DD253093B1 - Optisches system fuer ein hochaufloesendes lichtrastermikroskop - Google Patents

Optisches system fuer ein hochaufloesendes lichtrastermikroskop Download PDF

Info

Publication number
DD253093B1
DD253093B1 DD29483886A DD29483886A DD253093B1 DD 253093 B1 DD253093 B1 DD 253093B1 DD 29483886 A DD29483886 A DD 29483886A DD 29483886 A DD29483886 A DD 29483886A DD 253093 B1 DD253093 B1 DD 253093B1
Authority
DD
German Democratic Republic
Prior art keywords
image
light
optical system
lens
plane
Prior art date
Application number
DD29483886A
Other languages
English (en)
Other versions
DD253093A1 (de
Inventor
Frank E Hoehne
Fritz Kuhlmann
Wolfgang Schuett
Original Assignee
Univ Rostock
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Univ Rostock filed Critical Univ Rostock
Priority to DD29483886A priority Critical patent/DD253093B1/de
Publication of DD253093A1 publication Critical patent/DD253093A1/de
Publication of DD253093B1 publication Critical patent/DD253093B1/de

Links

Description

Hierzu 2 Seiten Zeichnungen
Anwendungsgebiet der Erfindung
Die Erfindung betrifft ein optisches System für ein hochauflösendes Lichtrastermikroskop, das die Untersuchung von mikroskopischen Präparaten mit extrem hoher Auflösung gestattet.
Charakterisierung des bekannten Standes der Technik
Lichtrastermikroskope mit und ohne Laser sind bekannt, seine Schlüsselelemente sind neben den Lasern elektromechanische Scanner, d. h. hochpräzise Spiegel-Galvanometer, deren Positioniergenauigkeit und Reproduzierbarkeit einen Bildaufbau von 512 χ 512 Bildpunkten (optimal 1024 χ 1024) erlaubt, sowie Mikroskopie-Objektive, die den Laserstrahl zu einem beugungsbegrenzten Fleck auf dem Objekt fokussieren (Wilke, V., Feinwerktechnik & Meßtechnik 94 [1986/2], S. 103/104). In der GB-PS 1595422 (G 02 B 21/00) ist ein Lichtrastermikroskop beschrieben, bei dem das zu untersuchende Objekt rasterförmig durch einen feststehenden Lichtfokus hindurch bewegt wird. Die vom Objekt ausgehende Strahlung wird dabei mittels einer Optik auf einen Punktdetektor fokussiert. Mit einer solchen konfokalen Anordnung läßt sich dabei eine höhere Auflösung als in der herkömmlichen Lichtmikroskopie erreichen.
In der DE-OS 3447467 (A 1 /G 02 B 36/10) ist ein Laser-Abtastmikroskop beschrieben, bei dem die zellenförmige Abtastung durch die Bewegung der Objektivlinse vorgenommen wird.
Der Nachteil dieser Verfahren besteht darin, daß zwei Objektpunkte, die dichter als ein Abstand liegen, bei dem die Lichtverteilung in der Bildebene, die Punktbildverwaschungsfunktion, nur noch ein gemeinsames Maximum hat, nicht mehr aufgelöst werden können.
Ziel der Erfindung
Das Ziel der Erfindung besteht darin, ein optisches System für ein hochauflösendes Lichtrastermikroskop zu entwickeln, mit der noch zwei Objektpunkte aufgelöst werden können, deren Abstand unter dem liegt, bei dem die Lichtverteilung in der Bildebene nur noch ein gemeinsames Maximum hat.
Wesen der Erfindung
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein adaptierbares optisches System für ein hochauflösendes Lichtrastermikroskop, bestehend aus ei пег Anordnung einer kohärent strahlenden Lichtquelle, vorzugsweise einem Laser, einer Aufweitungsoptik und Sammellinse, einer Lochblende und einer Linse, mit der das von der Lochblende durchgelassene Licht auf das elektro-mechanisch gerasterte Objekt abgebildet wird, und einer optischen Vorrichtung, die das vom Objekt durchgelassene oder remittierte Licht in deren Bildebene abbildet, das eine für die Lichtrastermikroskopie extremale Auflösung gestattet, zu schaffen.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß hinter der Bildebene eine Fourier-Optik in das optische System eingebracht wird, in deren Fourier-Ebene das fouriertransformierte Bild des punktförmig bestrahlten Objektbereichs multipliziert
mit der fouriertransformierten Punktbildverwaschungsfunktion entsteht. Ein weiteres Merkmal der Erfindung besteht darin, daß in dieser Fourierebene ein geeignetes Filter angebracht wird, das im wesentlichen die reziproke Punktbildverwaschungsfunktion simuliert. Nach anschließender Rücktransformation mittels einer weiteren Fourieroptik wird das gefilterte Bild des punktförmig beleuchteten Objektbereichs mit einer an sich bekannten Bildaufnahmevorrichtung aufgenommen. Dadurch wird erreicht, daß die im wesentlichen durch das Faltungsintegral der Objektfunktion und der Punktbildverwaschungsfunktion des Gesamtsystems bestimmte Lichtverteilung in der Bildebene auch für eng benachbarte Objektpunkte derart entfaltet wird, daß selbst für Intensitätsverteilungen mit nur einem zentralen Maximum noch eine Auflösung möglich wird. Der Vorteil eines erfindungsgemäß mit einem adaptierbaren optischen System ausgerüsteten Lichtrastermikroskopes gegenüber den bisher bekannten Lichtrastermikroskopen besteht darin, hiermit submikroskopische Strukturen auflösen zu können.
Ausführungsbeispiel
Anhand von zwei Ausführungsbeispielen wird die Erfindung näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1: eine schematische Darstellung einer möglichen Ausführungsanordnung für das Lichtrastermikroskop in Durchlicht Fig. 2: eine schematische Darstellung einer weiteren Ausführungsform für das Lichtrastermikroskop in Auf licht.
Im Ausführungsbeispiel nach Fig. 1 wird das von einer Lichtquelle !,vorzugsweise einem Laser, erzeugte Licht von einer Aufweitungsoptik 2 und einer anschließenden Sammellinse 3 auf eine Lochblende 4 fokussiert. Mit der Linse 5 wird das durch die Lochblende 4 hindurchgelassene Licht auf das zu untersuchende Objekt 6 fokussiert. Das'Objekt 6 ist mit einer elektromechanischen Rastereinheit 16 derart mechanisch verbunden, daß das Objekt, von einem Steuerrechner 14 elektronisch gesteuert, rasterförmig durch den Lichtfokus der Linse 5 hindurch bewegt werden kann. Mit einer weiteren Linse 7 wird das Bild des mit dem Lichtfokus durchstrahlten Objektes in die Bildebene 8 abgebildet. Hinter der Bildebene 8 ist zum Zwecke der Fouriertransformation eine Fourier-Transformationsoptik 9 angeordnet, in deren Fourier-Ebene ein Filter 10 vorzugsweise ein Vander-Lugt-Filter, angebracht ist.
Hinter dem Filter 10 ist eine weitere Fourier-Transformationsoptik 11 angeordnet, in deren Fourier-Ebene das rücktransformierte Bild des vom Lichtfokus durchstrahlten Objektbereiches entsteht. Mit einer an sich bekannten elektronischen Bildaufnahmevorrichtung 12 wird das gefilterte Bild in eine Bildspeichervorrichtung 13 abgespeichert. Zum Zwecke der Weiterverarbeitung des Bildes ist die Bildspeichervorrichtung 13 mit dem Steuerrechner 14 und zur Darstellung des gesamten abgerasterten Objektes mit dem Monitor 15 verbunden.
Im Ausführungsbeispiel nach Fig. 2 wird das von einer Lichtquelle !',vorzugsweise einem Laser, erzeugte Licht von einer Aufweitungsoptik 2' und einer anschließenden Sammellinse 3' auf eine Lochblende 4' fokussiert. Mit der Linse 5' wird das durch die Lochblende 4' hindurchgelassene Licht auf das zu untersuchende Objekt 6' fokussiert. Das Objekt ist mit einer elektromechanischen Rastereinheit 16'derart mechanisch verbunden, daß das Objekt, von einem Steuerrechner 14'elektronisch gesteuert, rasterförmig durch den Lichtfokus der Linse 5' hindurch bewegt werden kann.
Vor dem Objekt 6' ist ein Teilerspiegel 17 angeordnet, mit dem das vom Objekt remittierte Licht auf eine Linse 7' abgelenkt wird. Mit der Linse T wird das Bild des mit dem Lichtfokus bestrahlten Objektes in die Bildebene 8' abgebildet. Hinter der Bildebene 8' ist zum Zwecke der Fouriertransformation eine Fourier-Transformationsoptik 9' angeordnet, in deren Fourier-Ebene ein Filter 10', vorzugsweise ein Vander-Lugt-Filter, angebracht ist.
Hinter dem Filter 10' ist eine weitere Fourier-Transformationsoptik 11' angeordnet, in deren Fourier-Ebene das rücktransformierte Bild des vom Lichtfokus bestrahlten Objektbereiches entsteht. Mit einer an sich bekannten elektronischen Bildaufnahmevorrichtung 12' wird das gefilterte Bild in eine Bildspeichervorrichtung 13' abgespeichert. Zum Zwecke der Weiterverarbeitung des Bildes ist die Bildspeichervorrichtung 13' mit dem Steuerrechner 14' und zur Darstellung des gesamten abgerasterten Objektes mit dem Monitor 15' verbunden.
In Betracht gezogene Druckschriften:
DE-OS 3447467 (G 02 B, 26/10)
Z. „Feinwerktechnik & Meßtechnik" 9 (1986) 2, Seiten 103 + 104

Claims (3)

1. Optisches System für ein hochauflösendes Lichtrastermikroskop, bestehend aus einer kohärent strahlenden Lichtquelle, vorzugsweise einem Laser, von dem das ausgehende Licht mittels einer Aufweitungsoptik und einer Sammellinse auf eine Lochblende angeordneten Linse, mit der das durch die Lochblende hindurchtretende Licht auf das hinter der Linse angeordnete zu untersuchende Objekt, das mit einer elektromechanischen Rastereinheit mechanisch verbunden ist, fokussiert wird, und eine hinter dem Objekt angeordneten weiteren Linse, mit der das durch das Objekt hindurchtretende Licht in die Bildebene fokussiert wird und bei dem sowohl eine Bildaufnahmevorrichtung mit einer elektronischen Bildspeichervorrichtung als auch die elektronische Bildspeichervorrichtung und die elektromechanische Rastereinheit mit einem Steuerrechner elektrisch verbunden sind, wobei zum Zwecke der Bilddarstellung ein über den Steuerrechner mit Bildinformationen des Bildspeichers beaufschlagter Monitor benutzt wird, dadurch gekennzeichnet, daß hinter der Bildebene (8) eine aus einer Fourier-Transformationsoptik (9) und einer Fourier-Transformationsoptik (11) bestehendes optisches System angeordnet und in der Fourier-Ebene der Fourier-Transformationsoptik (9) ein Filter (10) vorgesehen ist.
2. Optisches System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Filter (10) ein Hochpaßfilter, vorzugsweise eine Ringblende, sind.
3. Optisches System nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Filter (10) Vander-Lugt-Filter sind, die die reziproke Punktbildverwaschungsfunktion des optischen Systems simulieren.
DD29483886A 1986-10-01 1986-10-01 Optisches system fuer ein hochaufloesendes lichtrastermikroskop DD253093B1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD29483886A DD253093B1 (de) 1986-10-01 1986-10-01 Optisches system fuer ein hochaufloesendes lichtrastermikroskop

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD29483886A DD253093B1 (de) 1986-10-01 1986-10-01 Optisches system fuer ein hochaufloesendes lichtrastermikroskop

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DD253093A1 DD253093A1 (de) 1988-01-06
DD253093B1 true DD253093B1 (de) 1989-03-15

Family

ID=5582756

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DD29483886A DD253093B1 (de) 1986-10-01 1986-10-01 Optisches system fuer ein hochaufloesendes lichtrastermikroskop

Country Status (1)

Country Link
DD (1) DD253093B1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102019108696B3 (de) * 2019-04-03 2020-08-27 Abberior Instruments Gmbh Verfahren zum Erfassen von Verlagerungen einer Probe gegenüber einem Objektiv

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102019108696B3 (de) * 2019-04-03 2020-08-27 Abberior Instruments Gmbh Verfahren zum Erfassen von Verlagerungen einer Probe gegenüber einem Objektiv

Also Published As

Publication number Publication date
DD253093A1 (de) 1988-01-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2359178B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur dynamischen verlagerung eines lichtstrahls gegenüber einer den lichtstrahl fokussierenden optik
DE10105391B4 (de) Scanmikroskop und Modul für ein Scanmikroskop
DE10038622A1 (de) Scan-Mikroskop,optische Anordnung und Verfahren zur Bildaufnahme in der Scan-Mikroskopie
EP1248132B1 (de) Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe
DE102005047200B4 (de) Verfahren zur Korrektur einer Steuerung eines optischen Scanners in einer Vorrichtung zur scannenden Abbildung einer Probe und Vorrichtung zur Erzeugung eines Bildes einer Probe durch Abscannen der Probe
EP3244249A2 (de) Lichtblattmikroskop sowie verfahren zum betreiben eines lichtblattmikroskops
CH678663A5 (de)
DE10050529B4 (de) Verfahren zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop, Anordnung zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop und Scanmikroskop
DE102018210603A1 (de) Verfahren zum Erzeugen eines Übersichtsbilds unter Verwendung eines hochaperturigen Objektivs
DE102017223014A1 (de) Verfahren zur Bestimmung der Dicke einer Probenhalterung im Strahlengang eines Mikroskops
DE2360197A1 (de) Verfahren zur erhoehung der schaerfentiefe und/oder des aufloesungsvermoegens von lichtmikroskopen
WO2018002224A2 (de) Neigungsmessung und -korrektur des deckglases im strahlengang eines mikroskops
DE10063276A1 (de) Scanmikroskop
DE10139920B4 (de) Scanmikroskop und Verfahren zum Scannen eines Objekts
DE102006045839B4 (de) Laserscanningmikroskop mit Element zur Pupillenmanipulation
DE10037783A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Phasenkorrektur von Positions- und Detektionssignalen in der Scanmikroskopie und Scanmikroskop
DE10029680B4 (de) Mikroskop-Aufbau
DE4113279C2 (de) Konfokales optisches Rastermikroskop
EP1617263B1 (de) Lichtrastermikroskop und Verwendung
EP1019769B1 (de) Konfokales theta-mikroskop
EP0961930B1 (de) Lichtabtastvorrichtung
EP0642676A1 (de) Abtastobjektiv
EP1209504B1 (de) Verfahren und eine Anordnung zur Abtastung mikroskopischer Objekte mit einer Scaneinrichtung
DD253093B1 (de) Optisches system fuer ein hochaufloesendes lichtrastermikroskop
DE10055176A1 (de) Anordnung zur visuellen und quantitativen 3-D-Untersuchung von Proben

Legal Events

Date Code Title Description
ENJ Ceased due to non-payment of renewal fee