DE102007042672A1 - Diffractive optical element for operating wavelength for microelectronics, comprises binary structuring in subarea, and binary structuring comprises different strip densities at two positions of former subarea smaller than certain amount - Google Patents
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Abstract
Description
Die Erfindung betrifft ein diffraktives optisches Element, sowie ein Verfahren zur Herstellung eines diffraktiven optischen Elements.The The invention relates to a diffractive optical element, as well as a Method for producing a diffractive optical element.
Diffraktive optische Elemente werden inzwischen auf vielen Gebieten der Optik und des optischen Maschinenbaus eingesetzt. Aufgrund der Entwicklung in der Mikroelektronik ist es möglich mikrooptische Elemente bis hinab zu Strukturgrößen von einigen zehn Nanometern auf den Anlagen zur Herstellung von Mikroelektronik herzustellen.diffractive Optical elements are now used in many fields of optics and the optical engineering used. Due to the development in microelectronics it is possible micro-optical elements down to structural sizes of a few tens of nanometers on the equipment for the production of microelectronics.
Als
diffraktive optische Elemente (DOE) werden neben Computer generierten
Hologrammen (CGH) auch Gitter bezeichnet. Ferner gelten auch mikrooptische
Nachbildungen von klassischen refraktiven Elementen, wie z. B. einer
Fresnel-Zonenplatte als DOEs, siehe
In
Ein
binäres CGH zum Einsatz in einer Prüfanlage für
asphärische Flächen ist in
In
Aufgabe der Erfindung ist es diffraktive optische Elemente weiterzuentwickeln und dabei die Nachteile des Standes der Technik zu vermeiden. Insbesondere soll bei binären diffraktiven optischen Elementen mit variierender Streifendichte eine homogene Beugungseffizienz der ersten Beugungsordnung und/oder eine homogene Phasenverzögerung der Phase der ersten Beugungsordnung gegenüber der Phase der ersten Beugungsordnung bei Streifendichte Null erzielt werden. Darüber hinaus soll bei binären diffraktiven optischen Elementen mit variierender Streifendichte eine homogene Beugungseffizienz der ersten Beugungsordnung und/oder eine homogene Phasenverzögerung der Phase der ersten Beugungsordnung gegenüber der Phase der ersten Beugungsordnung bei Streifendichte Null auch für TE-polarisiertes Licht und/oder TM-polarisiertes Licht erzielt werden.The object of the invention is diffractive opti further develop elements and thereby avoid the disadvantages of the prior art. In particular, in binary diffractive optical elements with varying stripe density, a homogeneous diffraction efficiency of the first diffraction order and / or a homogeneous phase retardation of the phase of the first diffraction order should be achieved with respect to the phase of the first diffraction order at zero stripe density. Moreover, in binary diffractive optical elements having varying stripe density, homogeneous diffraction efficiency of the first diffraction order and / or homogeneous phase retardation of the first diffraction order phase with respect to the first diffraction order phase at zero stripe density are also intended for TE polarized light and / or TM polarized light be achieved.
Gelöst wird diese Aufgabe erfindungsgemäß durch ein diffraktives optisches Element für eine Arbeitswellenlänge λ, welches zumindest in einem ersten Teilbereich eine binäre Strukturierung aufweist, wobei die binäre Strukturierung an mindestens zwei Orten des ersten Teilbereichs unterschiedliche Streifendichten kleiner als 1/λ aufweist. Ferner weist die binäre Strukturierung an den mindestens zwei Orten mit unterschiedlichen Streifendichten unterschiedliche Tastverhältnisse der binären Strukturierung auf, wobei die Differenz der unterschiedlichen Streifendichten wenigstens 0,1·1/λ und die Differenz der unterschiedlichen Tastverhältnisse wenigstens 0,1 beträgt. Durch das Anpassen der Tastverhältnisse bei unterschiedlichen Streifendichten mit rigorosen Methoden zur Lösung der Maxwell-Gleichungen können die Beugungseffizienz der ersten Beugungsordnung und/oder die Phasenverzögerung der Phase der ersten Beugungsordnung gegenüber der Phase der ersten Beugungsordnung bei Streifendichte Null für unterschiedliche Streifendichten homogenisiert werden. Dies ist insbesondere auch für TE-polarisiertes Licht und/oder TM-polarisiertes Licht möglich.Solved This object is achieved by a diffractive optical element for a working wavelength λ, which at least in a first subarea a binary Having structuring, wherein the binary structuring different at at least two locations of the first subregion Has strip densities less than 1 / λ. Further points the binary structuring in the at least two places with different strip densities different duty cycles the binary structuring on, with the difference of the different stripe densities at least 0.1 · 1 / λ and the difference of the different duty cycles at least 0.1. By adjusting the duty cycle at different strip densities with rigorous methods for Solution of the Maxwell equations can be the diffraction efficiency the first diffraction order and / or the phase delay the phase of the first order of diffraction from the phase the first diffraction order at stripe density zero for different strip densities are homogenized. This is in particular also for TE-polarized light and / or TM-polarized Light possible.
Ein erfindungsgemäßes diffraktives optisches Element für den Einsatz innerhalb eines Beleuchtungssystems und/oder eines Projektionsobjektivs in einer Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage bietet den Vorteil, bestimmte Abbildungsfehler des Projektionsobjektivs und/oder des Beleuchtungssystems der Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage zu korrigieren. Dies sind unter anderem der Farblängsfehler, der Farbvergrößerungsfehler, das sekundäre Spektrum, die farbige Variation der Koma, monochromatische Abbildungsfehler, Telezentrie, Homogenität der Feldausleuchtung, Homogenität der Pupillenausleuchtung und Elliptizität der Pupille. Ferner können mit dem diffraktiven optischen Element in Feld- und Pupillenebenen des Projektionsobjektivs oder des Beleuchtungssystems bestimmte chromatische oder monochromatische Filterfunktionen bzw. Verlaufsfilterfunktionen realisiert werden. Darüber hinaus können durch diffraktive optische Elemente innerhalb von Projektionsobjektiven oder Beleuchtungssystemen die optische Funktionalität von sphärischen oder asphärischen Linsenoberflächen nachgebildet werden und somit Materialeinsparungen realisiert werden, da dicke Linsen durch dünne diffraktive optische Elemente ersetzt werden können.One inventive diffractive optical element for use within a lighting system and / or a projection lens in a microlithography projection exposure apparatus offers the advantage of certain aberrations of the projection lens and / or the illumination system of the microlithography projection exposure apparatus to correct. These include the color longitudinal error, the color magnification error, the secondary Spectrum, the colored variation of the coma, monochromatic aberrations, Telecentricity, homogeneity of field illumination, homogeneity the pupil illumination and ellipticity of the pupil. Furthermore, with the diffractive optical element in Field and pupil levels of the projection lens or lighting system chromatic or monochromatic filter functions or gradient filter functions will be realized. In addition, through diffractive optical elements within projection lenses or Lighting systems the optical functionality of spherical or aspheric lens surfaces and thus material savings can be realized because thick Lenses replaced by thin diffractive optical elements can be.
Ein erfindungsgemäßes diffraktives optisches Element für den Einsatz innerhalb eine Asphären-Prüfanlage bietet den Vorteil, die Intensität der Prüfwelle an die Intensität der Referenzwelle anzupassen, so dass ein optimaler Interferenzkontrast entsteht, wodurch die Auswertung der Interferenzmuster auf dem CCD-Chip der Asphären-Prüfanlage erleichtert wird.One inventive diffractive optical element for use within an aspherical test facility offers the advantage of the intensity of the test wave adapt to the intensity of the reference wave, so that an optimum interference contrast arises, whereby the evaluation the interference pattern on the CCD chip of the aspheric test facility easier becomes.
Ein erfindungsgemäßes diffraktives optisches Element, bei dem die binäre Strukturierung an Orten des ersten Teilbereiches mit gleicher Streifendichte ein gleich großes Tastverhältnis aufweist, hat den Vorteil, dass Orte des diffraktiven optischen Elements, an denen die erste Beugungsordnung in die gleiche Beugungs-Richtung ablenkt wird, auch die gleiche Beugungseffizienz der ersten Beugungsordnung aufweisen. Darüber hinaus hat das gleiche Tastverhältnis bei binären Strukturierungen an Orten mit gleicher Streifendichte der binären Strukturierung den Vorteil, dass damit die Freiheitsgrade bei der Berechnung des diffraktiven optischen Elements mit rigorosen Methoden zur Lösung der Maxwell-Gleichungen eingeschränkt werden und somit einerseits Rechenzeit gespart wird, sowie andererseits unstabile Lösungen vermieden werden.One inventive diffractive optical element, in which the binary structuring in places of the first subarea with the same stripe density an equal duty cycle has the advantage that places of diffractive optical Elements, where the first diffraction order in the same diffraction direction is deflected, even the same diffraction efficiency of the first diffraction order exhibit. In addition, has the same duty cycle for binary structuring in locations with the same stripe density The advantage of binary structuring is that it allows the Degrees of freedom in the calculation of the diffractive optical element restricted with rigorous methods for solving the Maxwell equations and thus on the one hand computer time is saved, as well as on the other hand unstable solutions are avoided.
Ein erfindungsgemäßes diffraktives optisches Element, wobei die jeweils unterschiedlichen Tastverhältnisse der mindestens zwei unterschiedlichen Streifendichten größer als 0,1 und kleiner als 0,9 sind, insbesondere größer als 0,2 und kleiner als 0,8 sind, trägt dem Umstand Rechnung, dass bei Tastverhältnissen kleiner 0,1 und größer 0,9, bzw. kleiner 0,2 und größer 0,8, zu große Lichtverluste bzw. zu niedrige Beugungseffizienzen auftreten.One inventive diffractive optical element, wherein the respective different duty cycles of at least two different strip densities larger than 0.1 and less than 0.9, in particular larger than 0.2 and less than 0.8, takes into account the fact that that at duty ratios less than 0.1 and greater 0.9, or less than 0.2 and greater than 0.8, too large Loss of light or too low diffraction efficiencies occur.
Ein erfindungsgemäßes diffraktives optisches Element, wobei ein einzelner Streifen der binären Strukturierung eine Länge aufweist, die größer als die hundertfache Breite des Streifens ist, führt im Gegensatz zu einem rein aus einzelnen Pixeln bestehenden CGH dazu, dass dieses DOE unempfindlich gegen Proximity-Effekte bei der lithographischen Herstellung mittels Maskenabbildung ist. Unter Proximity-Effekten werden Fehl-Effekte bei der lithographischen Abbildung von Maskenstrukturen verstanden, die dazu führen, dass Enden, Kanten und Ecken von Maskenstrukturen verfälscht abgebildet werden. Bei der Benutzung von ausgedehnten Maskenstrukturen, bei denen die Enden oder Ecken der Maskenstrukturen eine untergeordnete Rolle spielen, werden diese Proximity-Effekte unterdrückt.A diffractive optical element according to the invention, wherein a single stripe of the binary patterning has a length greater than a hundred times the width of the stripe, makes this DOE insensitive to proximity effects in contrast to a purely single pixel CGH lithographic production by means of mask imaging. Proximity effects are considered to be mis-effects in the lithographic imaging of mask structures, which result in the edges, edges and corners of mask structures being distorted. When using extended mask structures in which the ends or corners of the mask structure play a minor role, these proximity effects are suppressed.
Ein erfindungsgemäßes diffraktives optisches Element, wobei die binäre Strukturierung gekrümmte Streifen aufweist, führt im Gegensatz zu einem rein aus einzelnen Pixeln oder geraden Streifen bestehenden CGH dazu, dass dieses DOE die beabsichtigte Funktionalität zur Korrektur der oben genannten Abbildungsfehlern einfacher nachbilden kann, da gekrümmte Streifen besser an die Symmetrieeigenschaften der Abbildungsfehler angepasst werden können als gerade Streifen.One inventive diffractive optical element, the binary structuring being curved stripes exhibits, in contrast to a purely individual Pixels or even stripes existing CGH cause this DOE the intended functionality to correct the above mentioned imaging errors can more easily emulate because curved Strips better at the symmetry properties of aberrations can be adjusted as straight strips.
Ein erfindungsgemäßes diffraktives optisches Element in der Funktionsweise eines Phasenobjektes, wobei die Arbeitswellenlänge λ implizit durch die Gleichung λ = 2·h·|(n1 – n2)| mit der Streifenhöhe h, dem Brechungsindex der Lücke n1 bei der Arbeitswellenlänge λ und dem Brechungsindex des Streifens n2 bei der Arbeitswellenlänge λ gegeben ist, führt zu einer Unterdrückung der 0. Beugungsordnung. In der Regel trägt die 0. Beugungsordnung nicht zur funktionellen Aufgabe eines diffraktiven optischen Elements bei, so dass die 0. Beugungsordnung zur Vermeidung von Lichtverlusten gemäß der oben angegebenen Formel durch eine entsprechende Anpassung der Streifenhöhe h unterdrückt wird.An inventive diffractive optical element in the operation of a phase object, wherein the operating wavelength λ implicitly by the equation λ = 2 · h · | (n 1 - n 2 ) | given the stripe height h, the refractive index of the gap n 1 at the operating wavelength λ and the refractive index of the stripe n 2 at the operating wavelength λ, leads to a suppression of the 0th diffraction order. In general, the 0th diffraction order does not contribute to the functional task of a diffractive optical element, so that the 0th diffraction order to avoid light losses is suppressed according to the formula given above by a corresponding adaptation of the strip height h.
Bei einem diffraktiven optischen Element kann die Beugungseffizienz der ersten Beugungsordnung für unterschiedliche Streifendichten homogenisiert werden, indem die Tastverhältnisse entsprechend erfindungsgemäß angepasst werden. In der Regel kann durch eine Erniedrigung der Beugungseffizienzen bei kleineren Streifendichten erfindungsgemäß eine Angleichung an die Beugungseffizienzen bei hohen Streifendichten erfolgen. Eine solche Homogenisierung der Beugungseffizienzen erfolgt durch ein erfindungsgemäßes diffraktives optisches Element mit einer Beugungseffizienz der ersten Beugungsordnung, wobei die Beugungseffizienz für unterschiedliche Streifendichten des diffraktiven optischen Elements eine Variation von weniger als 20%, bevorzugt weniger als 15%, noch mehr bevorzugt von weniger als 10% bezogen auf die größte Beugungseffizienz aufweist. Darüber hinaus liegt insbesondere bei einem diffraktiven optischen Element in der Funktionsweise eines Phasenobjektes mit einer maximalen Streifendichte von größer oder gleich 0,8·1/λ dann eine sehr homogenisierte Beugungseffizienz der ersten Beugungsordnung vor, wenn die Beugungseffizienz der ersten Beugungsordnung für unterschiedliche Streifendichten mehr als 30% beträgt und eine Variation von weniger als 5% aufweist. Ferner liegt insbesondere bei einem diffraktiven optischen Element in der Funktionsweise eines Phasenobjektes mit einer maximalen Streifendichte von größer oder gleich 0,9·1/λ dann eine sehr homogenisierte Beugungseffizienz der ersten Beugungsordnung vor, wenn die Beugungseffizienz der ersten Beugungsordnung für unterschiedliche Streifendichten mehr als 22% beträgt und eine Variation von weniger als 4% aufweist. Des weiteren liegt insbesondere bei einem diffraktiven optischen Element in der Funktionsweise eines Phasenobjektes mit wenigstens zwei unterschiedlichen Streifendichten von größer 0,4·1/λ und kleiner als 0,7·1//λ und mit einem Gradienten der Beugungseffizienz der ersten Beugungsordnung für die zwei unterschiedlichen Streifendichten dann eine homogenisierte Beugungseffizienz der ersten Beugungsordnung vor, wenn der Gradient der Beugungseffizienz maximal 60%·λ beträgt. Insofern resultiert im Fernfeld solcher diffraktiven optischen Elemente an den Orten, an denen die ersten Beugungsordnungen zu liegen kommen, für jede der ersten Beugungsordnungen die gleiche Intensität. In einem Projektionsobjektiv oder einem Beleuchtungssystem für eine Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage, sowie einer Asphären-Prüfanlage gilt es in den Feld- und Pupillenebenen in der Regel homogene Ausleuchtungsverteilungen zu realisieren. Insofern ist es gerade bei solchen optischen Baugruppen mit einem diffraktiven optischen Element wichtig erfindungsgemäß die Beugungseffizienz zu homogenisieren. Analog gelten die getätigten Aussagen hinsichtlich der Homogenisierung der Beugungseffizienz der ersten Beugungsordnung bei einem diffraktiven optischen Element in der Funktionsweise eines Phasenobjekts auch für TE- oder TM-polarisiertes Licht. Im Hinblick auf die Anwendung von TE- und/oder TM-polarisiertem Licht in einer Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie und/oder einer Asphären-Prüfanlage können sich gewisse Vorteile ergeben, die über die offensichtlichen Vorteile einer homogenisierten Beugungseffizienz der ersten Beugungsordnung hinaus gehen. Zumindest ist es für die rechentechnische Optimierung der Tastverhältnisse von Vorteil, wenn nur die Beugungseffizienz der ersten Beugungsordnung für eine bestimmte Polarisationsrichtung des Lichtes beachtet werden muss. Dies führt zu einer kleineren Variation der Beugungseffizienz der ersten Beugungsordnung für verschiedene Streifendichten, sowie zu einer kürzeren Rechenzeit.at a diffractive optical element may have the diffraction efficiency the first diffraction order for different stripe densities be homogenized by the duty cycles accordingly be adjusted according to the invention. Usually can be achieved by lowering the diffraction efficiencies in smaller ones Strip densities according to the invention an approximation to the diffraction efficiencies at high stripe densities. A such homogenization of the diffraction efficiencies is done by inventive diffractive optical element with a diffraction efficiency of the first diffraction order, wherein the Diffraction efficiency for different strip densities of the diffractive optical element has a variation of less than 20%, preferably less than 15%, even more preferably less as 10% based on the greatest diffraction efficiency having. In addition, lies especially in a diffractive optical element in the operation of a phase object with a maximum strip density of greater or less equal to 0.8 · 1 / λ then a very homogenized diffraction efficiency the first diffraction order, when the diffraction efficiency of the first Diffraction order for different strip densities more than 30% and has a variation of less than 5%. Further is especially in a diffractive optical element in the How a phase object works with a maximum stripe density of greater than or equal to 0.9 · 1 / λ then a very homogenized diffraction efficiency of the first diffraction order, when the diffraction efficiency of the first diffraction order for different strip densities is more than 22% and has a variation of less than 4%. Furthermore, in particular in a diffractive optical element in the operation of a Phase object with at least two different stripe densities of greater than 0.4 x 1 / λ and smaller as 0.7 x 1 // λ and with a gradient of diffraction efficiency the first diffraction order for the two different ones Strip densities then a homogenized diffraction efficiency of the first Diffraction order before, when the gradient of the diffraction efficiency maximum 60% · λ is. Insofar results in the Far field of such diffractive optical elements in the places at which the first diffraction orders come to lie, for each of the first orders of diffraction has the same intensity. In a projection lens or a lighting system for a Microlithography projection exposure system, as well as an aspheric testing system In the field and pupil planes, homogeneous illumination distributions are generally applied to realize. In this respect, it is precisely with such optical assemblies with a diffractive optical element important according to the invention Homogenize diffraction efficiency. The same applies Statements regarding the homogenization of the diffraction efficiency the first diffraction order in a diffractive optical element in the mode of operation of a phase object also for TE or TM polarized light. With regard to the use of TE and / or TM polarized light in a projection exposure apparatus for microlithography and / or an aspheric testing system There may be some benefits over that the obvious advantages of homogenized diffraction efficiency go beyond the first diffraction order. At least it is for the computational optimization of the duty cycle of Advantage, if only the diffraction efficiency of the first diffraction order for a certain polarization direction of the light must become. This leads to a smaller variation of the Diffraction efficiency of the first diffraction order for different stripe densities, as well as to a shorter computing time.
Bei einem diffraktiven optischen Element kann die Phasenverzögerung der Phase der ersten Beugungsordnung für unterschiedliche Streifendichten gegenüber der Phase der ersten Beugungsordnung bei der Streifendichte Null homogenisiert werden, indem die Tastverhältnisse entsprechend erfindungsgemäß angepasst werden. Dies ist insbesondere durch ein erfindungsgemäßes diffraktives optisches Element mit einer Phasenverzögerung der Phase der ersten Beugungsordnung gegenüber der Phase der ersten Beugungsordnung bei der Streifendichte Null möglich, wobei die Phasenverzögerung für unterschiedliche Streifendichten des diffraktiven optischen Elements gegenüber der Phase der ersten Beugungsordnung bei der Streifendichte Null eine Variation von weniger als 0,05 rad aufweist. Darüber hinaus liegt insbesondere für ein diffraktives optisches Element in der Funktionsweise eines Phasenobjektes dann eine sehr homogenisierte Phasenverzögerung der Phase der ersten Beugungsordnung gegenüber der Phase der ersten Beugungsordnung bei der Streifendichte Null vor, wenn die Phasenverzögerung der Phase der ersten Beugungsordnung bei wenigstens einer Streifendichte größer als 0,7·1/λ weniger als 0.05 rad beträgt. Eine solch homogenisierte Phasenverzögerung ist insbesondere bei einem Projektionsobjektiv für eine Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage wichtig, da bei einem solchen Projektionsobjektiv mit großem Aufwand in Design und Fertigung große Phasenverzögerungen zwischen der idealen sphärischen Wellenfront und der realen Wellenfront des Objektivs bei den Bildpunkten des Objektivs vermieden werden. Gleiches gilt auch für die Phasenverzögerung der Phase der ersten Beugungsordnung bei einem DOE in der Funktionsweise eines Phasenobjektes für TE- und/oder TM-polarisiertes Licht.In a diffractive optical element, the phase delay of the phase of the first diffraction order for different stripe densities can be homogenized compared to the phase of the first diffraction order at the stripe density zero by the duty cycles are adjusted according to the invention. This is possible in particular by a diffractive optical element according to the invention having a phase delay of the first diffraction order phase relative to the phase of the first diffraction order at zero stripe density, the phase retardation for different stripe densities of the diffractive optical element being opposite to the phase of the first diffraction order at the stripe density zero Variation of less than 0.05 rad. In addition, in particular for a diffractive optical element in the operation of a phase object then a very homogenized phase delay of the phase of the first diffraction order relative to the phase of the first diffraction order at the strip density zero, if the phase delay of the phase of the first diffraction order at least one stripe density greater than 0.7 · 1 / λ is less than 0.05 rad. Such a homogenized phase delay is particularly important in a projection lens for a microlithography projection exposure system, since in such a projection lens with great effort in design and manufacturing large phase delays between the ideal spherical wavefront and the real wavefront of the lens at the pixels of the lens are avoided. The same applies to the phase delay of the phase of the first diffraction order in a DOE in the operation of a phase object for TE and / or TM polarized light.
Die Herstellung eines erfindungsgemäßen diffraktiven optischen Elementes erfolgt durch ein Verfahren, bei dem die unterschiedlichen Tastverhältnisse der binären Strukturierung an den Orten des ersten Teilbereichs mit den unterschiedlichen Streifendichten der binären Strukturierung entsprechend den Ergebnissen von Rechnungen mit rigorosen Methoden zur Lösung der Maxwell-Gleichungen ausgelegt werden. Die Optimierung der Tastverhältnisse erfolgt hierbei erfindungsgemäß mit Bezug auf die Beugungseffizienzen der ersten Beugungsordnung der unterschiedlichen Streifendichten und/oder die Phasenverzögerungen der Phase der ersten Beugungsordnungen der unterschiedlichen Streifendichten.The Production of a diffractive according to the invention optical element is made by a method in which the different Duty ratios of the binary structuring the locations of the first subarea with the different stripe densities the binary structuring according to the results of calculations with rigorous methods for solving the Maxwell equations be interpreted. The optimization of the duty cycles takes place according to the invention with reference to the diffraction efficiencies of the first diffraction order of the different Strip densities and / or the phase delays of the phase the first diffraction orders of the different stripe densities.
Ferner erfolgt die Herstellung eines erfindungsgemäßen diffraktiven optischen Elementes durch ein Verfahren, bei dem die binäre Strukturierung des ersten Teilbereichs innerhalb eines einzigen Strukturübertragenden Prozessschrittes mittels klassischer Lithographie, Elektronenstrahl-Lithographie, Laserplottern, Kopiertechniken oder Druckmethoden wie z. B. Nano-Imprint erzeugt wird. Unter der Druckmethode Nano-Imprint wird ein Druckverfahren verstanden bei dem eine positive Maske mit Strukturen bis hinab zu wenigen Nanometern auf ein Substrat oder Druckkörper mittels Abformung übertragen wird, so dass auf dem Druckkörper eine negative Form der Maske entsteht. Ein Verfahren mit nur einem einzigen Strukturübertragenden Prozessschritt ist einfach und kostengünstig und weist nur geringe Fertigungsfehler auf.Further the production of an inventive diffractive optical element by a method in which the binary structuring of the first subarea within a single structure-transmitting process step means classical lithography, electron beam lithography, laser plotters, Copying or printing methods such. B. Nano imprint generated becomes. Under the printing method nano-imprint becomes a printing process understood by a positive mask with structures down to to a few nanometers on a substrate or pressure hull is transferred by means of impression, so that on the pressure hull a negative form of the mask is created. A procedure with only one single structure-transferring process step is simple and cost-effective and has only minor manufacturing errors.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachfolgend anhand der Zeichnung näher erläutert. In dieser zeigen:embodiments The invention will be described below with reference to the drawing explained. In this show:
Die
Die
Ablenkung von Lichtstrahlen durch Beugung an einem binären
diffraktiven optischen Element als Phasenobjekt wird gemäß der
allgemeinen Beugungsgleichung beschrieben:
- n2:
- Brechungsindex des Streifens bei der Arbeitswellenlänge λ
- n1:
- Brechungsindex von Luft bzw. des Umgebungsmediums des Streifens bei der Arbeitswellenlänge λ
- α:
- Einfallswinkel der Lichtstrahlen zur Gitternormalen
- βm:
- Ausfalls- oder Beugungswinkel zur Gitternormalen abhängig von der Beugungsordnung m
- m:
- Zahl der Beugungsordnung
- λ:
- Arbeitswellenlänge λ
- P:
- Strukturausdehnung
- n 2 :
- Refractive index of the strip at the working wavelength λ
- n 1 :
- Refractive index of air or the ambient medium of the strip at the operating wavelength λ
- α:
- Angle of incidence of the light rays to the lattice normal
- β m :
- Failure or diffraction angle to the lattice normal depending on the diffraction order m
- m:
- Number of the diffraction order
- λ:
- Working wavelength λ
- P:
- structure expansion
Die angegebene Formel (1) gilt für den Lichteinfall vom Umgebungsmedium des Streifens aus auf die binäre Strukturierung. Für den Lichteinfall vom Medium des Streifens aus auf die binäre Strukturierung müssen die Brechungsindizes n1, n2 getauscht werden. Die Beugungsgleichung am Gitter gemäß Formel (1) geht für den Grenzfall einer unendlich großen Strukturausdehnung in das Snellsche Brechungsgesetzt n2·sin(β) = n1·sin(α) über. Gleichzeitig gehen in dem Grenzfall einer unendlich großen Strukturausdehnung alle Beugungsordnungen in eine auslaufende Wellenfront mit einer einheitlichen Phase über, die sich aus der Brechung der einlaufenden Wellenfront am betrachteten Objekt ergibt. Hierbei haben dann alle Beugungswinkel β ein und denselben Wert des Ausfallswinkels β gemäß dem Snellschen Brechungsgesetzes. Insofern können Bereiche des diffraktiven optischen Elements mit sehr großer Strukturausdehnung auch als Bereiche angesehen werden an denen Brechung statt Beugung stattfindet, wodurch die Beugungsgleichung und das Snellsche Brechungsgesetz identische Werte für den Beugungs- bzw. Brechungswinkel ergeben. Insbesondere bei einer Streifendichte Null liegt eine solche Situation vor, hierbei ist der Beugungswinkel der ersten Beugungsordnung identisch mit dem Ausfallswinkel β gemäß dem Snellschen Brechungsgesetzes und die Phase der ersten Beugungsordnung als auslaufende Wellenfront ergibt sich aus der Phase der einlaufenden Wellenfront nach der Brechung am betrachteten Objekt.The given formula (1) applies to the incidence of light from the surrounding medium of the strip on the binary structuring. For the incidence of light from the medium of the strip on the binary structuring, the refractive indices n 1 , n 2 must be exchanged. The diffraction equation on the lattice according to formula (1), for the limit case of an infinitely large structural extent, changes into the Snell's law of refraction n 2 · sin (β) = n 1 · sin (α). At the same time, in the limiting case of an infinitely large structural extension, all orders of diffraction transduce into an outgoing wavefront with a uniform phase, which results from the refraction of the incoming wavefront at the viewed object. In this case, all the diffraction angles β have one and the same value of the angle of reflection β in accordance with Snell's law of refraction. As such, regions of the diffractive optical element having a very large structural extent may also be considered as regions at which refraction rather than diffraction occurs, whereby the diffraction equation and the Snell's law of refraction give identical values for the diffraction angle. Such a situation exists, in particular, at zero stripe density, in which the diffraction angle of the first diffraction order is identical to the angle of reflection β according to Snell's law of refraction and the phase of the first diffraction order as expiring wavefront results from the phase of the incoming wavefront after refraction at the observed object ,
In
der Regel wird bei einem binären diffraktiven optischen
Element in der Funktionsweise als Phasenobjekt die 0. Beugungsordnung
zur Vermeidung von Lichtverlusten unterdrückt, da sie in
der Regel nicht zur funktionellen Aufgabe des diffraktiven optischen
Elements beiträgt. Zur Unterdrückung der 0. Beugungsordnung
wird die Streifenhöhe h eines binären diffraktiven
optischen Elements gemäß der folgenden Beziehung
an den Brechungsindex der Lücke n1 bei
der Arbeitswellenlänge λ, den Brechungsindex des
Streifens n2 bei der Arbeitswellenlänge λ und
die Arbeitswellenlänge λ angepasst:
Hierdurch wird sicher gestellt, dass der Teillichtstrahl der 0. Beugungsordnung, der bei senkrechtem Einfall auf das diffraktive optische Element durch einen Streifen verläuft eine Phasenverzögerung von λ/2 erfährt gegenüber dem Teillichtstrahl der 0. Beugungsordnung der durch die benachbarte Lücke verläuft. Hierdurch überlagern sich beide Teillichtstrahlen nach dem diffraktiven optischen Element destruktiv und führen zu einer Unterdrückung der 0. Beugungsordnung bei einem solchen Phasenobjekt. Implizit kann auch anhand der Formel (2) die Arbeitswellenlänge λ eines vorliegenden diffraktiven optischen Elements als Phasenobjekt mit Unterdrückung der 0. Beugungsordnung anhand der Streifenhöhe h und der Brechungsindizes n1 und n2 ermittelt werden. Zu beachten ist hierbei jedoch, dass die Brechungsindizes n1 und n2 selbst wiederum von der Arbeitswellenlänge λ abhängen, so dass die Arbeitswellenlänge λ anhand der Formel (2) nur implizit ermittelt werden kann. Im Grenzfall einer Streifendichte von Null kann der Standpunkt eingenommen werden, dass mangels destruktiver Interferenz, da entweder, je nach Betrachtungsweise, der Streifen oder die Lücke fehlt, die 0. Beugungsordnung mit einer Beugungseffizienz von 100% vorhanden ist und die auslaufende Wellenfront darstellt. Alternativ kann aber auch der Standpunkt eingenommen werden, dass im Grenzfall einer Streifendichte von Null die 0. Beugungsordnung nach wie vor fehlt und die auslaufende Wellenfront sich mit einer Beugungseffizienz von 100% zusammensetzt aus der Summe aller ungeraden Beugungsordnungen angefangen bei der +1. und –1. Beugungsordnung mit jeweils etwa 40,5%, der +3. und –3. Beugungsordnung mit jeweils etwa 4,5% usw.This ensures that the partial light beam of the 0th diffraction order, which passes through a strip at normal incidence on the diffractive optical element, experiences a phase delay of λ / 2 with respect to the partial diffraction beam of the 0th diffraction order passing through the adjacent gap. As a result, both partial light beams superimpose destructively on the diffractive optical element and lead to a suppression of the 0th order of diffraction in such a phase object. Implicitly, the operating wavelength λ of a present diffractive optical element as a phase object with suppression can also be calculated using the formula (2) The determination of the 0th diffraction order can be determined on the basis of the strip height h and the refractive indices n 1 and n 2 . It should be noted, however, that the refractive indices n 1 and n 2 in turn depend on the operating wavelength λ, so that the operating wavelength λ can only be determined implicitly using the formula (2). In the limit of zero stripe density, it can be argued that for lack of destructive interference, since either the stripe or the gap is missing, the 0th diffraction order with a 100% diffraction efficiency is present and represents the outgoing wavefront. Alternatively, however, it may also be assumed that in the limit of zero stripe density, the 0th diffraction order is still absent and the outgoing wavefront is composed with a diffraction efficiency of 100% from the sum of all odd diffraction orders starting at +1. and -1. Diffraction order with each about 40.5%, the +3. and -3. Diffraction order with each about 4.5%, etc.
Die
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Auch wenn die Erkenntnis zur Anpassung der Tastverhältnisse bei unterschiedlichen Streifendichten eines binären diffraktiven optischen Elements aus der rigorosen Lösung der Maxwell-Gleichungen im Rahmen der vorliegenden Ausführungsbeispielen nur auf Phasenobjekte als binäre diffraktive optische Elemente angewendet wird, so kann sie auch analog auf eine entsprechende Anpassung der Tastverhältnisse bei unterschiedlichen Streifendichten eines binären diffraktiven optischen Elements bei Amplitudenobjekten als binäre diffraktive optische Elemente übertragen werden, da die Maxwell-Gleichungen universale Gültigkeit haben. Es muss hierbei lediglich bei den rigorosen Methoden zur Lösung der Maxwell-Gleichungen die Darstellung der Streifen und Lücken für Amplitudenobjekte durch entsprechende komplexe Brechungsindizes erfolgen.Even if the recognition of the adaptation of the duty cycles at different stripe densities of a binary diffractive optical element from the rigorous solution of the Maxwell equations in the context of the present embodiments, only to phase objects as a binary diffractive optical Elements is applied, it can also be analogously to a corresponding adjustment of the duty cycles at different stripe densities of a binary diffractive optical element in amplitude objects as binary diffractive optical elements are transmitted, since the Maxwell equations have universal validity. In this case, only the rigorous methods for solving the Maxwell equations require the representation of the stripes and gaps for amplitude objects by means of corresponding complex refractive indices.
Ferner
ist zu beachten, dass die in den Diagrammen der
Wenn die Erfindung auch anhand spezieller Ausführungsformen beschrieben wurde, erschließen sich für den Fachmann zahlreiche Variationen und alternative Ausführungsformen, z. B. durch Kombination und/oder Austausch von Merkmalen einzelner Ausführungsformen. Dementsprechend versteht es sich für den Fachmann, dass derartige Variationen und alternative Ausführungsformen von der vorliegenden Erfindung mit umfasst sind.If the invention also with reference to specific embodiments described, will be apparent to those skilled in the art numerous variations and alternative embodiments, z. B. by combination and / or exchange of features of individual embodiments. Accordingly, it is understood by those skilled in the art that such variations and alternative embodiments are encompassed by the present invention.
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- - „Asphärenprüfung mit computergenerierten Hologrammen" von Stephan Reichelt und Hans Tiziani, Technisches Messen 73 (2006) 10, Oldenburg Verlag [0040] - "Aspherical Examination with Computer Generated Holograms" by Stephan Reichelt and Hans Tiziani, Technisches Messen 73 (2006) 10, Oldenburg Verlag [0040]
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE200710042672 DE102007042672A1 (en) | 2007-09-10 | 2007-09-10 | Diffractive optical element for operating wavelength for microelectronics, comprises binary structuring in subarea, and binary structuring comprises different strip densities at two positions of former subarea smaller than certain amount |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE200710042672 DE102007042672A1 (en) | 2007-09-10 | 2007-09-10 | Diffractive optical element for operating wavelength for microelectronics, comprises binary structuring in subarea, and binary structuring comprises different strip densities at two positions of former subarea smaller than certain amount |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102007042672A1 true DE102007042672A1 (en) | 2009-03-26 |
Family
ID=40365450
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE200710042672 Withdrawn DE102007042672A1 (en) | 2007-09-10 | 2007-09-10 | Diffractive optical element for operating wavelength for microelectronics, comprises binary structuring in subarea, and binary structuring comprises different strip densities at two positions of former subarea smaller than certain amount |
Country Status (1)
Country | Link |
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DE (1) | DE102007042672A1 (en) |
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