DD276218A3 - ARRANGEMENT FOR AVOIDING THE VARIABLE OPENING ERROR IN RASTER MICROSCOPES WITH Z-SCAN - Google Patents
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Abstract
Anordnung zur Vermeidung des variablen Oeffnungsfehlers in Rastermikroskopen mit z-Scan, die Anwendung in Rastermikroskopen mit konfokalem Strahlengang findet und fuer Durchlicht- und fuer Auflichtverfahren geeignet ist. Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Anordnung zu schaffen, bei der in Abhaengigkeit von einer eingestellten Fokustiefe z1, 2, ...n die entstehenden unterschiedlichen Oeffnungsfehler minimiert werden. Die Aufgabe loest eine erfindungsgemaesse Anordnung dadurch, dass die lichtbuendelerzeugenden und -empfangenden Mittel und/oder mindestens Teile der das Lichtbuendel beeinflussenden optischen Systeme beweglich entlang des Strahlenganges angeordnet sind und diese Mittel mit einer zentralen Steuereinheit ueber eine Stelleinrichtung in Wirkverbindung stehen.Arrangement for avoiding the variable opening error in scanning microscopes with z-scan, which is used in scanning microscopes with a confocal beam path and is suitable for transmitted light and incident light methods. The invention has for its object to provide an arrangement in which, depending on a set focus depth z1, 2, ... n, the resulting different opening errors are minimized. The object is achieved by an arrangement according to the invention in that the light beam generating and receiving means and / or at least parts of the optical systems influencing the light beam are arranged movably along the beam path and these means are in operative connection with a central control unit via an adjusting device.
Description
Hierzu 3 Seiten ZeichnungenFor this 3 pages drawings
Die Anordnung zur Vermeidung des variablen Öffnungsfehlers in Rastermikroskopen mit z-Scan findet Anwendung in Rastermikroskopen mit konfokalem Strahlengang und z-Scan. Sie ist für Durchlicht- und Auflichtverfahren geeignet.The arrangement for avoiding the variable aperture error in scanning microscopes with z-scan is used in scanning microscopes with confocal beam path and z-scan. It is suitable for transmitted and reflected light methods.
Es ist bekannt, daß Lichtrastermikroskope vom konfokalen Typ eine sehr geringe Schärfentiefe haben (US-PS 3013467). Es ist daner möglich, Intensitätskurven in Abhängigkeit von der Fokustiefe ζ im Objekt aufzunehmen, also z-Sranning durchzuführen. Dabei durchdringen im Falle von Durchlichtbeobachtung die beiden Hälften des Lichtbündeldoppelkegels verschiedene Schichtdicken des Objektes. Bei Verwendung von starken Trockenobjektiven oder von Immersionsobjektiven in Verbindung mit Objekten, die nicht genau die geforderte Brechzahl haben, kommt es beim Durchfokussieren zu verschieden starken Öffnungsfehlern in den Hälften des Lichtbündeldoppelkegels. Bei den hohen scheinbaren Aperturen des konfokalen Aufbaus kann dieser Öffnungsfehler nicht unberücksichtigt bleiben, wenn höchste Abbildungsgüte vorlangt wird (Brakenhoff, G. I. et. al in Ash, E.Α., Ed .Scanned image Microscopy", London, 1980).It is known that confocal-type light scanning microscopes have a very shallow depth of field (US Pat. No. 3,013,467). It is then possible to record intensity curves as a function of the depth of focus ζ in the object, ie to perform z-scanning. In the case of transmitted light observation, the two halves of the light beam double cone penetrate different layer thicknesses of the object. When using strong dry lenses or immersion objectives in conjunction with objects that do not exactly have the required refractive index, it comes to the focussing to different strong opening errors in the halves of the light beam double cone. With the high apparent apertures of the confocal design, this aperture error can not be disregarded if highest imaging quality is anticipated (Brakenhoff, G.I. et al., Ash, E.Α., Ed. Scanned Image Microscopy, London, 1980).
Ziel der ErfindungObject of the invention
Das Ziel der Erfindung besteht darin, eine Anordnung zur Vermeidung des variablen Öffnungsfehlers in Rastermikroskopen mit z-Scan zu schaffen, die technisch mit geringem Aufwand realisierbar ist.The object of the invention is to provide an arrangement for avoiding the variable opening error in scanning microscopes with z-scan, which is technically feasible with little effort.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Anordnung zur Vermeidung des variablen Öffnungsfehlers in Rastermikroskopen mit z-Scan im konfokalon Strahlengang zu schaffen, bei der in Abhängigkeit von einer eingestellten Fokustiefe Zi,j...„ die entstehenden unterschiedlichen Öffnungsfehler durch eine selbsttätige Einrichtung stets minimiert werden. Erfindungsgemäß wird die Aufgabe durch eine Anordnung zur Vermeidung des variablen Öffnungsfehlers in Rastermikroskopen mit z-Scan, eine Punktlichtquelle, einen Lichtdetektor mit punktförmiger empfindlicher Fläche und mindestens ein optisches System, zur Erzeugung von zur punktförmigen Lichtquelle optisch konjugierten Fokussen im Objekt und auf der punktförmigen empfindlichen Fläche des Lichtdetektors, sowie Mittel zur Abrasterung des Objektes aufweisend, dadurch gelöst, daß .Tiindestens eines der Elemente Punktlichtquelle, Lichtdetektor und besagtes optisches System beweglich entlang des Strahlenganges angeordnet ist, daß die beweglichen Elemente mit einer zentralen Steuereinheit über eine Stelleinrichtung in Wirkverbindung stehen und daß eine z-Scanstelleinrichtung mit der zentralen Steuereinheit und der Stelleinrichtung verbunden ist.The invention has for its object to provide an arrangement for avoiding the variable aperture error in scanning microscopes with z-scan in the confocal beam path, in which, depending on a set focal depth Zi, j ... "the resulting different opening errors by an automatic device always be minimized. According to the invention by an arrangement for avoiding the variable aperture error in scanning microscopes with z-scan, a point light source, a light detector with point-sensitive surface and at least one optical system, for generating optically conjugate to the point light source focus in the object and on the point-sensitive Surface of the light detector, as well as means for scanning the object having, solved in that .Ti at least one of the elements point light source, light detector and said optical system is movably disposed along the beam path, that the movable elements with a central control unit via an actuating device in operative connection and that a z-scan adjustment device is connected to the central control unit and the adjusting device.
Wird mittels der 7-Scanstelleinrichtung nacheinander eine bestimmte Fokustiefe Z1,2 ...„ im zu betrachtenden Objekt eingestellt, so werden die entlang des Strahlenganges beweglichen Mittel bei jedem Scanschritt jeweils um einen definierten Weg s)t2,...„ verstellt, der so gewählt ist, daß beide Hälften des Lichtbündeldoppelkegels zusammen oder einzeln einen minimalen Öffnungsfehler aufweisen.If a specific focus depth Z 1 , 2 ... Is set successively in the object to be observed by means of the 7-scan adjustment device, then the means movable along the beam path are displaced by a defined path s ) t 2,... which is selected such that both halves of the light beam double cone together or individually have a minimum opening error.
Die Realisierung der Einstellung des Weges s,,2...nerfolgt auf Signal der zentralen Steuereinheit über die Stelleinrichtung, wobei als Stelleinrichtung an sich bekannte, physikalisch wirkende Mittel Anwendung finden. Vorteilhafte erfindungsgemäße Ausführungsformen bestehen darin, daß zur Durchführung vonThe implementation of the setting of the path s ,, 2 ... n is carried out on the signal of the central control unit via the adjusting device, which are used as adjusting device known per se, physically acting means application. Advantageous embodiments of the invention are that for carrying out
• Auflichtmikroskopie oin erstes optisches System und• reflected light microscopy oin first optical system and
• bei Durchlichtmikroskopie ein erstes und oin zweites optisches System angewandt werden,Using first and second optical systems in transmitted light microscopy,
weiterhin darin, daß das erste optische System oder daß das erste und das zweite optische System odei daß die Punktlichtquelle,der Lichtdetektor und mindestens eines der beiden optischen Systeme beweglich angeordnet sind.Further, that the first optical system or that the first and the second optical system odei that the point light source, the light detector and at least one of the two optical systems are arranged to be movable.
transmitterten Lichtes Strahlung registriert wird, di.i durch andere optische Wechselwirkungen vom Objekt ausgeht, wie z. B.Transmitted light radiation is registered, di.i by other optical interactions emanating from the object, such. B.
Strahlengang und z-Scan, mit der erfindungsgemäßen Anordnung, Fig. 1 a: die einstellbare FokustiefeZ|,j...„ im Objekt undBeam path and z-scan, with the inventive arrangement, Fig. 1 a: the adjustable focal depth Z |, j ... "in the object and
eines Rastermikroskopes. Das von einer Punktlichtqueiie 1 erzeugte und ausgesandte Lichtbündel I. gelangt nach Passiereneines ersten optischen Systemes 2, welches mindestens aus einer Linse/Linsengruppe besteht, zum Objekt 6. Von dem Objekt 6beeinflußt, ti if ft das Lichtbündel L nach Passieren eines zweiten optischen Systemos 3, welches mindestens aus einer Linse/a scanning microscope. The light beam I generated and emitted by a Punktlichtqueiie 1 passes after passing a first optical system 2, which consists of at least one lens / lens group, the object 6. Affected by the object 6, ti if ft the light beam L after passing through a second optical Systemos third , which consists of at least one lens /
einer x.y-Scanstelleinrichtung 5 und einer z-Scanstelleinrichtung 9 verbunden.an x.y scan adjustment device 5 and a z-scan adjustment device 9 connected.
zentralen Steuereinheit 13 in Wirkverbindung. Die z-Scanstelleinrichtung 9 ist mit d6r zentralen Steuereinheit 13 und mit dercentral control unit 13 in operative connection. The z-scan adjusting device 9 is with d6r central control unit 13 and with the
zwischen Änderungsbetrag der Fokustiefe und Änderungsbetrag de* Verstellweges der beweglichen Mittel gespeichert.saved between change amount of focal depth and amount of change de * adjustment path of the moving means.
bestimmte Fokustiefe Zi. }....„, siehe Figur 1 a, im zu betrachtenden Objekt 6 eingestellt, so werden die entlang des Strahlengangesbeweglichen Mittel bei jedem Scanschritt ζ jeweils um einen definierten Weg S1, j ..„ verstellt, der so gewählt ist, daß die erstecertain focus depth Zi.}... ", see FIG. 1a, in the object 6 to be viewed, the means movable along the beam path are adjusted by a defined path S 1 , j it is chosen that the first
des zweiten optischen Systems 2 und 3 gleichermaßen ausgebildet sind. In dieser Ausführungsform erfolgt die Verstellung derof the second optical system 2 and 3 are equally formed. In this embodiment, the adjustment of the
miteinander verbunden.connected with each other.
und/oder der Lichtdetektor 4 sind Doweglich entlang des Strahlengangos angeordnet. Bei dieser Ausführungsform sind dieand / or the light detector 4 are arranged Doweglich along the Strahlengangos. In this embodiment, the
Claims (9)
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