n-dotierte Schicht 5 aus beispielsweise
GaN an. Auf der n-dotierten Schicht 5 aus GaN ist beispielsweise
eine Stromaufweitungsschicht 4 angeordnet, auf der vorzugsweise
eine zweite n-dotierte Schicht 3, beispielsweise aus GaN, ausgebildet
ist. Auf der zweiten n-dotierte Schicht 3 ist vorzugsweise
ein n-Kontakt 10 angeordnet.
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Der
n-Kontakt 10 kann ein Bondpad und/oder mehrere mit dem
Bondpad elektrisch verbundene Kontaktstege umfassen, um eine bessere Stromaufweitung
zu erzielen. Durch eine Anordnung mit mehreren mit dem Bondpad elektrisch
leitend verbundenen Kontaktstegen kann eine vergleichsweise homogene
Stromverteilung in der LED erreicht werden.
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Auf
einer dem n-Kontakt 10 gegenüberliegenden Seite
der Epitaxieschichtenfolge 13 ist die Epitaxieschichtenfolge 13 mittels
einer Verbindungsschicht 12, beispielsweise einer Lotschicht,
auf einem Träger 1 befestigt. Die Rückseite
des Trägers kann beispielsweise mit einer Elektrode 2 versehen sein.
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Zur
elektrischen Kontaktierung der Epitaxieschichtfolge 13 der
LED ist der n-Kontakt 10 und ein p-Kontakt 9 vorgesehen.
Der p-Kontakt 9 grenzt an die dem Träger 1 zugewandten
Seite der Epitaxieschichtenfolge 13 an, wobei der p-Kontakt 9 vorzugsweise
einen ohmschen Kontakt zur angrenzenden Epitaxieschichtfolge 13 herstellt.
Der p-Kontakt 9 kann vorzugsweise eine die von der aktiven
Schicht 7 emittierte Strahlung reflektierende Schicht sein.
Auf diese Weise werden Absorptionsverluste, die beispielsweise innerhalb
des Trägers 1 oder in der Verbindungsschicht 12 auftreten
könnten, vermindert.
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Zwischen
dem p-Kontakt 9 und der Verbindungsschicht 12 ist
vorzugsweise eine Barriereschicht 11 enthalten, die beispielsweise
TiWN enthält. Durch die Barriereschicht 11 wird
insbesondere eine Diffusion von Material der Verbindungsschicht 12 in
den p-Kontakt 9 verhindert, durch die insbesondere die
Reflektion des als Spiegelschicht fungierenden p-Kontakts 9 beeinträchtigt
werden könnte.
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Die
LED basiert bevorzugt auf einem Nitridverbindungshalbleiter. „Auf
Nitridverbindungshalbleitern basierend" bedeutet im vorliegenden
Zusammenhang, dass die aktive Epitaxieschichtenfolge oder zumindest
eine Schicht davon ein Nitrid-III/V-Verbindungshalbleitermaterial,
vorzugsweise AlnGamIn1-n-mN umfasst, wobei 0 ≤ n ≤ 1,
0 ≤ m ≤ 1 und n + m ≤ 1. Dabei muss dieses
Material nicht zwingend eine mathematisch exakte Zusammensetzung nach
obiger Formel aufweisen. Vielmehr kann es einen oder mehrere Dotierstoffe
sowie zusätzliche Bestandteile aufweisen, die die charakteristischen
physikalischen Eigenschaften des AlnGamIn1-n-mN-Materials
im Wesentlichen nicht ändern. Der Einfachheit halber beinhaltet
obige Formel jedoch nur die wesentlichen Bestandteile des Kristallgitters
(Al, Ga, In, N), auch wenn diese teilweise durch geringe Mengen weiterer
Stoffe ersetzt sein können.
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Die
Stromaufweitungsschicht 4 befindet sich vorzugsweise auf
der n-dotierten Seite der LED. Die Stromaufweitungsschicht 4 ist
bevorzugt zwischen zwei n-dotierten Schichten 3, 5 angeordnet,
die beispielsweise GaN enthalten und die jeweils bevorzugt mit Si
dotiert sind.
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Die
Stromaufweitungsschicht 4 weist eine sich mehrfach wiederholende
Schichtfolge auf. Bevorzugt weist die Stromaufweitungsschicht 4 mindestens
10 Wiederholungen der Schichtfolge auf, besonders bevorzugt weist
die Stromaufweitungsschicht 4 mindestens 20 Wiederholungen
der Schichtfolge auf.
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Ein
detaillierter Aufbau eines schematischen Querschnitts einer Schichtfolge
einer Stromaufweitungsschicht ist in 2 dargestellt.
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Die
Schichtfolge weist eine n-dotierte Schicht 41 beispielsweise
aus GaN, und eine daran angrenzende undotierte Schicht 42,
zum Beispiel aus GaN, auf. An der undotierten Schicht 42 aus
GaN schließt sich vorzugsweise eine Schicht 43 aus AlxGa1-xN, mit 0 < x < 1, an. Die Schicht 43 aus AlxGa1-xN setzt sich
bevorzugt aus einem undotierten Teilbereich 43a und aus
einem dotierten Teilbereich 43b zusammen, wobei der dotierte
Teilbereich 43b der Schicht 43 aus AlxGa1-xN der aktiven Schicht 7 zugewandt
ist. An die Schicht 43 aus AlxGa1-xN schließt sich eine zweite n-dotierte
Schicht 44, zum Beispiel aus GaN, an.
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Durch
die so aufgebaute Stromaufweitungsschicht 4 bildet sich
an der Grenzfläche zwischen der undotierten Schicht 42 aus
GaN und der Schicht 43 aus AlxGa1-xN ein zweidimensionales Elektronengas aus.
Durch die Ausbildung eines zweidimensionalen Elektronengases erhöht
sich mit Vorteil die Querleitfähigkeit der Stromaufweitungsschicht 4.
Die erhöhte Querleitfähigkeit der Stromaufweitungsschicht 4 führt zu
einer homogenen Bestromung der aktiven Schicht 7 und erhöht
dadurch vorteilhaft die Effizienz der LED.
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Die
erhöhte Querleitfähigkeit lässt sich
im Bändermodell derart erklären, dass an der Grenzfläche
jeweils eine Verbiegung der Bandkante des Leitungsbandes und des
Valenzbandes auftritt, die zur Ausbildung einer Potentialmulde führt,
in der ein zweidimensionales Elektronengas mit besonders hoher Querleitfähigkeit
auftritt.
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Die
Stromaufweitungsschicht 4 weist bevorzugt mindestens 10
Wiederholungen der Schichtfolge, wie sie in 2 dargestellt
ist, auf. Besonders bevorzugt weist die Stromaufweitungsschicht 4 mindestens
20 Wiederholungen der Schichtfolge auf.
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Auf
diese Weise wird in der Stromaufweitungsschicht 4 eine
Vielzahl von Grenzflächen zwischen undotierten Schichten 42 aus
GaN und Schichten 43 aus AlxGa1-xN ausgebildet, an denen sich aufgrund
der Bandverbiegung jeweils eine Potentialmulde ausbildet, in der
ein zweidimensionales Elektronengas mit hoher Querleitfähigkeit
auftritt. Somit erhöht sich die Querleitfähigkeit
der gesamten Stromaufweitungsschicht im Vergleich zu einer Stromaufweitungsschicht
mit nur einer eingebetteten Schicht 43 aus AlxGa1-xN.
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Bevorzugt
weist die Schicht 43 aus AlxGa1-xN in einem Teilbereich 43b eine
Dotierung auf. Bevorzugt weist der Teilbereich 43b eine
Si-Dotierung auf.
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Der
Teilbereich 43a der Schicht 43 aus AlxGa1-xN, der der aktiven Schicht 7 abgewandt
ist, ist bevorzugt undotiert.
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Die
hohe Mobilität der Elektronen im zweidimensionalen Elektronengas
wird zum großen Teil auf die verminderte Streuung an ionisierten
Dotieratomen zurückgeführt. Das zweidimensionale
Elektronengas bildet sich an der Grenzfläche zwischen der undotierten
Schicht 42 aus GaN und der Schicht 43 aus AlxGa1-xN aus, wobei
das zweidimensionale Elektronengas in der undotierten Schicht 42 aus
GaN konzentriert vorliegt. Durch den der aktiven Schicht 7 abgewandten,
undotierten Teilbereich 43a der Schicht 43 aus
AlxGa1-xN wird die
Mobilität der Elektronen im zweidimensionalen Elektronengas
weiter erhöht, da sich die Streuung an ionisierten Dotieratomen
weiter vermindert. Dadurch verbessern sich weiter die Querleitfähigkeit
und die Stromaufweitung, wodurch sich die Effizienz der LED mit
Vorteil erhöht.
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An
der Grenzfläche zwischen der Schicht 43 aus AlxGa1-xN und der zweiten
n-dotierten Schicht 44 aus GaN kann sich eine negative
Polarisationsladung ausbilden, sodass eine Barriere für
die Elektronen entsteht, welche sich nachteilig auf den vertikalen
Stromtransport durch die Stromaufweitungsschicht 4 auswirken
könnte. Das Ausbilden dieser Barriere kann durch einen
Konzentrationsgradienten des Aluminiumgehaltes in der Schicht 43 aus AlxGa1-xN verhindert
werden, ohne dass sich die Ladungsträgerdichte in dem zweidimensionalen
Elektronengas signifikant ändert. Zusätzlich vermindern sich
dadurch auftretende Verspannungen an der Grenzfläche zwischen
der undotierten Schicht 42 aus GaN und der Schicht 43 aus
AlxGa1-xN, sowie
an der Grenzfläche zwischen der Schicht 43 aus
AlxGa1-xN und der
zweiten n-dotierten Schicht 44 aus GaN.
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Der
Verlauf des Aluminiumgehaltes in einer Schichtfolge der Stromaufweitungsschicht 4 ist
in 3 dargestellt. Von links nach rechts gesehen sind in
der 3 die n-dotierte Schicht 41 aus GaN,
die undotierte Schicht 42 aus GaN, die Schicht 43 aus AlxGa1-xN und die zweite
n-dotierte Schicht 44 aus GaN dargestellt.
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Die
Schicht 43 aus AlxGa1-xN
weist in Richtung zur aktiven Schicht 7 hin einen abfallenden
Konzentrationsgradienten des Aluminiumgehalts auf. Bevorzugt weist
der Konzentrationsgradient des Aluminiumgehalts einen linearen Abfall
auf. Alternativ kann der Konzentrationsgradient des Aluminiumgehalts
einen stufenförmigen Abfall aufweisen.
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Der
Konzentrationsgradient des Aluminiumgehalts der Schicht 43 aus
AlxGa1-xN verbessert
den vertikalen Stromtransport in der Stromaufweitungsschicht 4.
Ferner vermindern sich dadurch Verspannungen an der Grenzfläche
zwischen den einzelnen Schichten. Das führt zu einer reduzierten
Degradation der LED, wodurch sich die Langzeitstabilität
und die Lebensdauer der LED mit Vorteil erhöht.
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Insgesamt
wird durch die so ausgebildete Stromaufweitungsschicht 4 eine
hohe Querleitfähigkeit durch das Ausbilden eines zweidimensionalen Elektronengases
erzeugt, sowie gleichzeitig der vertikale Stromtransport in der
Stromaufweitungsschicht 4 durch den Konzentrationsgradienten
des Aluminiumgehalts in der Schicht 43 aus AlxGa1-xN optimiert.
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Für
den Aluminiumgehalt x in der Schicht 43 aus AlxGa1-xN gilt bevorzugt 0,1 ≤ x ≤ 0,3.
Besonders bevorzugt beträgt der Aluminiumanteil x in der Schicht 43 aus
AlxGa1-xN an der
Grenzfläche A zur undotierten Schicht 42 aus GaN
0,2.
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Ein
so gewählter Aluminiumgehalt in der Schicht 43 aus
AlxGa1-xN, der beispielsweise
an der Grenzfläche A zur undotierten Schicht 42 aus
GaN x = 0,2 beträgt und in Richtung zur aktiven Schicht 7 hin
abfällt, führt zu einem optimalen Kompromiss zwischen
einer erwünschten Erhöhung der Ladungsträgerdichte
im zweidimensionalen Elektronengas und einer unerwünschten
Erhöhung der vertikalen Stromtransportbarriere an der Grenzfläche
zwischen der Schicht 43 aus AlxGa1-xN und der zweiten n-dotierten Schicht 44 aus
GaN. Insgesamt erhöht sich die Effizienz der LED mit Vorteil.
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Eine
Schichtfolge der Stromaufweitungsschicht 4 setzt sich beispielsweise
aus folgenden Schichtdicken der einzelnen Schichten zusammen:
Die
n-dotierte Schicht 41 aus GaN weist bevorzugt eine Dicke
d41 von etwa 15 nm auf. Die undotierte Schicht 42 aus
GaN, in der sich vor allem das zweidimensionale Elektronengas ausbildet,
weist bevorzugt eine Dicke d42 von etwa
10 nm auf. Die Schicht 43 aus AlxGa1-xN weist bevorzugt eine Dicke von d43 von etwa 12 nm auf, wobei der dotierte
Teilbereich 43b eine Dicke d43b von
etwa 8 nm aufweist. Daran schließt sich die zweite n-dotierte
Schicht 44 aus GaN mit einer bevorzugten Dicke d44 von etwa 13 nm an. Insgesamt ergibt sich
somit für eine Schichtfolge der Stromaufweitungsschicht 4 eine
bevorzugte Dicke d4 von etwa 50 nm. Dadurch
ergibt sich für eine Stromaufweitungsschicht 4,
die sich bevorzugt aus 20 Schichtfolgen zusammensetzt, eine Schichtdicke von
etwa 1 μm.
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Die
LED kann zusätzlich zu den oben genannten Schichten beispielsweise
Buffer-Schichten, Barriereschichten und/oder Übergangsschichten
enthalten. Ferner können die einzelnen Schichten der LED
unterschiedliche Dotierungen aufweisen.
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Die
Erläuterung der erfindungsgemäßen LED
anhand der oben beschriebenen Ausführungsbeispiele ist
nicht als Beschränkung der Erfindung auf diese zu betrachten.
Vielmehr umfasst die Erfindung jedes neue Merkmal sowie jede Kombination von
Merkmalen, was insbesondere jede Kombination von Merkmalen in den
Patentansprüchen beinhaltet, auch wenn dieses Merkmal oder
diese Kombination selbst nicht explizit in den Patentansprüchen
oder den Ausführungsbeispielen angegeben ist.
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ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen
Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt
keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
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Zitierte Nicht-Patentliteratur
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- - I. Schnitzer
et al., Appl. Phys. Lett. 63 (16), 18. Oktober 1993, 2174–2176 [0010]