DD293890A5 - Strahlungssensor - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 66
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 46
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims abstract description 43
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 claims description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 5
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910002090 carbon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 2
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 abstract description 33
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 15
- 230000008859 change Effects 0.000 abstract description 13
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 10
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 abstract description 6
- 230000003068 static effect Effects 0.000 abstract description 5
- 238000013461 design Methods 0.000 abstract description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 abstract description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 12
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 5
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 5
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 3
- 229910021489 α-quartz Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000009897 systematic effect Effects 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 239000002318 adhesion promoter Substances 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000002775 capsule Substances 0.000 description 1
- 238000001311 chemical methods and process Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010970 precious metal Substances 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 1
- 230000000191 radiation effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/38—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using extension or expansion of solids or fluids
- G01J5/44—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using extension or expansion of solids or fluids using change of resonant frequency, e.g. of piezoelectric crystals
Abstract
Die Erfindung betrifft einen Strahlungssensor zum Nachweis von strahlungsinduzierter Dissipation. Sie ist anwendbar zur Bewertung von strahlungsinduzierter Waermeentwicklung bzw. Temperaturaenderung und/oder deren Folgeprozesse. Der erfindungsgemaesze Strahlungssensor besteht aus einem Schwingquarz-Sensorelement, welches eine temperaturabhaengige Frequenz aufweist und einer Empfaengerflaeche die unmittelbar auf diesem angeordnet ist. Der Strahlungssensor ist einfach aufgebaut, weist eine geringe statische und dynamische Buerde auf und liefert durch die unmittelbare Gewinnung von digitalen Signalen Meszwerte, die frei von stoerenden und verfaelschenden Einfluessen sind.{Strahlungssensor; strahlungsinduzierte Dissipation; Waermeentwicklung; Temperaturaenderung; Folgeprozesse; Schwingquarz-Sensorelement; temperaturabhaengige Frequenz; Empfaengerflaeche; Meszwerte}
Description
Hierzu 1 Seite Zeichnungen
Anwendungsgebiet der Erfindung
Die Erfindung betrifft einen Strahlungssensor zum Nachweis von strahlungsinduzierter Dissipation. Das Anwendungsgebiet erstreckt sich auf alle Gebiete von Wissenschaft und Technik, in denen es um die Bewertung von Strahlung durch einen qualitativen oder quantitativen Nachweis von strahlungsinduzierter Wärmeentwicklung bzw. Temperaturänderung und/oder Folgeprozessen von Wärmeentwicklung bzw. Temperaturänderungen geht. Der erfindungsgemäße Strahlungssensor kann insbesondere auf den Gebieten Optik, Optoelektronik, Lasertechnik und Gerätebau zum Nachweis oder zur Bewertung von Strahlung eingesetzt werden. Der erfindungsgemäße Strahlungssensor eignet sich besonders für Anwendungen im infraroten Spektralbereich und/oder zum Nachweis bzw. zur Bewertung von intensiver Laserstrahlung.
Charakteristik des bekannten Standes der Technik
Energiewandlungsprozesse sind mit Dissipation verbunden. Dabei gibt ein dynamisches System mit wenigen Freiheitsgraden Energie an ein dissipatives System mit vielen Freiheitsgraden (Wärmebad) ab. Die dissipierte, d. h. in Wärme umgewandelte Energie verändert die thermische Zustendsgröße Temperatur des dissipativen Systems, die eine Funktion der Energie des Systems und seiner Wechselwirkung mit der Umgebung ist. Somit sind auch strahlungsinduzierte dissipative Prozesse mittels Temperaturmessung nachweisbar.
Um zu quantifizierten Aussagen über die Temperatur zu kommen, kann man sich einer beliebigen, leicht meßbaren physikalischen Eigenschaft einer Substanz bedienen, die eine eindeutige Funktion der Temperatur ist, wobei jedoch für eine allgemeingültige Temperaturskala eine substanzunabhängige Eigenschaft zu wählen ist.
Nichtselektive (thermischs) Detektoren für elektromagnetische Strahlung sind im wesentlichen Thermometer, die sich im unmittelbaren Kontakt mit einer Empfängerfläche befinden, in der die einfallende Strahlung über Absorptionsprozese dissipiert.
Die dabei registrierte Temperaturänderung repräsentiert im Gleichgewicht ein Maß für den einfallenden Strahlungsfluß.
Strahlungsthermometer (Pyrometer) können nach den verwendeten Thermometertypen klassifiziert werden. Die gegenwärtig hauptsächlich eingesetzten thermischen Oetektortypen sind: Bolometer, Thermopaare und Golay-Zellen, die auf den Thermometertypen: Widerstandsthermometer, Thermopaar-Thermometer und Gasthermometer beruhen. Diese und weitere Temperaturmeßverfahren zum Nachweis, von Strahlung sind in einem in umfangreichen Maße vorhandenen Standard- und Originalschrifttum detailliert ausgeführt (2.B. H. Neumann und K. Stecker, Temperaturmessung, Akademie-Verlag Berlin, 1983;
F. Lieneweg, Handbuch der technischen Temperaturmessung, Friedr. Vieweg & Sohn Verlagsgesellschaft mbH, Braunschweig, 1976; A. Vasko, Infra-red Radiation, lliffe Books Ltd., London, 1968). Verschiedene Ausführungsformen von Strahlungsdetektoren sind z.B. in den Schriften DE 3709201, GB 8211219, EP 0285961 beschrieben.
Die Strahlungseinflüsse, die mit derartigen Detektoren zu messen sind, können sehr klein sein (bis < 10"9W), so daß eine maximale Empfindlichkeit gefordert ist. Weitere Forderungen betreffen einen möglichst schnellen Response, der insbesondere durch die dynamische Bürde Wärmekapazität des Meßsystems begrenzt wird. Durch die in bekannten thermischen Detektoren übliche Verwendung von thermoelektrischen Wandlern kommt das mit dem Wiedemann-Franzschen Gesetz verbundene Problem hinzu, daß gute elektrische Leiter auch gute Wärmeleiter sind. Somit ist die thermische Leitfähigkeit der thermoelektrischen Wandler einschließlich Zuiö.wngen eine weitere statische und dynamische Bürde.
Ein sehr genaues und elegantes digitalos Temperaturmeßverfahren beruht auf der Eigenschaft eines Quarzkristalls, seine auf dem piezoelektrischen Effekt beruhende Schwingungsfrequenz in Ab-
Bernjaminson, Linear Quartz Thermometer, Instruments & Control Sytems Vol. 38 No. 10 (1965) 115-119; P. Schöltzel, Temperaturmessung mit Quarzsensoren, VDI-Z112 (1970) 14-18; H. Ziegler, Temperaturmessung mit Schwingquarzen, Technische Messen 54 (1987) 124-129 bzw. Sonderheft Sensoren 88, (1988) 119-124]. Anwendungen dieses Temperaturmeßverfahrens in Strahlungssensoren sind jedoch bislang nicht bekannt geworden.
Schwingquarze sind dünne, mit Elektroden versehene Plättchen aus trigonalem kristallinem α-Quarz, die durch Anlegen einer elektrischen Spannung infolge des piezoelektrischen Effektes in eine Dicken-Schwingung versetzt werden können. Durch elektronische Rückkopplung entsteht ein efektromechanischer Oszillator mit einer temperaturabhängigen Frequenz, wobei die Temperaturabhängigkeit vom Schnittwinkel des Quarzes abhängig ist.
Der Tei neraturgang des linearen Temperaturkoeffizienten α hat in Abhängigkeit vom Schnittwinkel Θ beim sogenannten AT-Schnitt eine Nullstelle, so daß die Frequenz des Quarzes f(T) = f0 (1 + aT) praktisch nicht mehr von der Temperatur abhängt (R Bechmann, A. D. Ballato, T. J. Lukaszek, Higher-order temperature coefficients of the elastic stiffness and compliances of alpha quartz, Proc. IRE 50 [1962] 1812-1822). Dieser Schnittwinkel wird deshalb heute bei fast allen technischen
Schwingquarzanwendunnen eingesetzt, wie z.B. bei der hochgenauen digitalen Zeitmessung oder der Schwingquarzmonitorierung von Schichtdicken in Beschichtungsprozessen. Für Temperaturmeßquarze ist dagegen der HT-Schicht vorteilhaft, da er einen maximalen linearen Temperaturkoeffizienten α von rund +90 · 10"6K""1 liefert, was eine Frequenzänderung von 0,001% pro Kelvin im Anwendungsintervall von 10. ..770 K entspricht. Dies ist zwar ein kleiner Meßeffekt, der aber wegen der hohen Stabilität und Präzision der Schwingquarze mit rein digitalen Methoden problemlos auswertbar ist. Eine exakte Analyse der Temperaturabhängigkeit der Resonanzfrequenz ergibt schwache, systematische Terme höherer Ordnung gemäß f(T) = f0 (1 + aT ßT2 + ΓΤ3). Mit den für den HT-Schnitt typischen Temperaturkoeffizienten α = 90 · 10"6K"', β = 60· 10"9K"1, Γ = 30· 10'12K"1 ist die Nichtlinearität β/α kleiner 10"3; sie kannz. B. mit Mikroprozessorsystemen problemlos korrigiert werden. Damit ist ein Schwingquarz mit HT-Schnitt, dessen Resonanzfrequenz fast nur noch linear von der Temperatur abhängt, als Temperatursensor vorzüglich geeignet, Bei kalibrierten Sensoren kann man mit einem Fehler von 0,002 K rechnen; relative Temperaturmessungen sind noch genauer ausführbar.
Über die o.g. Anwendungen hinaus sind durch die Schrift US 3164004 Anordnungen mit Schwingquarzen bekannt geworden, bei denen die chemische Wechselwirkung von Schwingquarzen mit Umgebungsmedien zum selektiven Nachweis von chemischen Prozessen genutzt wurde. Weiterhin wurde ein Schwingquarz mit integriertem Heizelement zur Messung elektrischer Größen bekannt (US 3531663).
Der Anwendbarkeit von Schwingquarz-Temperatursensoren für den Nachweis von Strahlung stehen jedoch die bisher bekannten Ausführungsformen entgegen, die im o.g. Schrifttum hermetisch gekapselte Sensorelemente sind, wobei zur Wärmeleitung von der Kapsel zum Schwingquarz Schutzgase (z. B. Helium) verwendet werden. Dadurch sind bekannte Schwingquarz-Temperatursensoren ausschließlich Berührungssensoren, deren dynamische Bürde sich aus der Wärmekapazität des eigentlichen Sensors und des Gehäuses ergibt, d. h. bei jeder Temperaturänderung muß dieses Teil mit erwärmt bzw. abgekühlt werden. Die Applikationsmöglichkeiten sind durch die erforderliche Immersion des Schwingquarz-Thermosensors in das zu messende Medium eingeschränkt.
Ziel der Erfindung
Ziel der Erfindung ist ein empfindlicher und schneller Strahlungssensor zum Nachweis von strahlungsinduzierter Dissipation, wobei insbesondere die Universalität und Flexibilität erhöht werden soll. Der Strahlungssensor soll einfach aufgebaut sein und Meßwerte, frei von störenden und verfälschenden Einflüssen liefern.
Darlegung des Wesens der Erfindung
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Strahlungssensor zum Nachweis von strahlungsinduzierter Dissipation zu entwickeln, der durch Vermeidung von thermoelektrischen Wandlern und eine reduzierte Wärmekapazität eine verringerte statische und dynamische Bürde aufweist. Durch sofortige Gewinnung von digitalen Signalen soll die Weiterleitung und Verarbeitung der Meßwerte frei von störenden bzw. verfälschenden Einflüssen gestaltbar sein.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit einem Strahlungssensor zum Nachweis von strahlungsinduzierter Dissipation bestehend aus Empfängerfläche und thermischem Detektor dadurch gelöst, daß der thermische Detektor ein Schwingquarz-Sensorelement ist, welches eine temperaturabhängige Frequenz aufweist und daß die Empfängerfläche unmittelbar auf diesem angeordnet ist. Anordnung und Konfiguration der Empfängerfläche unterliegen im allgemeinen keinen Einschränkungen. Ebenfalls ist es von untergeordneter Bedeutung, ob es sich bei dem Schwingquarz-Sensorelement um sogenannte Dickenschwinger oder Biegeschwinger handelt. Wesentlich ist nur eine maximale Abhängigkeit der Schwingquarzfrequenz von der Temperatur, die beispielsweise bei Schwingquarzen mit dem sogenannten HT-Schnitt erreicht werden kann. Kommt es durch Bestrahlung der Empfängerfläche zu dissipativen Prozessen, so wird die Temperaturänderung der Empfängerfläche infolge des Kontaktes mit dem Schwingquarz-Sensorelement auf den Schwingquarz übertragen und dann als Frequenzänderung nachgewiesen. Damit ist sowohl ein qualitativer Nachweis der strahlungsinduzierten Dissipation und/oder eine Quantifizierung der Wärme- oder Temperaturänderung möglich, wozu in Abhängigkeit von der konkreten Aufgabe Relativmessungen ggf. auch zu einem Vegleichsschwingquarz-Sensorelement oder Kalibrierungen eingesetzt werden können. Prinzipiell unterliegt die Art der Strahlung keinerlei Einschränkungen. Besonders zweckmäßig ist der erfindungsgemäße Strahlungssensorjedochfürden Nachweis elektromagnetischer Strahlung.
Sowohl für Gesamtstrahlungssensoren als auch für selektive Sensoren ist es von Vorteil, wenn die Empfängerfläche eine Absorberschicht ist, die in einem breiten Spektralbereich ein hohes Absorptionsvermögen besitzt. Diese Absorberschicht kann auf einer Elektrode und/oder dem Schwingquarz des Schwingquarz-Sensorelementes angeordnet sein. Effektiv wirkende Absorberschichten lassen sich auf an sich bekannte Art und Weise aus Kohlenstoff und/oder Metalloxiden und/oder Metallen herstellen. Besonders günstig ist die Verwendung von sogenannten Metallschwämmen (z. B. Platinschwamm) aus hochdispersen Metallen.
Selektiv wirkende Strahlungssensoren lassen sich auf einfache Art und Weise realisieren, wenn der Absorberschicht weitere Schichten bzw. Schichtsysteme vor- und/oder nachgelagert sind. Dabei ist es zweckmäßig, wenn die Absorberschiclit ein Bestandteil eines Interferenzschichtsystems ist, das in besonders günstigen Ausführungsformen ein Resonanzsystem ist. Mit dem erfindungsgemäßen Strahlungssensor gelingt ein empfindlicher und schneller Nachweis von Strahlung, wobei Universalität und Flexibilität der Applikation erweitert wurden. Der Strahlungssensor ist einfach aufgebaut und gestattet die sofortige Gewinnung von digitalen Signalen, die frei von störenden bzw. verfälschenden Einflüssen weitergeleitet und verarbeitet werden können. Durch Vermeidung von thermoelektrischen Wandlern und eine reduzierte Wärmekapazität wird die statische und dynamische Bürde erheblich verringert. Die Reduzierung der Wärmekapazität gelingt, indem die strahlungsinduzierte Dissipation in oder an einer massearmen schichtförmigen Empfängerfläche auf dem Schwingquarz-Temperatursensor erfolgt. Es ist prinzipiell denkbar, daß auch Folgeprozesse von strahlungsinduzierter Dissipation (z.B. Änderung der thermoelastischen Eigenschaften) oder Strahlung (z. B. Swelling) zum Nachweis und/oder zur Bewertung der Strahlung herangezogen werden können.
Ausführungsbeispiele
Die Erfindung soll anhand des in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispieles näherterläutert werden. Es zeigt
Fig. 1: eine schematische Darstellung der Vorder- (a) und Seitenansicht (b) des erfindungsgemäßen Strahlungssensors auf der Grundlage des Nachweises von strahlungsinduzierter Dissipation mittels Schwingquarz-Sensorelement in Form eines Dickenschwingers vorzugsweise zur Bewertung von CO2-Laserstrahlung.
Die in Fig. 1 dargestellten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Strahlungssensors umfaßt ein dickenschwingungsfähiges Quarzkristallplättchen 1 mit auf gegenüberliegenden Seiten des Quarzkristallplättchen 1 befindlichen Elektroden 2, die die in Fig. 1 dargestellte, auch bei herkömmlichen Schwingquarz-Sensorelementen übliche Konfiguration aufweisen. Erfindungsgemäß ist auf einer Seite des Quarzkristallplättchens 1 auf einer Elektrode 2 die Empfängerfläche 3 angeordnet, die in einem speziellen Ausführungsbeispiel eine Absorberschicht beispielsweise aus Gold- oder Platinschwamm ist. Die Einfallsrichtung des Laserstrahls ist in Fig. 1 durch die Pfeilrichtung angegeben. In einer speziellen Ausführungsform wird die Strahlung eines CO2-Lasers mit der Wellenlänge 10,6Mm verwendet, die hinsichtlich der Energie- bzw. Leitungsflächendichte bewertet werden soll. Das Quarzkristallplättchen 1 wird aus synthetischem α-Quarz hergestellt und mit nicht dargestellten Elementen, die gleichzeitig elektrische Zuführungen sein können, gehaltert. Die Realisierung des Schwingquarz-Sensorelementes unterliegt im allgemeinen keinen Einschränkungen. Für die Empfindlichkeit des Strahlungssensors ist jedoch wesentlich, daß der lineare Temperaturkoeffizent der Resonanzfrequenz des Schwingquarzes maximiert ist, was z. B. durch den sogenannten HT-Schnitt realisiert werden kann.
Sollen jedoch in prinzipiell denkbaren Strahlungssensoren Folgeprozesse von Strahlung oder strahlungsinduzierter Dissipation zum Nachweis und/oder zur Bewertung der Strahlung herangezogen werden, so können auch eine temperaturunabhängige Frequenz aufweisende Schwingquarze verwendet werden, die z.B. den sogenannten AT-Schnitt besitzen. Als Elektroden 2 dienen aufgedampfte und/orier eingebrannte Metallbeläge aus Silber, Gold oder anderen Edelmetallen. Diese Elektroden 2 sind über nicht dargestellte elektrische Verbindungselemente mit ebenfalls nicht dargestellten elektronischen Einheiten verbunden, die der Versorgung mit einer Anregungsspannung, der Meßsignalgewinnung sowie der Kompensation von systematischen Fehlern dienen. Die Empfängerfläche 3 kann als Absorberschicht mit Hilfe von bekannten Beschichtungsverfahren, wie z. B. Aufdampfen oder Sputtern unter Einhaltung der für die jeweilige schichtbildende Substanz bzw. für die Absorptionseigenschaften erforderlichen Depositionsbedingungen hergestellt werden. Dabei ist es besonders zweckmäßig, wenn durch an sich bekannte Variation der Depositionsbedingungen eine der Elektroden 2 und die Empfängerfläche 3 in einem einzigen Verfahrensgang beispielsweise durch Übergang von Gold in Goldschwamm hergestellt werden. Haftvermittler zwischen der Goldelektrode und dem Quarzkristallplättchen können zweckmäßig sein. Durch die in Fig. 1 dargestellte Elektrodenanordnung wird beim Anliegen oszillierender Spannungen mit Richtwerten von einigen Volt erreicht, daß das Quarzkristallplättchen 1 aufgrund des piezoelektrischen Effektes in eine Dicken-Scherschwingung versetzt wird. Der Temperaturgang dieser Frequenz hat bei dem sogenannten HT-Schnitt ein Maximum. Die Frequenz des Quarzes f(T) = f0 (1 + aT) ändert sich dabei im Anwendungsintervall von 10...770K mit dem für den HT-Schnitt charakteristischen linearen Temperaturkoeffizienten α von rund +90 · 10~eK~1 um ca. 0,001 % pro Kelvin. Kommt es nun aufgrund von Bestrahlung der Empfängerfläche 3 beispielsweise durch intensive CO2-Laserstrahlung (Dauerstrich oder Impuls) infolge von Absorptionsprozessen zu einer Temperaturänderung 5T der Empfängerfläche 3, so kommt es auch im Quarzkristallplättchen 1 durch Wärmetransfer zu einer Temperaturänderung δΤ, die mit einer hohen Präzision und Stabilität durch elektronische Einheiten als Frequenzänderung ?5f = fo(1 + αδΤ) nachgewiesen werden kann. Bei entsprechender Kalibrierung des Schwingquarz-Sensorelementes beispielweise mit amtlich geeichten Platinwiderständen, können auch die entsprechenden Temperaturen mit einer hohen Genauigkeit festgestellt werden. Mit den so gewonnen Meßgrößen können Eigenschaften der Strahlung, beispielsweise die Energie- und Leistungsflächendichte ermittelt werden. Mit dem erfindungsgemäßen Strahlungssensor gelingt es auf eine experimentell und methodisch einfache Art und Weise, Strahlung qualitativ und quantitativ schnell, empfindflich ur.d stabil nachzuweisen, wobei die Realisierung von GesamtstrahUingssensoren der selektiven Strahlungssensoren auf einfache Art und Weise mit leichter Signalinterpretation möglich ist. Da die Art der Strahlung im allgemeinen keinerlei Einschränkungen unterliegt, ist eine hohe Universalität und Flexibilität der Applikation gegeben. Durch die sofortige Gewinnung von digitalen Signalen können die gewonnenen Meßwerte frei von störenden bzw. verfälschenden Einflüssen verarbeitet und weitergeleitet werden. Die statischen und dynamischen Eigenschaften des Strahlungssensors werden insbesondere durch Vermeidung von thermoelektrischen Wandlern und durch Reduzierung der Wärmekapazität des Sensors verbessert. Der eilindungsgemäße Strahlungssensor ist inbesondere für den infraroten Spektralbereich als IR-Detektor, Laserkalorimeter u.dgl. einsetzbar.
Claims (4)
1. Strahl jngssensor zum Nachweis von strahlungsinduzierter Dissipation best"'.9nd aus Empfängerfläche und thermischen Detektor, dadurch gekennzeichnet, daß derthermische Detektor ein Schwingungsquarz-Sensorelement ist, welches eine temperaturabhängige Frequenz aufweist und daß die Empfängerfläche unmittelbar auf diesem angeordnet ist.
2. Strahlungssensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Empfängerflächo eine Absorberschicht ist.
3. Strahlungssensor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Absorberschicht weitere Schichten oder Schichtsysteme vor- und/oder nachgelagert sind.
4. Strahlungssensor nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Absorberschicht aus Kohlenstoff und/oder Metalloxiden und/oder Metallen besteht.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD33976890A DD293890A5 (de) | 1990-04-17 | 1990-04-17 | Strahlungssensor |
DE19914109399 DE4109399C2 (de) | 1990-04-17 | 1991-03-22 | Strahlungssensor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD33976890A DD293890A5 (de) | 1990-04-17 | 1990-04-17 | Strahlungssensor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DD293890A5 true DD293890A5 (de) | 1991-09-12 |
Family
ID=5617847
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DD33976890A DD293890A5 (de) | 1990-04-17 | 1990-04-17 | Strahlungssensor |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DD (1) | DD293890A5 (de) |
DE (1) | DE4109399C2 (de) |
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