DE10005852C2 - Verfahren zur Herstellung von Höhenbildern technischer Oberflächen in mikroskopischer Auflösung - Google Patents
Verfahren zur Herstellung von Höhenbildern technischer Oberflächen in mikroskopischer AuflösungInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 23
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 title description 5
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 10
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 7
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 2
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 2
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 claims description 2
- 230000001629 suppression Effects 0.000 claims 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000004141 dimensional analysis Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 238000001454 recorded image Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
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- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
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- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von
Höhenbildern technischer Oberflächen in mikroskopischer
Auflösung mit Hilfe eines konfokalen Messmikroskops, wobei die
zu vermessende Probe in Richtung (Z-Richtung) Mikroskop
gesteuert und kontinuierlich verfahren und dabei in definierten
Abständen mittels einer Digitalkamera jeweils ein Bild
aufgenommen wird, und die aufgenommenen digitalisierten Bilder
einem Controller (PC) zur weiteren Verarbeitung und Auswertung
zugeleitet werden, derart, dass das Lichtintensitätsmaximum für
jeden Bildpunkt ermittelt wird, wobei die Lage des Maximums die
zu messende Probenhöhe ergibt.
Konfokale Messmikroskope werden für die Inspektion technischer
Oberflächen eingesetzt, wobei sowohl das mikroskopische Bild
(Lichtintensität) der Probenoberfläche als auch die der
Oberfläche zugeordnete lokale Höhe gemessen wird. Die Anwendung
bezieht sich dabei auf alle Bereiche der
Mikrostrukturtechnologie, ist aber nicht darauf beschränkt.
Das Meßsystem setzt sich aus dem eigentlichen konfokal
optischen Messzweig, einer Kamera, einer
Bilddigitalisierungseinheit, einem Controller (im allgemeinen
ein PC), einer motorischen Verschiebeeinheit zur
Durchfokussierung der Probenoberfläche (Verfahrbewegung in Z-
Richtung) sowie einer Steuerung der motorischen
Verschiebeeinheit zusammen (siehe Bild 2).
Die Arbeitsweise des beispielsweise aus Hans J. Tiziani und
Hans-Martin Uhde: "Three-dimensional analysis by microlens
array confocal arrangement" in: APPLIED OPTICS, Vol. 33. No. 4
Seiten 567 bis 572 sowie aus der US 5 594 235 bekannten
Messmikroskops besteht darin, dass die sich unter dem
Mikroskopobjektiv befindliche Probe schrittweise gegenüber dem
Mikroskop in der Höhe verfahren wird (bzw. das Mikroskop in
Richtung Probe).
Das heißt, dass jeweils dann ein Bild mittels beispielsweise
einer CCD-Kamera aufgenommen wird, wenn die Probe um eine
definierte Strecke verfahren wurde und in dieser Position
gestoppt worden ist. Nach der Aufnahme und der Digitalisierung
wird das jeweilige Bild analysiert (im PC).
Ein kontinuierlicher Durchlauf in Z-Richtung der Probe ist aus
der US 5 084 612 bekannt. Für den kontinuierlichen Antrieb des
Probentisches längs der Z-Achse ist ein Impulsmotor vorgesehen.
Die Synchronsignale für den Motor stellt eine Schaltung bereit,
die auch die Ansteuersignale für den Impulsmotor und den
Piezoantrieb liefert, die für eine kontinuierliche Bewegung der
Probe in der X- und Y-Richtung vorgesehen sind.
Die Lichtintensität eines einzelnen Bildpunktes zeigt dabei in
der Regel eine gaußförmige Verteilung als Funktion der
Verschiebung, wobei die Lage des Maximums die zu messende
Probenhöhe ergibt. Da das Maximum in der Praxis nicht direkt
gemessen werden kann, wird zu dessen Ermittlung die Kurve
schrittweise abgetastet.
Die Auswertung erfolgt akkumulativ. Dabei wird pixelweise die
Summe der Intensität I sowie die Summe der mit der jeweils
eingestellten Verschiebung z multiplizierten Intensität in zwei
getrennten Speichern aufsummiert.
Nach einem vollen Durchlauf (Aufnahme von N Bildern) wird gemäß
der Schwerpunkt zs bezüglich der Verschiebung ausgerechnet.
Dieser fällt ungefähr mit dem Maximum zusammen. Um die
Genauigkeit zu erhöhen, werden in der Regel nur diejenigen
Intensitäten zur Berechnung herangezogen, die oberhalb einer
einzustellenden Schwelle liegen. Diese Schwelle muß lokal (d. h.
pixelweise) bestimmt werden, zum Beispiel als mittlere
Intensität. Zur Ermittlung dieser Schwelle ist dann ein
zusätzlicher Durchlauf, der vor dem eigentlichen Meß-Durchlauf
stattfindet, notwendig.
Die vorbekannten Verfahren haben jedoch diverse Nachteile:
Die geringe Dynamik einer CCD-Kamera führt dazu, dass stark
unterschiedlich reflektierende Ortsbereiche nicht gleichzeitig
erfasst werden können.
Durch den zusätzlichen Durchlauf zur Bestimmung der Schwelle
(siehe oben) ist das Verfahren recht zeitaufwendig.
Darüber hinaus vergrößert sich der Zeitaufwand durch das
schrittweise einstellen der Verschiebung. Außerdem können
hierdurch Erschütterungen hervorgerufen werden, dann nämlich,
wenn das mechanische System beschleunigt und abgebremst wird.
Ein weiterer Nachteil ergibt sich durch die oben angesprochene
akkumulative Auswertung. Die Auswertung gemäß obiger Formel
setzt eine symmetrische Verteilung der Intensität voraus. In
der Praxis zeigen sich jedoch leicht asymmetrische Verläufe.
Die Auswertung gemäß obiger Formal versagt beim Auftreten
mehrer Maxima, bzw. liefert fehlerhafte Werte. Ein zusätzliches
Maximum (Nebenpeg) kann jedoch bei halbtransparenten Schichten
auftreten.
Überhaupt ist die Erkennungsmöglichkeit von Auswertefehlern und
die Bestimmung der Güte der Messung im allgemeinen
unzureichend.
Ein zusätzlicher Nachteil ist darin zu sehen, dass die
Steuerung der Verschiebeeinheit vom Controller vorgenommen
werden muß, da keine direkte Kopplung zwischen der
Verschiebeeinheit und der Bilddigitalisierungseinheit vorhanden
ist.
Der Erfindung liegt daher ausgehend von einem aus der US 5 084 612
bekannten Stand der Technik die Aufgabe zugrunde, ein
Verfahren der eingangs genannten Art zu so zu führen, dass bei
einer signifikanten Verringerung des Zeitaufwandes eine
verbesserte Auswertung der aufgenommenen Bilder ermöglicht
wird, bei der zwischen Nebenmaxima und Artefakten unterschieden
werden kann.
Die Aufgabe wird gemäß dem kennzeichnenden Teil des
Patentanspruchs 1 dadurch gelöst, dass die Intensitäten der in
diskreten Ortsabständen aufgenommenen und digitalisierten N
Einzelbilder im Controller (PC) gespeichert werden, derart,
dass für jeden Bildpunkt eine Zahl N aufeinanderfolgender
Speicherstellen belegt wird, die vom ersten bis zum N-ten Bild
sukzessive aufgefüllt werden, wonach für jeden Bildpunkt das
jeweilige Intensitätsmaximum/die jeweiligen Intensitätsmaxima
rechnerisch ermittelt und unter Einbeziehung aller Messdaten
ausgewertet wird/werden.
Dadurch, dass die Verschiebung der Probe in einer
kontinuierlichen Bewegung stattfindet, ergibt sich neben dem
zeitlichen Vorteil eine völlig ruckfreie ortsabhängige
Bildaufnahme. Die Speicherung der Einzelbilder findet dabei in
einer auswertegerechten Form statt. Das bedeutet, dass bei
einer Gesamtzahl von N Bildern, deren Digitalisierung bei der
Messung ausgelöst wird, vorab für jeden Bildpunkt eine Zahl N
aufeinander folgender Speicherstellen belegt werden. Diese
Speicherstellen werden nun sukzessiv vom ersten bis zum letzten
Bild aufgefüllt. Der Vorteil dabei ist, dass die zur späteren
Berechnung benötigten Intensitäten eines Bildpunktes in der
technisch sinnvollen Reihenfolge angeordnet sind. Als technisch
sinnvolle Reihenfolge wird diejenige Reihenfolge definiert, die
es erlaubt, schnell auf die Messdaten zuzugreifen.
Anstelle einer akkumulativen Auswertung wird eine Auswertung
unter Einbeziehung aller Messdaten vorgenommen. Bei der
Auswertung wird nach allen vorkommenden Maxima gesucht.
Kriterien zur Erkennung eines Maximums (z. B. der Schwellwert)
können dabei veränderlich vorgegeben werden. Die Suche nach
Maxima findet dabei vorzugsweise nach drei wahlweise
vorgebbaren Suchverfahren statt:
- 1. Es wird nur das tiefste Maximum (unterste Schicht) ausgewertet.
- 2. Es wird nur das oberste Maximum (oberste Schicht) ausgewertet.
- 3. Es werden beide Maxima ausgewertet.
Im Falle nur eines vorliegenden Maximums (d. h., wenn es sich
nicht um eine halbtransparente Vorlage handelt) fallen die
Verfahren zusammen.
Anhand der Bestimmung der Lage zweier Maxima (wenn diese
beispielsweise bei halbtransparenten Proben vorliegen) wird
deren Abstand zur Berechnung der Schichtdicke der angenommenen
Schicht herangezogen. Hierdurch wird die Funktionalität des
Messmikroskops grundsätzlich erweitert.
Gemäß Anspruch 2 werden zur ortsabhängigen Auslösung der
Bildaufnahme von dem in Z-Richtung verfahrenden, die Probe
tragenden Element positionsgebende Triggerpulse abgenommen.
Dabei wird gemäß Anspruch 3 der Ortsabstand, der die Auslöung
einer Bildaufnahme bewirkt, definiert eingestellt, wobei
mittels der Programmierung eines Mikroprozessors eine
veränderliche Teilung des von der Ortserfassung erzeugten
Inkrement-Grundsignals vorgenommen wird.
Die Bildaufnahme wird wie gerade angesprochen von einer an der
Verschiebungseinheit angebrachten Ortserfassung in diskreten
Ortsabständen ausgelöst. Diese Ortserfassung kann z. B. ein
Inkrement-Dekoder an der Achse des zur Verschiebung benutzten
Motors oder ein optoelektronischer Wegmaßstab am Verfahrtisch
sein. Wenn zur Verschiebung ein spannungsgesteuerter
Piezoversteller eingesetzt wird, kann dies ein DMS-Wegaufnehmer
sein.
Durch die Synchronisation bzw. Kopplung mit dem Meßprozeß ist
die Möglichkeit geboten, dass die Verschiebeeinheit von einer
externen Steuerung gesteuert werden kann. Somit ist die
erfindungsgemäße Vorrichtung in einen externen Prozeß,
vorzugsweise als Prozeß-Meßgerät in der Herstellung von
Mikrostrukturen einbindbar.
Die Intensitäten der wie beschrieben aufgenommenen Einzel-
Bilder werden komplett gespeichert. Die Speicherung erfolgt
vorzugsweise auf einem festen Speichermedium (z. B. einer
Festplatte) oder im Arbeitsspeicher des Systemcontrollers.
Zur Bestimmung der Lage des jeweiligen Maximums wird
vorzugsweise eine rechnerische Approximation mit einer
mathematisch beschreibbaren Kurvenform vorgenommen. Diese
Kurvenform wird vorzugsweise als Gauß-Kurve angesetzt, kann
aber auch eine Parabelform haben.
Es werden neben der Lage der Maxima auch deren Kurvenform mit
Hilfe skalarer Größen beschrieben. Vorzugsweise wird die
Kurvenform bei Approximation einer Gauß-Kurve mit Hilfe der
Halbwertsbreite und Güte beschrieben.
Anhand der Bestimmung der Kurvenform können dann Kriterien
abgeleitet werden, die es ermöglichen, Messwerte auszuschließen
(beispielsweise Artefakte).
Da die Gesamtzahl aller Messwerte vorliegt, werden
rauschunterdrückende Verfahren in der Vorverarbeitung
eingesetzt. Dies bedeutet, dass eine digitale Signalfilterung
(Rechteck-, oder Gauß-Filter) eingesetzt wird.
Auf diese Weise wird die gesamte Probenoberfläche inspiziert,
derart, dass nach der Vermessung eines Probenbereichs die Probe
in einer Ebene (X/Y) senkrecht zur optischen Achse des
Messmikroskops verfahren wird, so dass ein benachbarter
Probenbereich vermessen werden kann und sofort, und durch
elektronisches Aneinandersetzen (stitching) der Messergebnisse
der jeweils benachbarten Bereiche ein zusammengesetztes Bild
der Probenoberflächenstruktur erhalten wird.
Zur Aufnahme wird vorzugsweise ein CMOS-Sensor verwendet,
unabhängig vom Messverfahren kann jedoch auch ein CCD-Sensor
eingesetzt werden.
Der vorrichtungsgemäße Aufbau der vorliegenden Erfindung wird
nun im folgenden kurz anhand der Zeichnungen dargestellt.
Es zeigen:
Bild 1 Schaltbild des konfokalen Meßmikrospkops (Erfindung),
Bild 2 Schaltbild eines konfokalen Messmikroskops gemäß
Stand der Technik.
In Bild 1 ist mit dem Bezugszeichen 1 der konfokal optische
Mikroskopzweig bezeichnet, dessen Bilder von einer
Digitalkamera 2 aufgenommen werden, von der sie über eine
Digitalisierungseinheit 3 einem Systemcontroller 4 in
digitalisierte Form zugeführt werden. Hier findet dann die
Auswertung der aufgenommenen Bilder statt. Die Probe, die zu
vermessen ist, befindet sich auf einer motorischen
Verschiebeeinheit 5 zur Durchfokussierung der Probenoberfläche.
An der motorischen Verschiebeeinheit 5 ist eine Ortserfassung,
die z. B. ein Inkrement-Decoder an der Achse des zur
Verschiebung benutzten Motors oder ein optoelektrischer
Wegmaßstab am Verfahrtisch sein kann, angeordnet. Hierdurch
kann die Steuerung über den Systemcontroller 4 entfallen und
die Verschiebebewegung kann extern gesteuert werden. Die
Ortserfassung an der Verschiebeeinheit 5 liefert der Kamera-
Mikroskop-Einheit die für die Bildauslösung erforderlichen
Triggersignale.
Claims (14)
1. Verfahren zur Herstellung von Höhenbildern technischer
Oberflächen in mikroskopischer Auflösung mit Hilfe eines
konfokalen Messmikroskops, wobei die zu vermessende Probe in
Richtung (Z-Richtung) Mikroskop gesteuert und kontinuierlich
verfahren und dabei in definierten Abständen mittels einer
Digitalkamera jeweils ein Bild aufgenommen wird, und die
aufgenommenen digitalisierten Bilder einem Controller (PC)
zur weiteren Verarbeitung und Auswertung zugeleitet werden,
derart, dass das Lichtintensitätsmaximum für jeden Bildpunkt
ermittelt wird, wobei die Lage des Maximums die zu messende
Probenhöhe ergibt,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Intensitäten der in diskreten Ortsabständen
aufgenommenen und digitalisierten N Einzelbilder im
Controller (PC) gespeichert werden, derart, dass für jeden
Bildpunkt eine Zahl N aufeinanderfolgender Speicherstellen
belegt wird, die vom ersten bis zum N-ten Bild sukzessive
aufgefüllt werden, wonach für jeden Bildpunkt das jeweilige
Intensitätsmaximum/die jeweiligen Intensitätsmaxima
rechnerisch ermittelt und unter Einbeziehung aller Messdaten
ausgewertet wird/werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass zur ortsabhängigen Auslösung der Bildaufnahme von dem
in Z-Richtung
verfahrenden, die Probe tragenden Element positionsgebende
Triggerimpulse abgenommen werden.
3. Verfahren nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
dass der Ortsabstand, der die Auslösung einer Bildaufnahme
bewirkt, definiert eingestellt wird, wobei mittels der
Programmierung eines Mikroprozessors eine veränderliche
Teilung des von der Ortserfassung erzeugten Inkrement-
Grundsignals vorgenommen wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Verfahrbewegung extern steuerbar ist.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Speicherung der Intensitäten auf einem festen
Speichermedium geschieht.
6. Verfahren nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Speicherung auf einer Festplatte geschieht.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Speicherung im Arbeitsspeicher des Controllers
geschieht.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7,
dadurch gekennzeichnet,
dass zur Bestimmung der Lage des Maximums/der Maxima eine
rechnerische Approximation mit einer mathematisch
beschreibbaren Kurvenform vorgenommen wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Kurvenform als Gauß-Kurve angesetzt wird.
10. Verfahren nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Kurvenform als Parabel angesetzt wird.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 10,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Kurvenform mit Hilfe skalarer Größen beschrieben
wird (Halbwertsbreite, Güte, etc.).
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 11,
dadurch gekennzeichnet,
dass in einer Vorverarbeitung der Messdaten
Rauschunterdrückung in Form digitaler Signalfilterung
erfolgt.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 12,
dadurch gekennzeichnet,
dass bei zu vermessenden halbtransparenten Schichten das
tiefste Maximum (unterste Schicht) und/oder das oberste
Maximum (oberste Schicht) ausgewertet wird.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 13,
dadurch gekennzeichnet,
dass nach der Vermessung eines Probenbereichs die Probe in
einer Ebene (X/Y) senkrecht zur optischen Achse des
Messmikroskops verfahren wird, so dass ein benachbarter
Probenbereich vermessen werden kann und sofort, und durch
elektronisches Aneinandersetzen (stitching) der
Messergebnisse der jeweils benachbarten Bereiche ein
zusammengesetztes Bild der Probenflächenstruktur erhalten
wird.
Priority Applications (5)
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ID=7630431
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DE10005852A Expired - Lifetime DE10005852C2 (de) | 2000-02-10 | 2000-02-10 | Verfahren zur Herstellung von Höhenbildern technischer Oberflächen in mikroskopischer Auflösung |
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Country | Link |
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WO2001059431A3 (de) | 2002-03-14 |
US6943823B2 (en) | 2005-09-13 |
DE10005852A1 (de) | 2001-08-23 |
WO2001059431A2 (de) | 2001-08-16 |
EP1210635A2 (de) | 2002-06-05 |
US20020167659A1 (en) | 2002-11-14 |
JP2003533673A (ja) | 2003-11-11 |
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