DE10049639A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung von Oberflächen bewegter Objekte - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung von Oberflächen bewegter ObjekteInfo
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Abstract
Bei einem Verfahren zur Vermessung von Oberflächen bewegter Objekte, bei dem mittels eines Projektors ein Linienmuster auf das Objekt projiziert wird, bei jeder Projektion die Helligkeiten der zu vermessenden Punkte auf der Oberfläche des Objekts erfaßt werden und zur Bestimmung der räumlichen Koordinaten der Oberfläche ausgewertet werden, wird wenigstens zu einem Zeitpunkt eine absolute Phase bestimmt und zu anderen Zeitpunkten dynamische Bestimmungen von Rohphasen mit eingeschränktem Eindeutigkeitsbereich laufend durchgeführt.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Vermessung von Oberflächen von Objekten und
einen Projektor und eine Vorrichtung hierzu.
Zur Vermessung von Oberflächen von Objekten sind verschiedene Verfahren bekannt,
die mit projizierten Linienmuster arbeiten, wobei Kameras die Bilder der Linienmuster
auf dem Objekt aufnehmen. Aus der EP 0 379 079 A1 ist ein sogenanntes Mehrwellen-
oder Mehrfrequenz-Phasenshiftverfahren bekannt, bei welchem auf einem Träger neben
einander drei Linienmuster mit verschiedener Periode, d. h. Linienabstand, angebracht
sind. Der Träger wird in einem Projektor quer zur Projektionsrichtung motorisch ver
schoben. Durch die unterschiedlichen Perioden werden bei der Auswertung beispielswei
se Uneindeutigkeit an Höhensprüngen der Oberfläche beseitigt. Mit dem Verfahren und
der Vorrichtung könnten auch sich langsam bewegende Objekte vermessen werden, die
im Vergleich zur Verschiebegeschwindigkeit des Trägers nahezu unbeweglich sind.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Vermessung
der Oberfläche bewegter Objekte und eine hierfür geeignete Vorrichtung samt Projektor
zur Verfügung zu stellen. Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren mit den Merkmalen
des Anspruches 1, einen Projektor mit den Merkmalen des Anspruches 9 und eine Vor
richtung mit den Merkmalen des Anspruches 10 gelöst. Weitere vorteilhafte Ausgestal
tungen sind Gegenstand der Unteransprüche.
Mit der erfindungsgemäßen Lösung werden während der Bewegung des Objekts nur we
nige Projektionen und Aufnahmen getätigt, um schnellere Bewegungen erfassen zu kön
nen. Die Eindeutigkeit bei der Bestimmung wird vorzugsweise durch zusätzliche Infor
mationen aus abwechselnder Projektion von Linienmustern unterschiedlicher Periode in
wenigen verschiedenen Phasenlagen, aus inkrementeller Berechnung aus absoluten
Startwerten oder aus Offline-Auswertungen gewonnen. Bei "gutmütigen Oberflächen",
d. h. hinreichend glatten Oberflächen, wird vorzugsweise eine durch drei Werte definierte
Rohphase aus ein bis zwei Meßwerten und ergänzender Anzahl von Schätzungen aus
vorangegangenen Messungen und Vorinformationen, beispielsweise über die Hinter
grundsbeleuchtung oder die Lateralgeschwindigkeit des Objekts senkrecht zur Projekti
onsrichtung, ermittelt. Damit ist eine geringere Anzahl von Messungen notwendig. Der
Einsatz eines schnellen Projektors (mit entsprechend schneller Kamera) ist vorteilhaft.
Im Unterschied zu den bekannten Verfahren kann zu bestimmten Zeiten (z. B. am Anfang
mit dem Graycode) oder an bestimmten Orten (z. B. bei zumindest kurzzeitig in Ruhe be
findliche Objektbereichen mit dem Mehrfrequenz-Phasenshift) die absolute Phasenlage
gemessen werden. Im raum-zeitlichen Phasendatensatz stehen also viele absolute Stütz
stellen zur Verfügung, mit denen ein sogenanntes "Phase Unwrapping" (Auswertung von
absolut bestimmter Phase und dynamisch bestimmten Rohphasen mittels Interpolationen
und Extrapolationen) absolut durchgeführt werden kann.
Im folgenden ist die Erfindung anhand dreier Ausführungsbeispiele näher erläutert.
Im ersten Ausführungsbeispiel kann mit einer Vorrichtung zum Vermessen einer Ober
fläche eines bewegten Objekts die Bewegung, beispielsweise von Lippen oder Extremitä
ten des Menschen erfaßt werden. Als Projektor ist ein handelsüblicher Multimediaprojek
tor (DLP mit Mikrospiegeln) vorgesehen, der bei bekannter Anwendung Farbbilder mit
Hilfe eines monochromen Modulators und eines Farbfilterrades erzeugt, welches drei
oder mehr Segmente aufweist. Bei dieser bekannten Anwendung erzeugt der Projektor
zeitlich hintereinander beispielsweise die drei Grundfarben und weißes Licht und wech
selt dann zum nächsten Farbbild. Das weiße Licht ermöglicht eine höhere Lichtausbeute.
Eine hohe Projektionsgeschwindigkeit wird beispielsweise durch die Kippspiegeltechnik
erzeugt. Erfindungsgemäß wird das Farbfilterrad ausgebaut, so daß der Projektor ein pro
grammiertes Graustufenbild mit beispielsweise drei verschiedenen Phasenlagen (je
360°/Anzahl der Phasenlagen verschoben, andernfalls ist eine Fehlerkorrektur bei der
Auswertung notwendig) zeitlich hintereinander erzeugt. Als Graustufenbild wird ein Li
nienmuster mit einer bestimmten Periode, d. h. festen Abständen der Helligkeitsmaxima
und -minima, erzeugt. Dieses Linienmuster wird auf das Objekt projiziert, wodurch auf
bekannte Weise an schrägen Flächen Verschiebungen im Bild der Linien auf der Oberflä
che entstehen, welche durch eine Videokamera erfaßt werden. Vorzugsweise ist die hin
reichend schnelle Videokamera mit der Projektor synchronisiert. Durch die mehrfach
phasenverschobenen Projektionen können mittels des Phasenshiftverfahrens räumliche
Koordinaten der Oberfläche ermittelt werden, wobei die gewonnenen Rohphasen noch
mehrdeutig sind.
Um auch Oberflächenpartien, die bezüglich der Projektionsrichtung steil ansteigen oder
abfallen oder Höhensprünge aufweisen, definiert erfassen zu können, wird ein Mehrfre
quenz-Phasenshiftverfahren angewandt. Dabei wird außer dem vorgenannten ersten Lini
enmuster ein zweites Linienmuster projiziert, welches eine geringfügig andere Periode
aufweist. In Kombination mit den Daten zum ersten Linienmuster, beispielsweise unter
Ausnutzung von Schwebungseigenschaften bei einer Differenzbildung, können dann die
räumliche Koordinaten der Oberfläche eindeutig ermittelt werden. Um die Daten wäh
rend der Bewegung des Objekts erfassen zu können, werden nach drei Phasenlagen des
ersten Linienmusters drei Phasenlagen des zweiten Linienmusters projiziert, wonach wie
der drei Phasenlagen des ersten Linienmusters projiziert werden.
Die hohen Projektions- und Aufnahmegeschwindigkeiten sind dabei für die Erfassung der
Daten während der Bewegung des Objekts hilfreich. Mit diesem Verfahren können Be
wegungen erfaßt werden, die langsamer als ein Viertel der Schwebungsperiode sind. Es
können auch mehr als zwei unterschiedliche Linienmuster projiziert werden, d. h. nach
den drei Phasenlagen der zweiten Linienmuster werden drei Phasenlagen des dritten Lini
enmusters usw. projiziert, bevor dann wieder mit dem ersten Linienmuster begonnen
wird. Damit lassen sich Meßungenauigkeiten verbessern und der Eindeutigkeitsbereich
erweitern. Es ist möglich, Speicherplatz zu sparen, wenn jeweils nur die letzten Datensät
ze der einzelnen Phasen ausgewertet werden und die älteren Datensätze verworfen wer
den.
Im zweiten Ausführungsbeispiel wird zunächst auf an sich bekannte Weise, beispielswei
se mit dem codierten Lichtansatz + Graycode oder dem Phasenshiftverfahren oder Kom
binationen, das Objekt in einer Ruhestellung digitalisiert, um einen Startdatensatz mit
absoluten Phasen zu erhalten. Bei der anschließenden Bewegung werden nur noch Roh
phasen mit eingeschränktem Eindeutigkeitsbereich bestimmt, aber dafür laufend. Diese
dynamische Phasenbestimmung kann mit Linienmustern, die in mehreren Teilbereich
verschoben werden, oder mit einem statischen Linienmuster durchgeführt werden. Vor
zugsweise wird aus jedem neuen Meßwert und den vorangegangenen zwei Meßwerten
(gegebenenfalls mit rechnerischer Korrektur der Phasendrehung) eine neue Rohphase
bestimmt, so daß die überlappend (inkrementell) ermittelten Rohphasen in gleicher Ge
schwindigkeit und in gleicher Anzahl wie die einzelnen Meßwerte vorliegen.
Aus den anfänglich absolut gemessenen Phasen und den dynamisch bestimmten Phasen
werden dann die aktuellen räumlichen Koordinaten der Oberfläche bestimmt. Zwischen
durch kann zu ausgewählten Zeitpunkten auch eine neue Absolutmessung erfolgen. Um
die hohen Geschwindigkeiten zu erreichen, kann der gleiche Projektor wie im ersten Aus
führungsbeispiel verwendet werden.
Im dritten Ausführungsbeispiel werden die Aufnahmen der Videokamera während der
Bewegung des Objekts alle gespeichert, beispielsweise mittels eines schnellen Videore
corders, und erst anschließend "offline" ausgewertet. Da nun zeitliche Informationen der
Bewegung einzelner Oberflächenpunkte, z. B. an Kanten, in zwei Richtungen (zeitlich
vorwärts und zeitlich rückwärts) vorliegen, können die räumlichen Koordinaten der
Oberfläche beispielsweise ohne Mehrfrequenz-Phasenshiftverfahren aus zeitlich benach
barten (früheren oder späteren) Meßwerten eindeutig bestimmt werden.
Bei allen Ausführungsbeispielen kann zusätzlich die Oberflächentextur ohne Linienmu
ster aufgenommen werden, beispielsweise mit zusätzlichen Kameras, die nicht synchron
mit dem Projektor sein müssen. Ferner ist bei allen Ausführungsbeispielen der Begriff
Licht so zu verstehen, daß auch Strahlung im nichtsichtbaren Bereich eingesetzt werden
kann, beispielsweise Infrarotstrahlung.
Um bewegten Objekte gleichzeitig von mehreren Seiten zu vermessen, sind auch Anord
nungen mit mehreren Projektoren und Kameras möglich, welche vorzugsweise zu logi
schen Gruppen mit einem Projektor und wenigstens einer Kamera zusammengefaßt sind.
Damit sich die Streifen der Projektoren nicht auf dem Objekt überlagern, können die
Projektoren im Zeitmultiplex-Betrieb arbeiten (d. h. abwechselnd nur für kurze Zeit, bei
spielsweise mit einer Blitzlichtquelle, und damit synchronisierten Kameras, welche dann
die Bilder auseinanderhalten), in unterschiedlichen Spektralbereichen arbeiten (d. h. ver
schiedener Farben im sichtbaren, Infrarot- oder UV-Bereich, wobei die Kameras entspre
chende Farbfilter aufweisen, um die unerwünschten Spektralbereiche auszublenden), mit
unterschiedlichen Polarisationsebenen arbeiten (d. h. Projektoren und Kameras mit ent
sprechend orientierten Polarisationsfiltern, wobei bekannte LCD-Projektoren solche be
reits eingebaut haben), oder entsprechend um das Objekt herum, auf verschiedene Seiten
ausgerichtet, angeordnet sein.
Claims (10)
1. Verfahren zur Vermessung der Oberfläche eines bewegten Objekts, bei dem mittels
eines Projektors wenigstens ein Linienmuster in verschiedenen Phasenlagen zeitlich
hintereinander auf das Objekt projiziert wird auf das Objekt projiziert wird, die Hel
ligkeiten der zu vermessenden Punkte auf der Oberfläche des Objekts erfaßt werden
und zur Bestimmung der räumlichen Koordinaten der Oberfläche ausgewertet wer
den, wobei wenigstens zu einem Zeitpunkt eine absolute Phase bestimmt wird und zu
anderen Zeitpunkten dynamische Bestimmungen von Rohphasen mit eingeschränk
tem Eindeutigkeitsbereich laufend durchgeführt werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Bestimmung der
Rohphasen ein Teil der Messungen durch Vorinformationen über das Objekt
und/oder Schätzungen aus vorangegangenen Meßwerten ersetzt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens zwei
verschiedene Linienmuster projiziert werden, wobei zunächst ein erstes Linienmuster
mit einer bestimmten Periode mit wenigstens drei verschiedenen Phasenlagen zeitlich
hintereinander auf das Objekt projiziert wird und dann ein zweites Linienmuster mit
einer anderen Periode mit ebenfalls wenigstens drei verschiedenen Phasenlagen zeit
lich hintereinander auf das Objekt projiziert wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertung nach dem
Mehrfrequenz-Phasenshiftverfahren erfolgt.
5. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zu einem Anfangs
zeitpunkt mittels eines codierten Lichtansatzes mit Graycode oder eines Phasenshift
verfahrens eine Vermessung der Oberfläche mit absoluten Phasen erfolgt und zu dar
an anschließenden Zeitpunkten dynamische Bestimmungen von Rohphasen durchge
führt werden.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Bestimmung der
räumlichen Koordinaten der Oberfläche durch Phase Unwrapping der absolut gemes
senen Phasen und der dynamisch bestimmten Rohphasen erfolgt.
7. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Helligkeiten der
zu vermessenden Punkte auf der Oberfläche des Objekts erfaßt und gespeichert wer
den und nach Beendigung der Messung die gespeicherten Daten zur Bestimmung der
räumlichen Koordinaten der Oberfläche ausgewertet werden.
8. Verfahren nach Anspruch 2 und 7, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Bestimmung
der Rohphasen ein Teil der Messungen durch Schätzungen aus zeitlich benachbarten
Meßwerten ersetzt wird.
9. Projektor, mit welchem als Multimediaprojektor mittels eines monochromen Modula
tors und eines Farbfilterrades programmierte Farbbilder erzeugbar sind, und welcher
bei der Durchführung eines Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 8 ohne
Farbfilterrad ein programmiertes Linienmuster mit wenigstens drei verschiedenen
Phasenlagen zeitlich hintereinander projiziert.
10. Vorrichtung zur Durchführung eines Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 8,
gekennzeichnet durch einen Projektor nach Anspruch 9 und wenigstens eine mit dem
Projektor synchronisierte Kamera zur Erfassung der Helligkeiten der zu vermessen
den Punkte auf der Oberfläche des Objekts.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2000149639 DE10049639A1 (de) | 2000-10-05 | 2000-10-05 | Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung von Oberflächen bewegter Objekte |
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DE2000149639 DE10049639A1 (de) | 2000-10-05 | 2000-10-05 | Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung von Oberflächen bewegter Objekte |
Publications (1)
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ID=7658953
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE2000149639 Withdrawn DE10049639A1 (de) | 2000-10-05 | 2000-10-05 | Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung von Oberflächen bewegter Objekte |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10049639A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102012022952A1 (de) * | 2012-11-16 | 2014-05-22 | Friedrich-Schiller-Universität Jena | Verfahren und System zum berührungslosen Erfassen einer dreidimensionalen Oberfläche eines Objekts |
Citations (3)
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US5847832A (en) * | 1996-03-15 | 1998-12-08 | Hughes Aircraft Company | Moire topographic measurement |
DE19738179C1 (de) * | 1997-09-02 | 1999-05-12 | Bernward Maehner | Verfahren zur dreidimensionalen optischen Vermessung von Objektpunkten |
DE19852149A1 (de) * | 1998-11-04 | 2000-05-25 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung zur Bestimmung der räumlichen Koordinaten von Gegenständen |
-
2000
- 2000-10-05 DE DE2000149639 patent/DE10049639A1/de not_active Withdrawn
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