DE10062333A1 - Verfahren zur Diagnose der Ausgangsbeschaltung eines vorzugsweise binärschaltenden Sensors - Google Patents
Verfahren zur Diagnose der Ausgangsbeschaltung eines vorzugsweise binärschaltenden SensorsInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Diagnose der Ausgangsbeschaltung eines vorzugsweise binär schaltenden Sensors, vorzugsweise für die Beschaltung sicherheitsrelevanter Sensoren in Fahrzeugen, wobei die Ausgangsbeschaltung aus mindestens einem Tiefpassglied und einem gegen die Betriebsspannung angeschlossenen Pull up-Widerstand (R1) besteht, dem nachfolgend eine Signalverarbeitungseinheit (2) - vorzugsweise ein Mikrocontroller - mit als Aus- bzw. Eingang konfigurierbarem Port (3) angeschlossen ist. Die Diagnose der Sensorausgangsbeschaltung erfolgt hierbei ohne zusätzlichen Aufwand an Verdrahtung bzw. Bauteilen durch die nachfolgend genannten Verfahrensschritte: DOLLAR A - Anschlussport der Signalverarbeitungseinheit als Eingang schalten DOLLAR A - Aufnahme des Pegels am Schaltungsausgang (K2) DOLLAR A - Umschalten des Ports (3) als Ausgang DOLLAR A - Einspeisen eines Testsignals am Schaltungsausgang (K2) DOLLAR A - Umschalten des Ports (3) als Eingang DOLLAR A und die nachfolgende Analyse des Zeitverlaufes des Signals am Ausgang (K2) der Schaltung.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überprüfung der Ausgangsbeschaltung eines
vorzugsweise binär schaltenden Sensors, insbesondere für die Beschaltung
sicherheitsrelevanter Sensoren in Fahrzeugen.
Vorbekannt ist aus der DE 36 27 241 eine Schaltung zur Überprüfung von
Beschleunigungssensoren für Sicherheitseinrichtungen von Fahrzeugen. Zur Überprüfung
der Sensoren wird in einer Impulsformerschaltung ein Testsignal erzeugt, das am Ausgang
des Beschleunigungssensors über eine Kapazität eingekoppelt wird, wobei mit einer
komplexen, aus Komparatorschaltungen und einer Auswerteeinheit bestehenden
Überwachungseinrichtung der Zeitverlauf des ausgangsseitig der Verstärkerschaltung
anliegenden Ausgangssignals hinsichtlich seines zeitlichen Verlaufes bewertet wird. Die
Schaltung dient zur dynamischen Analyse von Sensoren mit kapazitivem Systemverhalten.
Eine Funktionsprüfung der dem Sensor angeschlossenen Ausgangsbeschaltung und ein
Lokalisieren der Fehler innerhalb der Beschaltung sowie eine Erkennung der Fehlerart ist
nicht beschrieben. Die Auswertung erfolgt mittels einer aufwendigen Testbeschaltung des
Sensors.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Test einer
Sensorausgangsbeschaltung zu schaffen, das ohne zusätzlichen Aufwand an Verdrahtung
bzw. Bauteilen eine Diagnose der Ausgangsbeschaltung eines vorzugsweise binär
schaltenden Sensors ermöglicht.
Diese Aufgabe wird bei Ausgangsbeschaltungen von Sensoren nach dem Oberbegriff des
Hauptanspruches erfindungsgemäß durch dessen kennzeichnende Merkmale gelöst.
Erfindungsgemäß vorteilhaft wird für eine wählbare Zeit der Eingang der
Verarbeitungseinheit als Ausgang konfiguriert und ein definiertes Testsignal ausgangsseitig
an die Schaltung angelegt. Danach wird der Port der Verarbeitungseinheit wieder als
Eingang betrieben und der Zeitverlauf des anliegenden Signals wird verfolgt. Es kann somit
eine Überprüfung der Ausgangsbeschaltung ohne zusätzliche Verdrahtung oder zusätzliche
Bauteile erfolgen.
Durch Einspeisen eines zum jeweiligen Pegel des Ausgangssignals des Sensors
entgegengesetzten Signals und nachfolgender Analyse des Zeitverlaufes des
Ausgangssignals der Schaltung können Fehlerart und -ort eingegrenzt werden.
Erfindungsgemäß vorteilhaft kann das Verfahren zur Diagnose der Ausgangsbeschaltung
eines vorzugsweise binär schaltenden Sensors für direkt gegen Masse und
Betriebsspannung schaltende Sensoren Verwendung finden. Eine Anwendung des
Verfahrens gestattet hierbei die Diagnose des nachfolgenden Tiefpass-Gliedes.
Weitere Einzelheiten der Erfindung werden in der Zeichnung anhand von schematisch
dargestellten Ausführungsbeispielen beschrieben.
Hierbei zeigt:
Fig. 1 eine Darstellung des Gesamtsystems Sensor, Ausgangsbeschaltung und
Signalverarbeitungseinheit,
Fig. 2 eine Tabelle möglicher Fehlerzustände,
Fig. 3 den Signalverlauf am Schaltungsausgang bei fehlerfreier Funktion der
Schaltung,
Fig. 4 einen Ablaufplan des erfindungsgemäßen Verfahrens.
In Fig. 1 ist ein vorzugsweise binär schaltender Sensor 1 mit seinem Ausgang am
Knotenpunkt K1 über einen pull up-Widerstand R1 an die Betriebsspannung Vcc
angeschlossen. Dem Knotenpunkt K1 ist ein aus einem weiteren Widerstand R2 und einem
Kondensator C1 bestehendes Tiefpassglied angeschlossen, wobei zwischen dem
Widerstand R2 und dem Kondensator C1 über einen weiteren Knotenpunkt K2 ein Port 3
eines Mikrocontrollers 2 angeschlossen ist. Der Mikrocontroller 2 wertet im Normalbetrieb
den am Port 3 anliegenden Signalpegel zur Erkennung des Schaltzustandes des Sensors 1
aus. Der Port 3 des Mikrocontrollers 2 ist softwareseitig zwischen einem Betrieb als Aus-
bzw. Eingang umschaltbar. Am Knotenpunkt K2 liegt der auszuwertende Signalpegel der
Schaltung an. Dieser entspricht dem Schaltungsausgang.
Fig. 2 zeigt tabellarisch zu den möglichen Zuständen der Schaltung die zugehörigen
Signalpegel am Schaltungsausgang K2 (siehe Fig. 1) für die Schaltzustände (High oder
Low) des Sensors, wobei ein jeweils dazu invertierter Signalpegel als Testsignal am
Schaltungsausgang angelegt wird (Zeitpunkt t0) und mit Umschalten des Portes als Eingang
die in der Tabelle verzeichneten Signalpegel zu den jeweils zugehörigen Zeitpunkten
messbar sind. Der Zeitpunkt direkt nach Umschalten des Controllerportes als Eingang ist mit
t1 bezeichnet. Weitere Messpunkte werden zu den Zeitpunkten
t2 = t1 + R2 × C1 und t3 = t1 + 6 × R2 × C1 aufgenommen.
Die exemplarisch ausgewählten Zeitpunkte der Pegelmessung stellen lediglich eine mögliche
Ausführungsvariante der Erfindung dar, wobei für eine detailliertere Analyse der Schaltung
weitere Messpunkte hinzugefügt oder für einen vereinfachten Test der Schaltung reduziert
werden. Weiterhin ist eine von der gewählten Bemessung abweichende, geeignete Wahl von
t1, t2 und t3 entsprechend der Prüfanforderungen möglich.
Für eine Bewertung der Funktionsfähigkeit der Schaltung ist für eine oben beschriebene
Bemessung der Messzeitpunkte (t1, t2 u. t3) bei Sensorausgangspegel High, Anlegen des
Testpegels Low und nachfolgender Auswertung des Pegels am Schaltungsausgang zu den
Zeitpunkten t1, t2 und t3 ausreichend. Sind die Signalpegel entsprechend der Tabelle für den
Zustand fehlerfrei messbar, wird die Schaltung als funktionsfähig diagnostiziert.
Die nachfolgenden Zeilen sind entsprechend der Wahrscheinlichkeit auftretender Fehler in
zwei Abschnitte unterteilt. Der Bruch von Widerständen sowie Kurzschluss von
Kondensatoren (Fehler 1-Fehler 3) ist wahrscheinlicher als die unter Fehler 3 bis Fehler 6
aufgeführten Zustände. Alle beschriebenen Fehlerzustände unterscheiden sich vom Zustand
"Fehlerfrei", so dass aufgrund der Analyse eine Aussage über die Funktionsfähigkeit der
Schaltung getroffen werden kann.
Fig. 3 zeigt eine qualitative Darstellung des Signalverlaufs am Schaltungsausgang für
deren fehlerfreien Betriebszustand. Zum Zeitpunkt t0 wird nach Umschalten des
Controllerportes als Ausgang ein zum Ausgangspegel invertiertes Testsignal angelegt, wobei
dieses bis zum Zeitpunkt t1 anliegt. Zu diesem Zeitpunkt wird der Controllerport
softwareseitig als Eingang umgeschalten, und es erfolgt eine Pegelmessung. Der im
weiteren dargestellte Zeitverlauf des Signals bezieht sich auf ein Widerstandsverhältnis
R1 = 2 × R2. Exemplarisch sind zu den Zeitpunkten t2 und t3 weitere charakteristische
Messpunkte eingetragen, deren Signalpegel entsprechend dem erfindungsgemäßen
Verfahren zur Analyse der Schaltung genutzt werden.
Fig. 4 zeigt einen möglichen Ablaufplan des erfindungsgemäßen Verfahrens. Startpunkt ist
die Messung des Pegels am Schaltungsausgang. Nachfolgend wird in einem weiteren
Verfahrensschritt der Controllerport softwareseitig als Ausgang geschalten und ein dazu
invertierter Pegel am Ausgang angelegt. Es erfolgt ein Umschalten der Ports als Eingang
(t1), wobei nachfolgend der Pegel am Schaltungsausgang gelesen wird. Zu den Zeitpunkten
t2 und t3 erfolgen weitere Messungen. Ein im Controller ablaufendes Programm vergleicht
die Messwerte mit gespeicherten Erwartungswerten, wobei fehlerfreie/fehlerhafte Funktion
der Schaltung diagnostiziert wird.
Fig. 5 zeigt einen binär gegen Betriebsspannung Vcc und Masse schaltenden Sensor 4,
dessen Ausgang ein aus einem Widerstand R2 und einem Kondensator C1 bestehendes
Tiefpassglied angeschlossen ist. (push-pull Endstufe) Zwischen dem Widerstand R2 und
dem Kondensator C1 ist über einen Knotenpunkt K2 ein Port 3 eines Mikrocontrollers 2
angeschlossen. Der Mikrocontroller 2 wertet im Normalbetrieb den am Port 3 anliegenden
Signalpegel zur Erkennung des Schaltzustandes des Sensors 4 aus. Der Port 3 des
Mikrocontrollers 2 ist softwareseitig zwischen einem Betrieb als Aus- bzw. Eingang
umschaltbar. Am Knotenpunkt K2 liegt der auszuwertende Signalpegel der Schaltung an.
Dieser entspricht dem Schaltungsausgang. (Zu Fig. 1 gleiche Bauelemente sind mit gleichen
Bezugszeichen versehen)
Die vorstehend beschriebene Erfindung sollte nicht auf die ausgeführten
Ausführungsbeispiele beschränkt werden, sondern kann in viele andere Richtungen
modifiziert werden, ohne dass vom Geist der Erfindung abgewichen wird.
1
Sensor
2
Mikrocontroller
3
Port (Ein-/Ausgang)
4
Sensor
K1 Knotenpunkt
K2 Knotenpunkt
R1 Widerstand
R2 Widerstand
C1 Kondensator
Vcc Betriebsspannung
K1 Knotenpunkt
K2 Knotenpunkt
R1 Widerstand
R2 Widerstand
C1 Kondensator
Vcc Betriebsspannung
Claims (14)
1. Verfahren zur Diagnose der Ausgangsbeschaltung eines vorzugsweise binär schaltenden
Sensors, wobei die Ausgangsbeschaltung aus mindestens einem Tiefpassglied und einem
gegen die Betriebsspannung angeschlossenen Pull up-Widerstand (R1) besteht, dem
nachfolgend eine Signalverarbeitungseinheit (2)
dass Fehlerzustände der Ausgangsbeschaltung durch folgende Verfahrensschritte diagnostiziert werden:
- - vorzugsweise ein Mikrocontroller - mit als Aus- bzw. Eingang konfigurierbarem Port (3) angeschlossen ist,
dass Fehlerzustände der Ausgangsbeschaltung durch folgende Verfahrensschritte diagnostiziert werden:
- - Anschlussport der Signalverarbeitungseinheit als Eingang schalten
- - Aufnahme des Pegels am Schaltungsausgang (K2)
- - Umschalten des Ports (3) als Ausgang
- - Einspeisen eines Testsignals am Schaltungsausgang (K2)
- - Umschalten des Ports als (3) Eingang
- - Analyse des Zeitverlaufes am Ausgang (K2) der Schaltung.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass der Pegel des ausgangsseitig in die Schaltung eingespeisten Testsignals jeweils
entgegengesetzt zu dem am Ausgang des Sensors anliegenden ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass mindestens zwei charakteristische Zeitpunkte aus dem Zeitverlauf des Signals am
Ausgang der Schaltung zur Diagnose der Schaltung benutzt werden.
4. Verfahren nach Anspruch 3
dadurch gekennzeichnet,
dass die zur Diagnose der Schaltung benutzten, charakteristischen Zeitpunkte der
Messung, sich aus den Widerstands bzw. - Kapazitätswerten der in der Ausgangsschaltung
angeordneten Bauteile ergeben.
5. Verfahren nach Anspruch 4
dadurch gekennzeichnet,
dass zur Diagnose der Schaltung der am Ausgang anliegende Signalpegel direkt nach dem
Umschalten der Signalverarbeitungseinheit und zu einem Zeitpunkt größer 5 Tau
(Tau = R2 × C1) genutzt wird, wobei zur Beurteilung des Anstieges ein weiterer
Zwischenwert kleiner oder gleich 1 Tau zusätzlich bewertet wird.
6. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass eine fehlerfreie Funktion der Ausgangsbeschaltung erst dann diagnostiziert wird,
wenn:
- - nach Anlegen des invertierten Testsignals und Zurückschalten des Controllerports als Eingang (Zeitpunkt t1) der Signalpegel am Schaltungsausgang gleich dem Signalpegel des Testsignals ist
- - zu einem Zeitpunkt t3 (größer oder gleich 6 × Tau) seit Zurückschalten des Ports der ausgangsseitig der Schaltung anliegende Signalpegel gleich dem Sensorsignalpegel ist.
7. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass ein Test entsprechend Anspruch 1 für High und Low Signalpegel des
Sensorausgangssignals durchgeführt wird und eine fehlerfreie Funktion der Schaltung erst
nach erfüllen der Testbedingungen für beide Signalzustände des Sensors diagnostiziert
wird.
8. Verfahren zur Diagnose der Ausgangsbeschaltung eines vorzugsweise binär schaltenden
Sensors (4), wobei die Ausgangsbeschaltung aus mindestens einem Tiefpassglied (R2 u.
C1) besteht, dem nachfolgend eine Signalverarbeitungseinheit (2)
dass Fehlerzustände der Ausgangsbeschaltung durch folgende Verfahrensschritte diagnostiziert werden:
- - vorzugsweise ein Mikrocontroller - mit als Aus- bzw. Eingang konfigurierbarem Port (3) angeschlossen ist,
dass Fehlerzustände der Ausgangsbeschaltung durch folgende Verfahrensschritte diagnostiziert werden:
- - Anschlussport der Signalverarbeitungseinheit als Eingang schalten
- - Aufnahme des Pegels am Schaltungsausgang (K2)
- - Umschalten des Ports (3) als Ausgang
- - Einspeisen eines Testsignals am Schaltungsausgang (K2)
- - Umschalten des Ports als (3) Eingang
- - Analyse des Zeitverlaufes am Ausgang (K2) der Schaltung.
9. Verfahren nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
dass der Pegel des ausgangsseitig in die Schaltung eingespeisten Testsignals jeweils
entgegengesetzt zu dem am Ausgang des Sensors anliegenden ist.
10. Verfahren nach Anspruch 8
dadurch gekennzeichnet,
dass mindestens zwei charakteristische Zeitpunkte aus dem Zeitverlaufes des Signals am
Ausgang der Schaltung zur Diagnose der Schaltung benutzt werden.
11. Verfahren nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet,
dass die zur Diagnose der Schaltung benutzten charakteristischen Zeitpunkte der
Messung, sich aus den Widerstands bzw. - Kapazitätswerten der in der Ausgangsschaltung
angeordneten Bauteile ergeben.
12. Verfahren nach Anspruch 11,
dadurch gekennzeichnet,
dass zur Diagnose der Schaltung der am Ausgang anliegende Signalpegel direkt nach dem
Umschalten der Signalverarbeitungseinheit und zu einem Zeitpunkt größer 5 Tau
(Tau = R2 × C1) genutzt wird, wobei zur Beurteilung des Anstieges ein weiterer
Zwischenwert kleiner oder gleich 1 Tau zusätzlich bewertet wird.
13. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche
dadurch gekennzeichnet,
dass eine fehlerfreie Funktion der Ausgangsbeschaltung erst dann diagnostiziert wird,
wenn:
- - nach Anlegen des invertierten Testsignals und Zurückschalten des Controllerports als Eingang (Zeitpunkt t1) der Signalpegel am Schaltungsausgang gleich dem Signalpegel des Testsignals ist
- - zu einem Zeitpunkt t3 (größer oder gleich 6 × Tau) seit Zurückschalten des Ports der ausgangsseitig der Schaltung anliegende Signalpegel gleich dem Sensorsignalpegel ist
14. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche 8-13
dadurch gekennzeichnet,
dass ein Test entsprechend Anspruch 1 für High und Low Signalpegel des
Sensorausgangssignales durchgeführt wird und eine fehlerfreie Funktion der Schaltung
erst nach erfüllen der Testbedingungen für beide Signalzustände des Sensors
diagnostiziert wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2000162333 DE10062333A1 (de) | 2000-12-14 | 2000-12-14 | Verfahren zur Diagnose der Ausgangsbeschaltung eines vorzugsweise binärschaltenden Sensors |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2000162333 DE10062333A1 (de) | 2000-12-14 | 2000-12-14 | Verfahren zur Diagnose der Ausgangsbeschaltung eines vorzugsweise binärschaltenden Sensors |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10062333A1 true DE10062333A1 (de) | 2002-06-20 |
Family
ID=7667133
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2000162333 Withdrawn DE10062333A1 (de) | 2000-12-14 | 2000-12-14 | Verfahren zur Diagnose der Ausgangsbeschaltung eines vorzugsweise binärschaltenden Sensors |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10062333A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016191243A1 (en) | 2015-05-28 | 2016-12-01 | Sikorsky Aircraft Corporation | Systems and methods for assessing condition of a sensor |
EP1742076B1 (de) * | 2005-07-07 | 2019-04-17 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zum Prüfen von aktiven elektrotechnischen Komponenten |
-
2000
- 2000-12-14 DE DE2000162333 patent/DE10062333A1/de not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2016191243A1 (en) | 2015-05-28 | 2016-12-01 | Sikorsky Aircraft Corporation | Systems and methods for assessing condition of a sensor |
EP3304109A4 (de) * | 2015-05-28 | 2018-12-05 | Sikorsky Aircraft Corporation | Systeme und verfahren zur beurteilung des zustands eines sensors |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8141 | Disposal/no request for examination |