DE10033073A1 - Verfahren zur Fehleraufdeckung an sicherheitsgerichteten Sensoren - Google Patents
Verfahren zur Fehleraufdeckung an sicherheitsgerichteten SensorenInfo
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- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
Abstract
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Fehleraufdeckung beim Betrieb von Sensoren (Z) mit mindestens zwei kontaktbehafteten entkoppelten signalgebenden Elementen (K1, K2) mit geschlossener Leiterschleife, wobei ein erster Testausgang (A2) um eine definierte Schaltverzögerung (tx) gegenüber einem zweiten Testausgang (A1) verzögert geschaltet wird und die Eingangskanäle (E1, E2) entsprechend einer definierten Erwartungshaltung ausgewertet werden, wobei aus Abweichungen von tatsächlichen und erwarteten Signalverläufen sowie Zeitintervallen (tx) Rückschlüsse auf Fehler gezogen werden.
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur
Fehleraufdeckung beim Betrieb von Sensoren mit mindestens
zwei kontaktbehafteten entkoppelten signalgebenden Elementen
mit geschlossener Leiterschleife, bei dem jedes signalgebende
Element eingangsseitig über einen jeweils zugeordneten Test
ausgang mit einem jeweiligen Signal beaufschlagt wird, wel
ches ausgangsseitig einem jeweils zugeordneten Eingangskanal
zugeleitet wird.
Bei Prozessen in der Sicherheitstechnik, etwa beim Einsatz
von beispielsweise Not-Halt-Tastern oder Türschaltern zur
Schutztürverriegelung bei Industrierobotern oder numerisch
gesteuerten Werkzeugmaschinen, müssen unter anderem auch Sen
soren sicherheitsgerichtet eingebunden und überwacht werden.
Um eine einwandfreie Funktion zu gewährleisten, müssen Fehler
auf den Sensoranschlussleitungen rechtzeitig aufgedeckt wer
den. Sind die Anschlussleitungen geschützt im Schaltschrank
oder in Anlagenteilen verlegt, so kann in der Regel davon
ausgegangen werden, dass ein Fehler (Kurzschluss, Querschluss
etc.) höchst unwahrscheinlich ist. Eine Norm (prEN 954-2) er
laubt in diesem Fall, dass für die Anschlussleitung ein soge
nannter Fehlerausschluss angenommen werden kann.
Herkömmlicherweise werden Sensoren überwiegend nach dem 3-
Klemmenkonzept oder 4-Klemmenkonzept an eine Sicherheitssteu
erung angeschlossen. Eine Auslegung des Sensors nach dem 3-
Klemmenkonzept ist im Fall der Annahme eines Fehlerausschlus
ses völlig ausreichend. Kann dies nicht durchgängig gewähr
leistet werden oder werden, z. B. für einen Not-Halt-Taster,
höhere Anforderungen gestellt, so ist der Anschluss des Sen
sors nach dem 4-Klemmenkonzept erforderlich.
Gleichzeitig muss ein Konzept zur sicheren Fehleraufdeckung
von Kurzschlüssen und Querschlüssen auf den Anschlusslei
tungen entsprechend ausgelegt werden. Diese Erfindung be
schreibt ein Verfahren, mit dem dies auf relativ einfache und
wirtschaftliche Weise gewährleistet werden kann.
Für die sicherheitsgerichtete Ansteuerung eines Sensors gibt
es nach dem bekannten Stand der Technik die bereits erwähnten
grundsätzlichen beiden Möglichkeiten des 3-Klemmenkonzeptes
und des 4-Klemmenkonzeptes. Beide sollen im folgenden anhand
der in den Fig. 1 bis 4 gezeigten Prinzipskizzen näher erläu
tert werden.
In der Darstellung nach Fig. 1 ist ein Sensoranschluss nach
dem 3-Klemmenkonzept gezeigt. Grundsätzlich haben alle si
cherheitsgerichteten Sensoren zwei entkoppelte signalgebende
Elemente, in Fig. 1 als Kontakte K1 und K2 in einem Sensor Z
(einem Not-Halt-Taster) dargestellt. Diese können sich in ei
nem Bauteil (z. B. beim Not-Halt-Taster) befinden oder in zwei
physikalisch getrennten Bauteilen, wie dies etwa in Türschal
tern für eine Schutztürverriegelung möglich ist.
Der Sensor Z wird von einem Test-Ausgang A1, z. B. einem PLC
(Programmable Logic Controller) mit 24 V Signalspannung, über
einen Wurzelanschluss W mit einem Signal S1 angesteuert, wel
ches an beide Kontakte K1 und K2 geführt ist. Die beiden Sig
nale des Sensors Z werden an zwei Eingangs-Kanäle E1 und E2
einer sicherheitsgerichteten Steuerung (nicht gezeigt) ge
führt. Zur weiteren Signalverarbeitung werden diese Signale
beispielsweise über ein Bussystem B an eine zentrale Steuer
einheit weitergeleitet.
Wie bereits erwähnt, können als Sensor kontaktbehaftete Si
cherheitsbauteile z. B. Not-Halt-Taster oder auch kontaktbe
haftete Standardbauteile wie Türschalter zur Schutztürverrie
gelung usw. eingesetzt werden, wenn die beiden Kontakte me
chanisch rückwirkungsfrei entkoppelt sind.
In Verbindung mit einem dem Fachmann bekannten kreuzweisen
Datenvergleich und Zwangsdynamisierung können Fehler in den
Anschlussleitungen aufgedeckt werden. Ein reiner Querschluss
zwischen den beiden Eingängen E1 und E2 kann mit dem 3-
Klemmenkonzept jedoch nicht aufgedeckt werden.
In der Darstellung nach Fig. 2 ist ein Sensoranschluss mit 4-
Klemmenkonzept gezeigt. Der Sensor wird dazu anstelle über
einen Wurzelanschluss von zwei Test-Ausgängen A1 und A2 über
separate Signale S1 und S2 angesteuert. Die beiden Signale
des Sensors Z werden an die beiden Eingangs-Kanäle E1 und E2
der sicherheitsgerichteten Steuerung geführt. Im übrigen ent
spricht die Darstellung der nach Fig. 1.
Ein Grossteil der möglichen Fehler kann schon mit dem 3-
Klemmenkonzept in Verbindung mit der Kanalüberwachung
(Kreuzweiser Datenvergleich) der sicherheitsgerichteten
Steuerung und einer Zwangsdynamisierung aufgedeckt werden.
- - Ein Leitungsbruch an den Leitungen etwa kann über einen kreuzweisen Datenvergleich direkt erkannt werden.
- - Ein Kurzschluss oder Querschluss gegen P-Potential (P steht für eine positive oder negative Spannung) kann mit Hilfe einer Zwangsdynamisierung noch innerhalb des Testzyklus erkannt werden.
- - Ein Kurzschluss gegen M-Potential (M steht für Masse- Potential) lässt sich über eine Sicherung direkt aufdecken.
- - Ein Querschluss gegen P-Potential kann mit Hilfe einer Zwangsdynamisierung noch innerhalb des Testzyklus erkannt werden.
- - Ein Querschluss gegen M-Potential lässt sich über eine Si cherung direkt aufdecken.
Jedoch:
- - Ein Querschluss zwischen den Eingangs-Kanälen E1 und E2 lässt sich nicht aufdecken.
Durch einen Querschluss zwischen Eingangs-Kanal E1 und E2
entsteht im System ein so genannter "schlafender Fehler". In
der Darstellung nach Fig. 3 ist aufbauend auf der Darstellung
nach Fig. 2 zusätzlich ist ein Querschluss Q zwischen den Sig
nalleitungen zu E1 und E2 angedeutet.
Durch einen Zweitfehler, z. B. zusätzlichem P-Kurzschluss P -
dargestellt in Fig. 4 -, kann es dann zum Ausfall der Sicher
heitsfunktion kommen. Für eine Steuerungskategorie 3 ist dies
dann noch akzeptabel, wenn die Fehleraufdeckung innerhalb des
für diesen Teil der sicherheitsgerichteten Funktionen festge
legten Testzyklusses (z. B. 8 Stunden) gewährleistet werden
kann.
Herkömmlicherweise wurde z. B. der Not-Halt-Taster oder die
Schutztürverriegelung über ein externes Sicherheitsschalt
gerät angeschlossen. Diese Geräte haben die Überwachung der
Anschlussleitungen inklusive einer Querschlussüberwachung in
tegriert. Eine weitere Möglichkeit besteht heute auch, wenn
die Sensoren an eine Sicherheits PLC angeschlossen werden.
Dazu sind jedoch spezielle Peripheriebaugruppen erforderlich,
in denen die Kurzschluss- und Querschlussüberwachung eben
falls integriert sind. Eine Lösung, die nur mit Standardbau
gruppen auskommt, gibt es derzeit nicht.
Denkbar ist der Schutz gegen Kurz- und Querschlüsse auch mit
spezieller Verlegung und Ausführung der Verbindungsleitungen
zum Sensor. Hierbei müssen die Leitungen einzeln geschirmt
sein und der Schirm über eine Sicherung verbunden sein, um
einen Schluss aufzudecken bevor dieser zum Versagen der
Schutzfunktion führt. Eine derartige Lösung scheitert in der
Praxis im Allgemeinen jedoch an fehlender Akzeptanz.
Die genannten bekannten externen Sicherheitsschaltgeräte er
füllen zwar die Anforderungen bezüglich der Überwachung der
Sensor-Anschlussleitung, sie können jedoch nur Leistung ab
schalten und keine Maschine sicher stillsetzen. Das ist auch
der Grund, warum diese Geräte speziell bei Industrierobotern
und Werkzeugmaschinen mehr und mehr durch integrierte Sicher
heitskonzepte abgelöst werden. Sie stellen damit keine zu
kunftsweisende Alternative zur vorliegenden Erfindung dar.
Rein technisch gesehen ist das Problem zwar auch mit dem Ein
satz einer Sicherheits-PLC lösbar. Eine Sicherheits-PLC kann
einen Sensor bis Steuerungskategorie 4 (nach EN 954-1) an
steuern. Die Elektronik in den Eingangsbaugruppen misst in
die Leitung durch eine sogenannte Hell-/Dunkelschaltung hin
ein. Dabei werden für wenige Millisekunden die Ausgänge auf
getrennt und es wird an der Trennstelle gemessen. Kurzschlüs
se und Querschlüsse werden somit sofort und parallel zum lau
fenden Prozess hochwertig aufgedeckt. Diese Lösung ist jedoch
mit Standard Eingabe/Ausgabe-Baugruppen nicht realisierbar.
Aus Kostengründen finden bei Werkzeug- oder Produktionsma
schinen daher heute die genannten Sicherheits-PLC's auch kei
ne Anwendung. Dieser bekannte Lösungsansatz rentiert sich
heute nur bei großen Anlagen mit sehr vielen (< 40) sicher
heitsgerichteten Signalen und/oder wenn gleichzeitig die Aus
führung in der Steuerungskategorie 4 erforderlich ist.
Ein anderes herkömmliches Verfahren zur Fehleraufdeckung bei
sicherheitsgerichteten Signalen stellt ein wechselseitiges
kanalspezifisches Ansteuern (Takten) des Sensors dar.
Es wird wechselweise einmal nur der Kanal E1 und einmal nur
der Kanal E2 angesteuert. Dies darf jedoch zu keinem Zeit
punkt zum Abschalten der Signalkette führen. Geprüft wird, ob
es ein Übersprechen auf den nicht angesteuerten Kanal gibt.
Während dieser Zeit muss ein implementierter Kreuzweise-
Datenvergleich ausgeschaltet werden. Dadurch entsteht ein er
höhtes Risiko. Es kann damit zwar prinzipiell das Ziel er
reicht werden, doch ist der Aufwand in der Peripherie nicht
geringer. Die Rückwirkungen auf den Kreuzweisen-Datenver
gleich sind jedoch erheblich.
Eine weitere herkömmliche Methode zur Fehleraufdeckung bei
sicherheitsgerichteten Signalen erfolgt über eine unter
schiedliche kanalspezifische Polarität der Spannung. Bei die
ser Lösung werden die Leiterschleifen der beiden Kontakte E1
und E2 mit Spannungen unterschiedlicher Polarität einge
speist. Z. B. Kanal E1 mit +24 V und Kanal E2 mit -24 V. Dazu
ist aber eine spezielle Stromversorgung vorzusehen. Eine sol
che ist jedoch nicht standardmäßig an den Anlagen vorhanden
und erhöht zusätzlich den Verdrahtungsaufwand.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, ein Verfah
ren zur Fehleraufdeckung bei sicherheitsgerichteten Signalen
zu schaffen, welches auch in der Lage ist, sogenannte "schla
fende Fehler" aufzudecken, und das weitmöglichst unter Ver
wendung von kostengünstigen Standardbauelementen und -kompo
nenten realisiert werden kann.
Insbesondere soll im Gegensatz zum 3-Klemmenkonzept in Ver
bindung mit einer Zwangsdynamisierung eine Querschluss-Er
kennung zwischen den beiden Kanälen E1 und E2 erreicht wer
den.
Gemäß der vorliegenden Erfindung wird diese Aufgabe durch ein
Verfahren zur Fehleraufdeckung beim Betrieb von Sensoren mit
mindestens zwei kontaktbehafteten entkoppelten signalgebenden
Elementen mit geschlossener Leiterschleife gelöst, bei dem
jedes signalgebende Element eingangsseitig über einen jeweils
zugeordneten Testausgang mit einem jeweiligen Signal beauf
schlagt wird, welches ausgangsseitig einem jeweils zugeordne
ten Eingangskanal zugeleitet wird, indem dieses dadurch wei
tergebildet wird, dass
- - jeder Testausgang so um eine definierte Zeit gegenüber den anderen Testausgängen verzögert geschaltet wird, dass die jeweiligen Signale mit einer entsprechenden Schaltverzöge rung an den jeweiligen signalgebenden Elementen anstehen und die jeweiligen Eingangskanäle einer definierten Abfolge von Signaländerungen mit einer festen zeitlichen Zuordnung folgen, und
- - die Eingangskanäle gestützt auf diese Signalverläufe und das jeweilige Zeitintervall entsprechend einer definierten Erwartungshaltung ausgewertet werden, wobei aus Abweichun gen von tatsächlichen und erwarteten Signalverläufen und/oder Zeitintervallen Rückschlüsse auf vorliegende Feh ler gezogen werden.
In einer ersten vorteilhaften Ausgestaltung der vorliegenden
Erfindung wird die vorangehend gestellte Aufgabe vor allem
beim Betrieb von Sensoren mit überwiegend statischem Signal
gelöst, indem das Verfahren im Rahmen einer Zwangsdynamisie
rung durchgeführt wird.
Nach einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der vorlie
genden Erfindung wird das Verfahren beim Einschalten jedes
Sensors durchgeführt.
Nach einer alternativen vorteilhaften Ausgestaltung der vor
liegenden Erfindung wird das Verfahren beim Ausschalten jedes
Sensors durchgeführt.
Zur Aufdeckung eines Querschlusses beim Betrieb von Sensoren
mit zwei kontaktbehafteten entkoppelten signalgebenden Ele
menten mit geschlossener Leiterschleife, wobei beide Testaus
gänge in einem Ausgangszeitpunkt aktiviert sind, werden nach
einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der vorliegenden
Erfindung folgende weiteren Verfahrensschritte durchgeführt:
- - Deaktivieren eines ersten Testausgangs zu einem ersten Zeitpunkt,
- - Generieren eines Fehlersignals der Kategorie 'Querschluss', sofern das Signal des dem ersten Testausgang zugeordneten Eingangskanals auf aktiviertem Signalzustand verbleibt.
Zur Aufdeckung eines reinen Querschlusses ohne Phasenkurz
schluss werden nach einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung
der vorliegenden Erfindung folgende weiteren Verfah
rensschritte durchgeführt:
- - Abwarten einer definierten Schaltverzögerung,
- - Deaktivieren des zweiten Testausgangs zu einem Zeitpunkt nach Ablauf der Schaltverzögerung,
- - Generieren eines Fehlersignals der Kategorie 'Querschluss ohne Phasenkurzschluss', sofern die Signale beider Ein gangskanäle zusammen erst nach Ablauf der Schaltverzögerung für den zweiten Testausgang den deaktivierten Signalzustand einnehmen.
Zur Aufdeckung eines Querschlusses beim Betrieb von Sensoren
mit zwei kontaktbehafteten entkoppelten signalgebenden Ele
menten mit geschlossener Leiterschleife, wobei beide Testaus
gänge in einem Ausgangszeitpunkt deaktiviert sind, werden
nach einer alternativen vorteilhaften Ausgestaltung der vor
liegenden Erfindung folgende weiteren Verfahrensschritte
durchgeführt:
- - Aktivieren eines ersten Testausgangs zu einem ersten Zeit punkt,
- - Abwarten einer definierten Schaltverzögerung,
- - Generieren eines Fehlersignals der Kategorie 'Querschluss', sofern die Signale beider Eingangskanäle den aktivierten Signalzustand einnehmen und auch nach Ablauf der Schaltver zögerung aktiv verbleiben.
Nach einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung des voranste
hend beschriebenen Verfahrens gemäß der vorliegenden Erfin
dung wird zur Erkennung eines Leitungsbruches in einer Sig
nalleitung zusätzlich ein kreuzweiser Datenvergleich zwischen
den Signalen jeweils zweier Eingangskanäle durchgeführt.
Das vorgestellte erfindungsgemäße Konzept ist beim Einsatz
von kontaktbehafteten Sensoren mit geschlossenen Leiter
schleifen (Ruhestromprinzip) anwendbar. Bei Elektronik
signalen muss die Leitungsüberwachung durch den Sensor si
chergestellt werden. Dies ist bei höherwertigen Sensoren wie
Lichtvorhängen und Scannern auch der Fall. Mit dem Verfahren
dieser Erfindung kann nun erstmals mit Standardbaugruppen ei
ne vollständige Fehleraufdeckung (inklusive Querschluss) auf
den Sensor-Anschlussleitungen realisiert werden.
Der Sensor wird mit dem 4-Klemmenkonzept angeschlossen. Das
heißt, es ist keine zusätzliche Verdrahtung erforderlich und
es müssen keine Spezialbaugruppen mit integrierten sicher
heitsgerichteten Funktionen eingesetzt werden. Neben dem
zeitverzögerten Schalten der Test-Ausgänge ist vor allem die
Art der Auswertung der Eingangs-Kanäle bedeutsam. Die Auswer
tung mit definierter Erwartungshaltung stützt sich auf Sig
nalverlauf und/oder Zeitintervall.
Weitere Details und Vorteile der vorliegenden Erfindung erge
ben sich anhand der folgenden Beschreibung vorteilhafter Aus
führungsformen und im Zusammenhang mit den Figuren. In den
Figuren sind Merkmale mit gleicher Funktionalität der besse
ren Übersichtlichkeit halber mit gleichen Bezugszeichen be
zeichnet. Es zeigen im einzelnen:
Fig. 1 Sensoranschluss mit 3-Klemmenkonzept
(z. B. für Not-Halt),
Fig. 2 Sensoranschluss mit 4-Klemmenkonzept
(z. B. für Not-Halt),
Fig. 3 Querschluss in der Sensor-Anschlussleitung,
Fig. 4 Querschluss und P-Kurzschluss in der Sensor-
Anschlussleitung,
Fig. 5 Signalverlauf ohne Fehler beim Ausschalten,
Fig. 6 Signalverlauf ohne Fehler beim Einschalten,
Fig. 7 Signalverlauf mit Querschluss beim Ausschalten und
Fig. 8 Signalverlauf mit Querschluss beim Einschalten.
Die Darstellungen nach den Fig. 1 bis 4 wurden bereits im Rah
men der Beschreibungseinleitung zur Verdeutlichung der Prob
lemstellung sowie zur Darstellung des Ausgangspunktes der Er
findung und des bekannten Standes der Technik detailliert beschrieben.
Die damit verbundenen Bezugszeichen wurden dabei
bereits eingeführt, so dass im folgenden darauf aufgebaut
werden kann. Erfindungsgemäß wird insbesondere auf der in Fig.
4 gezeigten Schaltungsstruktur aufgesetzt, indem diese nach
dem im folgenden näher erläuterten Verfahren nach der Erfin
dung betrieben wird.
Das Konzept der vorliegenden Erfindung beruht darauf, dass
der Test-Ausgang A1 um eine definierte Zeit tx gegenüber dem
Test-Ausgang A2 verzögert geschaltet wird. Der Test kann so
wohl beim Ein- bzw. Ausschalten des Sensors oder einer damit
verbundenen Anlage, als auch im Rahmen einer Zwangsdynami
sierung durchgeführt werden. Z. B. ergibt sich beim definier
ten Ausschalten der Test-Ausgänge im Rahmen einer Zwangsdyna
misierung eine eindeutige Erwartungshaltung an den Eingangs
kanälen E1 und E2. Die Eingangskanäle E1 und E2 folgen einer
definierten Abfolge von Signaländerungen verbunden mit einer
festen zeitlichen Zuordnung. Die Auswertung dieser Erwar
tungshaltung kann für die Steuerungskategorie 3 (nach der
Norm EN 954-1) einkanalig in einer nachgeschalteten PLC oder
einer entsprechenden Hardware (z. B. einem anwenderspezifi
zierten integrierten Schaltkreis ASIC) erfolgen, da es sich
um die Testroutine der zweikanaligen Sensoranbindung handelt.
Damit können alle Kurz- und Querschlüsse sowie Leitungsbrüche
in den Signalleitungen wirtschaftlich aufgedeckt werden.
Im folgenden soll nun der funktionale Ablauf einer Testrouti
ne nach der vorliegenden Erfindung mit einer Zwangsdynamisie
rung beim Ausschalten für den Fall 'ohne Fehler' dargestellt
werden.
Die Darstellung nach Fig. 5 zeigt den dazugehörigen Signalver
lauf ohne Fehler beim Ausschalten. Auf der vertikalen Achse
ist eine Spannung (exemplarisch 24 Volt), auf der horizonta
len Achse die Zeit mit im folgenden näher erläuterten Zeit
punkten T0 bis t4 aufgetragen. Der Signalverlauf E1(t) für
Kanal 1 ist durch eine durchgezogene Linie, der Signalverlauf
E2(t) für Kanal 2 in Form einer gepunkteten Linie in das Ko
ordinatensystem eingetragen. Der Schaltzustand "Ein" bzw. "1"
entspricht einem Signal von 24 V, während der Schaltzustand
"Aus" bzw. "0" 0 Volt entspricht, also auf der horizontalen
Achse liegt. Dies gilt ebenso für die Darstellungen der übri
gen Fig. 6 bis 8.
Es besteht die Erwartungshaltung für den Fall eines Signal
verlaufes ohne Fehler beim Ausschalten, dass zu bestimmten
Zeiten definierte Signale an den Eingangskanälen E1 und E2
anstehen und dass die Schaltverzögerung der Zeit tx ent
spricht.
Gezeigt sind folgende Zeitmarken:
to = Test-Ausgänge A1 und A2 sind "Ein"
t1 = Test-Ausgang A2 wird "Aus"-geschaltet
tx = Test-Ausgang A1 Schaltverzögerung
t2 = Eingangs-Kanal E2 - Signal E2(t) geht auf "0"
t3 = Test-Ausgang A1 wird "Aus"-geschaltet
t4 = Eingangs-Kanal E1 - Signal E1(t) geht auf "0"
to = Test-Ausgänge A1 und A2 sind "Ein"
t1 = Test-Ausgang A2 wird "Aus"-geschaltet
tx = Test-Ausgang A1 Schaltverzögerung
t2 = Eingangs-Kanal E2 - Signal E2(t) geht auf "0"
t3 = Test-Ausgang A1 wird "Aus"-geschaltet
t4 = Eingangs-Kanal E1 - Signal E1(t) geht auf "0"
Dabei sind den aufgeführten Zeitmarken folgende Erwartungs
haltungen zugeordnet.
Beide Test-Ausgänge A1 und A2 sind "Ein"-geschaltet.
Erwartungshaltung: Signale E1(t) und E2(t) der Eingangs-
Kanäle E1 und E2 liegen auf "1".
Der Test-Ausgang A2 wird "Aus"-geschaltet, die Schaltverzö
gerung tx läuft.
Erwartungshaltung: Signale E1(t) und E2(t) der Eingangs-
Kanäle E1 und E2 liegen auf "1".
Mit der Schaltverzögerungszeit tx steht eine reproduzierbare
Referenz für den Signalvergleich zur Verfügung.
Der Eingangs-Kanal E2 - Signal E2(t) geht auf "0".
Erwartungshaltung: Signal E1(t) des Eingangs-Kanals E1
bleibt auf "1".
Der Test-Ausgang A1 wird nach Ablauf der Schaltverzögerung tx
auf "Aus" geschaltet.
Erwartungshaltung: Signal E1(t) des Eingangs-Kanals E1
bleibt auf "1".
Der Eingangs-Kanal E1 - Signal E1(t) geht auf "0".
Erwartungshaltung: Signale E1(t) und E2(t) der Eingangs-
Kanäle E1 und E2 liegen auf "0".
Im weiteren wird der funktionale Ablauf einer Testroutine
nach der vorliegenden Erfindung mit einer Zwangsdynamisierung
beim Einschalten für den Fall 'ohne Fehler' dargestellt.
Die Darstellung nach Fig. 6 zeigt den dazugehörigen Signalver
lauf ohne Fehler beim Einschalten. Es besteht wiederum die
Erwartungshaltung, dass zu bestimmten Zeiten definierte Sig
nale E1(t) und E2(t) an den Eingangs-Kanälen E1 und E2 anste
hen und dass die Schaltverzögerung der Zeit tx entspricht.
Die Zeitmarken für diesen Fall sind wie folgt:
to = Test-Ausgang A1 und A2 sind "Aus"
t1 = Test-Ausgang A2 wird auf "Ein" geschaltet
tx = Schaltverzögerung für Test-Ausgang A1
t2 = Eingangs-Kanal E2 - Signal E2(t) geht auf "1"
t3 = Test-Ausgang 1 wird auf "Ein" geschaltet
t4 = Eingangs-Kanal E1 - Signal E1(t) geht auf "1"
to = Test-Ausgang A1 und A2 sind "Aus"
t1 = Test-Ausgang A2 wird auf "Ein" geschaltet
tx = Schaltverzögerung für Test-Ausgang A1
t2 = Eingangs-Kanal E2 - Signal E2(t) geht auf "1"
t3 = Test-Ausgang 1 wird auf "Ein" geschaltet
t4 = Eingangs-Kanal E1 - Signal E1(t) geht auf "1"
Es wird nun der funktionale Ablauf einer Testroutine nach der
vorliegenden Erfindung mit einer Zwangsdynamisierung beim
Ausschalten für den Fall eines Querschlusses dargestellt.
Die Darstellung nach Fig. 7 zeigt den dazugehörigen Signalver
lauf bei Vorliegen eines Querschlusses beim Ausschalten. Es
besteht nun die Erwartungshaltung, dass sich bei einem Fehler
mit Querschluss die typischen Signalverläufe E1(t), E2(t) an
den Eingangs-Kanälen E1 und E2 nicht einstellen.
Die Zeitmarken unterscheiden sich für diesen Fall von den zu
Fig. 5 zugehörigen wie folgt:
Obwohl der Test-Ausgang A2 ausgeschaltet ist, bleibt der Ein
gangs-Kanal 2 auf Signalzustand "1" stehen.
Erwartungshaltung ist nicht erfüllt - es muss ein Querschluss
vorliegen.
Erst mit dem Ausschalten von Test-Ausgang A1 nehmen beide
Signale E1(t), E2(t) der Eingangs-Kanäle E1 und E2 den Sig
nalzustand "0" ein. Daraus folgt, es muss ein reiner Quer
schluss ohne P-Kurzschluss vorliegen.
Der funktionale Ablauf einer Testroutine nach der vorliegen
den Erfindung mit einer Zwangsdynamisierung beim Einschalten
für den Fall eines Querschlusses hingegen stellt sich folgen
dermaßen dar.
Die Darstellung nach Fig. 8 zeigt den dazugehörigen Signalver
lauf bei Vorliegen eines Querschlusses beim Einschalten. Es
besteht die Erwartungshaltung, dass sich die typischen Sig
nal-Pegel E1(t), E2(t) an den Testeingängen E1 und E2 nicht
einstellen und das die Schaltverzögerung ungleich der Zeit tx
ist.
Die Zeitmarken unterscheiden sich für diesen Fall von den zu
Fig. 6 zugehörigen wie folgt:
Obwohl nur der Test-Ausgang A2 eingeschaltet ist, nehmen bei
de Eingangs-Kanäle E1, E2 den Signalzustand "1" ein. Die
Schaltverzögerung tx ist wirkungslos. Die Erwartungshaltung
ist nicht erfüllt - es muss ein reiner Querschluss vorliegen.
Mit dem Verfahren gemäß der vorliegenden Erfindung lassen
sich demnach in Verbindung mit bekannten Verfahren zur Feh
leraufdeckung folgende Fehlertypen aufdecken:
- - Ein Leitungsbruch an den Leitungen etwa kann über einen kreuzweisen Datenvergleich direkt erkannt werden.
- - Ein Kurzschluss oder Querschluss gegen P-Potential, P steht für eine positive oder negative Spannung, kann mit Hilfe einer Zwangsdynamisierung noch innerhalb des Testzyklus erkannt werden.
- - Ein Kurzschluss gegen M-Potential, M steht für Masse- Potential, lässt sich über eine Sicherung direkt aufdecken.
- - Ein Querschluss gegen P-Potential kann mit Hilfe einer Zwangsdynamisierung noch innerhalb des Testzyklus erkannt werden.
- - Ein Querschluss gegen M-Potential lässt sich über eine Si cherung direkt aufdecken.
- - Ein Querschluss zwischen den Eingangs-Kanälen E1 und E2 lässt sich ebenfalls aufdecken.
Ein Kreuzweiser-Datenvergleich zusammen mit einer Zwangs
dynamisierung und dem Verfahren nach der vorliegenden Erfin
dung ermöglichen eine lückenlose Fehleraufdeckung an den Sen
soranschlussleitungen. Damit können die Anforderungen der
Steuerungs-Kategorie 3 nach der Norm EN954-1 erfüllt werden.
Neben weiteren in den voranstehenden Ausführungen beschriebe
nen Vorteilen erweisen sich besonders folgende Merkmale der
Erfindung als vorteilhaft gegenüber dem bekannten Stand der
Technik:
- - der Einsatz von Standard Peripherie-Baugruppen wird mög lich.
- - die beschriebene Testroutine kann auch einkanalig in einer PLC oder Hardware implementiert werden.
- - bei überwiegend statischem Signal kann durch eine Zwangsdy
namisierung die Testroutine angestoßen werden.
Die Zwangsdynamisierung dient dazu, um während der Zweit fehlereintrittszeit den Erstfehler aufzudecken - - die Verdrahtung zum Sensor ist Standard. Es ist keine be sondere Verlegung der Leitungen erforderlich.
- - für sicherheitsgerichtete Sensoren kann nun, bei Anforde rung auf Querschlusssicherheit, eine wirtschaftliche Lösung angeboten werden. Die Kosten liegen hierfür erheblich unter denen herkömmlicher Lösungen.
- - in Verbindung dem 4-Klemmenkonzept entsteht ein einheitli ches, durchgängiges Konzept.
Dieses Konzept gemäß der vorliegenden Erfindung lässt sich
auch auf hardwarebasierte Systeme übertragen wie z. B. den Be
reich der Befehls- und Meldegeräte für sicherheitsgerichtete
Peripheriebaugruppen. Die Testroutine kann in ASIC's integ
riert werden. Damit ist die Erfindung auch in dezentralen,
autarken Systemen anwendbar.
Claims (8)
1. Verfahren zur Fehleraufdeckung beim Betrieb von Sensoren
(Z) mit mindestens zwei kontaktbehafteten entkoppelten sig
nalgebenden Elementen (K1, K2) mit geschlossener Leiterschlei
fe, wobei jedes signalgebende Element eingangsseitig über ei
nen jeweils zugeordneten Testausgang (A1, A2) mit einem je
weiligen Signal (S1, S2(tx)) beaufschlagt wird, welches aus
gangsseitig einem jeweils zugeordneten Eingangskanal (E1, E2)
zugeleitet wird, dadurch gekennzeich
net, dass
- - jeder Testausgang (A1, A2) so um eine definierte Zeit (tx) gegenüber den anderen Testausgängen verzögert geschaltet wird, dass die jeweiligen Signale (S1, S2) mit einer ent sprechenden Schaltverzögerung an den jeweiligen signalge benden Elementen (K1, K2) anstehen und die jeweiligen Ein gangskanäle (E1, E2) einer definierten Abfolge von Signal änderungen (ΔS) mit einer festen zeitlichen Zuordnung (tx) folgen, und
- - die Eingangskanäle (E1, E2) gestützt auf diese Signalver läufe (ΔS) und das jeweilige Zeitintervall (tx) entspre chend einer definierten Erwartungshaltung ausgewertet wer den, wobei aus Abweichungen von tatsächlichen und erwarte ten Signalverläufen (ΔS) und/oder Zeitintervallen (tx) Rückschlüsse auf vorliegende Fehler gezogen werden.
2. Verfahren zur Fehleraufdeckung beim Betrieb von Sensoren
(Z), insbesondere mit überwiegend statischem Signal, mit kon
taktbehafteten entkoppelten signalgebenden Elementen (K1, K2)
mit geschlossener Leiterschleife nach Anspruch 1, da
durch gekennzeichnet, dass das Verfahren
im Rahmen einer Zwangsdynamisierung (ZD) durchgeführt wird.
3. Verfahren zur Fehleraufdeckung beim Betrieb von Sensoren
(Z) mit kontaktbehafteten entkoppelten signalgebenden Elemen
ten (K1, K2) mit geschlossener Leiterschleife nach Anspruch 1
oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass
das Verfahren beim Einschalten jedes Sensors (Z) durchgeführt
wird.
4. Verfahren zur Fehleraufdeckung beim Betrieb von Sensoren
(Z) mit kontaktbehafteten entkoppelten signalgebenden Elemen
ten (K1, K2) mit geschlossener Leiterschleife nach Anspruch 1
oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass
das Verfahren beim Ausschalten jedes Sensors (Z) durchgeführt
wird.
5. Verfahren zur Aufdeckung eines Querschlusses (Q) beim Be
trieb von Sensoren (Z) mit zwei kontaktbehafteten entkoppel
ten signalgebenden Elementen (K1, K2) mit geschlossener Lei
terschleife nach Anspruch 4, wobei beide Testausgänge (T1,
T2) in einem Ausgangszeitpunkt (t0) aktiviert sind, ge
kennzeichnet durch folgende weiteren Verfahrens
schritte:
- - Deaktivieren eines ersten Testausgangs (T2) zu einem ersten Zeitpunkt (t1),
- - Generieren eines Fehlersignals der Kategorie 'Querschluss', sofern das Signal (E2(t)) des dem ersten Testausgang (T2) zugeordneten Eingangskanals (E2) auf aktiviertem Signalzu stand verbleibt.
6. Verfahren zur Aufdeckung eines Querschlusses (Q) ohne Pha
senkurzschluss (P) beim Betrieb von Sensoren (Z) mit zwei
kontaktbehafteten entkoppelten signalgebenden Elementen (K1,
K2) mit geschlossener Leiterschleife nach Anspruch 5, ge
kennzeichnet durch folgende weiteren Verfahrens
schritte:
- - Abwarten einer definierten Schaltverzögerung (tx),
- - Deaktivieren des zweiten Testausgangs (T1) zu einem Zeit punkt (t3) nach Ablauf der Schaltverzögerung (tx),
- - Generieren eines Fehlersignals der Kategorie 'Querschluss ohne Phasenkurzschluss', sofern die Signale (E1(t), E2(t)) beider Eingangskanäle (E1, E2) zusammen erst nach Ablauf der Schaltverzögerung (tx) für den zweiten Testausgang (T1) den deaktivierten Signalzustand einnehmen.
7. Verfahren zur Aufdeckung eines Querschlusses (Q) beim Be
trieb von Sensoren (Z) mit zwei kontaktbehafteten entkoppel
ten signalgebenden Elementen (K1, K2) mit geschlossener Lei
terschleife nach Anspruch 3, wobei beide Testausgänge (T1,
T2) in einem Ausgangszeitpunkt (t0) deaktiviert sind, ge
kennzeichnet durch folgende weiteren Verfahrens
schritte:
- - Aktivieren eines ersten Testausgangs (T2) zu einem ersten Zeitpunkt (t1),
- - Abwarten einer definierten Schaltverzögerung (tx),
- - Generieren eines Fehlersignals der Kategorie 'Querschluss', sofern die Signale (E1(t), E2(t)) beider Eingangskanäle (E1, E2) den aktivierten Signalzustand einnehmen und auch nach Ablauf der Schaltverzögerung (tx) aktiv verbleiben.
8. Verfahren zur Fehleraufdeckung beim Betrieb von Sensoren
(Z) mit kontaktbehafteten entkoppelten signalgebenden Elemen
ten (K1, K2) mit geschlossener Leiterschleife nach einem der
vorangehenden Ansprüche, dadurch gekenn
zeichnet, dass zur Erkennung eines Leitungsbruches
in einer Signalleitung zusätzlich ein kreuzweiser Datenver
gleich (KDV) zwischen den Signalen (E1(t), E2(t)) jeweils
zweier Eingangskanäle (E1, E2) durchgeführt wird.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10033073A DE10033073A1 (de) | 2000-01-27 | 2000-07-07 | Verfahren zur Fehleraufdeckung an sicherheitsgerichteten Sensoren |
US09/774,161 US6486674B2 (en) | 2000-01-27 | 2001-01-29 | Method for detecting faults on safety oriented sensors |
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DE (1) | DE10033073A1 (de) |
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