DE102005055938A1

DE102005055938A1 - Vorrichtung und Verfahren zum Erkennen von Feuchtigkeit in einem Druckplattenbelichter

Info

Publication number: DE102005055938A1
Application number: DE102005055938A
Authority: DE
Inventors: Jörg-Achim FISCHER
Original assignee: Heidelberger Druckmaschinen AG
Current assignee: Heidelberger Druckmaschinen AG
Priority date: 2004-12-20
Filing date: 2005-11-24
Publication date: 2006-06-29

Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Erkennen einer Feuchtigkeitsmenge auf einem Messfleck in einem Belichter für Druckformen. DOLLAR A Bei temperierten Druckplattenbelichtern kann es zur Kondensation von Feuchtigkeit im Bereich von Druckplatten, Laservorrichtungen oder Ähnlichem kommen. Hierdurch kann ein Bebildern von Druckplatten beeinträchtigt werden und/oder die Laservorrichtungen können Schaden durch Korrosion oder Ähnliches erleiden. DOLLAR A Es soll das Eintreten von Kondensation innerhalb eines Druckplattenbelichters genauer erkannt werden. Die Erfindung löst die Aufgabe dadurch, dass ein Messstrahl mit einer ersten Intensität von dem Messfleck remittiert und ein Messsignal an einem fotoelektrischen Wandler erzeugt wird. Anschließend an eine Verdampfung von Feuchtigkeit auf dem Messfleck wird ein Referenzsignal durch remittierte Strahlung der ersten Intensität an dem Messfleck auf einem fotoelektrischen Wandler erzeugt. Durch einen Vergleich von Messsignal und Referenzsignal kann Feuchtigkeit erkannt werden.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Erkennen einer Feuchtigkeitsmenge auf einem Messfleck in einem Belichter für Druckformen.
In der Reproduktionstechnik werden Druckformen erzeugt, die alle zu druckenden Elemente wie Texte, Grafiken und Bilder enthalten. Für den farbigen Druck wird für jede Druckfarbe eine separate Druckform erzeugt. Für den Vierfarbdruck sind das beispielsweise die Druckfarben Cyan, Magenta, Gelb und Schwarz (CMYK). Die nach Druckfarben separierten Druckformen werden auch Farbauszüge genannt.

Die zu druckenden Informationen werden zunächst von Druckvorlagen auf die Druckform übertragen. Je nach Druckform existieren unterschiedliche Methoden die Druckvorlage auf die Druckform zu übertragen. Es ist möglich, dass zunächst in einem Belichter Filme belichtet werden, mit denen Druckplatten für das Drucken hoher Auflagen hergestellt werden. Die Druckvorlage wird dafür gerastert und anschließend mit einem Belichter auf den Film belichtet. Alternativ können die Druckvorlagen in speziellen Bebilderungsgeräten wie Druckplattenbelichter auch gleich auf Druckplatten belichtet werden. Die Belichtung der Druckplatten kann auch direkt innerhalb einer Druckmaschine erfolgen.

Die Daten für eine Druckvorlage liegen heutzutage im Allgemeinen in elektronischer Form vor und werden in einem Raster-Image-Prozessor (RIP) oder vorher in die Farbauszüge CMYK umgerechnet.

Bei der Belichtung einer Druckplatte eines Farbauszugs werden einzelne Rasterpunkte aus kleineren Belichtungspunkten zusammengesetzt. Der Farbauszug selber besteht dann aus der Menge der Belichtungspunkte. Die Belichtungspunkte auf der Druckplatte werden im Allgemeinen von einem Laser auf die Platte belichtet. Sie sind etwa um eine Größenordnung kleiner als die Rasterpunkte. Eine typische Auflösung der Belichtungspunkte ist beispielsweise 1000 Belichtungspunkte je Zentimeter, d. h. ein Belichtungspunkt hat die Abmessung 10 μm × 10 μm. Die Druckvorlage kann dabei beispielsweise durch einen oder mehrere Laser oder durch eine so genannte Laserharke auf die Oberfläche der Druckplatte belichtet werden. Der oder die Laser scannen dabei die gesamte Oberfläche der Druckplatte ab. Hierfür kann sich der Laser relativ zur Druckplatte bewegen, die Druckplatte kann sich relativ zum Laser bewegen oder beide können sich relativ zueinander bewegen.

In so genannten In-Drum oder Innentrommel-Belichtern befindet sich die Druckplatte aufgespannt innerhalb eines Zylinders und der Laserstrahl wird mittels optischer Elemente entlang der Achse des Druckplattenzylinders gelenkt und auf die Oberfläche der Druckplatte abgelenkt. Hierfür kann z. B. ein Rotationsprisma axial innerhalb des Druckplattenzylinders vorgesehen sein. Das Rotationsprisma wird zur Ablenkung des Laserstrahls in Rotation versetzt und scannt so die Oberfläche der Druckplatte in einer so genannten Fast-Scann-Richtung ab. Zusätzlich erfährt das Rotationsprisma einen Vorschub wodurch die Oberfläche der Druckplatte in einer Slow-Scann-Richtung abgescannt wird. Statt Rotationsprismen können auch Spiegel verwendet werden. Bei so genannten Ex-Drum- oder Außentrommelbelichtern wird die Druckplatte außen auf die Oberfläche der Trommel aufgespannt. Der Laserstrahl zur Bebilderung der Druckplatte kann dann direkt oder über optische Elemente auf die Oberfläche der Druckplatte gelenkt werden. Die Trommel wird in Rotation versetzt, während sich die Belichtungseinheit, bestehend aus den Belichtungslasern und/oder etwaigen optischen Elementen entlang einer Vorschubsrichtung bewegt. Die Rotationsrichtung der Druckplatte entspricht dann der negativen Fast-Scann-Richtung während die Vorschubsrichtung der Belichtungseinheit die Slow-Scann-Richtung der Bebilderung der Druckplatte beschreibt.

Bei der Belichtung der Druckvorlagen auf eine Druckform muss dafür gesorgt werden, dass die Lage der Belichtungsfläche bezogen auf die Kannten der Druckform oder mit Bezug auf so genannte Rasterstanzungen der Druckform für alle Farbauszüge eines Druckbogens gleich ist. Ansonsten kann es dazu kommen, dass Farbauszüge später in der Druckmaschine nicht deckungsgleich übereinander gedruckt werden. Entsprechende Abweichungen sind deutlich im Druckbild erkennbar.

Druckplatten bestehen im Allgemeinen aus einem Trägermaterial z. B. aus Aluminium mit einer Dicke im Bereich von 0,1 mm bis 0,3 mm. Sie ändern ihre Abmessung z. B. in Folge von temperaturbedingten Längenausdehnungen um ca. 24 μm je °C und je Meter Kantenlänge. Herrschen bei der Erstellung unterschiedlicher Farbauszüge für einen Druckbogen nicht identische Temperaturbedingungen, so werden sich die Druckplatten entsprechend unterschiedlich verzerren und im anschließenden Druckprozess die gedruckten Farbauszüge nicht identisch übereinander ausdrucken. Ein erkennbarerer Qualitätsmangel im Druckbild ist die Folge. Unterschiedliche Umgebungseinflüsse können beispielsweise dann auftreten, wenn einzelne Farbauszüge in unterschiedlichen Plattenbelichtern oder zeitlich versetzt bebildert werden. Dies kann insbesondere dann der Fall sein, wenn eine Druckplatte während eines Druckprozesses beschädigt wird und erneut bebildert werden muss. Zur Erzeugung von immer gleichen Umgebungsbedingungen kann es daher vorgesehen sein, dass die Druckplattenbelichter alle in einem klimatisierten Raum aufgestellt werden. Diese Lösung ist relativ teuer. Andere Lösungen bestehen darin, dass die Trommeln der Druckplattenbelichter temperiert werden. Hierfür gibt es verschiedene Möglichkeiten, z. B. ist es aus der DE 103 08 436 bekannt, eine temperierte Flüssigkeit durch ein Innenrohr in einem Ex-Drum-Belichter hindurchzuleiten. Diese temperierte Flüssigkeit sorgt dann für eine gleichförmige Temperatur des Druckplattenzylinders. Entsprechende Temperierungssysteme für andere Belichterarten sind denkbar. Der Vorteil dieser Lösung besteht darin, dass preiswerterweise nur die Druckplattenbelichter entsprechend einzurichten sind. Eine Klimatisierung des Raumes in dem sich die Druckplattenbelichter befinden ist nicht notwendig. Vorteilhafterweise kann es hierdurch gewährleistet werden, dass die Oberflächen von unterschiedlichen Druckplattenzylindern jeweils die gleiche Temperatur aufweisen.

Problematisch bei dieser Druckplatten-Zylinder-Temperierungseinrichtung sind auftretende Effekte in Abhängigkeit von weiteren Umgebungsvariablen. Je nach äußerem Luftdruck, Temperatur oder Luftfeuchtigkeit kommt es zur Kondensation von Feuchtigkeit auf der Oberfläche der Trommel bzw. der Druckplatte. Hierdurch wird die Bebilderung der Druckform erheblich beeinträchtigt. Befindet sich der Druckplattenbelichter beispielsweise in einer warmen Umgebung, welche eine erhöhte Feuchtigkeit aufweisen kann, so kann es an dem dann gekühlten Druckplattenzylinder zur Kondensation von Wasser kommen. Durch diese Wasserbildung auf der Oberfläche kann es zusätzlich zur Beeinträchtigung des Bebilderungsverfahrens auch zu anderen Problemen wie Korrosion, Kurzschlüssen usw. kommen. Dieses gilt insbesondere für die Bereiche des Druckplattenbelichters, in denen die Laservorrichtungen bereitgehalten werden. Es kann auch vorgesehen sein, dass die Laservorrichtungen temperiert werden. Sollte in diesen Bereichen Wasser kondensieren, so kann es zu Beschädigungen der Laservorrichtungen kommen.

Zur Bebilderung einer Druckform ist es notwendig Feuchtigkeit beispielsweise auf der Trommel oder der Druckplatte selber, frühzeitig zu erkennen. Hierfür ist es aus der DE 32 20 282 A1 bekannt, einen Messfleck mittels einer Strahlungseinrichtung mit Strahlung zu bestrahlen und die remittierte Strahlung des Messfleckes mittels eines fotoelektrischen Wandlers zu erkennen und auszuwerten. Hierfür ist außerdem eine Auswerteschaltung vorgesehen. In dieser Vorrichtung wird ein erstes Messsignal erzeugt, in dem der Messfleck in einem trocknen Zustand bestrahlt und dieser Trockenwert gespeichert wird. Während eines Druckprozesses, bei dem die Druckplatte dann angefeuchtet wird, wird ein entsprechender zweiter Messwert erzeugt, der ein Maß für die Feuchtmittelmenge auf der Druckplatte darstellt. Die tatsächliche Feuchtmittelmenge auf der Druckplatte kann aus einem Vergleich des Referenzsignals mit einem Messsignal bestimmt werden. Die hier vorgestellte Einrichtung bzw. das vorgestellte Verfahren findet seine Anwendung innerhalb einer Druckmaschine für den Offsetdruck wo die Oberfläche der Druckplatte für den Druckprozess mit Feuchtmittel beaufschlagt wird. Das Referenzsignal wird hier unabhängig von den Umgebungsvariablen während der Druckpausen erzeugt. Bei diesem Verfahren soll sich gerade Feuchtmittel auf der Druckplatte befinden und deren Menge bestimmt werden. Der Übergang zwischen einer trockenen Platte und kondensierter Feuchtigkeit auf der Platte kann hier nicht genau bestimmt werden. Der Referenzwert wird zu einem beliebigen Zeitpunkt gewonnen. Wobei in dem beschriebenen Verfahren nicht ausgeschlossen sein kann, dass bereits kondensierte Feuchtigkeit auf der Druckplatte vorliegt.

Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht daher darin, ein Verfahren und eine Vorrichtung der oben genannten Gattung vorzustellen, mit der ein Eintreten von Kondensation innerhalb eines Druckplattenbelichters genauer erkannt werden kann. Insbesondere soll dieses Verfahren und diese Vorrichtung unabhängig von etwaigen Driften von Messeinrichtungen funktionieren.

Die Aufgabe der Erfindung wird vorrichtungsmäßig durch wenigstens eine Pegelsteuerung zur Ansteuerung wenigstens einer ersten Strahlungsquelle gelöst. Die Strahlungsquelle soll dabei so angesteuert werden, dass sie einen Messstrahl mit einer ersten Intensität emittiert, welcher wiederum von einem Messfleck remittiert wird. Die so von dem Messfleck reflektierte oder gestreute Strahlung trifft auf einen vorgesehenen fotoelektrischen Wandler welcher ein entsprechendes Messsignal erzeugt. Bei diesem Messstrahl kann es sich entweder um einen einzelnen Laserpuls oder um ein im Wesentlichen kontinuierliches Lasersignal handeln. Des Weiteren soll die Pegelsteuerung vorteilhafterweise dafür vorgesehen sein, dass der Laser einen Leistungspuls mit einer zweiten, höheren Intensität zur im Wesentlichen vollständigen Verdampfung von Feuchtigkeit auf dem Messfleck erzeugt. Durch diese Vorrichtung ist es vorteilhafterweise möglich, die Aufgabe der Erfindung in Verfahrensrichtung dadurch zu lösen, dass wenigstens ein Messstrahl mit einer ersten Intensität von der ersten Strahlungsquelle emittiert wird und ein Messsignal am fotoelektrischen Wandler erzeugt, in einem weiteren Verfahrensschritt die Feuchtigkeit auf der Oberfläche des Messfleckes verdampft wird, und dass ein elektrisches Referenzsignal durch Remission eines Messstrahles der ersten Intensität an der Oberfläche des trockenen Messfleckes im Wesentlichen anschließend an die Verdampfung der Feuchtigkeit erzeugt wird. Insbesondere ist es auch möglich, dass zunächst ein Referenzsignal erzeugt wird, und dass die Feuchtigkeit auf andere Weise als mit einem Laserstrahl verdampft wird.

Durch die Verdampfung von Feuchtigkeit auf der Oberfläche des Messfleckes kann ein garantiert trockener Messfleck erreicht werden. Ein entsprechender Messstrahl der ersten Strahlungsquelle wird dann von dieser trockenen Fläche remittiert. Dieses remittierte Licht bzw. wenigstens Teile davon erzeugen dann am fotoelektrischen Wandler ein entsprechendes Signal. Dieses Signal kann dann als Referenzsignal verwendet werden. Vor der Erzeugung des Referenzsignals, d.h. vor dem Trocknen des Messfleckes kann ein entsprechender Messstrahl mit der ersten Intensität von der Oberfläche des Messfleckes remittiert werden. Auch hierdurch wird ein Signal am fotoelektrischen Wandler erzeugt, welches im Folgenden als Messsignal bezeichnet wird. Dieses Signal kann alternativ auch anschließend an die Erzeugung des Referenzsignals erzeugt werden. Der zeitliche Abstand muss dann ausreichend groß gewählt werden, so dass sich bei entsprechenden Umgebungseinflüssen erneut Feuchtigkeit auf dem Messfleck niederschlagen kann.

Referenzsignal und Messsignal können durch eine Auswerteeinrichtung gegenübergestellt werden und je nach Differenz kann auf Feuchtigkeit auf dem Messfleck geschlossen werden. Insbesondere ist es verfahrensmäßig vorgesehen, dass zuerst ein Messsignal erzeugt wird und anschließend die Oberfläche des Messfleckes getrocknet wird, insbesondere indem die Feuchtigkeit verdampft wird. Dieses kann beispielsweise über ein Anheizen des Messfleckes erfolgen. Durch einen anschließenden Messplus wird dann ein Referenzsignal erzeugt. Der Messfleck kann sich dabei an einem beliebigen Ort des Plattenbelichters befinden. Er sollte wenigstens auch temperiert sein und zumindest keine höhere Temperatur als die übrigen Bereiche des Plattenbelichters aufweisen. Schlägt sich Feuchtigkeit auf der Oberfläche der Belichtertrommel oder in einem anderen Bereich des Belichters, z. B. im Umfeld der Laserelektronik nieder, so wird sie sich auch auf der Oberfläche des Messfleckes niederschlagen. Durch die Erzeugung eines aktuellen Referenzsignals kann dann Feuchtigkeit unabhängig von etwaiger Drift der Messapparatur erkannt werden. Der Messfleck kann dafür z. B. in unmittelbarer Nähe von temperierten Einrichtungen des Druckplattenbelichters vorgesehen sein. Dies kann beispielsweise die Trommel oder auch Bereiche der Laservorrichtungen sein. Es sollte bevorzugt ein Bereich ausgewählt werden, der die niedrigste Temperatur aufweist.

Verfahrensmäßig ist es weiter vorgesehen, dass zur Verdampfung der Feuchtigkeit ein Leistungspuls mit einer zweiten Intensität, welche höher ist als die erste Intensität emittiert wird. Hierdurch ist es praktischwerweise möglich, gerade die Fläche des Messfleckes von Feuchtigkeit zu befreien, von der der Messstrahl remittiert wird. Die zweite Intensität wird dafür so gewählt, dass sie Feuchtigkeit auf dem Messfleck verdampfen kann, die Länge des Pulses sollte eine ausreichende Dauer aufweisen um mögliche Feuchtigkeit vollständig zu verdampfen.

Verfahrensmäßig kann es vorgesehen sein, dass in einer weiteren Ausführungsform der Leistungspuls von einer zweiten Strahlungsquelle emittiert wird. Hierfür kann insbesondere eine Strahlungsquelle mit Strahlung einer höheren Frequenz verwendet werden. Die Verdampfung der Feuchtigkeit auf der Messfleckoberfläche kann dadurch schneller erfolgen. Vorteilhafterweise ist dafür vorrichtungsmäßig eine zweite Strahlungsquelle vorgesehen, welche durch eine Pegelsteuerung zur Emission des Leistungspulses angesteuert wird. Bei der Pegelsteuerung kann es sich insbesondere um die gleiche Pegelsteuerung handeln, die bereits die erste Strahlungsquelle ansteuert.

Vorteilhafterweise ist es weiter vorgesehen, dass die Strahlung der zweiten Strahlungsquelle innerhalb eines Wellenlängenbereiches liegt, der von dem Wellenlängenbereich, in dem die Oberfläche des Messfleckes Strahlung absorbiert umfasst wird. Hierfür kann beispielsweise eine leistungsstarke Laserdiode vorgesehen sein, die Licht in einem Wellenlängenbereich um 830 nm emittiert. Eine Laserdiode zur Erzeugung eines Messstrahls kann dann beispielsweise in einen Bereich von 1500 nm Strahlung emittieren. Für den Messstrahl kann es sich um eine energieschwächere Ausführungsform handeln. In dem Bereich um 1500 nm herum absorbiert Wasser besonders gut.

Das Verhältnis zwischen der Wellenlänge der zweiten Strahlungsquelle und der Oberfläche des Messflecke ist insbesondere erfindungsgemäß so zu interpretieren, dass auch die Oberflächenbeschichtung des Messfleckes so an die Wellenlänge angepasst sein kann, dass sie besonders gut diese Wellenlänge absorbiert.

In einer alternativen Ausführungsform ist vorgesehen, dass die Oberfläche des Messfleckes wenigstens eine Absorberschicht für einen Wellenlängenbereich umfasst, der die Wellenlänge der ersten und/oder zweiten Strahlungsquelle beinhaltet. Es kann sich beispielsweise um eine schwarz eloxierte Metallfläche handeln. Auf diese Weise kann vorteilhafterweise erreicht werden, dass z. B. nur die erste Strahlungsquelle benötigt wird. Mit einem Messstrahl einer ersten Intensität und einem Leistungspuls einer zweiten Intensität. Die Strahlung kann dann im Wellenlängenumfeld von 1500 nm liegen und wird dann sowohl von einer möglichen Feuchtigkeitsschicht, als auch von der Oberfläche des Messfleckes absorbiert. Es reicht dann eine Erhöhung der Intensität der ersten Strahlungsquelle aus um eine Feuchtigkeitsschicht zu verdampfen, da die Strahlung nicht alleine vom Wasser, sondern auch von dem Messfleck absorbiert wird und die Feuchtigkeit auch darüber entsprechend erhitzt wird. Alternativ kann die Oberfläche auch entsprechend auf die Wellenlänge einer zweiten Strahlungsquelle angepasst werden. Auch dann kann die Feuchtigkeitsschicht schneller verdampft werden.

In einer weiteren Ausgestaltung der Vorrichtung ist es vorgesehen, dass die Oberfläche des Messfleckes eine thermisch leitende Schicht ist. Insbesondere soll diese Schicht so ausgelegt sein, dass sie besonders Strahlung im Wellenlängenbereich des Leistungspulses absorbiert. Die so aufgeheizte Schicht verteilt die Wärme schnell gleichförmig auf der Oberfläche des Messfleckes und verdampft unmittelbar eine große Fläche kondensierter Feuchtigkeit. Vorteilhafterweise wird dadurch eine geringere Genauigkeit in der örtlichen Überlagerung des Leistungspulses der zweiten Strahlungsquelle mit dem Messstrahl der ersten Strahlungsquelle erforderlich. Ein weiterer Vorteil der thermisch leitenden Schicht besteht darin, dass sich schnell Feuchtigkeit wieder niederschlägt. Der Abstand zwischen zwei Messungen kann dadurch kurz gehalten werden und Feuchtigkeit genauer und schneller erkannt werden. Insbesondere ist es vorgesehen, dass als Messfleck eine metallische Oberfläche verwendet werden soll.

In einer weiteren vorrichtungsmäßigen Ausführungsform ist es vorgesehen, dass wenigstens ein aktives Kühlelement zur Kühlung des Messfleckes vorgesehen ist. Hierdurch kann vorteilhafterweise erreicht werden, dass der Messfleck eine Temperatur aufweist, die geringer ist als die Temperatur der auf der Trommel aufgespannten Druckplatte oder anderer Bereiche des Druckplattenbelichters. Feuchtigkeit wird sich dann zunächst auf dem Messfleck niederschlagen und kann hier frühzeitig, noch vor der Kondensation von Feuchtigkeit auf der Druckplatte oder im Bereich der Laser erkannt werden.

Verfahrensmäßig ist es weiterhin vorgesehen, dass aus dem Messsignal und dem Referenzsignal ein Differenzsignal gebildet wird. Vorteilhafterweise kann dieses Differenzsignal mit gespeicherten Werten verglichen werden. Aus diesen Werten kann dann auf einen bestimmten Zustand des Messfleckes geschlossen werden. Die gespeicherten Werte können beispielsweise in Form eines Look-Up-Tables gespeichert sein und bestimmten Dicken von Feuchtigkeit auf dem Messfleck entsprechen. Diese Werte können dafür unter Laborbedingungen erzeugt worden sein.

In einer weiteren Ausgestaltung ist verfahrensmäßig vorgesehen, dass ab einem Schwellenwert des Differenzsignals kondensierte Feuchtigkeit auf dem Messfleck erkannt wird. Dieser Schwellenwert kann dafür in einen Speicher abgespeichert sein. Sollte dieser Schwellenwert überstiegen werden, kann ein entsprechendes Warnsignal an den Benutzer des Druckplattenbelichters angezeigt werden und/oder eine Belichtung unterbunden werden, es ist natürlich auch möglich, dass automatisch Gegenmaßnahmen, wie z. B. die Trocknung der Luft im Inneren des Druckplattenbelichters durchgeführt werden können.

In einer besonderen Ausführungsform ist es vorteilhaft vorgesehen dass verfahrensmäßig Messsignale und Referenzsignale in Abhängigkeit von der Intensität der reflektierten Strahlung erzeugt werden. Hierfür wird der fotoelektrische Wandler so in den Strahlengang positioniert, dass das reflektierte Licht direkt gemessen werden kann. Eine Änderung der Intensität des reflektierten Lichtes deutet dann auf Feuchtigkeit auf dem Messfleck hin.

In einer alternativen Verfahrensweise ist es vorgesehen, dass Messsignale und Referenzsignale in Abhängigkeit von der Intensität des Streulichtes der auf dem Messfleck einfallenden Strahlung erzeugt werden. Hierfür ist insbesondere vorgesehen, dass der fotoelektrische Wandler in einem Bereich positioniert ist, der nicht im Strahlengang des reflektierten Messstrahls oder Leistungsstrahls liegt. Vorteilhafterweise wird hier keine hohe Anforderung an die Positionierung des fotoelektrischen Wandlers gestellt.

In einer weiteren alternativen Ausführungsform ist es verfahrensmäßig vorgesehen, dass Messsignale und Referenzsignale in Abhängigkeit von der Polarisationsebene der von dem Messfleck remittierten Strahlung erzeugt werden. Hierfür wird ausgenutzt, dass es sich bei der verwendeten Messstrahlung um polarisiertes Laserlicht handelt. Befindet sich Wasser auf der Oberfläche des Messfleckes, so wird die Polarisationsebene des Laserlichtes in Abhängigkeit von der Dicke der Feuchtigkeitsschicht gedreht. Vor dem fotoelektrischen Wandler wird ein Polarisationsfilter positioniert wodurch eine Drehung der Polarisationsebene auf Grund einer geringeren Intensität der auf den fotoelektrischen Wandler einfallenden Strahlung erkannt wird.

In einer weiteren vorteilhaften alternativen Ausführungsform ist es Verfahrensmäßig vorgesehen, dass Messsignale und Referenzsignale in Abhängigkeit von dem Reflexionswinkel der von dem Messfleck reflektierten Strahlung erzeugt werden. Hierfür wird ausgenutzt, dass das Wasser, welches sich auf der Oberfläche des Messfleckes niederschlägt einen anderen Brechungsindex aufweist als die Oberfläche des Messfleckes selber. In Abhängigkeit von der Schichtdicke ändert sich der Reflexionswinkel. Als fotoelektrischer Wandler kann hier insbesondere eine Matrix verwendet werden. Auf diese Weise kann eine Verschiebung des Punktes, an dem der reflektierte Laserstrahl auf die Matrix trifft erkannt werden und einer bestimmten, zumindest einer veränderten Schichtdicke zugeordnet werden. Es kann auch eine Blende vor einem fotoelektrischen Wandler vorgelagert sein. Eine Änderung des Reflexionswinkels führt dann dazu, dass weniger reflektiertes Laserlicht durch die Blendenöffnung auf den fotoelektrischen Wandler gelangen kann. Eine Änderung des Reflexionswinkels resultiert dann in einem geringeren Messsignal am Wandler.

In einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform, deren Vorteile schon beschrieben wurden, ist es vorgesehen, dass der Messfleck aktiv gekühlt wird.

In einer vorteilhaften Weiterentwicklung der Erfindung ist es vorgesehen, dass die Energiedosis des Leistungspulses in aufeinander folgenden Messungen variiert wird.

Auf diese Weise kann iterativ die Energiedosis erreicht werden, die benötigt ist um eine mögliche Feuchtigkeitsschicht auf der Oberfläche des Messfleckes komplett zu verdampfen.

In einer vorteilhaften Weiterentwicklung ist es vorgesehen, dass die Energiedosis in aufeinander folgenden Messungen variiert wird, in dem von einem minimalen Wert ausgehend sie so lange erhöht wird, bis keine Änderungen in aufeinander folgenden Referenzsignalen erkannt werden.

Hierdurch ist es günstiger Weise möglich, dass dieses Referenzsignal, welches sich nicht mehr von einer Messung auf eine folgende ändert, eindeutig als Referenzsignal identifiziert werden kann, welches einer Oberfläche des Messfleckes zugeordnet ist, die nicht mehr mit einer Feuchtigkeitsschicht beaufschlagt ist.

In einer möglichen Weiterentwicklung ist es vorteilhafter Weise vorgesehen, dass die Energiedosis durch Änderung der zweiten Intensität des Leistungspulses variiert wird. So kann einfach die Energiedosis variiert werden.

In einer alternativen Ausführungsform ist es vorgesehen, dass die Energiedosis durch Änderung der Pulslänge des Leistungspulses variiert wird. Diese stellt eine weitere vorteilhaft einfache Weise dar, die Energiedosis des Leistungspulses zu variieren.

In einer besonders vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung ist es vorgesehen, dass kein Messstrahl emittiert wird und Feuchtigkeit anhand der Energiedosis des Leistungspulses erkannt wird, die notwendig ist, damit keine Änderungen des Referenzsignals auftreten.

Hierdurch kann die Messung, die notwendig ist um Feuchtigkeit zu erkennen vorteilhafter weise vereinfacht werden. Es ist pro Messung nur noch ein Strahl der Strahlungsquelle notwendig. Diese Messungen können dann zeitlich hintereinander durchgeführt werden, wobei die Energiedosis dieses Strahls variiert werden. Werden die Energiedosen jeweils erhöhnt, so kann in einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform anhand der Energiedosis, die notwendig ist damit keine Änderungen des gemessenen Referenzsignals auftreten auf die Dicke der Feuchtigkeitsschicht geschlossen werden. Insbesondere kann einfacher Weise auch über auf das Vorhandensein einer Feuchtigkeitsschicht als solche geschlossen werden.

Natürlich ist es auch einfacher Weise nach zwei aufeinander folgenden Messungen mit geänderten Energiedosen des Leistungspulses möglich, auf eine Feuchtigkeitsschicht zu schließen. Sollte trotz variierter Energiedosen keine Änderung der gemessenen Referenzsignale auftreten, so kann direkt auf das Vorliegen einer Feuchtigkeitsschicht geschlossen werden. Auf die Dicke der Feuchtigkeitsschicht kann dann insbesondere durch in iteratives Verfahrens geschlossen werden, wenn die Energiedosis so weit Variiert wird, dass bei andauernder Erhöhung der Energiedosis erst in einem dritten oder späteren Messschritt keine Änderungen des Referenzsignals mehr erkannt werden kann.

Insbesondere ist es vorgesehen, dass für alle Kombinationsmöglichkeiten zum Erkennen von Feuchtigkeit auf dem Messfleck ein Vergleich mit gespeicherten Look-up-tables möglich ist. Hierdurch kann direkt die Schichtdicke der Feuchtigkeitsmenge auf dem Messfleck erkannt werden.

Das beschriebene Verfahren und die entsprechende Vorrichtung zu seiner Durchführung sind in allen Druckformbelichterarten anwendbar.

Ausführungsbeispiele der Erfindung aus denen sich auch weitere erfinderische Merkmale entnehmen lassen können auf die die Erfindung aber in ihrem Umfang nicht beschränkt ist sind in den Zeichnungen dargestellt.

Es zeigen schematisch:
1 eine Vorrichtung zum Erkennen von Feuchtigkeit über Streulicht,
2 eine Vorrichtung zum Erkennen von Feuchtigkeit über reflektierte Strahlung,
3 eine alternative Vorrichtung zum Erkennen von Feuchtigkeit über reflektierte Strahlung,
4 eine weitere alternative Vorrichtung zum Erkennen von Feuchtigkeit über reflektierte Strahlung,
5 eine mögliche Installation der Vorrichtung aus den vorherigen Figuren,
6a eine Signalfolge zum Erkennen von Feuchtigkeit auf einem Messfleck,
6b eine weitere mögliche Signalfolge zum Erkennen von Feuchtigkeit auf einem Messfleck,
7 eine zeitliche Darstellung des Messsignalverlaufs einer Fotodiode,
8 die zeitliche Darstellung von Differenzsignalen
Die 1 zeigt schematisch eine Vorrichtung 1 zum Erkennen einer Feuchtigkeitsschicht 6 auf einem Messfleck 5. Der Messfleck 5 kann hierbei z. B. aus einer Metallfläche bestehen. Diese sollte sich am möglichst kältesten Ort eines Druckplattenbelichters befinden. Beispielsweise kann diese Messfläche 5 im Bereich der Trommel des Druckplattenbelichters bereitgestellt sein.
Eine Laserdiode 2 wird über eine Pegelsteuerung 11 zur Emission von Laserstrahlen 3 angesteuert. Je nach Ansteuerung durch die Pegelsteuerung 11 werden Laserstrahlen 3 mit unterschiedlichen Intensitäten I_M und I_L emittiert. I_M ist dabei die Intensität eines Messstrahls 20 und I_L ist dabei die Intensität eines Leistungspulses 22. Die Intensität I_L des Leistungspulses 22 übersteigt dabei die Intensität I_M des Messstrahls 20.
Unabhängig davon, ob der Laserstrahl 3 als Messstrahl 20 oder Leistungspuls 22 emittiert wird, wird der Laserstrahl 3 zunächst von einer Fokussierlinse 4 auf die Oberfläche des Messfleckes 5 fokussiert. Der Laserstrahl 3 wird hier als reflektierter Laserstrahls 7 von dem Messfleck reflektiert. Zusätzlich zum reflektierten Laserstrahl 7 kommt es zur Bildung von Streulicht 10. Die Intensität des Streulichtes 10 ist von einer Feuchtigkeitsschicht 6 welche sich möglicherweise auf dem Messfleck 5 befindet abhängig. Diese Abhängigkeit wird z. B. durch Unebenheiten des Messfleckes 5 hervorgerufen, die durch eine Flüssigkeitsschicht 6 abgedeckt werden. So entsteht eine glattere Oberfläche, wodurch weniger Streulicht 10 erzeugt wird. Ein Teil des Streulichtes 10 fällt auf eine Fotodiode 8. Diese Fotodiode 8 befindet sich außerhalb des Strahlengangs des reflektierten Laserstrahles 7. Durch das einfallende Streulicht 10 erzeugt die Fotodiode 8 ein elektronisches Signal. Dieses Signal wird an eine Auswerteeinrichtung 9 weitergeleitet. In der Auswerteeinrichtung 9 werden elektrische Signale der Fotodiode 8 miteinander verglichen, welche ihren Ursprung in Messstrahlen 20 zu unterschiedlichen Zeitpunkten haben. Hierzu später mehr.
2 zeigt eine alternative Vorrichtung 1 zur Erkennung einer Feuchtigkeitsschicht 6 auf dem Messfleck 5, wobei hier der reflektierte Laserstrahl 7 genutzt wird. Gleiche Bezugszahlen bezeichnen hier gleiche Elemente wie in 1.
Wie in 1 wird ein Laserstrahl 3 von einer Laserdiode 2 emittiert, durch eine Fokussierlinse 4 auf eine Messfleck 5 fokussiert um dort dann reflektiert zu werden. Der reflektierte Strahl 7 wird je nach Feuchtigkeitsschicht 6 auf dem Messfleck 5 unterschiedlich abgelenkt. Der Ursprung hierfür liegt in dem von eins unterschiedlichen Brechungsindex N der Feuchtigkeitsschicht 6. Der reflektierte Laserstrahl 7 einer Oberfläche des Messfleckes 5 welche nicht durch eine Feuchtigkeitsschicht 6 bedeckt ist, wird durch eine Feuchtigkeitsschicht 6 hin zu einem Strahlengang eines reflektierten Laserstrahls 7' verschoben. In dem hier vorgestellten Aufbau ist es vorgesehen, dass die reflektierte Strahlung 7, 7' durch eine weitere Fokussierlinse 12 auf eine Matrix 13 fokussiert wird. Bei dieser Matrix 13 kann es sich beispielsweise um eine CCD-Matrix handeln. Je nach Dicke der Feuchtigkeitsschicht 6 wird der reflektierte Laserstrahl 7, 7' auf einem Punkt P1 bzw. P2 der Matrix 13 fokussiert. Die so erzeugten elektronischen Signale können dann weiter an eine Auswerteeinrichtung 9 geleitet werden.
In der Auswerteeinrichtung 9 können die Signale der reflektierten Laserstrahlen 7, 7' miteinander verglichen werden. Im hier dargestellten Fall unterscheiden sich die jeweiligen Signale durch die Positionen der CCD-Sensoren, die die reflektierte Laserstrahlung 7 oder 7' detektieren. Je nach Ort P1 oder P2 an dem die reflektierte Laserstrahlung 7, 7' detektiert wird kann dann auf das Vorhandensein einer Feuchtigkeitsschicht 6 auf dem Messfleck 5 entschieden werden. Insbesondere können die so gewonnenen Signale mit einem look up table verglichen werden und es kann über die Schichtdicke der Feuchtigkeitsschicht 6 entschieden werden.
In der 3 ist eine alternative Ausführungsform der Vorrichtung zur Erkennung von Feuchtigkeit 6 auf einem Messfleck 5 dargestellt wobei hier erneut die reflektierte Strahlung 7, 7' genutzt wird, um über eine vorliegende Feuchtigkeitsschicht 6 auf dem Messfleck 5 zu entscheiden. Gleiche Elemente werden wieder mit gleichen Bezugszahlen bezeichnet.
Je nach dem, ob eine Feuchtigkeitsschicht 6 auf dem Messfleck 5 vorliegt und in Abhängigkeit von ihrer Schichtdicke wird die reflektierte Strahlung 7 bzw. 7' einen unterschiedlichen Strahlengang aufweisen. Die reflektierte Strahlung 7, 7' wird wiederum durch eine Fokussierlinse 12 so fokussiert, dass sie auf einer Fotodiode 8 fokussiert wird. Vor die Fotodiode 8 ist hier eine Blende 14 positioniert. Diese Blende 14 ist so dimensioniert, dass die reflektierte Strahlung 7 die von dem Messfleck 5 reflektiert wird wenn keine Feuchtigkeitsschicht 6 auf ihr vorhanden ist, gerade durch die Öffnung 26 hindurchtreten kann, ohne dass Anteile der reflektierten Strahlung 7 abgeschirmt werden.
Liegt auf dem Messfleck 5 eine Feuchtigkeitsschicht 6 vor, so wird die reflektierte Strahlung 7' einen anderen Strahlengang als die reflektierte Strahlung 7 einschlagen. Auch die reflektierte Strahlung 7' wird dann durch die Fokussierlinse 12 auf die Fotodiode 8 fokussiert. Hierbei wird sie aber von einem Teil der Blende 14 abgeschottet. Es fällt nur einen Teil der reflektierten Strahlung 7' auf die Fotodiode 8. Hierdurch wird von der Fotodiode 8 ein kleineres elektrisches Signal erzeugt, als durch die reflektierte Strahlung 7.
Zu bestimmten Zeitpunkten T1 wird die Feuchtigkeitsschicht auf dem Messfleck 5 definiert verdampft. Dieses kann z. B. in dem hier geschilderten Fall über einen Leistungspuls 22 erfolgen. Anschließend an die Verdampfung wird an der Fotodiode 8 ein Referenzsignal 24 erzeugt. Hierfür wird ein Laserstrahl 3 als Messstrahl 20 auf den Messfleck 5 fokussiert. Der Messfleck 5 weist nun definiert keine Feuchtigkeitsschicht 6 auf, und die reflektierte Strahlung 7 fällt auf die Fotodiode 8. Das hier erzeugte elektrische Signal entspricht dann dem Referenzsignale 24. Dieses Referenzsignal 24 wird an die Auswerteinrichtung 9 weitergeleitet. In der Auswerteeinrichtung 9 kann dann ein Messsignal 23 mit dem Referenzsignal 24 vergleichen werden. Das Messsignal 23 kann z. B. vor der Verdampfung der möglichen Feuchtigkeitsschicht 6 erzeugt werden. Hierfür wird der Laserstrahl 3 mit einer ersten Intensität I_M als Messstrahl 20 auf die Oberfläche des Messfleckes 5 gelenkt. Je nach dem ob sich eine Feuchtigkeitsschicht 6 oder keine Feuchtigkeitsschicht 6 auf der Oberfläche des Messfleckes 5 befindet, wird ein reflektierter Laserstrahl 7 oder 7' erzeugt. Wie beschrieben werden hierdurch unterschiedliche elektrische Messsignale 23 an der Fotodiode 8 erzeugt. In der Auswerteeinrichtung 9 werden dann die Referenzsignale 24 von den Messsignalen 23 abgezogen. Hierdurch wird ein Differenzsignal 25 gebildet, welches abhängig ist von der Dicke einer möglichen Feuchtigkeitsschicht 6. Liegt z. B. keine Feuchtigkeitsschicht 6 auf dem Messfleck 5 vor, so ist das Differenzsignal 25 gleich Null. In Abhängigkeit von der Höhe des Differenzsignals 25 kann der Plattenbelichter abgeschaltet werden oder es kann ein Signal erzeugt werden, welches Auskunft über das Vorhandensein einer Feuchtigkeitsschicht 6 auf den Messfleck 5 gibt. Ein Bediener der Druckplattenbelichter kann dann über den weiteren Betrieb des Druckplattenbelichters entscheiden.
Die 4 zeigt einen weiteren alternativen Aufbau zur Erkennung einer Feuchtigkeitsschicht 6 auf einem Messfleck 5. Gleiche Bezugszahlen bedeuten hier wieder gleiche Elemente.
Im Unterschied zur 3 wird hier der reflektierte Laserstrahl 7 oder 7' nach der Fokussierung durch die Fokussierlinse 12 durch einen der Fotodiode 8 vorgelagerten Polfilter 15 gelenkt. In Abhängigkeit von der Polarisationsebene des reflektierten Laserstrahls 7, 7' fallen dann unterschiedliche Intensitäten von Laserstrahlung auf die Fotodiode 8. Hierdurch werden wieder unterschiedliche Messsignale 23 durch die Fotodiode 8 erzeugt. Die Wirkungsweise dieses Aufbaus besteht darin, dass das durch die Laserdiode 2 emittierte Laserlicht 3 in einer bestimmten Ebene polarisiert ist. Je nach Dicke einer möglichen Feuchtigkeitsschicht 6 auf dem Messfleck 5 wird die Ebene der Polarisation des reflektierten Laserstrahls 7 bzw. 7' gedreht. Durch den Polfilter 15 werden dann entsprechende Anteile der reflektierten Laserstrahlung 7, 7' herausgefiltert. Durch Vergleiche dieser so erzeugten Messsignale 23 mit Referenzsignalen 24 können dann wiederum Differenzsignale 25 erzeugt werden welche über das Vorhandensein einer Feuchtigkeitsschicht 6 oder deren Dicke Auskunft geben können.
Eine mögliche praktische Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Erkennung von einer Feuchtigkeitsschicht 6 auf einem Messfleck 5 ist in 5 skizzenhaft dargestellt.
Im hier dargestellten Fall ist keine Feuchtigkeitsschicht 6 auf dem Messfleck 5 vorhanden, die Laserdiode 2 befindet sich auf einer Leiterplatte 19 ebenso wie die Fotodiode 8. Auf dieser Leiterplatte 19 befinden sich auch die übrigen hier nicht dargestellten elektronischen Bauteile, wie die Auswerteeinrichtung 9 und die Pegelsteuerung 11. Die Leiterplatte 19 mit der Fotodiode 8 und der Laserdiode 2 werden von einem Gehäuse 16 umfasst. Das Gehäuse 16 weist eine Fokussierlinse 18 auf welche sowohl im Strahlengang des von der Laserdiode 2 emittierten Laserstrahls 3 als auch des von dem Messfleck 5 reflektierten Laserstrahls 7 liegt. Die Abstände der Fotodiode 8 und der Laserdiode 2 sowie des Messfleckes 5 von der Fokussierlinse 18 sind dabei entsprechend so gewählt, dass das Laserlicht, d. h. der Laserstrahl 3 als auch der Laserstrahl 7 jeweils auf dem Messfleck 5 bzw. die Fotodiode 8 fokussiert werden. Der Messfleck 5 befindet sich hier auf einem Bauteil eines Plattenbelichters 17 die gesamte Auswerteeinrichtung befindet sich innerhalb des Gehäuses 16 auf der Leiterplatte 19.
In den 6a und 6b sind mögliche Signalfolgen des Laserstrahls 3 zeitlich dargestellt. In der 6a ist gezeigt, dass der Laserstrahl 3 in einzelne Pulse 20 und 22 zerlegt ist. Der erste Pulse ist hier ein Messstrahl 20. Er weist eine Intensität I_M. auf Die Intensität I_M reicht nicht aus, um eine mögliche Feuchtigkeitsschicht 6 auf dem Messfleck 5 zu verdampfen oder auch nur teilweise zu verdampfen. Der Messstrahl 20 hat in dem gezeigten Fall eine begrenzte Dauer. Er weist eine Pulsform auf. Zu einem zweiten Zeitpunkt t1 emittiert die Laserdiode 2 einen Leistungspuls 22 mit einer zweiten Intensität I_L. Diese Intensität und die hier symbolisch gezeigt Pulsdauer werden so gewählt, dass sie in Kombination ausreichen, um eine Feuchtigkeitsschicht 6, welche sich auf dem Messfleck 5 befinden kann während der Dauer des Leistungspulses 22 zu verdampfen. Anschließend an den Leistungspuls 22 emittiert die Laserdiode 2 erneut einen Messstrahl 20, auch hier erneut in Form eines Pulses mit eine ersten Intensität I_M. Der Beginn dieses Pulses erfolgt unmittelbar nach dem Ende des Leistungspulses 22. Ein geringer zeitlicher Abstand ist hier aber durchaus möglich, der Zeitraum sollte aber so gewählt werden, dass sich erneut Feuchtigkeit auf der Oberfläche des Messfleckes 5 niederschlagen kann. Diese Folge aus Pulsen, bestehend aus einem Messstrahl 20 vor einem Leistungspuls 22 und einem erneuten anschließenden Messstrahl 20 wiederholt sich periodisch. Mit dem ersten Messstrahl 20 kann ein elektrisches Signal an der Fotodiode 8 erzeugt werden, wobei es sich dann hierbei um ein Messsignal 23 handelt. Durch den Leistungspuls 22 wird dann mögliche Feuchtigkeitsschichten 6 auf der Oberfläche es Messfleckes 5 verdampft und mit dem anschließenden Messstrahl 20 wird dann ein Referenzsignal 24 an der Fotodiode 8 erzeugt.
Die 6b zeigt eine andere mögliche Signalfolge der Fotodiode 2. Es wird praktisch kontinuierlich ein Messstrahl 20 emittiert. Dieser Messstrahl 20 wird periodisch unterbrochen durch einen Leistungsstrahl 22, welcher Feuchtigkeit auf dem Messfleck 5 verdampft, wenn sie vorhanden sein sollte. Zu bestimmten Zeitpunkten t2 bzw. t3 können, analog zum oben Beschriebenen durch die Fotodiode 8 jeweils Messsignale 23 bzw. Referenzsignale 24 erzeugt werden. Der Leistungspuls 22 beginnt zu einem Zeitpunkt t1. Seine Dauer und Intensität I_L sollen auch hier entsprechend gewählt werden um eine mögliche Feuchtigkeitsschicht 6 auf dem Messfleck 5 zu verdampfen. Anschließend zu einem Zeitpunkt t3 wird dann das Referenzsignal 24 an der Fotodiode 8 durch den Messstrahl 20 erzeugt.
In der 7 ist ein möglicher zeitlicher Verlauf eines elektronischen Signals dargestellt welches an der Fotodiode 8 erzeugt wird. Der Ursprung des hier gezeigten Signalverlaufs liegt dabei in der Signalfolge der Fotodiode 2 wie sie in der 6b dargestellt ist. Zu Zeiten währenddessen eine mögliche Feuchtigkeitsschicht 6 auf dem Messfleck nicht durch einen Leistungspuls 22 verdampft wurde, liegt das Messsignal 23 vor. Zu den Zeiten während dessen keine Feuchtigkeit definiert auf dem Messfleck 5 vorliegt wird ein Referenzsignal 24 an der Fotodiode 8 erzeugt. Sollte sich während des gesamten Zeitraums keine Feuchtigkeitsschicht 6 auf dem Messfleck 5 befinden, so liegen sowohl das Messsignal 23 als auch das Referenzsignal 24 auf der gleichen Höhe. Zu einem Zeitpunkt t2, welcher vor dem Leistungspuls 22 liegt wird das Messsignal 23 an die Auswerteeinrichtung 9 übergeben. Zu einem Zeitpunkt t3, der so gewählt ist, dass definiert keine Feuchtigkeitsschicht 6 auf dem Messfleck 5 vorhanden ist, wird das Referenzsignal 24 an die Auswerteeinrichtung 9 übergeben.
In der 8 sind mögliche Differenzsignale 25 dargestellt welche zu bestimmten Zeitpunkten durch die Auswerteeinrichtung 9 erzeugt werden.
Die Differenzsignale 25 werden periodisch erzeugt. Sie werden gebildet, indem zum Zeitpunkt t3 ein Referenzsignal 24 von einem Messsignal 23 abgezogen wird, welches zum Zeitpunkt d2 aufgenommen wird. Befindet sich vor dem Leistungspuls 22 eine Feuchtigkeitsschicht 6 auf dem Messfleck 5, so ergibt das Differenzsignal 25 einen positiven Wert. Liegt vor dem Leistungspuls 22 auch keine Feuchtigkeitsschicht 6 auf dem Messfleck 5 vor, so wird das Differenzsignal 25 im Wesentlichen Null sein. Ist die Größe des Differenzsignals 25 größer als ein bestimmter Schwellwert s, so wird eine Feuchtigkeitsschicht auf dem Messfleck 5 erkennt. Es können dann geeignete Maßnahmen ergriffen werden um Schäden am Plattenbelichter zu verhindern. Geeignete Maßnahmen können z. B. das Abschalten des Druckplattenbelichters beinhalten oder eine besondere Trocknung des Raumes in dem der Plattenbelichter steht.
Es sind auch Kombinationen der hier vorgestellten Vorrichtungen denkbar. Insbesondere kann es auch vorgesehen sein, dass zur Emission des Leistungspulses 22 eine zweite, hier nicht gezeigte Laserdiode verwendet wird. Es kann dabei insbesondere vorgesehen sein, dass die Wellenlänge des emittierten Leistungspulses 22 und die Oberflächenbeschaffenheit z. B. das Material des Messfleckes 5 so auf einander abgestimmt sind, dass eine Verdampfung einer Feuchtigkeitsschicht 6 besser unterstützt wird. Es kann dabei insbesondere vorgesehen sein, dass der Messfleck 5 gerade Licht der Wellenlänge des Leistungspulses 22 besonders gut absorbiert und besonders leitfähig ist.

2: Laserdiode
3: Laserstrahl
4: Fokussierlinse
5: Messfleck
6: Feuchtigkeitsschicht
7, 7': remittierte Strahlung
8: Fotodiode
9: Auswerteeinrichtung
10: Streulicht
11: Regelsteuerung
12: Fokussierlinse
13: CCD-Matrix
14: Blende
15: Polfilter
16: Gehäuse
17: Plattenbelichter
18: Fokussierlinse
19: Leiterplatte
20: Messstrahl
22: Leistungspuls
23: Messsignal
24: Referenzsignal
25: Differenzsignal
26: Öffnung
S: Schwellwert
I_M: erste Intensität
I_L: zweite Intensität

Claims

Vorrichtung zum Erkennen einer Feuchtigkeitsmenge auf einem Messfleck in einem Belichter für Druckformen umfassend eine erste Strahlungsquelle und einen ersten fotoelektrischen Wandler zum Erkennen der von dem Messfleck reflektierten oder gestreuten Strahlung, welche von der ersten Strahlungsquelle emittiert wird und deren Wellenlänge innerhalb eines Absorptionswellenlängenbereiches der Feuchtigkeitsmenge auf dem Messfleck liegt, weiter umfassend eine Auswerteeinrichtung zur Gegenüberstellung eines ersten elektrischen Signals der von dem Messfleck remittierten Strahlung mit einem elektrischen Referenzsignal der von dem trockenen Messfleck remittierten Strahlung, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung wenigstens eine Pegelsteuerung zur Ansteuerung wenigstens der ersten Strahlungsquelle wenigstens zur Emission eines Messstrahles mit einer ersten Intensität zur Erzeugung eines Messsignals durch die von dem Messfleck remittierten Strahlung und/oder eines Leistungspulses mit einer zweiten, höheren Intensität zur im Wesentlichen vollständigen Verdampfung von Feuchtigkeit auf dem Messfleck umfasst.
Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine zweite Strahlungsquelle umfasst ist, welche durch eine Pegelsteuerung zur Emission des Leistungspulses angesteuert wird.
Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die von der zweiten Strahlungsquelle emittierte Strahlung eine Wellenlänge innerhalb des Absorptionswellenlängenbereiches der Oberfläche des Messfleckes aufweist.
Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Oberfläche des Messfleckes wenigstens eine Absorberschicht für einen Wellenlängenbereich umfasst, der die Wellenlänge der ersten und/oder zweiten Strahlungsquelle einschließt.
Vorrichtung nach wenigstens einem der Ansprüche 1-4, dadurch gekennzeichnet, dass die Oberfläche des Messflecks eine thermisch leitende Schicht ist.
Vorrichtung nach wenigstens einem der Ansprüche 1-5, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens ein aktives Kühlelement zur Kühlung des Messfleckes vorgesehen ist.
Verfahren zum Erkennen einer Feuchtigkeitsmenge auf einem Messfleck in einem Belichter für Druckformen umfassend eine erste Strahlungsquelle und einen ersten fotoelektrischen Wandler zum Erkennen von dem Messfleck reflektierter oder gestreuter Strahlung, welche von der ersten Strahlungsquelle emittiert wird und deren Wellenlänge innerhalb des Absorptionswellenlängenbereiches der Feuchtigkeit liegt, weiter umfassend eine Auswerteeinrichtung zur Gegenüberstellung eines elektrischen Messsignals der von dem Messfleck remittierten Strahlung mit einem elektrischen Referenzsignal der von dem trockenem Messfleck remittierten Strahlung, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens ein Messstrahl mit einer ersten Intensität von der ersten Strahlungsquelle emittiert wird und ein Messsignal am fotoelektrischen Wandler erzeugt, die Feuchtigkeit auf der Oberfläche des Messfleckes verdampft wird und dass ein elektrisches Referenzsignal durch Remission eines Messstrahles mit der ersten Intensität an der Oberfläche des trockenen Messfleckes im wesentlichen anschließend an die Verdampfung der Feuchtigkeit erzeugt wird.
Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass zur Verdampfung der Feuchtigkeit ein Leistungspuls mit einer zweiten Intensität, welche höher ist als die erste Intensität emittiert wird.
Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass der Leistungspuls von einer zweiten Strahlungsquelle emittiert wird.
Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlung der zweiten Strahlungsquelle innerhalb eines Wellenlängenbereiches liegt, der von dem Wellenlängenbereich, in dem die Oberfläche des Messfleckes Strahlung absorbiert umfasst wird.
Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 7-10, dadurch gekennzeichnet, dass aus dem Messsignal und dem elektrischen Referenzsignal ein Differenzsignal gebildet wird.
Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass ab einem Schwellenwert des Differenzsignals kondensierte Feuchtigkeit auf dem Messfleck erkannt wird.
Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 7-12, dadurch gekennzeichnet, dass Messsignale und Referenzsignale in Abhängigkeit von der Intensität der reflektierten Strahlung erzeugt werden
Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 7-12, dadurch gekennzeichnet, dass Messsignale und Referenzsignale in Abhängigkeit von der Intensität des Streulichtes der auf den Messfleck einfallenden Strahlung erzeugt werden.
Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 7-12, dadurch gekennzeichnet, dass Messsignale und Referenzsignale in Abhängigkeit von der Polarisationsebene der von dem Messfleck remittierten Strahlung erzeugt werden.
Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 7-12, dadurch gekennzeichnet, dass Messsignale und Referenzsignale in Abhängigkeit von dem Reflexionswinkel der von dem Messfleck reflektierten Strahlung erzeugt werden.
Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 7-16, dadurch gekennzeichnet, dass der Messfleck aktiv gekühlt wird.
Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 7-17, dadurch gekennzeichnet, dass die Energiedosis des Leistungspulses in aufeinander folgenden Messungen variiert wird.
Verfahren nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, dass die Energiedosis variiert wird in dem von einem minimalen Wert ausgehend sie so lange erhöht wird, bis keine Änderungen in aufeinander folgenden Referenzsignalen erkannt wird.
Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 8, 18 und 19, dadurch gekennzeichnet, dass die Energiedosis durch Änderung der zweiten Intensität des Leistungspulses variiert wird.
Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 8, 18 und 19, dadurch gekennzeichnet, dass die Energiedosis durch Änderung der Pulslänge des Leistungspulses variiert wird.
Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 18-21, dadurch gekennzeichnet, dass kein Messstrahl emittiert wird und Feuchtigkeit anhand der Energiedosis des Leistungspulses erkannt wird, die notwendig ist damit keine Änderung des Referenzsignals auftritt.
Verfahren nach einem der Ansprüche 21, dadurch gekennzeichnet, dass anhand der notwendigen Energiedosis auf die Dicke einer möglichen Feuchtigkeitsschicht geschlossen wird.