DE102009012293A1 - Light auto-focusing method for use in microscope, involves arranging detector elements such that profiles of radiation property registered by detector elements are different and focus position is set based on profiles - Google Patents
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Abstract
Description
Die Anmeldung betrifft ein Autofokusverfahren, bei dem Licht einer Lichtquelle in einem Messlichtfokus in einer Probe fokussiert und von dort zurückgeworfen wird und das zurückgeworfene Licht durch ein optisches System und zumindest eine Blendenöffnung in zwei Lichtpfaden auf zumindest zwei Detektorelemente geführt wird.The The application relates to an autofocus method in which light from a light source focused in a sample light focus in a sample and thrown back from there is and the reflected light by an optical System and at least one aperture in two light paths is guided on at least two detector elements.
Stand der TechnikState of the art
Zur automatischen Fokussierung von Mikroskopen auf eine Probe sind zwei Methoden bekannt:
- – Es wird die Position einer Probe oder die Entfernung der Probe zu einem Bezugspunkt gemessen, indem von der Probe reflektiertes Licht auf Schemen, Intensität oder dergleichen oder interferometrisch untersucht wird.
- – Es wird das Bilder der Probe auf Kontrast, Auflösung, Autokorrelation oder Phasenkontrast hin untersucht.
- The position of a sample or the distance of the sample to a reference point is measured by examining light reflected from the sample for patterns, intensity or the like or interferometrically.
- The image of the sample is examined for contrast, resolution, autocorrelation or phase contrast.
In der Mikroskopie besteht eine Probe üblicherweise aus einem zu untersuchenden Probenmaterial, das auf einen lichtdurchlässigen Probenträger aufgebracht und mit einem dünnen lichtdurchlässigen Abdeckglas abgedeckt ist. Eine Positionsmessung des Probenmaterials führt häufig zur Messung der Position einer der Reflexionsebenen an den Schichtgrenzen der Probe. Da ein Reflex an der Luft-Abdeckglas-Grenzschicht weit stärker ist als ein Reflex an einer Grenzschicht am Probenmaterial, überstrahlt der Luft-Abdeckglas-Reflex typischerweise den für einen Autofokus geeigneteren Reflex an einer Grenzschicht am Probenmaterial.In In microscopy, a sample usually consists of one to be examined sample material, which is on a translucent Sample carrier applied and with a thin translucent cover glass is covered. A position measurement Of the sample material often leads to the measurement of Position of one of the reflection planes at the layer boundaries of the sample. Because a reflection at the air-cover glass boundary layer far stronger is over-radiated as a reflection at a boundary layer on the sample material the air cover glass reflex is typically the one for a Autofocus more suitable reflex at a boundary layer on the sample material.
Aus
der
Es ist eine Aufgabe der Erfindung, ein Autofokusverfahren anzugeben, mit dem ein optisches System, z. B. ein Mikroskop, schnell und genau auf eine reflektierende Schicht einer Probe fokussierend eingestellt werden kann.It It is an object of the invention to provide an autofocus method, with an optical system, for. As a microscope, fast and accurate focused on a reflective layer of a sample can be.
Lösung der AufgabeSolution of the task
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren der Eingangs genannten Art gelöst, bei dem der Messlichtfokus erfindungsgemäß in unterschiedlich stark Licht zurückwerfenden Schichten der Probe bewegt wird und die Detektorelemente so angeordnet sind, dass hierbei Verläufe einer von den Detektorelementen registrierten Strahlungseigenschaft unterschiedlich sind und eine Fokusposition in Abhängigkeit von den Verläufen eingestellt wird. Durch die unterschiedlichen Verläufe der registrierten Strahlungsverläufe kann die Position einer besonders ausgezeichneten Schicht in der Probe, z. B. einer reflektierenden Grenzfläche, gefunden und darauf oder auf eine in einem bekannten Abstand dazu angeordnete Fokuszielebene fokussiert werden.These Task is solved by a method of the type mentioned, in which the measurement light focus according to the invention in different strong light-reflecting layers of the Sample is moved and the detector elements are arranged so that in this case, courses of a registered by the detector elements Radiation property are different and a focus position set depending on the progressions becomes. Due to the different courses of the registered Radiation gradients can be the location of a particularly excellent Layer in the sample, z. B. a reflective interface, found and on top or one at a known distance from it focused focus target level are focused.
Auch Flächen, z. B. Grenzflächen, sind im Folgen als Schichten zu verstehen. Eine der Schichten ist vorteilhafterweise eine Grenzfläche. Die Lichtpfade sind zweckmäßigerweise zumindest teilweise voneinander getrennt, insbesondere sind sie im optischen System voneinander getrennt. Der Verlauf kann durch punktuelle Messungen an mehreren Positionen des Messlichtfokus erfasst werden, zweckmäßigerweise nach Lichtpfaden getrennt. Die Strahlungseigenschaft des zurückgeworfenen Lichts kann die Strahlungsintensität sein. Die eingestellte Fokusposition ist eine gewünschte Fokusposition, in der das optische System zweckmäßigerweise so zur Probe angeordnet ist, dass eine Bildaufnahme der Probe zu gewünschten Bildern führt.Also Surfaces, z. As interfaces, are as follows To understand layers. One of the layers is advantageously an interface. The light paths are expediently at least partially separated from each other, in particular they are separated in the optical system. The course can be through spot measurements are taken at several positions of the measuring light focus are suitably separated according to light paths. The radiation property of the reflected light can be the Be radiation intensity. The set focus position is a desired focus position in which the optical System suitably arranged as sample is that an image capture of the sample to desired images leads.
Außerdem kann durch die Erfindung die optische Weglänge der Lichtpfade bestimmt werden. Zweckmäßigerweise werden die optischen Weglängen der Lichtpfade unterschiedlich gewählt. Hierdurch kann durch die getrennte Auswertung der optischen Weglängen der Lichtpfade ein Abweichungssignal zu einer gewählten reflektierenden/streuenden Probenstruktur generiert und darauf oder auf eine in einem bekannten Abstand dazu angeordnete Fokuszielebene fokussiert werden. Eine Licht zurückwerfende Schicht kann eine reflektierende und/oder streuende Probenstruktur sein und kann insbesondere eine Grenzschicht sein, insbesondere eine an das Probenmaterial angrenzende Grenzschicht bzw. Grenzfläche.Furthermore can by the invention, the optical path length of the light paths be determined. Appropriately, the optical path lengths of the light paths chosen differently. This can be achieved by the separate evaluation of the optical path lengths the light paths a deviation signal to a selected generated reflective and scattering sample structure and on it or to a focus target plane located at a known distance therefrom be focused. A light-reflecting layer can may be and may be a reflective and / or scattering sample structure in particular a boundary layer, in particular one to the sample material adjacent boundary layer or interface.
Das Autofokusverfahren ist ein Verfahren zum automatisierten Fokussieren des optischen Systems auf eine gewünschte Fokusposition bzw. Fokuszielebene, z. B. innerhalb der Probe. Ist auf die Fokuszielebene fokussiert, kann das optische System ein dort angeordnetes Objekt in eine Bildebene scharf abbilden, in der zweckmäßigerweise ein Detektor bzw. eine Kamera angeordnet ist. Nach der Autofokussierung kann die Probe mit Hilfe einer Kamera abgebildet werden.The Autofocus method is a method of automated focusing of the optical system to a desired focus position or focus target level, z. Within the sample. Is on the focus target level focused, the optical system can be an object arranged there in an image plane sharply, in the expediently a detector or a camera is arranged. After autofocusing the sample can be imaged using a camera.
Die Probe kann zur Untersuchung vorbereitetes Probenmaterial, einen Träger, auf den es aufgebracht ist, und ein Abdeckglas, das es abdeckt, umfassen. Ebenso eignen sich eine für das Autofokuslicht lichtdurchlässige Schichtstruktur, an deren Schichtgrenzen Reflexion oder Streuung des verwendeten Autofokuslichts auftritt. Die Probe muss keine Lichtdurchlässigkeit für das Autofokuslicht nach der zur Fokussierung bestimmten Schicht aufweisen. Die Reflexion/Streuung an einer Grenzschicht, die hier beschrieben wird, kann auch durch reflektierende/streuende Partikelschicht bzw. Fehlstellenschicht im Material hervorgerufen werden. Die Schichtgrenzen können vorbehandelt (z. B. verspiegelt) werden um die Signale für das Autofokussystem zu erhöhen.The sample may be prepared for assay prepared sample material, a support to which it is applied, and a cover glass covering it believe it. Also suitable for the autofocus light translucent layer structure at the layer boundaries reflection or scattering of the autofocus light used occurs. The sample does not have to have light transmission to the autofocus light after the focusing layer. The reflection / scattering at a boundary layer, which is described here, can also be caused by reflecting / scattering particle layer or defect layer in the material. The layer boundaries can be pretreated (eg mirrored) to increase the signals for the autofocus system.
Die Fokuszielebene ist diejenige Ebene innerhalb der Probe, auf die das optische System fokussiert werden soll oder von der die Position des gewünschten Fokus in einem vorbestimmten Abstand entfernt sein soll. Die Fokuszielebene ist zweckmäßigerweise eine Reflexionsebene, an der einfallendes Licht reflektiert wird. Sie kann eine Grenzschicht innerhalb der Probe sein, z. B. die Ebene einer Glas-Probenmaterial-Grenzfläche. Ebenso könnte die Streuung an der Probe selbst ausgenutzt werden.The Focus target level is the level within the sample to which the optical system should be focused or from the position the desired focus at a predetermined distance away should be. The focus target level is expediently a reflection plane at which incident light is reflected. It may be a boundary layer within the sample, e.g. For example, the plane a glass-sample material interface. Likewise, the Scattering at the sample itself be exploited.
Das auf die Lichtpfade geleitete Licht stammt zweckmäßigerweise aus einer gemeinsamen Lichtquelle, wobei als Lichtquelle nicht nur originär strahlendes Material sondern auch eine reflektierende Schicht, eine Blendenöffnung oder dergleichen bezeichnet wird. Typischerweise wird eine ein- bzw. zweidimensionale Lichtquelle verwendet. Die beiden Lichtpfade sind zweckmäßigerweise symmetrisch zueinander gebildet und insbesondere symmetrisch zur optischen Achse des optischen Systems angeordnet.The Light directed onto the light paths is expediently obtained from a common light source, being used as a light source not only originally radiant material but also a reflective layer, an aperture or the like is called. typically, a one- or two-dimensional light source is used. The Both light paths are expediently symmetrical to each other formed and in particular symmetrical to the optical axis of the optical Systems arranged.
Die Lichtquelle, die insbesondere punktförmig ist oder mehrere Lichtpunkte umfasst, wird im Messlichtfokus in der Probe durch die Optik fokussiert. Der Messlichtfokus ist üblicherweise punktförmig, kann aber je nach Form der Lichtquelle alternativ ein- oder mehrdimensional sein und z. B. mehrere Punkte umfassen. Der Messlichtfokus liegt vorteilhafterweise im Fokus oder nahe des Fokus des zu fokusierenden optischen Systems. Der Fokus des optischen Systems kann eine Fokusebene sein. Ein im Fokus des optischen Systems liegendes Objekt wird vom optischen System in einer Bildebene scharf abgebildet. Es ist auch möglich, dass der Messlichtfokus in einer voreingestellten Entfernung vom Fokus des optischen Systems liegt. Hierdurch kann der Messlichtfokus auf eine Reflexionsebene eingestellt werden, z. B. eine Grenzschicht Deckglas-Probenmaterial, wobei der Fokus des opti schen Systems z. B. 20 μm entfernt von der Grenzschicht im Probenmaterial liegt.The Light source, which is in particular punctiform or more Points of light is in the measuring light focus in the sample through the Optics focused. The measuring light focus is usually punctiform, but may alternatively depending on the shape of the light source be one or more dimensional and z. B. include several points. The measuring light focus is advantageously in the focus or near the Focus of the optical system to be focused. The focus of the optical Systems can be a focal plane. One in focus of the optical system lying object is focused by the optical system in an image plane displayed. It is also possible that the measuring light focus at a preset distance from the focus of the optical system lies. This allows the measuring light focus on a reflection plane be set, for. B. a boundary layer cover glass sample material, wherein the focus of the optical system rule z. B. 20 microns away from the boundary layer in the sample material.
Von dem auf die Probe auftreffenden Licht wird ein Teil zurückgeworfen. Unter Zurückwerfen kann im Folgenden eine Reflexion und/oder eine Streuung verstanden werden. Die das Licht zurückwerfende Schicht kann eine reflektierende und/oder streuende Schicht sein. Wenn im Folgenden von Reflexion gesprochen wird, soll eine Streuung mit umfasst sein können.From a part of the light striking the sample is thrown back. Rejecting may be followed by a reflection and / or a dispersion can be understood. The light throwing back Layer can be a reflective and / or scattering layer. When we speak of reflection in the following, let a scatter can be included.
Die Lichtpfade treffen vorteilhafterweise aus unterschiedlichen Richtungen auf die Probe auf, so dass ihre Reflexe in unterschiedliche Richtungen abgestrahlt und so leicht getrennt voneinander ausgewertet werden können. Es erleichtert die Detektion der einzelnen Schichten in einer Schichtstruktur, wenn der Winkel der auftreffenden Lichtpfade so gewählt wird, dass Reflexe von benachbarten Schichten sich nicht überdecken. Wird eine streuende Schicht zur Bestimmung der Fokusposition verwendet, so sollte die Aufteilung der Lichtpfade erst im Detektionspfad erfolgen.The Light paths advantageously meet from different directions to the test, so that their reflexes in different directions be radiated and evaluated so easily separated from each other can. It facilitates the detection of the individual layers in a layered structure, when the angle of the incident light paths is chosen so that reflections from adjacent layers do not cover up. Is a scattering layer to Determining the focus position used, so should the division the light paths take place only in the detection path.
Vorteilhafterweise hat das Licht des Autofokussystems eine andere Frequenz als Licht, das zur Untersuchung bzw. Abbildung der Probe verwendet werden kann. Die Lichteigenschaft ist zweckmäßigerweise die Lichtintensität.advantageously, the light of the autofocus system has a different frequency than light, which can be used to study or image the sample. The light property is suitably the Light intensity.
Das optische System kann dasjenige eines Mikroskops sein. Es weist eine optische Achse auf, die üblicherweise senkrecht zu einer Probenebene gerichtet ist, in der sich die Probe erstreckt.The optical system may be that of a microscope. It has one optical axis, which is usually perpendicular to a Proscope is directed, in which the sample extends.
Die Lichtpfade zwischen Lichtquelle und Releflexionsschicht bzw. zwischen Reflexionsschicht und Detektor können als Beleuchtungspfade bzw. Detektionspfade bezeichnet werden. Ein Autofokuslichtpfad besteht somit aus einem Beleuchtungspfad und einem Detektionspfad. Der Unterschied in der optischen Weglänge kann nun sowohl im Beleuchtungspfad, im Detekti onspfad sowie in beiden beiden Pfaden erzeugt werden. Im Folgenden wird eine Realisierung im Detektionspfad beschrieben.The Light paths between the light source and releflection layer or between Reflection layer and detector can be used as illumination paths or detection paths are called. An autofocus light path exists thus from a lighting path and a detection path. The difference in the optical path length can now both in the illumination path, be generated in Detekti onspfad and in both paths. An implementation in the detection path will be described below.
Die
Messung der optischen Weglänge der Pfade erfolgt durch
mindestens eine, insbesondere jeweils eine Blende vor den Detektoren.
Durch eine weglängenabhängige Position der Lichtpfade
an der Blende, kann somit auf die optische Weglänge des Systems
geschlossen werden. Eine mögliche Realisation wird im Folgenden
beschrieben:
Die Detektorelemente sind z. B. relativ zu einem
Element des optischen Systems so angeordnet, z. B. zu einer Blende,
dass Verläufe einer von den Detektorelementen registrierten
Strahlungseigenschaft zueinander unterschiedlich sind. Das Element
des optischen Systems kann eine Blende, z. B. unmittelbar vor den
Detektorelementen, ein Strahlteiler, ein Spiegel oder ein anderes
geeignetes Element sein.The measurement of the optical path length of the paths is carried out by at least one, in particular in each case a diaphragm in front of the detectors. By means of a path length-dependent position of the light paths at the diaphragm, it is thus possible to deduce the optical path length of the system. A possible realization is described below:
The detector elements are z. B. relative to an element of the optical system so arranged, for. For example, to a diaphragm that curves of a registered by the detector elements radiation property are different from each other. The element of the optical system may include a shutter, e.g. B. immediately before the detector elements, a beam splitter, a mirror or another suitable element.
Die Blende bzw. deren Blendenöffnung ist vorteilhafterweise in einer Bildebene des optischen Systems angeordnet, also in einer Ebene, in der ein vom optischen System fokussierter Gegenstand abgebildet wird. Die Blendenöffnung kann ein Abbild der Lichtquelle sein.The aperture or its aperture is advantageously in an image plane of the optical Systems arranged, ie in a plane in which an object focused by the optical system is imaged. The aperture can be an image of the light source.
Die Blendenöffnung ist zweckmäßigerweise nicht wie üblich symmetrisch um die optische Achse des optischen Systems angeordnet sondern unsymmetrisch zur optischen Achse, insbesondere unsymmetrisch zur optischen Achse der beiden Lichtpfade am Ort der Blendenöffnung. Insbesondere ist sie vollständig außerhalb der optischen Achse angeordnet. Hierdurch kann auf einfache Weise eine Selektion des einen oder anderen Lichtpfads für eine getrennte Auswertung an verschiedenen Positionen des Messlichtfokus erreicht werden.The Aperture is not expediently as usual, symmetrical about the optical axis of the optical Systems arranged but asymmetrical to the optical axis, in particular unbalanced to the optical axis of the two light paths at the place of Aperture. In particular, it is complete arranged outside the optical axis. This can in a simple way a selection of one or the other light path for a separate evaluation at different positions of the measuring light focus can be achieved.
Eine besonders genaue Fokussierung kann erreicht werden, wenn die Verläufe kontinuierliche erfasst werden.A Precise focusing can be achieved when the gradients be recorded continuously.
In einer vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung wird ein Fokus des optischen Systems so eingestellt, dass die Signale der Detektorelemente in einem festen Verhältnis zueinander stehen. Bei einem Lichteinfall auf die Detektorelemente in einem festen Verhältnis kann in einfacher Weise eine Symmetrieposition zwischen den Lichtpfaden und damit die Fokuszielebene erfasst werden. Noch einfacher kann dies geschehen, wenn die Signale gleich stark sind. Der Weglängenunterschied der Pfade wird so gewählt, dass bei Überlagerung der Signale die Signale an einer Flanke überlappen und somit einen Schnittpunkt aufweisen. In diesem Schnittpunkt sind die Signale gleich stark. Mithilfe eines Nulldurchgangs des Differenzsignals kann die gleiche Stärke der Signale einfach erfasst werden.In an advantageous embodiment of the invention will a focus of the optical system adjusted so that the signals the detector elements in a fixed relationship to each other stand. At a light incident on the detector elements in a fixed Ratio can easily be a symmetry position between the light paths and thus the focus target plane are detected. This can be done even easier if the signals are equally strong. The path length difference of the paths is chosen that when superimposed on the signals at a Flank overlap and thus have an intersection. At this intersection, the signals are equally strong. With help of a Zero crossing of the difference signal can be the same strength of the Signals are easily detected.
Eine weitere Ausführungsform der Erfindung sieht vor, dass eine Zielposition eines Fokus des optischen Systems mit Hilfe der Signale der Detektorelemente erfasst wird und der Fokus mit Hilfe der erfassen Zielposition durch einen Aktuator eingestellt wird. Die Zielposition kann eine vom Aktuator ausgegebene Position sein, z. B. diejenige Position, an der die Signale der Detektorelemente gleich sind. Es ist auch möglich, diese Einstellung nur als Voreinstellung zu verwenden. Alternativ oder z. B. als Feineinstellung zusätzlich ist es denkbar, die Zielposition durch ein Regeln zu erreichen, wobei die Detektorsignale als Regeleingangssignale und ein Signal zum Steuern des Aktuators als Regelausgangssignal verwendet wird.A Another embodiment of the invention provides that a Target position of a focus of the optical system by means of the signals the detector elements is detected and the focus with the help of capture Target position is set by an actuator. The target position may be a position output by the actuator, e.g. B. the one Position at which the signals of the detector elements are the same. It is also possible, this setting only as a default to use. Alternatively or z. B. as a fine adjustment in addition it is conceivable to reach the target position by a rule, wherein the detector signals as control input signals and a signal is used to control the actuator as a control output signal.
Eine einfache und zuverlässige automatische Fokussierung kann erreicht werden, wenn die Detektorelemente so kalibriert sind, dass die Stärke ihres Signals, das von einer Grenzschicht zurückgeworfenem Licht hervorgerufen wird, gleich ist. Hierbei liegt die Fokusposition zweckmäßigerweise in der reflektierenden bzw. das Licht zurückwerfenden Schicht. Alternativ können die Detektorelemente so eingestellt sein, dass ihre Signalstärke gezielt unterschiedlich ist, z. B. um einen gezielten Fokusoffset zu erreichen.A simple and reliable automatic focusing can be achieved when the detector elements are calibrated so that the strength of their signal, thrown back from a boundary layer Light is caused, is the same. This is the focus position expediently in the reflective or the light-reflecting layer. Alternatively you can the detector elements should be adjusted so that their signal strength specifically different, z. B. a targeted focus offset to reach.
Eine gute Orientierung bei der Suche nach der Zielposition des Fokus bzw. der Fokuszielebene kann erreicht werden, wenn der Messlichtfokus durch die Fokuszielebene auf eine Probe-Luft-Grenzfläche zu bewegt wird und der Reflex der Probe-Luft-Grenzfläche zur groben Orientierung verwendet wird.A good orientation in the search for the target position of the focus or the focus target level can be achieved if the measuring light focus through the focus target plane to a sample-air interface is moved and the reflex of the sample-air interface to rough orientation is used.
Zur Untersuchung einer Probe kann es notwendig sein, dass sie an verschiedenen Orten untersucht wird, z. B. wenn sie größer als ein Blickfeld des Mikroskops ist. Hierzu wird sie nach einer ersten Untersuchung senkrecht zur optischen Achse des optischen Systems bewegt und anschließend erneut untersucht. Eine schnelle automatische Fokussierung nach einer solchen Bewegung kann erreicht werden, die Signale der Detektorelemente nach einer Bewegung der Probe senkrecht zur optischen Achse des optischen Systems auf Plausibilität hinsichtlich einer nach wie vor vorhandenen Grobeinstellung auf die Fokuszielebene überprüft werden. Liegt Plausibilität vor, kann auf eine zeitaufwendige vollständige neue Fokussierung verzichtet werden. Die Plausibilität kann ein Grenzwert im Unterschied der Signale sein, der nicht überschritten werden darf. Die Plausibilitätsprüfung kann außerdem zur Grobeinstellung verwendet werden, so dass bei vorliegender Plausibilität nur noch eine Feineinstellung vorgenommen wird.to Examination of a sample may require that it be different Places is examined, for. If they are larger than a field of view of the microscope is. For this she will after a first Investigation perpendicular to the optical axis of the optical system moved and then re-examined. A fast automatic focusing after such a movement can be achieved be the signals of the detector elements after a movement of the Sample perpendicular to the optical axis of the optical system for plausibility with regard to a still present coarse adjustment the focus objective level will be reviewed. Is there plausibility May focus on a time consuming full new focus be waived. The plausibility can be a limit be in difference of the signals that did not exceed may be. The plausibility check can also be used for coarse adjustment, so that in the present plausibility only still a fine adjustment is made.
Eine weitere vorteilhafte Ausführungsform der Erfindung sieht vor, dass die Lichtquelle ein Lichtmuster aufweist, das in der Probe abgebildet wird. Das Lichtmuster kann ein-, zwei oder dreidimensional sein und ist zweckmäßigerweise in einer Ebene senkrecht zur optischen Achse des optischen Systems in der Probe abgebildet. Hierbei wird reflektiertes Licht aus mehreren Musterpunkten des Lichtmusters jeweils nach Lichtpfaden getrennt erfasst. Hierdurch kann aus mehreren Zielpositionen zu den mehreren Musterpunkten eine Verkippung der Fokuszielebene, z. B. zur optischen Achse, erkannt werden. Die so erzeugten Signale können zur Regelung der Autofokussierung genutzt werden.A sees further advantageous embodiment of the invention suggest that the light source has a light pattern in the sample is shown. The light pattern can be one, two or three dimensional and is conveniently perpendicular in a plane to the optical axis of the optical system in the sample. Here, reflected light from several pattern points of the Light pattern separately detected according to light paths. hereby can from several target positions to the multiple pattern points one Tilting the focus target level, z. B. to the optical axis recognized become. The signals generated in this way can be used to control autofocusing be used.
Die Erfindung ist außerdem gerichtet auf eine Autofokuseinrichtung mit einem optischen System zum Fokussieren von Licht in einem Messlichtfokus in einer Probe und zum Führen von von dort zurückgeworfenem Licht durch eine Blendenöffnung auf zumindest zwei Detektorelemente.The The invention is also directed to an autofocus device with an optical system for focusing light in a measuring light focus in a sample and to guide it thrown back from there Light through an aperture on at least two detector elements.
Es wird vorgeschlagen, dass die Autofokuseinrichtung einen Aktuator und ein Steuermittel umfasst zum Bewegen eines Elements des optischen Systems oder der Probe durch den Aktuator derart, dass der Messlichtfokus in unterschiedlich stark Licht zurückwerfenden Schichten der Probe bewegt wird, wobei die Detektorelemente so angeordnet sind, dass hierbei Verläufe einer von den Detektorelementen registrierten Strahlungseigenschaft unterschiedlich sind und das Steuermittel zum Auswerten der Verläufe an mehreren Positionen des Messlichtfokus vorgesehen ist.It is proposed that the autofocus device comprises an actuator and a control means for moving an element of the optical system or the specimen through the actuator in such a way, in that the measuring light focus is moved in layers of the sample which reflect light to a different extent, the detector elements being arranged such that courses of a radiation property registered by the detector elements are different and the control means is provided for evaluating the courses at a plurality of positions of the measuring light focus.
Bei der Bewegung des Elements des optischen Systems relativ zur Probe kann der Aktuator das Element oder die Probe relativ zu einem festen Bezugspunkt, z. B. einem Erdboden, bewegen.at the movement of the element of the optical system relative to the sample For example, the actuator may position the element or sample relative to a fixed reference point. z. B. a soil, move.
Vorteilhafterweise ist das Steuermittel dazu ausgebildet, einen, mehrere oder alle der oben angeführten Verfahrensschritte zu steuern.advantageously, the control means is adapted to one, several or all to control the above-mentioned process steps.
Vorteilhafterweise umfasst die Autofokuseinrichtung ein Messsystem, das dazu vorgesehen ist, den Abstand des Elements des optischen Systems zur Probe oder einen davon abhängigen Abstand zu erfassen, insbesondere auf nicht-optischem Wege. Sobald die Fokusposition optische gefunden wurde, kann der Abstand mit dem weiteren Messsystem gemessen und während der Beleuchtung der Probe gehalten werden.advantageously, The autofocus device comprises a measuring system provided for this purpose is the distance of the element of the optical system to the sample or to record a dependent distance, in particular in a non-optical way. Once the focus position optical found was measured, the distance with the other measuring system and be held during the illumination of the sample.
Die Erfindung wird anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert, die in den Zeichnungen dargestellt sind.The Invention will become apparent from exemplary embodiments explained, which are illustrated in the drawings.
Es zeigen:It demonstrate:
Die
Autofokusvorrichtung
Über
zwei Strahlteiler
Von
der Probe
Die
typische Probe
Das
hierzu durchgeführte Autofokusverfahren wird anhand der
Die
beiden Lichtpfade
In
Bei
einer weiteren Bewegung der Probe
In
Zum
automatischen Fokussieren der Probe
Nun
wird der Aktuator
Insbesondere
wird die Position des Schnittpunkts der Flanken der Signale
Das
erneute starke Ansteigen erst des Signals
Nun
kann in einem einfachen Verfahrensschritt der Aktuator
Eine
genauere Fokussierung wird erreicht, wenn die Bewegung des Messlichtfokus
Eine
Regelung auf die Zielposition anhand der Signale
Nach
dem Einstellen oder Einregeln der Fokusposition kann der Lichterzeuger
Nun
können Bilder der Probe
Zur
Aufnahme mehrerer Bilder einer großen Probe
In
- 22
- AutofokusvorrichtungAutofocus device
- 44
- Mikroskopmicroscope
- 66
- Probesample
- 88th
- Bilddetektorimage detector
- 1010
- Steuermittelcontrol means
- 1212
- Lichtquellelight source
- 1414
- Lichterzeugerlight generator
- 1616
- Optikoptics
- 1818
- Blendecover
- 2020
- optische Achseoptical axis
- 2222
- optisches Systemoptical system
- 2424
- optisches Elementoptical element
- 2626
- Objektivlens
- 2828
- Mittelmedium
- 3030
- Strahlteilerbeamsplitter
- 3232
- Strahlteilerbeamsplitter
- 3434
- Mikroskopgehäusemicroscope housing
- 3636
- optisches Elementoptical element
- 3838
- Aktuatoractuator
- 4040
- Optikoptics
- 4242
- Optikoptics
- 4444
- Detektordetector
- 4646
- Blendenöffnungaperture
- 4848
- Lichtpfadlight path
- 5050
- Lichtpfadlight path
- 5252
- MesslichtfokusMeasuring light focus
- 5454
- Abstanddistance
- 5656
- Fokusfocus
- 5858
- Probenträgersample carrier
- 6060
- Probenmaterialsample material
- 6262
- Deckglascover glass
- 6464
- Grenzflächeinterface
- 6666
- Grenzflächeinterface
- 6868
- Grenzflächeinterface
- 7070
- FokuszielebeneFocus target level
- 7272
- Detektorelementdetector element
- 7474
- Detektorelementdetector element
- 7676
- Signalsignal
- 7878
- Signalsignal
- 8080
- Positionposition
- 8282
- Differenzsignaldifference signal
- 8484
- NulldurchgangZero-crossing
- 8686
- Zielpositiontarget position
- 8888
- Richtungdirection
- 9090
- Streckeroute
- 9292
- Fokuspunktfocus point
- 9494
- Spiegelmirror
- 9696
- Abstanddistance
- 9898
- Abstanddistance
- 100100
- Spiegelmirror
- AA
- Amplitudeamplitude
- gG
- Grenzwertlimit
- tt
- ZeitTime
- zz
- Richtung der optischen Achsedirection the optical axis
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9310598B2 (en) | 2009-03-11 | 2016-04-12 | Sakura Finetek U.S.A., Inc. | Autofocus method and autofocus device |
US10007102B2 (en) | 2013-12-23 | 2018-06-26 | Sakura Finetek U.S.A., Inc. | Microscope with slide clamping assembly |
US10139613B2 (en) | 2010-08-20 | 2018-11-27 | Sakura Finetek U.S.A., Inc. | Digital microscope and method of sensing an image of a tissue sample |
US10269094B2 (en) | 2013-04-19 | 2019-04-23 | Sakura Finetek U.S.A., Inc. | Method for generating a composite image of an object composed of multiple sub-images |
WO2019076885A1 (en) * | 2017-10-16 | 2019-04-25 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Microscopy method with focus stabilising |
US11280803B2 (en) | 2016-11-22 | 2022-03-22 | Sakura Finetek U.S.A., Inc. | Slide management system |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5848241A (en) * | 1981-09-17 | 1983-03-22 | Toshiba Corp | Optical head |
DE3739223A1 (en) * | 1987-11-19 | 1989-06-01 | Reichert Optische Werke Ag | Method for autofocusing of microscopes, and microscopes with an autofocusing system |
DE3828381A1 (en) * | 1988-08-20 | 1990-03-15 | Zeiss Carl Fa | METHOD AND DEVICE FOR AUTOMATICALLY FOCUSING MICROSCOPES |
US5742397A (en) * | 1994-08-24 | 1998-04-21 | Samsung Aerospace Industries, Ltd. | Control device of the position and slope of a target |
US6130745A (en) | 1999-01-07 | 2000-10-10 | Biometric Imaging, Inc. | Optical autofocus for use with microtiter plates |
-
2009
- 2009-03-11 DE DE102009012293A patent/DE102009012293A1/en not_active Withdrawn
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5848241A (en) * | 1981-09-17 | 1983-03-22 | Toshiba Corp | Optical head |
DE3739223A1 (en) * | 1987-11-19 | 1989-06-01 | Reichert Optische Werke Ag | Method for autofocusing of microscopes, and microscopes with an autofocusing system |
DE3828381A1 (en) * | 1988-08-20 | 1990-03-15 | Zeiss Carl Fa | METHOD AND DEVICE FOR AUTOMATICALLY FOCUSING MICROSCOPES |
US5742397A (en) * | 1994-08-24 | 1998-04-21 | Samsung Aerospace Industries, Ltd. | Control device of the position and slope of a target |
US6130745A (en) | 1999-01-07 | 2000-10-10 | Biometric Imaging, Inc. | Optical autofocus for use with microtiter plates |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9310598B2 (en) | 2009-03-11 | 2016-04-12 | Sakura Finetek U.S.A., Inc. | Autofocus method and autofocus device |
US10495867B2 (en) | 2009-03-11 | 2019-12-03 | Sakura Finetek U.S.A., Inc. | Autofocus method and autofocus device |
US10139613B2 (en) | 2010-08-20 | 2018-11-27 | Sakura Finetek U.S.A., Inc. | Digital microscope and method of sensing an image of a tissue sample |
US10269094B2 (en) | 2013-04-19 | 2019-04-23 | Sakura Finetek U.S.A., Inc. | Method for generating a composite image of an object composed of multiple sub-images |
US10007102B2 (en) | 2013-12-23 | 2018-06-26 | Sakura Finetek U.S.A., Inc. | Microscope with slide clamping assembly |
US11280803B2 (en) | 2016-11-22 | 2022-03-22 | Sakura Finetek U.S.A., Inc. | Slide management system |
WO2019076885A1 (en) * | 2017-10-16 | 2019-04-25 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Microscopy method with focus stabilising |
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