DE10128156B4

DE10128156B4 - Adapter für Testautomaten

Info

Publication number: DE10128156B4
Application number: DE2001128156
Authority: DE
Inventors: Michael Adam; Thomas Böhme
Original assignee: Infineon Technologies AG
Current assignee: Infineon Technologies AG
Priority date: 2001-06-11
Filing date: 2001-06-11
Publication date: 2006-08-03
Anticipated expiration: 2021-06-12
Also published as: DE10128156A1

Abstract

Adapter zum Testen von In-Line-Modulen, welcher eine Kontaktgehäuseplatte (CHP) und eine Ausrichtvorrichtung (AP) aufweist,
– wobei die Kontaktgehäuseplatte (CHP) eine Mehrzahl von in seitlicher Reihe zueinander angeordneten Kontaktstücken (C) aufweist zur Aufnahme und elektrischen Kontaktierung eines Kontaktflächen aufweisenden Randbereichs eines zu testenden In-Line-Moduls,
– wobei die Ausrichtvorrichtung (AP) im Bereich oberhalb der Kontaktstücke, (C) der Kontaktgehäuseplatte (CHP) einen Schlitz (SL) aufweist zum Durchführen des die Kontaktflächen aufweisenden Randbereichs des In-Line-Moduls beim Kontaktierungsvorgang in Richtung auf die Kontaktstücke (C) der Kontaktgehäuseplatte (CHP),
– wobei die Ausrichtvorrichtung (AP) an den beiden Längsenden des Schlitzes (SL) erste Führungsvorrichtungen (LD1) aufweist, entlang deren die seitlichen Enden des In-Line-Moduls beim Zuführen des Moduls in Richtung durch den Schlitz (SL) in die Kontaktstücke (C) bezüglich des Schlitzes (SL) und der Kontaktstücke (C) ausgerichtet werden, und
– wobei die Ausrichtvorrichtung (AP) weiterhin wenigstens zwei zweite Führungsvorrichtungen (LD2) aufweist, die beidseitig oberhalb des Schlitzes...

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft einen Adapter für Testautomaten nach dem Oberbegriff des Patentanspruches 1.

Ein gattungsgemäßer Adapter ist aus der US-A 6,133,745 bekannt.

Beispielsweise integrierte Halbleiterspeicher (am bekanntesten sind wohl solche vom dynamischen Zugriffstyp, allgemein abgekürzt als DRAM) werden heutzutage häufig nicht mehr als einzelne elektronische Bauelemente verkauft und verwendet („lose Ware"), sondern zusammen mit weiteren Halbleiterspeichern und sonstigen Bauelementen (wie z. B. Kondensatoren) auf einer Platine angeordnet („vorkonvektioniert"). Eine in solcher Art bestückte Platine (samt der darauf befindlichen Bauelemente) bezeichnet man allgemein als Modul. Weiterhin allgemein bekannt sind dabei die Abkürzungen DIMM und SIMM für „Dual In Line Memory Module" und „Single In Line Memory Module". Beide Modularten weisen als funktionsbestimmende Bauelemente Speicherbausteine auf, wie z. B. solche vom DRAM-Typ. Für eine elektrische Kontaktierung notwendige Kontaktflächen sind dabei nebeneinander in Reihe angeordnet, entweder als einzelne Reihe (= „Single In Line") oder in zwei einander gegenüberliegenden Reihen (= „Dual In Line"). Die vorliegende Erfindung befasst sich mit der Testbarkeit solcher Module mittels Testautomaten. Hierbei ist es nicht notwendig, dass diese Module mit Bausteinen vom Speichertyp bestückt sind dies ist nur als beispielhaft anzusehen.

Testautomaten zum Testen elektronischer Bauelemente weisen üblicherweise (wenigstens ein) sogenanntes Loadboard auf, mit Hilfe dessen elektrische Potentiale und Signale an (wenigstens) einen Prüfling anlegbar sind und mit Hilfe dessen vom Prüfling abgegebene Signale dem Testautomaten zuführbar sind. Als solche Prüflinge sind allgemein nicht nur, aber auch, vorgenannte Module ansehbar. Da verschiedene Typen von Prüflingen (z. B. verschiedene Typen von Modulen) in aller Regel auch verschiedene geometrische Abmessungen und/oder Anordnungen ihrer elektrischen Anschlüsse aufweisen, können zu diesen Testzwecken die Prüflinge elektrisch und/oder mechanisch nicht direkt mit einem solchen Loadboard verbunden werden. Vielmehr werden dazu Adapter verwendet, die sowohl auf die elektrischen und mechanischen Ausgestaltungen der Loadboards wie auch die der Prüflinge (hier vorliegend: der zu prüfenden Module) ausgerichtet und adaptiert sind.

Weitere bekannte Adapter zum Testen von In-Line-Modulen sind im wesentlichen zweiteilig aufgebaut, nämlich aus einer Kontaktgehäuseplatte und einer Ausrichtvorrichtung. Nachstehend werden anhand der Zeichnung Einzelteile eines bekannten Adapters samt Problemen, die bei der Verwendung eines solchen bekannten Adapters auftreten können, näher erläutert.

1 zeigt in perspektivischer Draufsicht eine Kontaktgehäuseplatte CHP eines bekannten Adapters mit darin befindlichen Kontaktstücken C, die in der Regel als Kontaktfedern ausgeführt sind. Sie dienen dazu, elektrischen Kontakt zwischen einem Prüfling, vorliegend also einem Modul, und dem Testautomaten herzustellen.

2 zeigt die Kontaktgehäuseplatte CHP im Querschnitt, zusammen mit einem der Kontaktstücke C. Die Kontaktstücke C sind, je nach Ausführungsform des zu testenden Moduls („Single" oder „Dual" In-Line-Modul), als eine einzelne Reihe von nebeneinanderliegenden Kontaktstücken C angeordnet oder als zwei auf verschiedenen Seiten des Moduls angeordnete Reihen von Kontaktstücken C. Das zu testende Modul wird in eine Aussparung 0 gesteckt, die sich seitlich neben der. einzelnen Reihe von Kontaktstücken bzw. zwischen den beiden Reihen von Kontaktstücken befindet.

Für eine korrekte und einwandfreie Durchführbarkeit von solchen Tests ist es nun zwingend erforderlich, dass die zu testenden Module in jedem Fall mit ihren Anschlussflächen geometrisch exakt auf die Kontaktstücke C ausgerichtet sind, um so elektrisch eine einwandfreie Potential- und Signalübertragung zu ermöglichen. Deshalb weisen bekannte Adapter zusätzlich zur Kontaktgehäuseplatte CHP noch eine Ausrichtvorrichtung AP auf. 3 zeigt den bekannten Adapter mit einer solchen Ausrichtvorrichtung AP in Draufsicht. Die Ausrichtvorrichtung AP ist im betriebsfertigen Zustand des gesamten Adapters ortsfest mit der Kontaktgehäuseplatte CHP verbunden. Die Verbindung kann zum Beispiel mittels Schrauben (siehe 4; zeigt den Adapter im Querschnitt) oder mittels ineinander geschobener Stifte/Hülsen (mit relativ großer Reibung zueinander; siehe 3) erfolgen. In jedem Fall ist es günstig (und bei dem bekannten Adapter auch so vorgesehen), dass Kontaktgehäuseplatte CHP und Ausrichtvorrichtung AP voneinander lösbar ausgestaltet sind und trotzdem im Betrieb fest zusammengehalten werden.

4 zeigt den Adapter im Querschnitt, wie bereits angegeben. Daraus ist ersichtlich, daß die Ausrichtvorrichtung AP im Betrieb oberhalb der Kontaktstücke C und der Aussparung 0 der Kontaktgehäuseplatte CHP einen Schlitz Sl aufweist. Durch diesen Schlitz Sl wird ein zu testendes Modul vor dem Test hindurchgeführt, um dann seine Anschlussflächen elektrisch mit den Kontaktstücken C der Kontaktgehäuseplatte CHP, und somit letztendlich über das Loadboard mit einem Testautomaten zu verbinden.

5 zeigt ausschnittsweise und perspektivisch den bekannten Adapter mit Kontaktgehäuseplatte CHP und Ausrichtvorrichtung AP, die miteinander verbunden sind. Aus dieser Figur ist ersichtlich, dass sich am Ende des (aufgrund der perspektivischen Darstellung hier nicht sichtbaren) Schlitzes Sl eine erste Führungsvorrichtung LD1 befindet. Eine weitere solche erste Führungsvorrichtung LD1 ist am anderen Ende des Schlitzes Sl angeordnet (in 4 nicht dargestellt). Beide ersten Führungsvorrichtungen LD1 bewirken bestimmungsgemäß, dass ein Modul beim Einstecken die die Kontaktgehäuseplatte CHP in Richtung auf die Kontaktstücke C der Gehäuseplatte CHP gezielt geführt und entsprechend ausgerichtet wird.

Dieses Ausrichten erfolgt problemlos dann, wenn ein zu testendes (und zu diesem Zweck in den Adapter einzuführendes) Modul keinerlei seitliche Durchbiegung entlang seiner Längsrichtung aufweist. In der Praxis ist dies jedoch ein Idealfall, der nur selten auftritt. Sehr viele der zu testenden Module weisen eine zumindest geringe seitliche Durchbiegung auf, was je nach Ausmaß durchaus zulässig sein kann. Dazu wird folgendes Beispiel angeführt: Bei einem bekannten Adapter ist die Breite des Schlitzes Sl auf 1,6 mm ± 0,1 mm spezifiziert. Ein zu testendes Modul darf laut einer dafür gültigen Spezifikation eine Dicke von 1,27 mm ± 0,13 mm aufweisen. Der verbleibende seitliche Abstand zwischen einem solchen Modul und dem seitlichen Rand des Schlitzes Sl ergibt sich somit (bezogen auf die vorgenannten Nennwerte) zu (1,6–1,27)/2 = 0,33/2 = 0,165 mm. Wenn man nun berücksichtigt, dass ein anderer Spezifikationswert für ein solches Modul besagt, dass dieses eine maximale seitliche Durchbiegung von 0,66 mm aufweisen darf, so wird daraus sofort klar, dass der Schlitz Sl einer Ausrichtvorrichtung AP gemäß der vorgenannten Spezifikation nicht ausreichend ausrichtend wirkt, um ein Modul, welches eine Durchbiegung aufweist, die einer maximal erlaubten Durchbiegung entsprechend einer gegebenen Spezifikation (wie z. B. der vorstehend angegebenen) entspricht, sicher, und dabei auch noch kontaktschonend, auf die Kontaktstücke C der Kontaktgehäuseplatte CHP auszurichten. Damit werden in solchen Fällen trotz „erlaubten" Ausmaßes an Durchbiegung von Modulen außergewöhnlich hohe Kräfte notwendig zum Ausrichten eines solche Moduls auf die Kontaktstücke C der Kontaktgehäuseplatte CHP, welche manuell aufgebracht werden müssen.

Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es deshalb, den bekannten Adapter so weiterzubilden, dass geometrisch verschiedengestaltete Module während des Einsteckvorgangs in den Adapter automatisch bezüglich der Kontaktstücke C ausgerichtet werden.

Diese Aufgabe wird bei einem gattungsgemäßen Adapter gelöst mit den kennzeichnenden Merkmalen des Patentanspruches 1. Vorteilhafte Aus- und Weiterbildungen sind in Unteransprüchen gekennzeichnet. Die Erfindung wird nachstehend anhand der Zeichnung näher erläutert. Dabei zeigen die 1 bis 5 verschiedene Darstellungen und Einzelheiten des vorstehend bereits beschriebenen Adapters nach dem Stand der Technik; die 6 bis 10 verschiedene Darstellungen und Ausführungsformen eines erfindungsgemäßen Adapters.

Bezüglich der 1 bis 5 wird auf die eingangs bereits vorgenommene Beschreibung verwiesen.

6 zeigt eine erste Ausführungsform des erfindungsgemäßen Adapters, und zwar eine Draufsicht auf die Ausrichtvorrichtung AP. Beidseits des Schlitzes Sl sind (beispielsweise) vier zweite Führungsvorrichtungen LD2 angeordnet. Diese sind im Querschnitt so ausgestaltet, dass ihre schlitzseitige Seitenwand schräg nach oben hin in Richtung Aussenkante der Ausrichtvorrichtung AP verläuft.
Dadurch nimmt der Bereich oberhalb des Schlitzes Sl einen trichterförmigen Querschnitt an. Dies ist besonders gut aus 7 ersichtlich, die ein Querschnitt durch den Adapter nach 6 ist, geschnitten entlang der Linie VII-VII von 6. Dadurch wirken die zweiten Führungsvorrichtungen LD2 beim Einstecken eines Moduls in den Adapter wie Fangstücke, die zum Beispiel bei in Längsrichtung gebogenen Modulen diese seitlich einfangen und in Richtung auf den Schlitz Sl hin ausrichten, so dass ein solches Modul letztendlich mühelos und ohne Schäden an den Kontakten C anzurichten, in den Adapter steckbar ist. Die zweiten Führungsvorrichtungen LD2 sind dabei im Wesentlichen in einem mittleren Bereich der Länge des Schlitzes Sl angeordnet, insbesondere wenigstens teilweise wenigstens 1/3 der Länge des Schlitzes Sl von den Enden des Schlitzes Sl entfernt.
8 zeigt eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Bei dieser Ausführungsform sind die zweiten Führungsvorrichtungen LD2 entlang des gesamten Schlitzes Sl angeordnet. Dies hat gegenüber der Ausführungsform nach 6 den Vorteil, dass sich auch solche Module leicht und sicher einstecken lassen, die an einer Stelle gebogen sind, die sich außerhalb des Bereichs der Modulmitte (betrachtet in Längsrichtung des Moduls) befinden. 9 zeigt die Ausführungsform des Adapters nach 8 im Querschnitt, geschnitten entlang der Linie IX-IX von 8.
Die beiden Ausführungsformen sind jeweils auf verschiedene Weisen herstellbar: Die Ausführungsform nach den 6 und 7 ist in einer Weise herstellbar, bei der die zweiten Führungsvorrichtungen LD2 separat von der Ausrichtvorrichtung AP hergestellt werden und dann lösbar mit der Ausrichtvorrichtung AP verbunden werden, z. B. mittels Klemmen oder Schrauben (auch eine nicht mehr lösbare Verbindung wie z. B. Löten oder Schweißen ist vorstellbar).
Dagegen ist bei der Ausführungsform nach den 8 und 9 die Ausrichtvorrichtung AP selbst im Bereich des Schlitzes Sl so ausgestaltet, dass sie, materialmäßig betrachtet, die zweiten Führungsvorrichtungen LD2 mit umfasst. In diesem Fall ist die Herstellung besonders kostengünstig, weil Ausrichtvorrichtung AP und zweite Führungsvorrichtungen LD2 als ein einziges Werkstück herstellbar sind.
10 zeigt eine Ausführungsform entsprechend der nach 8, d. h., die beiden zweiten Führungsvorrichtungen LD2 sind entlang des gesamten Schlitzes Sl ausgebildet. Allerdings weist (wenigstens) eine der beiden zweiten Führungsvorrichtungen LD2 zwei Abschnitte RC auf, die nach oben hin rücksprungartig ausgeformt sind. Dies dienet dazu, solche Bauelemente der zu testenden Module beim Einstecken dieses Moduls in den Adapter vor Beschädigung zu schützen, die sich in Bereichen des Moduls befinden, wo sie, ohne Vorsehen eines solchen Abschnitts RC, durch die zweiten Führungsvorrichtungen LD2 beschädigt werden könnten.
Ein Anpassen der geometrischen Ausbildung von zweiten Führungsvorrichtungen LD2 an verschiedene Module, wie es anhand der 6 und 10 gezeigt ist, ermöglicht es, verschiedene zweite Führungsvorrichtungen LD2 bzw. verschiedene Ausrichtvorrichtungen AP zusammen mit einer einzigen Kontaktgehäuseplatte CHP zu verwenden und zum Beispiel als modulspezifische Austauschsätze den Anwendern anzubieten und zu verkaufen.

Claims

Adapter zum Testen von In-Line-Modulen, welcher eine Kontaktgehäuseplatte (CHP) und eine Ausrichtvorrichtung (AP) aufweist, – wobei die Kontaktgehäuseplatte (CHP) eine Mehrzahl von in seitlicher Reihe zueinander angeordneten Kontaktstücken (C) aufweist zur Aufnahme und elektrischen Kontaktierung eines Kontaktflächen aufweisenden Randbereichs eines zu testenden In-Line-Moduls, – wobei die Ausrichtvorrichtung (AP) im Bereich oberhalb der Kontaktstücke, (C) der Kontaktgehäuseplatte (CHP) einen Schlitz (SL) aufweist zum Durchführen des die Kontaktflächen aufweisenden Randbereichs des In-Line-Moduls beim Kontaktierungsvorgang in Richtung auf die Kontaktstücke (C) der Kontaktgehäuseplatte (CHP), – wobei die Ausrichtvorrichtung (AP) an den beiden Längsenden des Schlitzes (SL) erste Führungsvorrichtungen (LD1) aufweist, entlang deren die seitlichen Enden des In-Line-Moduls beim Zuführen des Moduls in Richtung durch den Schlitz (SL) in die Kontaktstücke (C) bezüglich des Schlitzes (SL) und der Kontaktstücke (C) ausgerichtet werden, und – wobei die Ausrichtvorrichtung (AP) weiterhin wenigstens zwei zweite Führungsvorrichtungen (LD2) aufweist, die beidseitig oberhalb des Schlitzes (SL) angeordnet sind, dadurch gekennzeichnet, dass – die Kontaktgehäuseplatte (CHP) und die Ausrichtvorrichtung (AP) als eigenständige Teile ausgeführt sind, die im betriebsfertigen Zustand ortsfest miteinander verbunden sind, – die zweiten Führungsvorrichtungen (LD2) beidseitig oberhalb des Schlitzes (SL) bis an diesen heranreichen, – sich die zweiten Führungsvorrichtungen (LD2) wenigstens teilweise in einem Bereich der Ausrichtvorrichtung (AP) befinden, der sich entlang des Schlitzes (SL) erstreckt in einem Abstand von den beiden Längsenden des Schlitzes (SL) von jeweils wenigstens einem Drittel der Schlitzlänge, und – die zweiten Führungsvorrichtungen (LD2) in ihren geometrischen Ausbildungen an die zu testenden In-Line-Module angepasst sind.
Adapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet; dass die zweiten Führungsvorrichtungen (LD2) Teil der Ausrichtvorrichtung (AP) sind.
Adapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass. die zweiten Führungsvorrichtungen (LD2) lösbar mit der Ausrichtvorrichtung (AP) verbunden sind.
Adapter nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die zweiten Führungsvorrichtungen (LD2) im Wesentlichen entlang des gesamten Schlitzes (SL) angeordnet sind.
Adapter nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet; dass wenigstens eine der zweiten Führungsvorrichtungen (LD2) wenigstens einen nach oben hin rücksprungartigen Abschnitt (RC) aufweist.