DE10161578C2

DE10161578C2 - Method for connecting test bench elements and device

Info

Publication number: DE10161578C2
Application number: DE10161578A
Authority: DE
Inventors: Renate Henftling; Wolfgang Ecker; Andreas Zinn; Matthias Bauer; Martin Zambaldi
Original assignee: Infineon Technologies AG
Current assignee: Infineon Technologies AG
Priority date: 2001-06-01
Filing date: 2001-12-14
Publication date: 2003-05-08
Anticipated expiration: 2021-12-15
Also published as: DE10161578A1

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Durch führen von Tests und Simulationen zur Überprüfung einer funk tionalen Korrektheit einer Schaltungseinheit und betrifft insbesondere ein Verfahren zum Anschließen von Testbenchele menten und eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens.The present invention relates to a method for through perform tests and simulations to check a radio tional correctness of a circuit unit and concerns in particular a method for connecting test benches elements and a device for performing the method.

Testbenches sind beispielsweise Modelle, welche die Umgebung eines Schaltungsentwurfs und entsprechende Eingangssignale nachbilden und von diesen Eingangssignalen abhängige Aus gangssignale, beispielsweise Signalantworten, überprüfen.For example, test benches are models that test the environment a circuit design and corresponding input signals emulate and dependent on these input signals Aus Check signal signals, for example signal responses.

Derartige Modelle sind beispielsweise, aber nicht ausschließ lich, in Hardware-Beschreibungssprachen wie VERILOG und VHDL ausgeführt. In vielen Fällen ist eine Co-Simulation von Hard ware- und Software-Einheiten realisierbar, wie beispielsweise in "Matthias Bauer, Wolfgang Ecker: Hardware/Software Co- Simulation in a VHDL-based Test Bench Approach, DAC 97, Ana heim, California, U.S.A." beschrieben.Such models are, for example, but not exclusively, executed in hardware description languages such as VERILOG and VHDL. In many cases, a co-simulation of hardware and software units can be implemented, for example in "Matthias Bauer, Wolfgang Ecker: Hardware / Software Co-Simulation in a VHDL-based Test Bench Approach, DAC 97 , Anaheim, California , USA ".

In einer Testbench wird beispielsweise ein Modell einer Schaltungsanordnung bzw. eines Schaltungs-/Schaltkreis- Entwurfs simuliert, wobei in vielen Fällen neben einer Funk tionalität des Schaltungsentwurfs auch ein Zeitverhalten zu berücksichtigen ist.In a test bench, for example, a model of a Circuit arrangement or a circuit / circuit Design simulated, in many cases in addition to a radio tionality of the circuit design also a timing behavior is considered.

Eine bekannte Testumgebung zur Untersuchung elektronischer Systeme und ein bekanntes Verfahren zum Testen von Systemen durch eine Testumgebung sind beispielsweise in der WO 01/37089 A2 beschrieben. A well-known test environment for examining electronic Systems and a known method for testing systems through a test environment are, for example, in WO 01/37089 A2 described.

Hierbei ist die Testumgebung in voneinander verschiedene Tei le aufgeteilt, wobei wenigstens ein Teil eine Kommunikation mit einem Haupt-Controller aufrecht erhält und wenigstens ein weiterer Teil Befehle für das zu testende elektronische Sys tem erzeugt.Here, the test environment is in different parts le divided, at least part of a communication maintains with a main controller and at least one further part commands for the electronic system to be tested tem generated.

Zwar ist in der WO 01/37089 A2 offenbarten Testumgebung, wie in der dortigen Fig. 8 gezeigt, ein Haupt-Controller über "Testelemente" mit einem zu testenden System verbunden, je doch ist ein Durchschalten von Schnittstellendatenströmen bzw. Befehls- und Datensequenzen in nachteiliger Weise unfle xibel und nicht an unterschiedliche Testaufgaben anpassbar. In nachteiliger Weise kann auch eine Überwachung, Steuerung und/oder Kontrolle einer Kommunikation mindestens eines Test elementes mit dem zu testenden System nicht bereitgestellt werden.Although in the test environment disclosed in WO 01/37089 A2, as shown in FIG. 8 there, a main controller is connected to a system to be tested via "test elements", switching through interface data streams or command and data sequences is however in disadvantageously inflexible and not adaptable to different test tasks. In a disadvantageous manner, monitoring, control and / or monitoring of communication of at least one test element with the system to be tested cannot be provided.

Testbenches nach dem Stand der Technik sind beispielsweise derart ausgebildet, dass ein oder mehrere Testbenchelemente als logische Schnittstellen zwischen einem Testbench- Controller und einer zu verifizierenden Schaltungseinheit be reitgestellt werden. Ein Testbenchelement kann beispielsweise als ein Transaktor oder als ein Protokollgenerator ausgeführt sein, wobei das jeweilige Testbenchelement die für eine logi sche Schnittstelle benötigten Signalwertverläufe erzeugt. Ei ne Verknüpfung der Signale sowie eine Festlegung der entspre chenden Signalwertverläufe entspricht einem Protokoll, wobei spezifische Abfolgen von Signalwertverläufen zu Protokollope rationen, wie beispielsweise die Operationen:
Prior art test benches are designed, for example, in such a way that one or more test bench elements are provided as logical interfaces between a test bench controller and a circuit unit to be verified. A test bench element can, for example, be designed as a transactor or as a protocol generator, the respective test bench element generating the signal value profiles required for a logical interface. Linking the signals and determining the corresponding signal value profiles corresponds to a protocol, with specific sequences of signal value profiles to protocol operations, such as the operations:

- "Read memory";
- Send "ATM (asynchronous transfer mode) cell;
- Etc.

zusammengefasst werden, und derartige Protokolloperationen wiederum ineinander geschachtelt sein können, um beispiels weise folgende Operationen auszuführen:be summarized, and such protocol operations in turn can be nested, for example perform the following operations:

- "perform DMA transfer";
- "Send ATM cell sequence" to reprogram ATM switches mieren,
- Etc.

Eine derartige protokolloperations-bezogene Beschreibung er leichtert eine Auslegung von Testbenchelementen, welche wie derum mehrfach bei einer Durchführung von Tests wiederverwen det werden können.Such a protocol operation-related description facilitates an interpretation of test bench elements which like reuse several times when performing tests can be detected.

Teilen sich mehrere protokollerzeugende Einheiten eine Schnittstelle, welche dann selbst nur alternativ benutzbar ist, oder befindet sich auf der zu verifizierenden Schal tungseinheit ein programmierbarer Protokollgenerator, der un terschiedliche Protokolle erzeugen kann, dann kann ein Testbenchelement, das nur ein Protokoll erzeugt, in nachtei liger Weise nicht direkt eingesetzt bzw. angeschlossen wer den.Divide several protocol-generating units Interface, which can then only be used as an alternative or is on the scarf to be verified a programmable protocol generator, the un can generate different protocols, then one Testbench element, which generates only one protocol, in night not used or connected directly who the.

Um spezifische Schnittstellen und/oder spezifische Schnitt stellensignale bzw. Schnittstellendatenströme auf entspre chende Testbenchelemente durchschalten zu können, müssen un terschiedliche Arten von Schnittstellen bzw. Schnittstellen signale berücksichtigt werden, wie beispielsweise:
serielle Schnittstellen,
parallele Schnittstellen, sowie
Einzelbits oder Gruppen von Bits, die zu setzen und/oder zu lesen sind,In order to be able to switch through specific interfaces and / or specific interface signals or interface data streams to corresponding test bench elements, different types of interfaces or interface signals must be taken into account, for example:
serial interfaces,
parallel interfaces, as well
Single bits or groups of bits to be set and / or read

Die zu verifizierende Schaltungseinheit kann durch eine be liebige Schaltungseinheit, wie beispielsweise einen Mikropro zessor, eine Mikrochip-Grafikkarte, etc. ausgebildet sein, wobei vorherrschend digitale Signale, gegebenenfalls aber auch analoge und digitale Signale verarbeitet werden.The circuit unit to be verified can by a be any circuit unit, such as a micropro processor, a microchip graphics card, etc., predominantly digital signals, but possibly analog and digital signals can also be processed.

In sinnvoller Weise sind Testbenchelemente derart ausgelegt, dass sie unter möglichst vielen Test- und Simulationsbedin gungen bei möglichst vielen zu verifizierenden Schaltungsein heiten eingesetzt werden können. Herkömmlicherweise wird ein Testbench-Controller als ein zentrales Steuerelement einge setzt, durch welchen es ermöglicht wird, den Gesamtablauf ei nes Tests und/oder einer Simulation zu steuern. Der Testbench-Controller wird herkömmlicherweise mit einem Test- und Simulationsprogramm beaufschlagt, das zentral oder dezen tral bereitgestellt wird.Test bench elements are expediently designed in such a way that that they are under as many test and simulation conditions as possible conditions with as many circuit inputs as possible units can be used. Conventionally, a Testbench controller turned on as a central control through which it is possible to implement the overall process control and / or a simulation. The Testbench controller is usually equipped with a test and simulation program acted on centrally or decently tral is provided.

Weiterhin kommuniziert der Testbench-Controller mit jedem einzelnen Testbenchelement über einen Steuerdatenstrom, wobei eine Verbindung zwischen dem Testbench-Controller und dem je weiligen Testbenchelement bereitgestellt ist. Eine Abfolge von Protokolloperationen kann beispielsweise in einem Testbenchelement spezifiziert sein, wobei diese entweder fest in einem Modell codiert sind oder eine gewünschte Abfolge von Protokolloperationen aus einer Datei eingelesen wird.The Testbench controller also communicates with everyone single test bench element via a control data stream, whereby a connection between the testbench controller and the ever because test bench element is provided. A sequence of protocol operations can, for example, in one Testbenchelement be specified, which is either fixed are encoded in a model or a desired sequence of Log operations are read from a file.

In manchen Fällen können die Testbenchelemente untereinander synchronisiert werden. Hierbei müssen bei einer Simulation von übergreifenden Tests, bei welcher sämtliche Protokollope rationen sämtlicher Testbenchelemente auszuführen sind, zeit gleich ablaufende Protokolloperationen an unterschiedlichen Stellen, d. h. in einem jeweiligen Testbenchelement, spezifi ziert werden.In some cases, the test bench elements can be used with each other be synchronized. Here, in a simulation of comprehensive tests in which all protocol op rations of all test bench elements are to be carried out, time identical protocol operations on different Places, d. H. in a respective test bench element, spec be decorated.

Herkömmliche Test- und Simulationsverfahren verwenden somit überwiegend Testbench-Architekturen, welche von einem Testbench-Controller als zentrale Einheit gesteuert werden, wobei den einzelnen Testbenchelementen übermittelt wird, wel che Protokolloperationen auszuführen sind. Weiterhin muss si chergestellt sein, dass die Testbenchelemente dem Testbench- Controller mitteilen können, mit welchem Erfolg und mit wel chen Daten ein Ablauf der spezifischen Protokolloperationen ausgeführt bzw. beendet wurde.Conventional test and simulation methods therefore use predominantly testbench architectures, which by one Testbench controller can be controlled as a central unit, whereby the individual test bench elements are transmitted, wel protocol operations are to be performed. Furthermore, si ensure that the test bench elements are assigned to the test bench Controllers can tell with what success and with what data a sequence of specific protocol operations was executed or ended.

Fig. 4 zeigt ein herkömmliches Verfahren zum Simulieren und zum Testen einer zu verifizierenden Schaltungseinheit 101 mittels eines in einem Steuerelement 104 abgelegten Simulati onsprogramms. Wie in Fig. 4 gezeigt, ist das Steuerelement 104, welches ein spezifisches Simulationsprogramm enthält, an den Testbench-Controller 103 angeschlossen, wobei ein Cont roller-Datenstrom 114 von dem Steuerelement 104 zu dem Testbench-Controller 103 übermittelt wird. Fig. 4 shows a conventional method for simulating and for testing a circuit to be verified by means of a unit 101 stored in a control 104 Simulati onsprogramms. As shown in FIG. 4, the control element 104 , which contains a specific simulation program, is connected to the test bench controller 103 , a controller data stream 114 being transmitted from the control element 104 to the test bench controller 103 .

Ein Anschluss von Testbenchelementen 102a-102n erfolgt in herkömmlicher Weise mittels Steuerdatenströmen 111a-111n.Test bench elements 102 a- 102 n are connected in a conventional manner by means of control data streams 111 a- 111 n.

Es sei darauf hingewiesen, dass ein oder mehrere Testbenche lemente 102a, . . . 102i, . . . 102n vorhanden sein können, wobei i einen Laufindex darstellt.It should be noted that one or more test bench elements 102 a,. , , 102 i. , , 102 n can be present, where i represents a running index.

Beispielhaft sind in Fig. 4 fünf unterschiedliche Testben chelemente dargestellt, wobei das Testbenchelement 102a bei spielsweise einer seriellen Schnittstelle entspricht, die Da ten mittels eines seriellen Testdatenstroms 112 mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit 101 austauscht. Als weite res Beispiel ist das Testbenchelement 102n als parallele Schnittstelle dargestellt, die Testdaten mit der zu verifi zierenden Schaltungseinheit 101 mittels eines parallelen Testdatenstroms 113 austauscht.For example, five different test bench elements are shown in FIG. 4, the test bench element 102 a, for example, corresponding to a serial interface that exchanges data with the circuit unit 101 to be verified by means of a serial test data stream 112 . As a further example, the test bench element 102 n is shown as a parallel interface, which exchanges test data with the circuit unit 101 to be verified by means of a parallel test data stream 113 .

In gleicher Weise erfolgt ein Datenaustausch zwischen den üb rigen Testbenchelementen und der zu verifizierenden Schal tungseinheit 101, wobei spezifizierte Datenströme (nicht ge zeigt) ausgetauscht werden. Beispielhaft sind in Fig. 4 fünf Testbenchelemente 102a, 102b, 102i, 102i + 1 und 102n darge stellt, es können jedoch weniger oder mehr Testbenchelemente bereitgestellt werden. Es ist klar erkennbar, dass die Anzahl der Steuerdatenströme 111a, . . . 111i, (i = Laufindex), . . . 111n der Anzahl von Testbenchelementen 102a-102n entsprechen muss.In the same way, data exchange takes place between the other test bench elements and the circuit unit 101 to be verified, with specified data streams (not shown) being exchanged. 4, five test bench elements 102 are by way of example in FIG. A, 102 b, 102 i, 102 i + 1 and 102n Darge provides, however, there may be fewer or more testbench elements are provided. It can be clearly seen that the number of control data streams 111 a,. , , 111 i, (i = running index),. , , 111n of the number of test elements 102 Bench 102 a- n must correspond.

Dieser herkömmliche Anschluss von Testbenchelementen 102a- 102n an einen zentralen Testbench-Controller 103 als zentra les Steuerelement weist eine Reihe von Nachteilen auf.This conventional connection of test bench elements 102a-102n to a central testbench controller 103 as a central control element has a number of disadvantages.

Ein Hauptnachteil eines herkömmlichen Verfahrens zum An schließen von Testbenchelementen 102a-102n an den Testbench- Controller 103 besteht darin, dass ein Testbenchelement, das nur ein Protokoll erzeugt, nicht direkt eingesetzt bzw. ange schlossen werden kann, wenn sich mehrere protokollerzeugende Einheiten eine Schnittstelle, welche dann selbst nur alterna tiv benutzbar ist, teilen, oder wenn sich auf der zu verifi zierenden Schaltungseinheit ein programmierbarer Protokollge nerator, der unterschiedliche Protokolle erzeugen kann, be findet.A main disadvantage of a conventional method for connecting test bench elements 102 a- 102 n to the test bench controller 103 is that a test bench element which only generates one protocol cannot be used or connected directly if a plurality of protocol-generating units are connected Interface, which can then only be used alternatively, or if there is a programmable protocol generator on the circuit unit to be verified that can generate different protocols.

Eine herkömmliche Stimuli-Erzeugung erfolgt auf einer Bit- Ebene und nicht auf einer Protokoll-Ebene, was zwar das Anle gen unterschiedlicher Protokolle erlaubt, aber den Nachteil aufweist, dass eine transaktionsbasierte Beschreibung der Schnittstellenprotokolle nicht bereitgestellt werden kann. Conventional stimulus generation takes place on a bit Level and not at a protocol level, which is what the appendix allowed different protocols, but the disadvantage has a transaction-based description of the Interface protocols cannot be provided.

Ein weiterer Nachteil herkömmlicher Verfahren zum Anschluss von Testbenchelementen besteht darin, dass eine effektive und auf eine Wiederverwendung hin gerichtete Unterstützung eines Anschlusses von Testbenchelementen nicht bereitgestellt wer den kann.Another disadvantage of conventional connection methods of test bench elements is that an effective and support for reuse of a Connection of test bench elements is not provided that can.

Noch ein weiterer Nachteil herkömmlicher Verfahren zum An schluss von Testbenchelementen besteht darin, dass für jede Konfiguration einer Schnittstelle eine eigene Umgebung er stellt werden muss, da für jede mögliche Ausprägung einer Schnittstelle eine eigene Test- und Simulationseinrichtung erforderlich ist, wobei in jeder dieser Test- /Simulationseinrichtungen genau eine Ausprägung der Schnitt stelle funktional überprüft werden muss, indem ein entspre chendes Testbenchelement direkt an die zu verifizierende Schaltungseinheit angeschlossen wird.Yet another disadvantage of conventional methods of making conclusion of test bench elements is that for each Configuration of an interface must be provided, since there is a Interface own test and simulation facility is required, with each of these test / Simulation devices exactly one form of the cut position must be checked functionally by a corresponding Testbench element directly to the one to be verified Circuit unit is connected.

In nachteiliger Weise muss weiterhin bei Verfahren zum An schließen von Testbenchelementen nach dem Stand der Technik jede Konfiguration einer Schnittstelle durch eine spezifische Simulation überprüft werden, was insbesondere bei einem Ein satz von Hardwarebeschleunigern und bei einer Simulation von Schnittstellen und/oder von Schnittstellensignalen bzw. Schnittstellendatenströmen, die im Betrieb ihre spezifische Konfiguration oder ihren Verlauf ändern können, beispielswei se mittels dynamisch umschaltbarer Pins, äußerst nachteilige Eigenschaften darstellt.Adversely, the procedure to continue close test bench elements according to the prior art each configuration of an interface by a specific one Simulation can be checked, which is particularly the case with an on set of hardware accelerators and a simulation of Interfaces and / or of interface signals or Interface data streams that operate their specific Configuration or its history can change, for example by means of dynamically switchable pins, extremely disadvantageous Represents properties.

Weiterhin kann es vorkommen, dass unterschiedliche Testben chelemente mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit gleichzeitig, d. h. in dem gleichen Zeitintervall, kommunizie ren, obwohl dies in dem Testablauf und/oder Simulationsablauf nicht vorgesehen ist. Hierbei entsteht das Problem, dass eine funktional vollkommen korrekt funktionierende und funktionsfähige Schaltungseinheit ein Fehlverhalten aufzeigen kann, welches in nachteiliger Weise nur schwer interpretierbar und damit üblicherweise nur mit großem Aufwand behebbar ist.It can also happen that different testbenes ch elements with the circuit unit to be verified at the same time, d. H. in the same time interval, communicate ren, although this is in the test procedure and / or simulation procedure is not provided. This creates the problem that a functionally perfectly correct and functional Circuit unit can show a malfunction, which is disadvantageously difficult to interpret and so that it can usually only be remedied with great effort.

Weiterhin können durch diese Mehrfach-Kommunikation unter schiedlicher Testbenchelemente mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit in nachteiliger Weise Informationen, die u. a. in den zu übertragenden Datenströmen vorhanden sind, verloren gehen. Hierbei ist es unter Umständen unzweckmäßig erweise möglich, dass die Schaltung fehlerfrei oder ohne Aus gabe einer Fehlermeldung weiterläuft, obwohl sie mit der Aus führung abbrechen müsste oder eine Meldung ausgeben müsste.Furthermore, this multiple communication under different test bench elements with the one to be verified Circuit unit disadvantageously information that u. a. are present in the data streams to be transmitted, get lost. It may be inappropriate here prove possible that the circuit is error-free or without off Passing an error message continues, although it with the off should cancel the tour or issue a message.

Weiterhin ist es unzweckmäßig, dass die Schaltungslogik in undefinierte, nicht reproduzierbare Zustände gerät. Ein Nach teil besteht vor allem auch darin, dass diese Zustände in vielen Fällen nicht mehr behebbar sind.Furthermore, it is inappropriate for the circuit logic in undefined, non-reproducible states. An after Part of it also consists in the fact that these states in many cases can no longer be remedied.

Weiterhin ist es bei herkömmlichen Verfahren problematisch, dass unterschiedliche Testbenchelemente auf eine Schnittstel le zugreifen. Hierbei können in nachteiliger Weise Treiber konflikte auftreten, wenn ein Testbenchelement in unzulässi ger Weise versucht, auf die zu verifizierende Schaltungsein heit zuzugreifen.Furthermore, it is problematic with conventional methods that different test bench elements on one interface le access. This can disadvantageously cause drivers Conflicts occur when a test bench element is inadmissible eng tries the circuit to be verified to access.

Es ist somit eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zum Anschließen von Testbenchelementen vorzusehen, welches es gestattet, dass sich mehrere protokollerzeugende Einheiten eine Schnittstelle teilen, wobei unterschiedliche Arten von Schnittstellen berücksichtigt werden, und wobei ei ne Kontrolle eines Zustands; und/oder eine Steuerung mindes tens eines Testbenchelementes; und/oder eine Überwachung, Steuerung und/oder Kontrolle einer Kommunikation mindestens eines Testbenchelements mit der zu verifizierenden Schal tungseinheit; und/oder eine Modifikation, eine Umleitung, eine Zuweisung, eine Steuerung und/oder eine Überwachung einer Verbindungsstruktur von Schnittstellensignalen bzw. -bussen und/oder Ein-/Ausgangssignalen bzw. -bussen mittels Testben chelementschalen bereitgestellt werden.It is therefore an object of the present invention To provide methods for connecting test bench elements, which allows multiple protocol-generating Units share one interface, being different Types of interfaces are considered, and where ei ne control of a condition; and / or a controller at least at least one test bench element; and / or monitoring, Control and / or control of a communication at least of a test bench element with the scarf to be verified processing unit; and / or a modification, a redirection, a Allocation, control and / or monitoring of a Connection structure of interface signals or buses and / or input / output signals or buses using test benches Element shells are provided.

Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren zum Anschließen von Testbenchelementen nach Anspruch 1 und eine Vorrichtung mit den Merkmalen des Anspruchs 37 gelöst.This task is accomplished by a method of connecting Test bench elements according to claim 1 and a device solved the features of claim 37.

Weitere Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.Further refinements of the invention result from the Dependent claims.

Kern der Erfindung ist ein Verfahren zum Anschließen von Testbenchelementen, wobei eine zu verifizierende Schaltungs einheit in eine Test-/Simulationseinrichtung eingebracht wird, mit mindestens einer Testbenchelementschale zum Durch leiten von Schnittstellendatenströmen verbunden wird, wobei die mindestens eine Testbenchelementschale mit Testbenchele menten zum Durchleiten von Testdatenströmen verbunden wird, so dass ein Durchschalten von Schnittstellendatenströmen zu entsprechenden Testbenchelementen ermöglicht wird.The core of the invention is a method for connecting Testbenchelemente, being a circuit to be verified unit introduced into a test / simulation facility with at least one test bench element tray to pass through direct interface data streams, where the at least one test bench element shell with test bench connected to pass test data streams, so that switching through interface data streams too corresponding test bench elements is made possible.

Ein wesentlicher Gedanke der Erfindung besteht weiterhin dar in, dass eine Steuerung und/oder eine Überwachung von Zustän den und Betriebsweisen von Testbenchelementen durch mindes tens eine Testbenchelement-Kontrollschale bereitgestellt wird, wobei weiterhin eine Überwachung, Steuerung und/oder Kontrolle einer Kommunikation mindestens eines Testbenchele ments mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit bereitge stellt werden, und eine und/oder eine Modifikation, eine Um leitung, eine Zuweisung, eine Steuerung und/oder eine Überwa chung einer Verbindungsstruktur von Schnittstellensignalen bzw. -bussen und/oder Ein-/Ausgangssignalen bzw. -bussen mit tels der mindestens einen Testbenchelement-Verbindungsschalen bereitgestellt werden. An essential idea of the invention continues to exist in that control and / or monitoring of states the and modes of operation of test bench elements by at least At least one test bench element control tray is provided , with monitoring, control and / or Checking communication of at least one test bench ready with the circuit unit to be verified be made, and one and / or a modification, an order line, assignment, control and / or monitoring connection structure of interface signals or buses and / or input / output signals or buses with means of the at least one test bench element connecting shells to be provided.

Das erfindungsgemäße Verfahren zum Anschließen von Testben chelementen nach Anspruch 1 und die Vorrichtung mit den Merk malen des Anspruchs 37 weisen folgende Vorteile auf.The method according to the invention for connecting test benches chelemente according to claim 1 and the device with the Merk Paint claim 37 have the following advantages.

Ein wesentlicher Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens zum Anschließen von Testbenchelementen besteht darin, dass ein Testbenchelement, welches nur ein Protokoll erzeugt, auch dann angeschlossen werden kann, wenn sich mehrere proto kollerzeugende Einheiten eine Schnittstelle teilen.A major advantage of the method according to the invention Connecting test bench elements is that a Testbench element, which only generates a protocol, too can be connected if several proto Collide generating units share an interface.

In vorteilhafter Weise kann ein Testbenchelement, das nur ein Protokoll erzeugt, auch dann angeschlossen werden, wenn sich auf der zu verifizierenden Schaltungseinheit ein programmier barer Protokollgenerator befindet, mit welchem unterschiedli che Protokolle erzeugbar sind.Advantageously, a test bench element that is only one Protocol generated, even if connected a programming on the circuit unit to be verified barer protocol generator is located, with which differ che protocols can be generated.

Ein weiterer Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens zum An schließen von Testbenchelementen besteht darin, dass Schnitt stellen einer zu verifizierenden Schaltungseinheit aufgrund von Signalwerten an bestimmten Anschlusselementen der zu ve rifizierenden Schaltungseinheit konfiguriert werden können, wobei ein bestimmter Signalwert beispielsweise entscheidet, ob eine Schnittstelle in einem Modus X oder in einem Modus Y betrieben wird.Another advantage of the method according to the invention close testbench elements is that cut represent a circuit unit to be verified of signal values at certain connection elements of the certifying circuit unit can be configured where a certain signal value decides, for example, whether an interface in a mode X or in a mode Y is operated.

Vorteilhafterweise kann das erfindungsgemäße Verfahren zum Anschließen von Testbenchelementen eine korrekte Funktions weise von Testbenchelementen und eine Kommunikation von Testbenchelementen überwachen.Advantageously, the method according to the invention for Connecting test bench elements to ensure correct functioning of test bench elements and communication of Monitor test bench elements.

Ferner besteht ein Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens darin, dass eine Verbindungsstruktur von Schnittstellensigna len bzw. -bussen und/oder Ein-/Ausgangssignalen bzw. -bussen während einer Simulation oder während eines Tests der zu verifizierenden Schaltungseinheit vorgebbar modifizierbar ist. Hierbei können insbesondere Schnittstellensignale bzw. -busse und/oder Ein-/Ausgangssignale bzw. -busse temporär oder auch längerfristig verbunden, umgeleitet oder einander gegenseitig zugewiesen werden.There is also an advantage of the method according to the invention in that a connection structure of interfacesigna len or buses and / or input / output signals or buses during a simulation or during a test of the to be verified Circuit unit is predefinable modifiable. In particular, interface signals or buses can be used here and / or input / output signals or buses temporarily or also connected in the long term, redirected or mutually be assigned to.

Das erfindungsgemäße Verfahren zum Simulieren und zum Testen einer zu verifizierenden Schaltungseinheit, bei dem Schnitt stellen der zu verifizierenden Schaltungseinheit an unter schiedliche Testbenchelemente einer Test- /Simulationseinrichtung anschließbar sind, weist im wesentli chen die folgenden Schritte auf:
The method according to the invention for simulating and testing a circuit unit to be verified, in which interfaces of the circuit unit to be verified can be connected to different test bench elements of a test / simulation device, essentially comprises the following steps:

a) Connecting the circuit unit to be verified at least one test bench element shell of the test / Simulation device for passing through and switching of interface data streams to be verified by the circuit unit to the associated test bench mentions are given accordingly;
b) connecting the at least one test bench element shell to the test bench elements for passing test data through stream that from the test bench elements to the verifi decorative circuit unit are delivered;
c) controlling a passage of signal sequences and / or command sequences through at least one test bench element shell ( 401 , 402 ) by means of a shell control data stream ( 403 ) provided by a test bench controller ( 103 ) in such a way that predeterminable signal sequences and / or command sequences in a predefinable prioritization between the circuit unit to be verified ( 101 ) and corresponding test bench elements (102a-102n) are exchanged; and
d) Evaluation of the interface data streams by an the test bench element scha connected le to check the functionality of the verifi decorative circuit unit.

In den Unteransprüchen finden sich vorteilhafte Weiterbildun gen und Verbesserungen des jeweiligen Gegenstandes der Erfin dung.Advantageous further training can be found in the subclaims conditions and improvements of the respective subject of the invention dung.

Gemäß einer bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfin dung wird eine Testbenchelementschale vollständig um eine zu verifizierende Schaltungseinheit gelegt, um ein Durchschalten von Schnittstellendatenströmen zu entsprechenden Testbenche lementen bereitzustellen.According to a preferred development of the present invention a test bench element shell is completely closed by one verifying circuit unit placed to switch through from interface data streams to corresponding test benches to provide elements.

Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegen den Erfindung wird eine Testbenchelementschale teilweise um eine zu verifizierende Schaltungseinheit herumgelegt, um ein teilweises Durchschalten von Schnittstellendatenströmen zu entsprechenden Testbenchelementen bereitzustellen.According to a further preferred development of the present the invention is partially a test bench element shell a circuit unit to be verified laid around a partial switching through of interface data streams to provide corresponding test bench elements.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung ist eine Testbenchelementschale in min destens zwei Testbenchelementteilschalen unterteilt, damit Testbenchelemente unterschiedlicher Ausprägungen mit Schnitt stellendatenströmen beaufschlagt werden können.According to yet another preferred development of the above lying invention is a Testbenchelementschale in min divided at least two test bench element shells, so Test bench elements of different types with cut job streams can be applied.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird die mindestens eine Testbenchele mentschale bzw. die mindestens eine Testbenchelementteilscha le als eine Testbenchelement-Kontrollschale zur Kontrolle, Überwachung und Analyse von Datenströmen zwischen Testbenche lementen und der zu verifizierenden Schaltungseinheit bereit gestellt. According to yet another preferred development of the above lying invention is the at least one test bench mentschale or the at least one Testbenchelementteilscha le as a test bench element control tray for control, Monitoring and analysis of data flows between test benches elements and the circuit unit to be verified posed.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird die mindestens eine Testbenchele mentschale bzw. die mindestens eine Testbenchelementteilscha le als eine Testbenchelement-Verbindungsschale zur Modifika tion, Umleitung, Zuweisung, Steuerung und/oder Überwachung einer Verbindungsstruktur bereitgestellt.According to yet another preferred development of the above lying invention is the at least one test bench mentschale or the at least one Testbenchelementteilscha le as a test bench element connection shell for modifika tion, redirection, assignment, control and / or monitoring a connection structure provided.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird in einer Testbenchelementteilschale eine Konfiguration bereitgestellt, welche Schnittstellenda tenströme der zu verifizierenden Schaltungseinheit mit einem entsprechenden Testbenchelement verbindet.According to yet another preferred development of the above lying invention is in a test bench element shell provided a configuration which interface currents of the circuit unit to be verified with a connects the corresponding test bench element.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung werden Verbindungen von Testbenchelemen ten mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit zu Beginn oder während einer Simulation und/oder eines Tests ausgebil det und bleiben dann fest.According to yet another preferred development of the above Invention are compounds of Testbenchelemen with the circuit unit to be verified at the beginning or trained during a simulation and / or a test det and then remain firm.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung werden Verbindungen von Testbenchelemen ten mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit während ei ner Simulation/eines Tests modifiziert.According to yet another preferred development of the above Invention are compounds of Testbenchelemen th with the circuit unit to be verified during egg modified simulation / test.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung erfolgt eine Konfiguration einer Testben chelementschale und/oder einer Testbenchelementteilschale und/oder einer Testbenchelement-Kontrollschale und/oder einer Testbenchelement-Verbindungsschale über einen zentralen Testbench-Controller.According to yet another preferred development of the above A testbene is configured according to the present invention element shell and / or a test element element shell and / or a test bench element control tray and / or one Test bench element connection shell via a central Testbench controller.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung erfolgt eine Konfiguration einer Testben chelementschale und/oder einer Testbenchelementteilschale und/oder einer Testbenchelement-Kontrollschale und/oder einer Testbenchelement-Verbindungsschale unabhängig über Tabel len/Datenstrukturen oder Dateien.According to yet another preferred development of the above A testbene is configured according to the present invention element shell and / or a test element element shell and / or a test bench element control tray and / or one Testbench element connection shell independently via table len / data structures or files.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung werden Testbenchelemente mit einer Testbenchelementschale oder mindestens zwei Testbenchelement teilschalen nicht nur auf oberster Ebene strukturell verbun den, sondern auch in einer eigenen Untereinheit verbunden, wobei mindestens ein Testbenchelement in eine Testbenchele mentschale bzw. eine Testbenchelementteilschale integriert ist.According to yet another preferred development of the above Invention are Testbenchelemente with a Test bench element tray or at least two test bench elements Structural shells are not only structurally connected at the top level but also connected in its own subunit, with at least one test bench element in a test bench ment shell or a test bench element shell integrated is.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung werden Schnittstellen einer zu verifizie renden Schaltungseinheit über Signalwerte an bestimmten An schlusselementen der zu verifizierenden Schaltungseinheit konfiguriert, wobei beispielsweise ein bestimmter Signalwert an einem Anschlusselement der zu verifizierenden Schaltungs einheit während einer Reset-Phase darüber entscheidet, ob ei ne Schnittstelle in einem Modus X oder einem Modus Y betrie ben wird.According to yet another preferred development of the above lying invention interfaces to be verified circuit unit via signal values at certain inputs final elements of the circuit unit to be verified configured, for example a certain signal value on a connection element of the circuit to be verified unit decides during a reset phase whether egg Ne operated in an X or Y mode will.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung werden die Testbenchelementschale und/oder die mindestens eine Testbenchelementteilschale zum Setzen und/oder Analysieren von Signalwerten bereitgestellt, die zum Konfigurieren von Schnittstellen der zu verifizieren den Schaltungseinheit bereitgestellt werden.According to yet another preferred development of the above invention are the Testbenchelementschale and / or the at least one test bench element shell Setting and / or analyzing signal values provided, those to configure interfaces to verify the the circuit unit are provided.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung werden mehrere oder sämtliche Signale, die durch eine Testbenchelementschale und/oder mindestens ei ne Testbenchelementteilschale laufen, protokolliert, wobei eine Speicherung in einer Datei, einer Datenstruktur und/oder einer Tabelle bereitgestellt wird. According to yet another preferred development of the above invention, several or all signals, by a test bench element shell and / or at least one egg ne test bench element partial shell running, logged, whereby storage in a file, a data structure and / or a table is provided.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung ist die Testbenchelementschale und/oder die mindestens eine Testbenchelementteilschale als ein Daten multiplexer ausgebildet, um gemultiplexte Signale aufzulösen.According to yet another preferred development of the above lying invention is the Testbenchelementschale and / or the at least one test bench element shell as a data multiplexer designed to resolve multiplexed signals.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird die Testbenchelementschale und/oder die mindestens eine Testbenchelementteilschale durch mindes tens ein Testbenchelement angesteuert.According to yet another preferred development of the above invention is the test bench element shell and / or the at least one test bench element shell by at least at least one test bench element.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird eine strukturelle Komposition von protokollerzeugenden Testbenchelementen bereitgestellt, wobei eine Instanziierung von Testbenchelementen auf einer unteren Ebene innerhalb einer Testbenchelementschale ermöglicht wird.According to yet another preferred development of the above lying invention becomes a structural composition of protocol-generating test bench elements provided, wherein an instantiation of test bench elements on a lower one Level within a test bench element shell is made possible.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung werden Konfigurationssignale an die zu verifizierende Schaltungseinheit angelegt, um Anschlussele mente zu konfigurieren.According to yet another preferred development of the above invention are configuration signals to the verifying circuit unit applied to connecting el elements to configure.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung werden Konfigurationssignale an die zu verifizierende Schaltungseinheit angelegt, um die mindestens eine Testbenchelementschale bzw. die mindestens eine Testben chelementteilschale bzw. die Testbenchelement-Kontrollschale bzw. die Testbenchelement-Verbindungsschale zu konfigurieren.According to yet another preferred development of the above invention are configuration signals to the verifying circuit unit applied to the minimum a test bench element shell or the at least one test bench Chelementteilschale or the test bench element control shell or to configure the test bench element connection shell.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung werden Konfigurationssignale an die min destens eine Testbenchelementschale bzw. Testbenchelement teilschale bzw. Testbenchelement-Kontrollschale bzw. Testben chelement-Verbindungsschale angelegt, um dieselbe vorgebbar zu konfigurieren. According to yet another preferred development of the above lying invention configuration signals to the min preferably a test bench element shell or test bench element partial shell or test bench element control shell or test bench Chelement connection shell created to be predetermined to configure.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird eine Vorrichtung bereitgestellt, um transaktionsbasierte Vektoren Fertigungstest-gerecht zu erstellen.According to yet another preferred development of the above An apparatus is provided for the present invention transaction-based vectors to meet production test requirements create.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird eine Vorrichtung bereitgestellt, mit welcher einzelne Bits oder Gruppen von Bits gesetzt, rückge setzt oder gelesen werden.According to yet another preferred development of the above The invention provides a device with which individual bits or groups of bits are set, return set or be read.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird eine Vorrichtung bereitgestellt, mit welcher nicht nur strukturelle Hierarchien, sondern in vor teilhafter Weise auch logische Hierarchien wie beispielsweise eine Klassenhierarchie, eine Aufrufhierarchie, etc. bereitge stellt werden.According to yet another preferred development of the above The invention provides a device with which is not just structural hierarchies, but in front logical hierarchies such as for example a class hierarchy, a call hierarchy, etc. be put.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird eine Vorrichtung in der Form mindes tens einer Testbenchelement-Kontrollschale bereitgestellt, welche Datenströme sowohl Anlegen bzw. Schreiben als auch Auswerten bzw. Analysieren kann.According to yet another preferred development of the above lying invention is a device in the form of min provided at least one test bench element control tray, which data streams both create and write as well Can evaluate or analyze.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird eine Vorrichtung bzw. mindestens ei ne Testbenchelement-Kontrollschale bereitgestellt, welche Testbenchelementen sowohl ein Anlegen bzw. Schreiben als auch ein Auswerten bzw. Analysieren von Datenströmen gestattet bzw. dieses vorgebbar ausschließt.According to yet another preferred development of the above lying invention is a device or at least egg ne testbench element control tray provided, which Test bench elements both a creation or writing as well an evaluation or analysis of data streams allowed or excludes this predeterminably.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird eine Analyse und/oder eine Auswer tung von Datenströmen innerhalb der mindestens einen Testben chelement-Kontrollschale durch Auswerteeinheiten bereitgestellt, die schnittstellenspezifisch ausgebildet sind. In vorteilhafter Weise sind diese Auswerteeinheiten daher für eine entsprechende Schnittstelle in beliebig unterschiedli chen Testbenchelement-Kontrollschalen variabel implementier bar und somit wiederverwendbar.According to yet another preferred development of the above lying invention is an analysis and / or an evaluator processing of data streams within the at least one test bench control element provided by evaluation units, which are interface-specific. In These evaluation units are therefore advantageously for a corresponding interface in any number of different ways Chen variable implementation of test bench element control dishes bar and therefore reusable.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird eine Steuerung von mindestens einer Testbenchelement-Kontrollschale derart bereitgestellt, dass ein gleichzeitiger Zugriff von Testdatenströmen unterschied licher Testbenchelemente auf einen einzigen Schnittstellenda tenstrom verhindert wird.According to yet another preferred development of the above lying invention is a control of at least one Testbench element control tray provided such that a simultaneous access of test data streams differentiated testbench elements on a single interface end tenstrom is prevented.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird eine Steuerung mindestens einer Testbenchelement-Kontrollschale derart bereitgestellt, dass ein gleichzeitiger Zugriff von Testdatenströmen unterschied licher Testbenchelemente auf jeweils einen Schnittstellenda tenstrom verhindert wird.According to yet another preferred development of the above lying invention is a control of at least one Testbench element control tray provided such that a simultaneous access of test data streams differentiated testbench elements on one interface end each tenstrom is prevented.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird eine Steuerung mindestens einer Testbenchelement-Kontrollschale derart bereitgestellt, dass ein gleichzeitiger Zugriff von Testdatenströmen einer belie bigen Anzahl von Testbenchelementen auf eine beliebige Anzahl von Schnittstellendatenströme verhindert wird.According to yet another preferred development of the above lying invention is a control of at least one Testbench element control tray provided such that simultaneous access of test data streams to one belie number of test bench elements for any number is prevented by interface data streams.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird eine Steuerung mindestens einer Testbenchelement-Kontrollschale derart bereitgestellt, dass eine gleichzeitige Übertragung von Befehlssequenzen unter schiedlicher Testbenchelemente verhindert wird.According to yet another preferred development of the above lying invention is a control of at least one Testbench element control tray provided such that a simultaneous transmission of command sequences under different test bench elements is prevented.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird eine Steuerung mindestens einer Testbenchelement-Kontrollschale derart bereitgestellt, dass dem mindestens einen Testbenchelement jeweils ein Zeitfenster zugeordnet wird.According to yet another preferred development of the above lying invention is a control of at least one Testbench element control tray provided such that a time window for the at least one test bench element is assigned.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird eine Steuerung von mindestens einer Testbenchelement-Kontrollschale durch ein Analysieren bzw. durch ein Erkennen übertragener Datenströme in der Testben chelement-Kontrollschale selbst bereitgestellt.According to yet another preferred development of the above lying invention is a control of at least one Test bench element control dish by analyzing or by recognizing transmitted data streams in the testben chelement control tray provided.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung verhindert eine Steuerung von mindestens einer Testbenchelement-Kontrollschale mittels eines Schalen- Steuerdatenstroms und/oder durch ein Analysieren bzw. durch ein Erkennen übertragener Datenströme eine Übertragung spezi fischer Befehlssequenzen und/oder Datensequenzen von dem min destens einen Testbenchelement zu der zu verifizierenden Schaltungseinheit.According to yet another preferred development of the above lying invention prevents control of at least a test bench element control dish using a dish Control data stream and / or by analyzing or by a detection of transmitted data streams a transmission spec fischer command sequences and / or data sequences from the min at least one test bench element for the one to be verified Circuit unit.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird eine Steuerung von mindestens einer Testbenchelement-Kontrollschale mittels eines Schalen- Steuerdatenstroms und/oder durch ein Analysieren bzw. durch ein Erkennen übertragener Datenströme derart bereitgestellt, dass ausschließlich vorgebbare Befehlssequenzen und/oder Da tensequenzen von dem mindestens einen Testbenchelement zu der zu verifizierenden Schaltungseinheit übertragen werden.According to yet another preferred development of the above lying invention is a control of at least one Testbench element control dish using a dish Control data stream and / or by analyzing or by recognition of transmitted data streams is provided in such a way that only predeterminable command sequences and / or Da sequences from the at least one test bench element to the to be verified circuit unit transmitted.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird eine Überwachung von über die min destens eine Testbenchelement-Kontrollschale übertragenen Testdatenströmen mittels eines Schalen-Steuerdatenstroms und/oder durch ein Analysieren bzw. durch ein Erkennen über tragener Datenströme derart bereitgestellt, dass eine Warnmeldung bei einer nicht zugelassenen Übertragung von dem min destens einen Testbenchelement ausgegeben wird.According to yet another preferred development of the above lying invention is a monitoring of the min transmitted a test bench element control tray Test data streams using a shell control data stream and / or by analyzing or by recognizing transmitted data streams provided such that a warning message in the case of an unauthorized transmission of the min at least one test bench element is output.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird eine Überwachung von über die min destens eine Testbenchelement-Kontrollschale übertragenen Testdatenströmen mittels eines Schalen-Steuerdatenstroms und/oder durch ein Analysieren bzw. durch ein Erkennen über tragener Datenströme derart bereitgestellt, dass eine Priori sierung beispielsweise sowohl der zugreifenden Testbenchele mente als auch der zu übertragenden Daten- und/oder Befehls sequenzen bzw. der Daten- und/oder Befehlsströme durchgeführt wird.According to yet another preferred development of the above lying invention is a monitoring of the min transmitted a test bench element control tray Test data streams using a shell control data stream and / or by analyzing or by recognizing transmitted data streams provided such that a priority For example, both the accessing test bench elements as well as the data and / or command to be transmitted sequences or the data and / or command streams performed becomes.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird eine Steuerung und/oder eine Überwa chung von über die mindestens eine Testbenchelement- Kontrollschale übertragenen Testdatenströmen mittels eines Schalen-Steuerdatenstroms und/oder durch ein Analysieren bzw. durch ein Erkennen übertragener Datenströme für eine beliebig vorgebbare Anzahl von an die mindestens eine Testbenchele ment-Kontrollschale angeschlossenen Testbenchelementen be reitgestellt.According to yet another preferred development of the above lying invention is a control and / or monitoring of at least one test bench element Control data streams transmitted by means of a Shell control data stream and / or by analyzing or by recognizing transmitted data streams for any Predeterminable number of at least one test bench control panel connected test bench elements Semi asked.

Die erfindungsgemäße Vorrichtung zum Anschluss von Testben chelementen weist weiterhin auf:
The device according to the invention for connecting test elements also has:

a) a circuit unit to be verified in a test / Simulation means;
b) at least one test bench element; and
c) at least one test bench element shell for connection the circuit unit to be verified with the minimum at least one test bench element for routing and switching interface data streams and test da tenströmen.

Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher er läutert.Embodiments of the invention are in the drawings shown and in the description below he purifies.

In den Zeichnungen zeigen:The drawings show:

Fig. 1 eine zwischen einer zu verifizierenden Schaltungs einheit und entsprechenden Testbenchelementen ange ordnete Testbenchelementschale gemäß einer bevor zugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung; Fig. 1 is a unit between a circuit to be verified and corresponding test bench elements arranged testbench element shell according to a before ferred embodiment of the present invention;

Fig. 2 eine Testbenchelementschale, die eine zu verifizie rende Schaltungseinheit teilweise umgibt, gemäß ei ner weiteren bevorzugten Ausführungsform der vor liegenden Erfindung; Figure 2 is a test bench element shell surrounding a Rende to verifizie circuit unit partially, egg ner according to another preferred embodiment of the front lying invention.

Fig. 3 eine in eine erste Testbenchelementteilschale und eine zweite Testbenchelementteilschale aufgeteilte Testbenchelementschale gemäß einem weiteren Ausfüh rungsbeispiel der vorliegenden Erfindung; Fig. 3 is a split in a first test bench element part shell and a second shell element part testbench testbench element shell according to a further exporting approximately example of the present invention;

Fig. 4 ein herkömmliches Verfahren zum Anschließen von Testbenchelementen an eine zu verifizierende Schal tungseinheit; Fig. 4 shows a conventional method for connecting test bench elements to a circuit unit to be verified;

Fig. 5 zwei zwischen der zu verifizierenden Schaltungsein heit und entsprechenden Testbenchelementen angeord nete Testbenchelement-Kontrollschalen gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der vorliegen den Erfindung; und FIG. 5 shows two angeord items between the integrated Schaltungsein to be verified and corresponding test elements Bench Test Bench element control dishes according to another preferred embodiment of the present the invention; and

Fig. 6 eine zwischen der zu verifizierenden Schaltungsein heit und entsprechenden Testbenchelementen angeord nete Testbenchelement-Verbindungsschale gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der vorliegen den Erfindung. Fig. 6 is a angeord items between the integrated Schaltungsein to be verified and corresponding test elements Bench Test Bench element compound shell according to a further preferred embodiment of the present the invention.

Fig. 1 zeigt eine zwischen einer zu verifizierenden Schal tungseinheit und entsprechenden Testbenchelementen angeordne te Testbenchelementschale gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Fig. 1 is a is arrange between a processing unit to be verified scarf and corresponding test bench elements te testbench shell element according to an embodiment of the present invention.

Bei der in Fig. 1 gezeigten Anordnung sind beispielhaft drei Testbenchelemente 102a, 102b und 102c gezeigt, wobei die Testbenchelemente 102a und 102b serielle Schnittstellen auf weisen, um über eine Testbenchelementschale 201 serielle Testdatenströme 112 mit der zu verifizierenden Schaltungsein heit 101 auszutauschen, und das Testbenchelement 102c mit ei ner parallelen Schnittstelle versehen ist, um einen paralle len Testdatenstrom 113 über die Testbenchelementschale 201 mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit 101 auszutau schen.In the arrangement shown in FIG. 1, three test bench elements 102 a, 102 b and 102 c are shown by way of example, the test bench elements 102 a and 102 b having serial interfaces in order to use a test bench element shell 201 to serial test data streams 112 with the circuit unit 101 to be verified to exchange, and the test bench element 102 c is provided with a parallel interface in order to exchange a parallel test data stream 113 via the test bench element shell 201 with the circuit unit 101 to be verified.

Es sei jedoch darauf hingewiesen, dass mehr als drei oder we niger als drei Testbenchelemente an die Testbenchelementscha le 201 anschließbar sind. In dem in Fig. 1 gezeigten Ausfüh rungsbeispiel ist die Testbenchelementschale 201 wiederum mit einer zu verifizierenden Schaltungseinheit 101 über Schnitt stellendatenströme P0(0)-P0(7) verbunden, wobei hier insge samt acht Leitungen für einen Austausch von Datenströmen zwi schen Schnittstellen bereitgestellt sind. Weitere Schnitt stellendatenströme 202 können prinzipiell mit der zu verifi zierenden Schaltungseinheit 101 ausgetauscht werden. Jedes einzelne Testbenchelement 102a-102c enthält spezifische Steu erdatenströme 111a-111c von einem Testbench-Controller 103. However, it should be pointed out that more than three or fewer than three test bench elements can be connected to the test bench element shell 201 . In the exemplary embodiment shown in FIG. 1, the test bench element shell 201 is in turn connected to a circuit unit 101 to be verified via interface data streams P0 (0) -P0 ( 7 ), a total of eight lines being provided here for an exchange of data streams between interfaces , In principle, further interface data streams 202 can be exchanged with the circuit unit 101 to be verified. Each individual test bench element 102 a- 102 c contains specific control data streams 111 a- 111 c from a test bench controller 103 .

Weiterhin wird, wie durch eine gestrichelte Linie 111d ange zeigt, ein Steuerdatenstrom direkt von dem Testbench- Controller 103 zu der Testbenchelementschale 201 geleitet, um ein Festlegen spezifischer Konfigurationen von Schnittstellen zu ermöglichen. Weitere Steuerdatenströme, wie durch einen gestrichelten Pfeil 111i angezeigt (i = Laufindex), verdeut lichen, dass mehr als drei Testbenchelemente 102a-102c von dem Testbench-Controller 103 angesteuert werden können. Zur Übersichtlichkeit, und um eine überlappende Beschreibung zu vermeiden, sind der Testbench-Controller 103 und Verbindungen zwischen dem Testbench-Controller 103 und entsprechenden Testbenchelementen 102a-102g in den folgenden Fig. 2 und 3 weggelassen, wobei in den Fig. 2 und 3 lediglich Steuerda tenströme 111a-111g in Form von Doppelpfeilen angezeigt sind.Further, as shown by a broken line d is 111, a control data stream passed directly from the testbench controller 103 to the Test Bench element shell 201 to enable a set of specific configurations of interfaces. Further control data streams, as indicated by a dashed arrow 111 i (i = running index), clarify that more than three test bench elements 102 a- 102 c can be controlled by the test bench controller 103 . For clarity, and to overlapping description to avoid the testbench controller 103 and connections between the test bench controller 103 and corresponding test bench elements 102 are a- 102 g in the following FIGS. 2 and 3 omitted, in Figs. 2 and 3 only control data streams 111 a- 111 g are shown in the form of double arrows.

Die in Fig. 1 gezeigte Testbenchelementschale 201 wird nach folgend unter Bezugnahme auf die Fig. 2 und 3 näher erläu tert.The test bench element shell 201 shown in FIG. 1 is explained in more detail below with reference to FIGS . 2 and 3.

Fig. 2 veranschaulicht eine Testbenchelementschale, die eine zu verifizierende Schaltungseinheit teilweise umgibt, gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Fig. 2 illustrates a test bench element shell surrounding a circuit to be verified unit in part, according to an embodiment of the present invention.

Bei der in Fig. 2 gezeigten Anordnung umgibt eine Testben chelementschale 201 eine zu verifizierende Schaltungseinheit 101 fast vollständig, so dass die Testbenchelemente 102a-102f mit der Testbenchelementschale 201 verbindbar sind. Lediglich ein siebtes Testbenchelement 102g ist über einen Testdaten strom 203g direkt mit der zu verifizierenden Schaltungsein heit 101 verbunden.In the arrangement shown in FIG. 2, a test bench element shell 201 surrounds a circuit unit 101 to be verified almost completely, so that the test bench elements 102 a- 102 f can be connected to the test bench element shell 201 . Only a seventh test bench element 102 g is directly connected to the circuit unit 101 to be verified via a test data stream 203 g.

Es sei darauf hingewiesen, dass in dem in Fig. 2 gezeigten Ausführungsbeispiel sechs Testbenchelemente 102a-102f direkt mit der Testbenchelementschale 201 verbunden sind, während ein Testbenchelement 102g direkt mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit 101 verbunden ist, dass aber eine unter schiedliche Anzahl als die in Fig. 2 gezeigte Anzahl von Testbenchelementen direkt mit der zu verifizierenden Schal tungseinheit 101 bzw. der Testbenchelementschale 201 verbun den werden kann. Testdatenströme 203a-203f laufen jeweils zwischen den Testbenchelementen 102a-102f und der Testbenche lementschale 201. Ein Testdatenstrom 203g läuft zwischen ei nem Testbenchelement 102g und der zu verifizierenden Schal tungseinheit 101.It should be pointed out that in the exemplary embodiment shown in FIG. 2, six test bench elements 102 a- 102 f are connected directly to the test bench element shell 201 , while a test bench element 102 g is connected directly to the circuit unit 101 to be verified, but a different number than the number of test bench elements shown in FIG. 2 can be connected directly to the circuit unit 101 or the test bench element shell 201 to be verified. Test data streams 203 a- 203 f each run between the test bench elements 102 a- 102 f and the test bench element shell 201 . A test data stream 203 g runs between a test bench element 102 g and the circuit unit 101 to be verified.

Während der Anschluss des Testbenchelementes 102g nach dem in Fig. 4 gezeigten Stand der Technik erfolgt, ist der An schluss der Testbenchelemente 102a-102f in Fig. 2 über die Testbenchelementschale 201 nach einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung ausgebildet. Die eine zu verifizieren de Schaltungseinheit 101 umgebende Testbenchelementschale 201 ist wiederum über Schnittstellendatenströme 204a, 204b und 204c mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit 101 verbun den. In dem Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Verfah rens zum Anschließen von Testbenchelementen, das in Fig. 2 gezeigt ist, sorgt die Testbenchelementschale 201 nun dafür, dass jeweils ein bestimmtes Protokoll mit zugehörigen Opera tionen ablauffähig ist, wobei je nach Konfiguration eine Schnittstelle Schnittstellendatenströme der zu verifizieren den Schaltungseinheit mit dem entsprechenden Testbenchelement verbindet. Verbindungen von Testbenchelementen mit der zu ve rifizierenden Schaltungseinheit 101 können zu Beginn einer Simulation oder eines Tests aufgebaut werden und dann fest bleiben, sie können aber auch während einer Simulation oder eines Tests modifiziert werden.While the test bench element 102 g is connected in accordance with the prior art shown in FIG. 4, the connection of the test bench elements 102 a- 102 f in FIG. 2 is formed via the test bench element shell 201 according to an exemplary embodiment of the present invention. A surrounding verify de circuit unit 101 testbench element shell 201 is in turn interface data streams 204 a, 204 b and 204 c with the verbun to be verified circuit unit 101 to the. In the exemplary embodiment of the method according to the invention for connecting test bench elements, which is shown in FIG. 2, the test bench element shell 201 now ensures that in each case a specific protocol with associated operations can be executed, an interface data stream to be verified depending on the configuration Connects circuit unit with the corresponding test bench element. Connections of test bench elements to the circuit unit 101 to be verified can be established at the beginning of a simulation or a test and then remain fixed, but they can also be modified during a simulation or a test.

Die Konfiguration einer Testbenchelementschale 201 kann somit über einen zentralen Testbench-Controller 103 erfolgen, oder dezentral über weitere Testbenchelemente 102a-102g oder vollständig unabhängig über extern vorgebbare Tabellen, Daten strukturen oder Dateien erfolgen.A test bench element shell 201 can thus be configured via a central test bench controller 103 , or decentrally via further test bench elements 102 a- 102 g, or completely independently via externally predeterminable tables, data structures or files.

Fig. 3 stellt eine in eine erste Testbenchelementteilschale 301 und eine zweite Testbenchelementteilschale 302 aufgeteil te Testbenchelementschale gemäß einem weiteren Ausführungs beispiel der vorliegenden Erfindung dar. Fig. 3 illustrates a first test in a Bench element part shell 301 and a second test bench element part shell 302 be part te testbench element shell according to another execution example illustrates the present invention.

Das in Fig. 3 gezeigte Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung weist eine modifizierte Testbenchelementschale auf, wobei die Testbenchelementschale in eine erste Testbenchele mentteilschale 301 und eine zweite Testbenchelementteilschale 302 aufgesplittet ist. Es sei darauf hingewiesen, dass die Testbenchelementschale auch in mehr als zwei Testbenchele mentteilschalen aufgesplittet werden kann. Wie in Fig. 3 ge zeigt, sind die vier Testbenchelemente 102a-102d mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit 101 über die erste Testben chelementteilschale 301 verbunden, während die Testbenchele mente 102e und 102f in die zweite Testbenchelementteilschale 302 integriert sind. Das siebte Testbenchelement 102g ist, wie in Fig. 2 gezeigt, in herkömmlicher Weise über einen Testdatenstrom 203g direkt mit der zu verifizierenden Schal tungseinheit 101 verbunden.The exemplary embodiment of the present invention shown in FIG. 3 has a modified test bench element shell, the test bench element shell being split into a first test bench element shell 301 and a second test bench element shell 302 . It should be pointed out that the test bench element shell can also be split into more than two test bench element shell parts. As shown in FIG. 3 ge, the four test bench elements 102 a- 102 d are connected to the circuit unit 101 to be verified via the first test bench element shell 301 , while the test bench elements 102 e and 102 f are integrated in the second test bench element shell 302 . As shown in FIG. 2, the seventh test bench element 102 g is connected in a conventional manner directly to the circuit unit 101 to be verified via a test data stream 203 g.

Die übrigen in Fig. 3 gezeigten Verbindungen entsprechen den in Fig. 2 gezeigten Verbindungen, die hier nicht erneut be schrieben werden, um eine überlappende Beschreibung zu ver meiden.The other connections shown in FIG. 3 correspond to the connections shown in FIG. 2, which will not be described again here in order to avoid an overlapping description.

Bei der in Fig. 3 gezeigten Anordnung sind die Testbenchele mente 102e und 102f nicht nur auf der obersten Ebene struktu rell verbunden, sondern sind in einer eigenen Testbenchele mentteilschale 302 strukturell verbunden, um eine Wiederver wendbarkeit und eine Strukturierbarkeit von Testbenches mit dem Testbenchelementschalen-Konzept zu verbessern. Somit können die Testbenchelemente 102e und 102f in dem Ausführungs beispiel der vorliegenden Erfindung in einer eigenen Testben chelementteilschale 302 auf einer unteren Ebene instanziiert werden.In the arrangement shown in FIG. 3, the test bench elements 102 e and 102 f are not only structurally connected at the top level, but are structurally connected in a separate test bench part shell 302 in order to ensure that test benches can be reused and structured with the test bench shell Concept to improve. Thus, the test bench elements 102 e and 102 f in the exemplary embodiment of the present invention can be instantiated in a separate test bench element shell 302 on a lower level.

Fig. 5 zeigt zwei zwischen der zu verifizierenden Schal tungseinheit 101 und entsprechenden Testbenchelementen 102a- 102n angeordnete Testbenchelement-Kontrollschalen, d. h. eine erste Testbenchelement-Kontrollschale 401 und eine zweite Testbenchelement-Kontrollschale 402. FIG. 5 shows two test bench element control trays arranged between the circuit unit 101 to be verified and corresponding test bench elements 102a-102n, ie a first test bench element control tray 401 and a second test bench element control tray 402 .

In dem in Fig. 5 gezeigten Blockbild ist eine Anordnung ge mäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung veranschaulicht. Die zu verifizierende Schaltungs einheit 101 ist über erste Schnittstellendatenströme P0(0)- P0(3) mit der ersten Testbenchelement-Kontrollschale 401 ver bunden, welche mit den Testbenchelementen 102a, 102b serielle Testdatenströme 112 austauscht, sowie über zweite Schnitt stellendatenströme P1(0)-P1(7) mit einer zweiten Testbenche lement-Kontrollschale 402 verbunden, welche parallele Testda tenströme 113 mit den Testbenchelementen 102i und 102n aus tauscht.An arrangement according to a preferred exemplary embodiment of the present invention is illustrated in the block diagram shown in FIG. 5. The circuit unit 101 to be verified is connected via first interface data streams P0 (0) - P0 ( 3 ) to the first test bench element control shell 401 , which exchanges serial test data streams 112 with the test bench elements 102 a, 102 b, and via second interface data streams P1 ( 0) -P1 ( 7 ) connected to a second test bench element control shell 402 , which exchanges parallel test data streams 113 with the test bench elements 102 i and 102 n.

Es sei darauf hingewiesen, dass grundsätzlich mehr als zwei Testbenchelement-Kontrollschalen 401, 402 vorhanden sein kön nen. Gemäß dem in Fig. 5 gezeigten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung weisen die Testbenchelement- Kontrollschalen 401 bzw. 402 spezifische Merkmale auf, die es erlauben, Signale unidirektional und bidirektional zu kon trollieren bzw. zu überwachen und zu steuern.It should be noted that there can in principle be more than two test bench element control shells 401 , 402 . According to the exemplary embodiment of the present invention shown in FIG. 5, the test bench element control shells 401 and 402 have specific features which make it possible to control, monitor and control signals unidirectionally and bidirectionally.

Weiterhin ist in der Fig. 5 veranschaulicht, dass die zweite Testbenchelement-Kontrollschale 402 einen Schalen- Steuerdatenstrom 403 von dem Testbench-Controller 103 erhält, während die erste Testbenchelement-Kontrollschale 401 unabhängig von dem Testbench-Controller 103 auf durchgeleitete Signalverläufe bzw. Datenströme anspricht.It is further illustrated in FIG. 5 that the second test bench element control shell 402 receives a shell control data stream 403 from the test bench controller 103 , while the first test bench element control shell 401 responds independently of the test bench controller 103 to transmitted signal profiles or data streams ,

Eine Kontrolle bzw. eine Überwachung oder eine Steuerung ei nes Zustands von Testbenchelementen 102a-102n bzw. von Be triebsweisen der Testbenchelemente 102a-102n führt nun erfin dungsgemäß zu unterschiedlichen Konsequenzen.A control or monitoring or control of a state of test bench elements 102 a- 102 n or of modes of operation of test bench elements 102 a- 102 n now leads to different consequences according to the invention.

Erstens wird durch die Testbenchelement-Kontrollschale 401 eine Warnmeldung bzw. eine Fehlermeldung ausgegeben, wenn mehrere unterschiedliche Testbenchelemente 102a-102n gleich zeitig auf jeweils eine und/oder auf insgesamt eine einzige Schnittstelle zugreifen bzw. wenn spezifische, nicht zugelas sene Abfolgen von Signalsequenzen bzw. Befehlssequenzen auf treten.First, the test bench element control shell 401 issues a warning message or an error message if several different test bench elements 102 a- 102 n simultaneously access one and / or a total of a single interface or if specific, unauthorized sequences of signal sequences or command sequences occur.

Zweitens kann mindestens eine Testbenchelement-Kontrollschale 401 bzw. 402 eine vorgebbare Priorisierung durchführen, wel che es erlaubt, dass durch die Testbenchelemente 102a-102n auf die entsprechende Schnittstelle in einer vorgebbaren Ab folge zugegriffen wird oder bei gleichzeitigem Zugriff ein Konflikt vermieden wird.Secondly, at least one test bench element control shell 401 or 402 can carry out a predeterminable prioritization, which allows test bench elements 102 a- 102 n to access the corresponding interface in a predeterminable sequence or to avoid a conflict with simultaneous access.

Schließlich können durch die Testbenchelement-Kontrollschalen 401, 402 eine oder mehrere Befehlssequenzen in den übertrage nen Datenströmen blockiert werden, so dass nur zugelassene Befehlssequenzen übertragbar sind.Finally, one or more command sequences in the transmitted data streams can be blocked by the test bench element control shells 401 , 402 , so that only approved command sequences can be transmitted.

Fig. 6 veranschaulicht eine zwischen der zu verifizierenden Schaltungseinheit 101 und entsprechenden Testbenchelementen 102a-102n angeordnete Testbenchelement-Verbindungsschale 601 gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der vorlie genden Erfindung. FIG. 6 illustrates a test bench element connection shell 601 arranged between the circuit unit 101 to be verified and corresponding test bench elements 102 a- 102 n according to a further preferred embodiment of the present invention.

Die zu verifizierende Schaltungseinheit 101 ist über erste Schnittstellendatenströme P0(0)-P0(3) sowie über zweite Schnittstellendatenströme P1(0)-P1(7) mit der Testbenchele ment-Verbindungsschale 601 verbunden, wobei in diesem Bei spiel mit den Testbenchelementen 102a, 102b serielle Testda tenströme 112 und mit den Testbenchelementen 102i und 102n parallele Testdatenströme 113 ausgetauscht werden.The circuit unit 101 to be verified is connected to the test bench connection shell 601 via first interface data streams P0 (0) -P0 ( 3 ) and via second interface data streams P1 (0) -P1 ( 7 ), in this example with the test bench elements 102 a , 102 b serial test data streams 112 and with the test bench elements 102 i and 102 n parallel test data streams 113 are exchanged.

Weiterhin ist in Fig. 6 verdeutlicht, dass die Testbenchele ment-Verbindungsschale 601 einen Schalen-Steuerdatenstrom 403 von dem Testbench-Controller 103 erhält. Darüber hinaus spricht Testbenchelement-Verbindungsschale 601 unabhängig von dem Testbench-Controller 103 auf durchgeleitete Signalverläu fe bzw. Datenströme an.It is further clarified in FIG. 6 that the test bench connection shell 601 receives a shell control data stream 403 from the test bench controller 103 . In addition, test bench element connection shell 601 responds independently of the test bench controller 103 to passed signal profiles or data streams.

Um eine mit Fig. 5 überlappenden Beschreibung zu vermeiden, wird im folgenden auf die speziellen Eigenschaften der Testbenchelement-Verbindungsschale 601 der Fig. 6 deteail lierter eingegangen.In order to avoid a description that overlaps with FIG. 5, the special properties of the test bench element connecting shell 601 of FIG. 6 are discussed in more detail below.

Die Testbenchelement-Verbindungsschale 601 dient insbesondere einer - in Fig. 6 beispielhaft gezeigten - Schnittstellenverbindung 602 zwischen Schnittstellensignalen bzw. -bussen und/oder Ein-/Ausgangssignalen bzw. -bussen der zu verifizierenden Schaltungseinheit 101. Weiterhin können unterschiedliche Schnittstellenverbindungen 602 gleichzeitig vorhanden sein und beliebige Verbindungsstrukturen zwischen den entsprechenden Schnittstellen ausbilden.The test bench element connection shell 601 is used in particular for an interface connection 602 between interface signals or buses and / or input / output signals or buses of the circuit unit 101 to be verified — shown as an example in FIG. 6. Furthermore, different interface connections 602 can be present at the same time and form any connection structures between the corresponding interfaces.

Es sei darauf hingewiesen, dass sämtliche der o. a. Ausprägun gen einer Testbenchelementschale (beispielsweise eine Testbenchelement-Kontrollschale, eine Testbenchelement- Verbindungsschale etc.) sowie deren Betriebsweisen beliebig kombinierbar, verschachtelbar, zusammenfassbar und/oder in tegrierbar sind. So kann beispielsweise eine Testbenchelement-Verbindungsschale sowohl die Datenströme analysieren, als auch die Verbindungsstruktur modifizieren und die Kommu nikation eines Testbenchelements überwachen. Jedwede unter schiedlichen Kombinationen sind ausführbar und können ent sprechend den jeweiligen Erfordernissen bereitgestellt wer den.It should be noted that all of the above. Ausprägun against a test bench element shell (e.g. a Test bench element control tray, a test bench element Connection shell etc.) as well as their modes of operation combinable, nestable, summarizable and / or in can be tegrated. For example, a test bench element connection shell both analyze the data streams as well as modify the connection structure and the commu Monitor application of a test bench element. Anyone under different combinations are feasible and can ent who is provided according to the respective requirements the.

Bezüglich des in Fig. 4 dargestellten herkömmlichen Verfah rens zum Anschließen von Testbenchelementen an eine zu veri fizierende Schaltungseinheit wird auf die Beschreibungsein leitung verwiesen. With regard to the conventional method shown in FIG. 4 for connecting test bench elements to a circuit unit to be verified, reference is made to the description.

LIST OF REFERENCE NUMBERS

In den Figuren bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche oder funktionsgleiche Komponenten.
In the figures, identical reference symbols designate identical or functionally identical components.

101101

Zu verifizierende Schaltungseinheit
Circuit unit to be verified

102102

a, . . . a,. , ,

102102

i, . . . i,. , ,

102102

n Testbenchelemente (i = Laufindex)
n test bench elements (i = running index)

103103

Testbench-Controller
Testbench Controller

104104

Steuerelement
control

111111

a, . . . a,. , ,

111111

i, . . . i,. , ,

111111

n Steuerdatenstrom (i = Laufindex)
n control data stream (i = running index)

112112

Serieller Testdatenstrom
Serial test data stream

113113

Paralleler Testdatenstrom
Parallel test data stream

114114

Controller-Datenstrom
Controller data stream

201201

Testbenchelementschale
Test Bench element shell

202202

Weitere Schnittstellendatenströme
Further interface data streams

203203

a, . . ., a,. , .,

203203

g Testdatenströme
g Test data streams

204204

a, a,

204204

b, b

204204

c Schnittstellendatenströme
c Interface data streams

301301

Erste Testbenchelementteilschale
First test bench element shell

302302

Zweite Testbenchelementteilschale
P0(0), . . ., P0(7), P0(0), . . ., P0(3) P1(0), . . ., P1(7) Schnittstellendatenströme
Second test bench element shell
P0 (0),. , ., P0 (7), P0 (0),. , ., P0 (3) P1 (0),. , ., P1 (7) interface data streams

401401

Erste Testbenchelement-Kontrollschale
First test bench element control tray

402402

Zweite Testbenchelement-Kontrollschale
Second test bench element control tray

403403

Steuerdatenstrom
Control data stream

601601

Testbenchelement-Verbindungsschale
Test Bench element connection shell

602602

Schnittstellenverbindung
Interface connection

Claims

1. A method for simulating and testing a circuit unit ( 101 ) to be verified, in which interface data currents (P0 (0) -P0 ( 7 ), P1 (0) -P1 ( 7 ), ( 203 a- 204 c) the circuit unit ( 101 ) to be verified with test bench elements ( 102 a- 102 n) can be exchanged in a test / simulation device, with the steps:

a) connecting the circuit unit ( 101 ) to be verified to at least one test bench element shell ( 201 , 301 , 302 , 401 , 402 ) of the test / simulation device for passing through and for switching interface data streams ( 204 a, 204 b, 204 c), which by the circuit unit ( 101 ) to be verified is correspondingly delivered to the associated test bench elements ( 102 a- 102 n);
b) connecting the at least one test bench element shell (201, 301, 302, 401, 402) a- at the testbench elements (102a-102n) for passing test data streams (203,203 s), the a of the testbench elements (102,102 s) the circuit unit ( 101 ) to be verified is delivered;
c) controlling the passage of signal sequences and / or command sequences through at least one test bench element shell ( 401 , 402 ) by means of a shell control data stream ( 403 ) provided by a test bench controller ( 103 ) in such a way that predeterminable signal sequences and / or command sequences in a predeterminable prioritization between the circuit unit ( 101 ) to be verified and corresponding test bench elements ( 102 a- 102 n) are exchanged; and
d) evaluating the interface data streams (P0 (0) -P0 ( 7 ), P1 (0) -P1 ( 7 ), 204a, 204b, 204c) by means of a test bench element shell connected to the test bench elements ( 102 a- 102 n) for checking the correct functionality of the circuit unit to be verified ( 101 ).

2. The method according to claim 1, characterized in that a test bench element shell (201) is disposed completely around a to-be-verified circuit unit (101) around a through-connection of interface data streams (204a- 204c) (a- 102 102 n) corresponding testbench elements be Semi note.

3. The method according to one or both of claims 1 and 2, characterized in that a test bench element shell ( 201 ) is partially arranged around a circuit unit ( 101 ) to be verified in order to partially switch through interface data streams ( 204 a- 204 c) to provide corresponding test bench elements (102a -102n).

4. The method according to one or more of claims 1 to 3, characterized in that a test bench element shell ( 201 ) is subdivided into at least two test bench element partial shells ( 301 , 302 ) so that test bench elements of different types are acted upon with interface data streams ( 204 a- 204 c) can.

5. The method according to claims 1 and 4, characterized in that a configuration is provided in a test bench element shell ( 301 , 302 ), which interface data streams ( 204 a- 204 c) of the circuit unit to be verified ( 101 ) with a corresponding test bench element ( 102a-102n) connects.

6. The method according to one or more of claims 1 to 5, characterized in that connections of test bench elements ( 102 a- 102 n) with the circuit unit ( 101 ) to be verified are formed at the beginning or during a simulation and / or a test and then stay firm.

7. The method according to one or more of claims 1 to 6, characterized in that connections of test bench elements ( 102 a- 102 n) with the circuit unit ( 101 ) to be verified are modified during a simulation and / or a test.

8. The method according to one or more of claims 1 to 7, characterized in that a configuration of a test bench element shell ( 201 , 301 , 302 , 401 , 402 , 601 ) is provided via a central test bench controller ( 103 ).

9. The method according to one or more of claims 1 to 8, characterized in that a configuration of a test bench element shell ( 201 , 301 , 302 , 401 , 402 , 601 ) is provided decentrally via at least one test bench element ( 102 a- 102 n).

10. The method according to one or more of claims 1 to 9, characterized in that test bench elements with a test bench element shell ( 201 ) or at least two test bench element partial shells ( 301 , 302 ) are connected in a separate subunit, at least one test bench element in a test bench element shell ( 201 ) or a test bench element shell ( 301 , 302 ) is integrated.

11. The method according to one or more of claims 1 to 10, characterized in that interfaces of a uniform be verified Schaltungsein (101) via signal values are configured to be verified circuit unit (101) and ent speaking shell at specific connection elements, a predefinable signal value on a connection element of the circuit unit to be verified determines during a reset phase whether an interface is operated in a mode X or a mode Y.

12. The method according to one or more of claims 1 to 11, characterized in that the test bench element shell ( 201 ) and / or the at least one test bench element shell ( 301 , 302 ) are provided for setting and / or analyzing signal values which are used to configure interfaces which are to be provided to verify the circuit unit ( 101 ).

13. The method according to one or more of claims 1 to 12 characterized, that a device is provided with which a individual bits are set, reset or read.

14. The method according to one or more of claims 1 to 13, characterized in that several or all signals that run through a Testbenchelementschale ( 201 ) and / or at least one Testbenchele mentteilschale ( 301 , 302 ) are logged, with a storage the logged signals are provided in a file, a table and / or a data structure.

15. The method according to one or more of claims 1 to 14, characterized in that the test bench element shell ( 201 ) and / or the at least one test bench element partial shell ( 301 , 302 ) are designed as a data multiplexer in order to resolve multiplexed signals.

16. The method according to one or more of claims 1 to 15, characterized in that a configuration of the test bench element shell ( 201 ) and / or the at least one test bench element partial shell ( 301 , 302 ) is provided via externally specifiable tables, data structures and / or files.

17. The method according to one or more of claims 1 to 16, characterized in that a structural composition of protocol-generating test bench elements ( 102 a- 102 n) is provided, wherein an instantiation of test bench elements ( 102 a- 102 n) on a lower level within a test bench element shell ( 201 , 301 , 302 ) is provided.

18. The method according to one or more of claims 1 to 17, characterized in that configuration signals are applied to the at least one test bench element shell ( 201 , 301 , 302 , 401 , 402 , 601 ) in order to configure the same in a predefinable manner.

19. The method according to one or more of claims 1 to 18, characterized in that configuration signals are applied to the circuit unit to be verified ( 101 ) in order to form a test bench element shell ( 201 ) and / or at least one test bench element part shell ( 301 , 302 ) configure.

20. The method according to one or more of claims 1 to 19, characterized in that at least one test bench element shell ( 201 , 301 , 302 , 401 , 402 , 601 ) is provided, with which structural hierarchies and / or logical hierarchies such as a class hierarchy, a call hierarchy, etc. can be provided.

21. The method according to one or more of claims 1 to 20, characterized in that at least one test bench element shell ( 201 , 301 , 302 , 401 , 402 , 601 ) is provided in order to produce transaction-based vectors in a manner suitable for the production test.

22. The method according to one or more of claims 1 to 21, characterized in that at least one test bench element shell ( 201 , 301 , 302 , 401 , 402 , 601 ) is provided, wherein test bench elements ( 102 a- 102 n ) Create or write data streams as well as evaluate or analyze them.

23. The method according to claim 1, characterized in that a control of at least one test bench element control shell ( 401 , 402 ) is provided such that simultaneous access of test data streams ( 112 , 113 ) of different test bench elements ( 102 a- 102 n) to each a single interface is prevented.

24. The method according to claim 1, characterized in that a control of at least one test bench element control shell ( 401 , 402 ) is provided such that a simultaneous transmission of command sequences under different test bench elements ( 102 a- 102 n) is prevented.

25. The method according to claim 1, characterized in that control of at least one test bench element control shell ( 401 , 402 ) is provided in such a way that a time window is assigned to the at least one test bench element ( 102 a- 102 n).

26. The method according to claims 1 and 25, characterized in that a control of at least one test bench element control shell ( 401 , 402 ) is provided by analyzing or by recognizing transmitted data streams in the test bench control shell ( 401 ) itself.

27. The method according to claims 1 and 23 to 26, characterized in that monitoring of test data transmitted via the at least one test element control shell ( 401 , 402 ) flows ( 112 , 113 ) by means of a shell control data stream ( 403 ) and / that a warning message (a- 102 102 n) at a non-authorized transfer of the at least one test bench element is output or is provided by analyzing and by a detection of transmitted data streams in such a way.

28. The method according to claims 1 and 23 to 27, characterized in that control and / or monitoring of test data streams ( 112 , 113 ) transmitted via the at least one test bench element control shell ( 401 , 402 ) by means of a shell control data stream ( 403 ) and / or by analyzing or recognizing transmitted data streams for an arbitrarily predeterminable number of test bench elements ( 102 a - 102 n) connected to the at least one test bench element control shell ( 401 , 402 ).

29. The method according to one or more of claims 1 to 28, characterized in that at least one test bench element shell ( 201 , 301 , 302 , 401 , 402 , 601 ) is provided, with which data streams are both created or written and also evaluated or analyzed can be.

30. The method according to claim 1, characterized in that in at least one test bench element shell ( 201 , 301 , 302 , 401 , 402 , 601 ) at least one evaluation unit is made available in an interface-specific and reusable manner in order to analyze and evaluate data streams.

31. The method according to claims 1 and 23, characterized in that a control of at least one test bench element control shell ( 401 , 402 ) is provided such that a simultaneous access of test data streams ( 112 , 113 ) of several test bench elements ( 102 a- 102 n ) is prevented on a total of a single interface.

32. The method according to claims 1, 23 and 31, characterized in that control of at least one test bench element control shell ( 401 , 402 ) is provided in such a way that simultaneous access of test data streams ( 112 , 113 ) of any number of test bench elements ( 102 a- 102 n) on any number of interfaces is prevented.

33. The method according to claim 1, characterized in that a test bench element connection shell ( 601 ) is provided, which establishes predeterminable connection structures as interface connections ( 602 ) in order to connect and / or redirect and / or assign interface signals or buses and to form input / output signals or buses of the circuit unit ( 101 ) to be verified.

34. The method according to claims 1 and 33, characterized in that a test bench element connection shell ( 601 ) is provided, which predeterminable connection structures as interface connections ( 602 ) temporarily builds during a simulation or a test or provides permanently to a connection and / or flexibly design redirection and / or assignment of interface signals or buses as well as input / output signals or buses of the circuit unit ( 101 ) to be verified.

35. The method according to one or more of claims 1 to 18, characterized in that configuration signals are applied to the circuit unit to be verified ( 101 ) in order to configure connection elements.

36. The method according to claim 1, characterized, that at least one specific, freely reusable and frequently used Evaluation unit in the at least one test bench element shell is integrated, for analysis and evaluation of the data streams is provided.

37. Device for simulating and testing a circuit unit ( 101 ) to be verified, comprising:

a) a circuit unit ( 101 ) to be verified in a test / simulation device;
b) at least one test bench element ( 102 a- 102 n); and
c) at least one test bench element shell ( 201 , 301 , 302 , 401 , 402 , 601 ) for connecting the circuit unit ( 101 ) to be verified with the at least one test bench element ( 102 a- 102 n) for passing through and switching interface data streams (P0 (0) -P0 ( 7 ), P1 (0) -P1 ( 7 ), 204a, 204b, 204c) and from test data streams ( 112 , 113 ).

38. Device according to claim 37, characterized in that the test bench element shell ( 201 ) is subdivided into at least two test bench element partial shells ( 301 , 302 ).

39. Device according to claim 37, characterized in that the test bench element shell ( 201 ) is subdivided into at least two test bench element control shells ( 401 , 402 ).

40. Device according to claim 37, characterized, that a facility for creating or writing and / or for Evaluation or analysis of data streams provided is which in test bench element shells which can be predetermined as desired can be integrated.

41. Device according to claim 37, characterized in that the test bench element shell ( 201 ) is divided into at least two test bench element connecting shells.