CZ20013674A3 - Měření tlouą»ky kovové vrstvy pomocí tranzientní termografie - Google Patents
Měření tlouą»ky kovové vrstvy pomocí tranzientní termografie Download PDFInfo
- Publication number
- CZ20013674A3 CZ20013674A3 CZ20013674A CZ20013674A CZ20013674A3 CZ 20013674 A3 CZ20013674 A3 CZ 20013674A3 CZ 20013674 A CZ20013674 A CZ 20013674A CZ 20013674 A CZ20013674 A CZ 20013674A CZ 20013674 A3 CZ20013674 A3 CZ 20013674A3
- Authority
- CZ
- Czechia
- Prior art keywords
- pixel
- data
- infrared
- contrast curve
- time
- Prior art date
Links
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 title claims abstract description 45
- 238000001931 thermography Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims description 36
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims description 35
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title description 13
- 238000009499 grossing Methods 0.000 claims abstract description 29
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 4
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 46
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 12
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 5
- 238000009795 derivation Methods 0.000 claims description 3
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims 2
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 claims 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 abstract description 7
- 238000012937 correction Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010304 firing Methods 0.000 abstract description 3
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 abstract 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 8
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 8
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 6
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 5
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 5
- 238000007405 data analysis Methods 0.000 description 4
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 4
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 238000005562 fading Methods 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 229910052755 nonmetal Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000002843 nonmetals Chemical class 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 2
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 238000005206 flow analysis Methods 0.000 description 2
- 238000005058 metal casting Methods 0.000 description 2
- 239000005304 optical glass Substances 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- 238000001454 recorded image Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 2
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 1
- 239000003575 carbonaceous material Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 230000003116 impacting effect Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000009659 non-destructive testing Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000005297 pyrex Substances 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
- 238000010792 warming Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001868 water Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/08—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness
- G01B21/085—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness using thermal means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/0088—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry in turbines
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/08—Optical arrangements
- G01J5/0896—Optical arrangements using a light source, e.g. for illuminating a surface
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/48—Thermography; Techniques using wholly visual means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/72—Investigating presence of flaws
Description
Oblast techniky
Předkládaný vynález se vztahuje k termografickým nedestruktivním testovacím technikám pro určení tloušťky objektu. Zejména se vztahuje k metodě velmi rychlé infračervené tranzientní termografie a k zařízení pro přesné měření tloušťky stěny kovových lopatek turbíny rotoru nebo podobně.
Dosavadní stav techniky
Během let byly k určení průřezové tloušťky kovového odlitku a jiných pevných předmětů využívány různé nedestruktivní ultrazvukové techniky měření. Běžně je předmět prozkoumáván ultrazvukovými vlnami, které pronikají povrchem a jsou odráženy vnitřně na opačné straně nebo povrchu daného předmětu. Na základě doby potřebné k příjmu odražené vlny je možné určit vzdálenost opačné (zadní) stěny, čímž je dána tloušťka předmětu v daném bodě. Bohužel, provádění ultrazvukových měření tohoto typu ke zjištění průřezové tloušťky pro většinu předmětu by si obvykle vynutilo obtížné a časově náročné mechanické snímání celého povrchu pomocí snímače. Kromě toho se pro usnadnění těsného zvukového kontaktu mezi snímačem a povrchem předmětu musí na tento povrch aplikovat proud tekutého vazebného prostředí, nebo se alternativně musí zařídit celkové ponoření předmětu do vazebného prostředí. Nicméně takováto přizpůsobování nejsou často praktická nebo dokonce proveditelná, díky mnoha strukturálním a materiálním důvodům. Například : :· t
I···· * · v * « · · * • · · · · · · ·· · «1« **· «· ·*»* ultrazvukové systémy, schopné snímat a analyzovat geometricky složité části, jsou obvykle velmi drahé a složité. Mechanické snímání povrchu velkého předmětu snímačem může trvat doslova celé hodiny.
Navíc, pokud provádíme ultrazvukové měření na některých kovových předmětech, mohou vnitřní krystalová orientace a struktura kovu způsobit nežádoucí šumové a směrové efekty, které přispívají k nepřesnostem ve shromážděných datech. Toto základní omezení ultrazvukových měření se ukazuje jako závažná nevýhoda při testování součástek konstruovaných z krystalických nebo „směrových“ kovů, které jsou často používány v moderních turbínových křídlových profilech.
Naproti tomu je infračervená (IR) tranzientní termografie poněkud všestrannější metoda testování, která se spoléhá na časová měření teplotního přenosu předmětem pro získání informací vztahujících se ke struktuře a integritě daného předmětu. Díky tomu, že tok tepla předmětem je v podstatě neovlivněný mikrostrukturou a orientací jednotlivých krystalů materiálu daného předmětu, nemá tranzientní infračervená termografická analýza v podstatě omezení, která toto vytváří pro ultrazvuková měření. Narozdíl od většiny ultrazvukových metod, není přístup tranzientní termografické analýzy podstatně omezen velikostí, obrysem nebo tvarem testovaného předmětu a navíc může být provedena desetkrát až stokrát rychleji než většina běžných ultrazvukových metod, pokud je testován předmět s velkou povrchovou plochou.
Jedna známá moderní aplikace tranzientní termografie, která poskytuje možnost určení velikosti a „relativního“ umístění (hloubky) vady v pevných nekovových směsích, se objevuje v U. S. Patent 5,711,603 Ríngermacher et al., nazvaném „Nedestruktivní testování: Tranzientní hloubková termografie“, která je začleněna • v « »
9· 6 » V
9 9 · · • 999· 9 9 » • · 9 9
499 4 ·· • ·· «· ·* » « ft 4 • 9 · * •44» · • 9*9
999 99 «999 na tomto místě jako odkaz. Tato technika v podstatě zahrnuje zahřívání povrchu zkoumaného předmětu a zaznamenávání změn teploty v čase ve velmi malých oblastech neboli v „rozlišovacích prvcích na povrchu daného předmětu. Tyto změny teploty povrchu se vztahují k charakteristické dynamice tepelného toku předmětem, která je ovlivněna přítomností vad. Podle toho může být určena velikost a hodnota udávající „relativní hloubku vady (to jest relativně k jiným vadám vdaném předmětu) na základě pečlivé analýzy změn teploty, které se objevují v každém rozlišovacím prvku na povrchu daného předmětu. Ačkoliv to není ve výše zmíněném Ringermacherově patentu výslovně řečeno, „skutečná“ hloubka vady (to jest hloubka vady od povrchu předmětu) nemůže být určena, pokud není na předmětu obsažen „standardizační blok“, který má dutiny ve známých hloubkách nebo „nekonečná (tepelně tlustá) referenční oblast, jako část termografického shromažďování dat a analýzy pro porovnání s relativními hodnotami hloubky.
K získání přesných tepelných měření za použití tranzientní termografie se musí povrch předmětu zahřát na určitou teplotu v dostatečně krátké době tak, aby se zamezilo jakémukoliv významnému zahřívání zbytku předmětu. V závislosti na tloušťce a charakteristice materiálu testovaného předmětu, se běžně používá křemenná lampa nebo záblesková lampa s vysokou intenzitou k tomu, aby byl vytvořen tepelný impulz správné velikosti a doby trvání. Nicméně, specifický mechanismus, který se použije k zahřívání povrchu předmětu, může být jakýkoli mechanismus schopný rychlého zahřívání povrchu na teplotu dostatečnou pro umožnění termografického monitorování, jako je například pulsující laserové světlo). Když je povrch předmětu zahřátý, získává se a analyzuje grafický záznam tepelných změn povrchu.
Infračervená (IR) videokamera bývala běžně používána k zaznamenání a uložení po sobě jdoucích tepelných obrazů « φφφφ φ Φ φ Φ φ φ « φ • · · Φ · φ Φ Φ ··· · ♦· ·« ·· ·♦·· (snímků) povrchu předmětu po jeho zahřátí. Každý videosnímek je složen z pevného množství obrazových prvků. V této souvislosti je obrazový prvek malý prvek obrázku v obrazovém poli neboli snímku, který odpovídá pravoúhlé oblasti, nazývané „rozlišovací prvek“, na povrchu zobrazovaného předmětu. Jelikož teplota v každém rozlišovacím prvku přímo souvisí s intensitou odpovídajícího obrazového prvku, mohou být změny teploty v každém rozlišovacím prvku na ploše předmětu analyzovány jako změny kontrastu obrazového prvku. Uložené videosnímky jsou použity k určení kontrastu každého obrazového prvku v obrazovém snímku odečtením střední intenzity obrazového prvku pro konkrétní obrazový snímek, představující známý bod v čase, od intenzity individuálního obrazového prvku stejnem časovém
L. _ -J ~ uuue.
Data o kontrastu pro každý obrazový prvek jsou pak analyzována v časové oblasti (to jest, přes více obrazových snímků) za účelem identifikace času objevení se „inflexního bodu“ na datech křivky kontrastu, který matematicky souvisí s relativní hloubkou vady v předmětu. V podstatě, při aplikaci na „deskový“ předmět z pevného materiálu o tloušťce L, potřebuje impuls tepelného toku dopadající na předmět určitý „charakteristický čas“ Tc na to, aby pronikl předmětem na druhou stranu (zadní stěnu) a vrátil se na zobrazovaný přední povrch. Tento charakteristický čas Tc se vztahuje k tloušťce předmětu, při dané tepelné rozptylnosti materiálu, podle následující rovnice:
Tc = 4Ι_2/ττ2α rovnice (1), kde L je tloušťka (v cm) předmětu a a je tepelná rozptylnost (v cm2/sec) materiálu.
Z empirických pozorování je známé, že poté co tepelný impuls dopadne na deskový předmět, teplota povrchu pozorovaná •9 *9 9 99 9t
C «9« 9 9 9 9 «·99 J 99# 99* «9 9
9999 *99 9 ? 9 9 9 * 9 999 999 ··· · · 999 99 9999 ze stejné strany předmětu (to jest přední) stoupá způsobem, který je také závislý na tloušťce a tepelné rozptylnosti materiálu. Kromě toho se z grafu čas vs. tepelná (T-t) historie povrchu dá určit charakteristický čas Tc na základě specifického bodu na křivce T-t, který se nazývá „inflexni bod“. Tento inflexní bod tinfi, je indikován bodem maximální strmosti na T-t křivce (tj. časem špičkové strmosti) a souvisí s charakteristickým časem Tc podle následující rovnicí:
tinfi=0.9055 Tc rovnice (2).
Tento vztah mezi inflexním bodem a charakteristickým časem, jak je vyjádřen rovnicí (2), je přesný na 1% pro jednorozměrnou (1-D) a stejně tak pro dvourozměrnou (2-D) analýzu tepelného toku. Když je z odezvy T-t určen inflexní bod tinfi, je možné určit relativní tloušťku L předmětu z rovnice (1), za použití známé tepelné rozptylnosti a materiálu a skutečné hodnoty Tc z rovnice (2).
Podrobnější diskusi o vztahu, invariantním k tepelnému toku, mezi časem špičkové strmosti (inflexní bod) a „charakteristickým časem materiálu, jak je definováno výše je možné nalézt v Review Of Progress In Quantitative Nondestructive Evaluation, v článku od Ringermachera et al., nazvaném „Towards a Flat-Bottom Hole Standard for Thermal Imaging“, který publikovalo Plenům Press,
New York, květen 1998, který je začleněn na tomto místě jako odkaz.
Bohužel, přestože výše odkazovaná patentovaná metoda Ringermacher et al. pro detekci vad může být efektivní u keramiky, plastů, směsí a jiných nekovových předmětů, není zvláště použitelná pro určování tloušťky kovových předmětů. Jedním z problémů je, že kovy mají významně vyšší charakteristickou »· »· * · * » « • · * * «· ···» • * ♦ · · *»· · * * · » ♦ • · · ·· ♦♦· • » tepelnou vodivost a tepelnou rozptylnost, než mají nekovy. To snižuje časový úsek, během kterého mohou být shromažďována užitečná tepelná data a požaduje zvyšování citlivosti infračerveného záznamového zařízení. Zvýšená citlivost zařízeni způsobuje nepřesnosti ve shromažďovaných datech vznikající z infračerveného šumu z jiných okolních infračervených zdrojů, jako jsou zábleskové lampy. Navíc, jelikož zařízení a metoda dle výše uvedeného patentu Ringermacher et al. produkuje pouze „relativní“ měření, nemůže být použita pro získávání hodnot pro skutečnou tloušťku kovového předmětu v požadovaném bodě. Následkem toho je třeba vylepšená metoda provádění a zpracování infračervené tranzientní termografie, za účelem určování skutečné tloušťky kovových předmětů.
Podstata vynálezu
Předkládaný vynález se vztahuje k nedestruktivní testovací metodě a zařízení pro určování a zobrazování skutečné tloušťky předmětu, za použití rychlé infračervené (IR) tranzientní termografie. Specifický aspekt předkládaného vynálezu je to, že předmětem zájmu může být kovový materiál i přesto, že kovy mají vysoké hodnoty tepelné vodivosti.
Ve shodě s předkládaným vynálezem se využívá vylepšené rychlé infračervené tranzientní termografické provedení založené na znalosti dynamiky toku tepla v kovových předmětech k přesnému měření tloušťky kovového předmětu a poskytování vizuálního barevně kódovaného zobrazení, které indikuje jeho průřezovou tloušťku v dané oblasti předmětu. Navíc, vylepšené tranzientní termografické techniky předkládaného vynálezu mohou
• « • · | * 9 9 9 | • 99 9 9 · | 9 | • 9 9 9 |
• · · 9 | • 9 9 | 9 9 9 | 9 | 9 |
• · | • 9 | 9 · | • | 9 |
M 9 | 99 | 9 99 9 9 | 9 9 9 9 |
být použity k měření tloušťky kovových předmětů s větší přesností než běžné ultrazvukové metody.
V tomto ohledu předkládaný vynález zejména využívá inflexní bod v analýze kovových předmětů, protože inflexní bod se v T-t odezvě objevuje relativně brzy a je v podstatě nezávislý na mechanismu laterální ztráty tepla. Takové úvahy jsou důležité pokud pracujeme s kovovými předměty, protože díky vysoké tepelné vodivosti kovů je tepelná odezva rychlá a dostupný pozorovací čas je tudíž krátký. Navíc, jestliže se v souladu s předkládaným vynálezem získá T-t křivka z pozorování infračervenou kamerou z „přední strany“, získá se přesnější určení inflexního bodu, pokud je „kontrastní“ křivka snímku vytvořena odečítáním pozorované T-t křivky od hypotetické nebo změřené T-t křivky, která odráží hlubokou vnitřní „referenční oblast“ v zahřívaném předmětu (tato referenční oblast aproximuje „nekonečně tlustý“ předmět) nebo v sousedním tepelně tlustém „referenčním“ bloku.
Podle předkládaného vynálezu je bod zvratu tínfi určen z tepelných dat shromážděných za předem určený časový úsek ze za sebou následujících obrazových snímků infračervené kamery. Tento časový úsek je s výhodou alespoň trochu delší než předpokládaný charakteristický čas, získaný z rovnice (1) na základě odhadu tloušťky hodnoceného předmětu.
Bohužel, jak zjistili předkladatelé předkládaného vynálezu, má zařízení infračervené tranzientní termografie podle známého současného stavu techniky nejméně jednu nevýhodu: zábleskové lampy potřebné pro generaci tepelného impulzu produkují dlouhovlnné infračervené „doznívající“ emise, které nakonec dojdou k předmětu a kameře jako záření pozadí. To má za následek snížený kontrast v zaznamenaných infračervených
* · | V ♦ | » | ©» | ·· | ||
• · 4 | » | » | © © | » | • | * © |
• « · »· | « © | © | • | © · | » | « |
• · • « · © | • »© | • | • ·© » | « » | • | © |
snímcích a nakonec to ovlivňuje přesnost tepelného měření. Předkládaný vynález poskytuje vylepšené zařízení rychlé infračervené tranzientní termografie, které značně eliminuje problémy spojené s „doznívajícími“ infračervenými emisemi způsobenými tradičními uspořádáními zahřívací zábleskové lampy. Navíc poskytuje předkládaný vynález vylepšenou metodu infračervené tranzientní termografie a zařízení pro efektivní kvantitativní vyhodnocováni tloušťky přední stěny kovových předmětů, jako jsou lopatky rotoru turbíny a podobně. Dále předkládaný vynález poskytuje vylepšenou metodu a zařízení pro určování tloušťky kovového předmětu, kde prostředky pro shromažďování dat pro určování tloušťky nejsou v podstatě ovlivněny specifickou vnitřní krystalickou strukturou předmětu, jak je to běžné u kovových odlitků a jiných „směrových kovových předmětů.
V souladu s výhodným provedením předkládaného vynálezu obsahuje zařízení obrazový systém zahrnující jednu nebo více vysoce výkonných zábleskových lamp vybavených speciálními optickými filtry, infračerveně citlivou kameru s polem senzorů v ohniskové rovině pro shromažďování dat a zobrazovací monitor. Počítačový systém řídí obrazový systém, zaznamenává a analyzuje data o teplotě povrchu získaná pomocí infračervené kamery a poskytuje barevně klíčovaný obraz na zobrazovacím monitoru, který přesně odpovídá tloušťce předmětu.
Shromažďování dat o teplotě povrchu je zahájeno spuštěním zábleskových lamp, za účeiem ozáření povrchu daného předmětu. Speciální optické filtry jsou spektrálně naladěny tak, aby absorbovaly a/nebo odrážely veškeré infračervené záření o vlnové délce 3-5 mikronů zpět do zábleskové lampy (lamp). Toto zabraňuje nežádoucím dlouhovlnným infračerveným „doznívajícím“ emisím, které jsou typicky vytvářeny přehřátými kovovými prvky
» · • · | *« | * • · | ©· • | ·· © « © | ||
© | • | |||||
• ·« ·· | • · | • | © | © © | © | • |
• © | • | • | • | * | » | • |
• · · | *· | ·· | ··· |
v zábleskových lampách, aby se dostaly k objektu nebo kameře poté, co jsou lampy zhasnuty. Použití takovýchto filtrů umožňuje přesnější tepelné ohodnocení, které může produkovat rozměrová měření v rozsahu přesnosti 1%-3% skutečné tloušťky.
Předem určený počet obrazových snímků je potom zaznamenán v určitém časovém úseku poté, co jsou zábleskové lampy spuštěny a zaznamenané obrazy jsou použity ke stanovení teplotně-časové (T-t) historie pro každou elementární oblast neboli „rozlišovací prvek z oblasti zájmu na povrchu předmětu. Každý zaznamenaný obrazový snímek sestává z předem určeného (n x m) pole obrazových prvků, jejichž intenzita koreluje s povrchovou teplotou předmětu v čase, kdy byla snímková data shromážděna a kde má každý obrazový prvek (x, y) určení polohy v obrazovém snímku, které odpovídá konkrétnímu rozlišovacímu prvku.
Pro každý obrazový prvek v získaných obrazových snímcích se potom provádí analýza toku tepla z historie T-t za účelem určení tloušťky předmětu v místě každého rozlišovacího prvku (může být použit jak jednorozměrný tak vícerozměrný přístup k analýze toku tepla). Analýza přechodného toku tepla pevnými částmi předmětu běžně vyžaduje určení charakteristického času Tc, potřebného pro „impuls“ tepelné energie k proniknutí do objektu na prvním povrchu, odražení od protilehlého povrchu a vrácení se k povrchu prvnímu. Jelikož charakteristický čas souvisí se vzdáleností mezi těmito dvěmi povrchy, může být použit k určení tloušťky předmětu mezi dvěma povrchy v požadovaném bodě. Naštěstí může být hodnota pro charakteristický čas Tc určena z termograf ické T-t historie obrazového bodu, jelikož v čase souvisí s výskytem „inflexního bodu“ v zaznamenané historii kontrastu obrazového prvku v souladu s rovnicí (2) uvedenou výše.
4 44 44
4 *9 4 4 * 4 • ··*· · · 9 «»·· 4
9 »44 9 · 9 • 99 4 4» 444 4· 4444
V souladu s předkládaným vynálezem je také předložena vylepšená metoda analýzy toku tepla, která mimo jiné usnadňuje přesnější určování „inflexního bodu“ historie kontrastu. Jak je detailněji popsáno níže, je křivka kontrastu nejprve určena pro každou (x,y) polohu obrazového prvku, odpovídajícího každému rozlišovacímu prvku na povrchu předmětu. Tato křivka kontrastu je sestavena na základě průměrné intenzity obrazového prvku, získané za použiti „tepelně tlusté“ části (ve výhodném provedení je tepelně tlustá část nejméně pětkrát tlustší než celková tloušťka měřeného předmětu) předmětu nebo jiného „referenčního“ bloku, který má tepelnou vodivost podobnou měřenému předmětu. Ve výhodném provedení je samostatný tepelně tlustý blok umístěn v těsné blízkosti k měřenému předmětu a je spolu s ním zobrazován. V jiném provedení je termografícky zobrazen společně s předmětem zájmu „standardní“ blok, který má tepelně tlustou část a který zahrnuje odlišné stupně známé tloušťky.
Dále je ke zlepšení poměru signál/šum měření použito Gaussovo časové vyhlazování dat kontrastní křivky obrazového prvku. Poté je vypočítána matematická derivace kontrastní křivky za použití tříbodového vzorkování dat, kde oddělení prvního a třetího vzorkovacího bodu je proporcionálně vztaženo k hodnotě čísla obrazového snímku ve druhém vzorkovacím bodě. Dále jsou určeny místní vrcholy v derivaci dat kontrastní křivky a je použita váhová funkce k nastavení významu každého vrcholu, za účelem identifikace nejiepšího „inflexního bodu“ v datech kontrastní křivky T-t, pro použití v určování tloušťky předmětu. Korekce dat obrazového prvku je také použita k vyrovnání efektů měnící se infračervené emisní schopnosti s ohledem na zakřivení povrchu zobrazovaného předmětu.
• · | * · | ·· | 9 | • | • · |
• »··· | • · · | • | 9 9 | • | • |
• · | • · | • | 9 | • | • |
• · * | ·· | ·«· | 99 |
Přehled obrázků na výkresech
Účelu a výhodám získaným díky předkládanému vynálezu je možné porozumět důkladným prostudováním následujícího detailního popisu výhodného provedení se specifickým odkazem na doprovodné nákresy.
Obr. 1 je schematický diagram ilustrující příklad uspořádání systému infračervené tranzientní termografie pro určování a zobrazování skutečné tloušťky předmětu v souladu s předkládaným vynálezem.
Obr, 2 je vývojový diagram ilustrující proces shromažďování a analýzy infračervených obrazových dat, jak ho provádí systém z obr. 1 v souladu s předkládaným vynálezem.
Obr. 3 je příkladný tisk zobrazení infračerveného tranzientního termografického obrazu kovového stupňového standardu slitiny niklu v souladu s předkládaným vynálezem.
Příklady provedení vvnáíezu
Obr. 1 ilustruje příklad infračerveného tranzientního termografického systému 10 pro určování a zobrazování tloušťky předmětu, například kovového turbínového křídlového profilu 1, který má záměrné prázdné prostory 4. Pro účely následující diskuse se tloušťkou předmětu míní tloušťka přední stěny nebo povrchu u dutého nebo částečně dutého předmětu (tj. předmětu, který má záměrné prázdné prostory) a „tepelně tlustý“ předmět znamená předmět nebo část předmětu, která je dostatečně tlustá na to, aby se přiblížila hypoteticky „nekonečně“ tlustému předmětu
• 9 | 9 9 * 9 | 9 9* | 99 9 * | 99 9 9 |
• 9999 | • 9 φ | 9 | 9 9 · | 9 |
9 9 | • 9 | 9 | 9 · | 9 |
·· 9 | 99 | 99 9 | 99 | 9999 |
(který je ve výhodném provedení alespoň pětkrát tlustší, než je celková tloušťka měřeného předmětu).
Měřený předmět je s výhodou nejprve natřen (např., sprejem, štětcem nebo válečkem) tenkou vrstvou rychleschnoucího nátěru látky s vysokou ultrafialovou viditelností a vysoké infračervené absorpčnosti, například materiálem s uhlíkovým základem jako je grafit, uhlík nebo barva se sazemi s vodním základem.
V předkládaném vynálezu je zdroj 11 tepelného impulsu se zábleskovou lampou sepnut, aby rychle zahřál povrch měřeného předmětu. Jedno vhodné uspořádání zdroje 11 tepelného impulsu se zábleskovou lampou by mohla být, například, sada čtyř nebo osmi vysokorychlostních fotografických zábleskových lamp s vysokým výkonem, kde je každá schopna výstupního výkonu přibližně 4.8 kilojoulů a má samostatný napájecí zdroj (jako jsou například vyráběné firmou Speedtron, Corp. v Chicagu, IL).
Jelikož kovy mají podstatně větší rychlost vedení tepla než nekovy, jsou charakteristické časy pro tok tepla v kovech mnohem rychlejší než například u plastů nebo kompozitních materiálů. V důsledku toho je při pokusu o adaptaci tradičních infračervených termografických technik (běžně omezených pro nekovy) na kovy třeba ostré ukončení aplikovaného tepla. Aby se toho dosáhlo, je použit 3-5 mikronový odrazný filtr 18 mezi zábleskovými lampami 11 (pokrývá je) a předmětem zájmu 1 tak, aby zabránil vystavení předmětu zbytkovému teplu, když se zábleskové lampy ochlazují po expozici.
V praxi může být použit jeden nebo více filtrů (například jeden pro každou zábleskovou lampu). Tyto filtry mají za úkol bránit přímému dlouhovlnnému vyzařování, které se typicky generuje z „doznívání přehřátých kovových částic v zábleskových ** · 9 9 99 * · 9 9 • · 9 9 9 9 9 • ···· · * · · · 9 · 9 · 9 9 · 9 9©
999 9 99 99« 49 9999 lampách v opuštění těchto zábleskových lamp a dopadu na cíl nebo línému odražení zpět do kamery 13 s polem senzorů v ohniskové rovině. Takové primární doznívající vyzařováni ze zábleskových lamp 11 konkuruje a může interferovat s dlouhovlnnými infračervenými emisemi z cílového předmětu během počátečního shromažďování tepelných dat, čímž zastírá pravé cílově generované infračervené vyzařování a redukuje konečný kontrast obrazu a kvalitu. Použití těchto speciálních filtrů tedy produkuje dostatečně ostrý tepelný impuls, který umožňuje detekci kratšího času šíření tepla v kovu.
V souladu s předkládaným vynálezem může být filtr 18 zábleskové lampy vytvořen z Pyrexu™, roztaveného křemene, BK7 nebo jiného optického materiálu, který je transparentní pro viditelné a ultrafialové světlo a na straně obrácené k zábleskové lampě je pokryt infračerveným reflektivním povrchem, aby odrážel veškeré vyzařování v rozsahu 3-5 mikronů zpět do zábleskových lamp. (Optické sklo a pokryté filtry je možné získat nebo specielně vyrobit výrobcem optického skla a obecné vědecké optiky, jako je firma Oriel ve Stratfordu, CT.).
Měření teploty povrchu předmětu 1 osvětleného tepelným impulsem spolu s referenčním blokem 2 se získají za použití infračerveně citlivého obrazového systému zahrnujícího infračerveně citlivou kameru 13 s polem senzorů v ohniskové rovině (například Radíance HS camera dostupná u Amber Engineering v Golete, CA, Raytheon Company), řídicí elektroniky 14, paměti 15 snímkových dat, řídicího počítače/obrazového procesoru 16 a zobrazovacího monitoru 17..
Shromažďování tepelných dat je s výhodou iniciováno v okamžiku spuštění zábleskových lamp buď optickým spínáním nebo jinými vhodnými prostředky. Spuštění zábleskových lamp je
9· · ·”· 9« »”·*”» • •99 · · · *··· * • 9 9 · 9 · 9 ·9 *99 *9 9999 řízeno pomocí běžné elektroniky 14 zábleskových lamp ovládané konvenčním softwarem pro získávání obrazových snímků, který funguje v systémovém počítači 16 (jako je systém shromažďování snímků ImageDesk™ od Amber Corp, nebo jiný běžný software pro shromažďování snímků a řízení zábleskových lamp například takový, jaký je komerčně dostupný od Thermal Wave Imaging ínc, v Lathrup Vittage, Ml).
Systémový řídícího počítač/obrazový procesor 16 je speciálně naprogramovaný univerzální digitální počítač, který je, kromě digitálního zpracování obrazu a zobrazování v souladu s metodou dle předkládaného vynálezu, schopný realizovat řízení periferií a komunikační funkce. Systémový počítač 16 řídí elektroniku 14 kamery a lampy a paměť snímkových dat 15 za účelem shromáždění předem určeného počtu po sobě jdoucích tepelných obrazových snímků povrchu předmětu, které jsou uloženy v paměti 15 pro budoucí analýzu.
Před začátkem procesu tepelného zobrazování je nejprve infračervená kamera 13 kalibrována za použití „celoplošné“ kalibrační techniky s dvojím obrazem, jak je dále popsáno. Tato výhodná technika využívá dvě obrazové kalibrační reference „černého tělesa“ (BB): „studený BB zdroj používající plochou černou desku o pokojové teplotě a „teplý“ BB zdroj používající zahřátou plochou černou desku. Například pro získání kalibračního obrazu „studeného“ BB zdroje je umístěna přímo před čočku kamery plochá černě natřená schránka, obklopující plochou černou desku o pokojové teplotě, uspořádanou v úhlu 45° k čočce kamery. Pro získání kalibračního obrazu „teplého“ BB zdroje je po zahřátí ploché černé desky nominálně o asi 10°C nad teplotu okolí čočka kamery umístěna do stejné ploché černě natřené schránky tak, že kamera zobrazuje zahřátou desku přes celou zobrazovací plochu. Ačkoliv je výše popsaná kalibrační technika s dvojím obrazem
• · | • · | «1 | ě · · * | |
« ·«· | • * · | • | • » * | • |
• · | • · | • · | • | |
·· · | *·♦ | • · |
upřednostňována, může být použita jakákoliv kalibrační technika, jejímž výsledkem je maximální uniformita obrazového pole, což je důležité pro zobrazování s vysokým kontrastem a získání vylepšené tepelné přesnosti.
Každý obrazový snímek získaný v průběhu zobrazovacího procesu se skládá z N x N obrazových prvků, kde každý obrazový prvek odpovídá rozlišovacímu prvku na povrchu předmětu, kde N je typicky buď 128 nebo 256, v závislosti na požadované přesnosti a rozlišení. Každý obrazový prvek zabírá okolo dvou bytů pamětí a může být například reprezentován 12-bitovým nebo větším binárním číslem. Uložené obrazové snímky jsou následně identifikovány podle zvyšujících se hodnot čísla snímku, což dohromady slouží k zajištění historickému záznamu charakteristiky teplot versus čas (T-t) předního povrchu předmětu 1 po předem určenou dobu poté, co byl zasažen tepelným impulsem předaným zábleskovou lampou 11.
Ve výhodném provedení je pro určení skutečné tloušťky kovového předmětu tento kovový zájmový předmět umístěn vedle odděleného kovového referenčního bloku 2., který má podobné složení a má tepelně tlustou část 3 a s tímto blokem 2 je společně zobrazen ve stejném obrazovém snímku, za použití stejného tepelného impulsu zábleskové lampy. Tepelně tlustá část 3. kovového referenčního bloku 2 je použita k odvození průměrné intenzity obrazového prvku pro tento blok, která není dotčena žádným možným vlivem tepelného impulsu odraženého vnitřně v měřeném předmětu. Tato průměrná intenzita obrazového prvku je poté užita pro určení kontrastu individuálního obrazového prvku (jak je popsáno níže) a umožňuje přesné určení skutečné tloušťky kovové vrstvy „pod tímto obrazovým prvkem.
*· ♦ * · · * * « « ···· · · « ···· · • · · · · · · • ·· »·· ·· ·♦··
Během vyhodnocování kovového předmětu, poté co řídící počítač 1S. spustí zábleskové lampy (lampu) 11, se z kamery 13 shromažďují snímky obrazových dat a infračervená intenzita v každém rozlišovacím prvku na obraze se digitálně zaznamenává a ukládá v záznamovém zařízení 15 snímkových dat. Shromažďování dat pokračuje po předem určený počet následných obrazových snímků, které jsou dostačující k získání významné T-t historie po dobu trvání alespoň jednoho odhadovaného „charakteristického času“ pro materiál předmětu. Počet Z shromážděných obrazových snímků se liší v závislosti na požadované přesnosti a rozlišení obrazu a může být až 550 snímků za vteřinu shromažďování dat.
Záznamové zařízení 15 snímkových dat může být běžná vnitřní digitální paměť procesoru 16 nebo jakékoli vhodné zařízení pro ukládání dat obrazových snímků, které je přístupné procesoru 16. Každému postupně shromážděnému tepelnému obrazovému snímku je přiděleno zvyšující se snímkové číslo Z, které odpovídá průběhu reálného času. Vzniklý „svazek“ datových snímků je poté analyzován s použitím jednorozměrné analýzy toku tepla, jak je uvedeno výše. V souladu s tímto přístupem využívá metoda podle předkládaného vynálezu výhodu známé vlastnosti tepelné invariance, dokázané v historii teplota versus čas (T-t) každého obrazového prvku přes po sobě jdoucí infračervené obrazové snímky, která závisí na identifikaci umístění „inflexního bodu“ nebo času špičkové strmosti, to jest časového bodu s maximální strmostí na T-t datové křivce.
Na obr. 2 je vývojový diagram, který zobrazuje kroky pro provádění tranzientní infračervené termografie a analýzy obrazových dat pro kovové předměty v souladu s předkládaným vynálezem. Tyto kroky jsou realizovány systémovým počítačem 16. naprogramovaným za použití vhodného komerčně dostupného © ©··♦ ··« · © · © © • · ··© ·»© ©*· © ·· ©·« ©· ©·· software a/nebo aplikací známých běžných programovacích technik.
Počítačový operátor nejprve vybere a/nebo vloží informace o relevantních parametrech pro požadovaný materiál, jako je koeficient tepelné rozptylnosti, teplotní data interní referenční oblasti atp. a identifikuje se oblast zájmu na daném předmětu (tj. infračervená kamera se zaostří tak, aby zachycovala oblast zájmu a požadovanou „tepelně tlustou“ oblast).
Dále v kroku 20 dá systémový řídící počítač instrukci elektronice zábleskových lamp aby spustila zábleskové lampy 11 a zahájila shromažďování dat obrazových snímků z kamery 13 s polem senzorů v ohniskové rovině. Shromažďování dat pokračuje po předem určený počet následných obrazových snímků. V kroku 21 je každý shromážděný obrazový snímek identifikován pomocí čísla snímku Z s rostoucí hodnotou a poté je zaznamenán v paměti snímkových dat.
Dále se v kroku 22 vytvoří sada T-t křivek pro každý obrazový prvek, odpovídající v tepelném obrazu (x,y) pozici každého rozlišovacího prvku v oblasti zájmu na povrchu předmětu, identifikuje se čas a číslo snímku počátečního infračerveného zahřívacího „záblesku“, identifikuje se první nenasycený datový snímek a generuje se „referenční T-t křivka. K určení skutečné tloušťky v místě rozlišovacího prvku na předmětu (narozdíl od „relativní tloušťky“, která je pouze relativní hodnotou tloušťky vzhledem k jiným místům na předmětu) se musí použít referenční T-t křivka, která aproximuje charakteristiku hypotetického „nekonečně tlustého“ předmětu s podobnými charakteristikami tepelné vodivosti. K vytvoření této referenční křivky je zobrazena spolu s předmětem tepelně tlustá oblast odděleného předmětu podobné stavby a je použita pro získání dat referenční T-t křivky.
4·· 44 44 4 · 4 4
4 · 444 « 4 4 • ··«· «44 · 4 « 4 4 · 4 4» »44
4·4 4 44 4»4 44 4*44
Alternativně mohou být použita T-t data ze známé tepelně tlusté části předmětu našeho zájmu (nebo pokud je požadována pouze relativní tloušťka, mohou být data referenční křivky získána z T-t historie střední intenzity obrazových prvků z každého obrazového snímku),
V krocích 23 a 24 je pro analýzu vybrán první obrazový prvek (nebo následující obrazový prvek) a jsou nalezena data jeho T-t křivky (tj., je určena nebo znovu vyvolána z počítačové paměti). V tomto bodě je možné udělat volitelné úpravy ofsetu a měřítka (amplitudy) tak, aby pomohly překonat efekty měnící se emisní schopnosti nebo ztráty amplitudy díky zakřivení povrchu předmětu. K dosažení toho je T-t datová křivka pro každý obrazový prvek nastavena tak, aby odpovídala specifickým bodům na „normalizované referenční křivce. Referenční křivka může být například normalizována tak, že „studená“ (předzáblesková) amplituda odpovídá nule. Když je pak T-t datová křivka pro každý obrazový prvek analyzována, je posunuta na nulovou studenou amplitudu prvním přizpůsobením vhodnému bodu na referenční křivce. Navíc může být v tomto kroku aplikována na každý bod T-t datové křivky korekce „zisku dat intenzity obrazového bodu tak, aby se vyrovnala infračervená emisní schopnost, měnící se díky zakřivení povrchu a/nebo proměnným povrchovým podmínkám předmětu. Korekce zisku obrazového prvku může být například také aplikována tak, že amplituda obrazového prvku v prvním nenasyceném obrazovém snímku bude odpovídat amplitudě referenční křivky ve stejném časovém bodě.
Dále je za účelem přesnějšího určení inflexního bodu na T-t křivce určena v kroku 25 „kontrastní“ křivka vybraného obrazového prvku tak, že se odečtou data „referenční“ T-t křivky od dat T-t křivky pro daný obrazový prvek.
• · ·· © © * © • * · 9 · ♦ • · · · · < · » » · · · · ·· M ·♦·· kontrastní
1“ © 9 φ • »*·» 9 • » ©»· *
Dále se v kroku 26 provádí časové vyhlazení dat křivky za pomoci gaussovské funkce. Zde je vytvořeno „časové okno“ používané v gaussovském vyhlazovacím algoritmu tak, že se mění jako časová funkce tím, že je proporcionálně úměrné číslu Z obrazového snímku. V podstatě toto vyhlazovací „okno“ řídí plnou šířku gaussovské funkce v polovině maxima (tj. šířku ,,2-σ“). Použití tohoto přístupu „vyhlazování podle čísla snímku“ s proměnlivou šířkou je výhodnější než používání tradičního gaussovského vyhlazování, protože to má tendenci ke kompenzaci efektů šíření tepla v rostoucích hloubkách v materiálu.
Pro tento krok je šířka vyhlazovacího okna ve vybraném datovém bodě s výhodou vytvořena tak, že je úměrná druhé odmocnině čísla obrazového snímku v tomto bodě. Kromě gaussovského časového vyhlazování může být v této fázi na data kontrastní křivky aplikováno množství softwarově implementovaných „obrazových filtrů“ včetně prostorového vyhlazování, potlačení počátečního a závěrečného šumu, potlačeni negativního kontrastu a prahování kontrastu.
V kroku 27 se dále určí matematická derivace kontrastní křivky, udávající inflexní bod. Je dobře známo, že bod maximální strmosti na křivce může být určen za použití tradičního derivačního algoritmu se třemi následnými body, ve kterém jsou vzorkovány tři rovnoměrně vzdálené následné datové body na křivce a jsou použity k vypočítání strmosti křivky ve druhém (prostředním) datovém bodu. V souladu s předkládaným vynálezem se stále používají tři body k určení derivace kontrastní křivky, afe vzdálenost prvního a třetího vzorkového derivačního bodu (tj., šířka základního derivačního intervalu) je spojeno s reálným časem ve vývoji obrazu pomocí čísla obrazového snímku. Konkrétně je šířka základního derivačního intervalu v jakémkoliv vybraném bodě
9 .i
9 • :
ι » 9 9 ϊ ··:· · ··· 9 • 9
9 ·
na kontrastní křivce úměrná druhé odmocnině čísla Z infračerveného obrazového snímku.
Tímto způsobem jsou maximalizovány charakteristiky poměru signál/šum (S/N) dokonce i při vysokých úrovních šumu. Toto vylepšení v poměru S/N vyplývá ze „vzorkování“ ve velkém intervalu a tedy detekuje největší změnu signálu spíše než diferenciální změnu, která se tradičně získá při tříbodové diferenciaci s pevnou šířkou. Jelikož se maximální poměr S/N získá, když je odstup vzorkovacích bodů rovný plné gaussovské šířce, je při použiti přístupu s šířkou úměrnou číslu snímku dle stávajícího vynálezu vždy dosažen maximální možný poměr S/N.
V dalším kroku 28 jsou identifikovány všechny vrcholy v derivované křivky a je použit faktor „vážící“ význam, za účelem vyhodnocení správného vrcholu, který pak bude použit jako inflexní bod tinfi. Během tohoto kroku je v paměti počítače udržován seznam všech umístění (časů) a amplitud vrcholů. Použitím předem určené vhodné vážící funkce na seznam vrcholů je možné přizpůsobit důležitost každého vrcholu tak, že například šumové efekty produkující vrcholy objevující se brzy v čase shromažďování dat jsou účinně vynechávány. Protože empirické důkazy indikují, že vrcholy, které se objevují později v čase, inklinují k větší důležitosti, je v předkládaném příkladném provedení Implementována časová vážící funkce tak, že se jednoduše násobí amplituda vrcholu časem, ve kterém se objeví. Poté jsou vrcholy rozděleny v závislosti na klesajícím významu (váze) a vrchol, který má největší váženou hodnotu (tj., nejvýznamnější) je vybrán jako ten, který indikuje správný inflexní bod.
V kroku 29 je určena tloušťka předmětu v místě rozlišovacího prvku odpovídajícího vybranému obrazovému prvku. Toto se provede identifikací čísla snímku, ve kterém se objevuje
V Φ
I
φφ : i ι
• · * • φ φφφ • · ··· « nejdůležitější vrchol a převedením této hodnoty do reálného času. Protože shromažďování infračervených obrazových snímků se děje se známou předem určenou rychlostí, může být číslo snímku přiřazeno k reálnému uplynulému času. Tudíž číslo snímku toho infračerveného obrazového snímku, který v sobě uchovává nejdůležitější vrchol, poskytuje časovou hodnotu pro tinfj. Za použití rovnic (1) a (2), uvedených výše, je tato hodnota pro tinfi převedena na hodnotu tloušťky L, vztahující se ke skutečné tloušťce předmětu v místě rozlišovacího prvku odpovídajícího obrazovému prvku.
Dále je v kroku 30 hodnota tloušťky L uložena v paměti a použita k vytvoření barevně mapovaného obrazu (nebo obrazu ve stupnici šedi) oblasti zájmu na povrchu předmětu za účelem zobrazení nebo tisku, kde každá barva odpovídá určité tloušťce. Poté je vybrán následující obrazový prvek (v kroku 23) a výše uvedené kroky se opět provádějí pro každý obrazový prvek tvořící infračervený obraz.
Navíc ke krokům naznačeným výše jsou pomocí příslušného běžného programování systémového řídícího počítače automatizovány vstup a výběr různých hodnot parametrů, jako je konstanta rozptylnosti, počáteční bod a rozsah analýzy dat, rozsah velikostí časového vyhlazovacího okna a rozsah barevného mapování, za účelem přesnosti a shodnosti.
Prováděním tranzientní termografické analýzy za použití výše popsaných kroků pro shromažďování tepelných dat a jejich analýzu spolu s výše popsaným zařízením v souladu s předkládaným vynálezem, je možné přesné stanovit hodnoty tloušťky stěny dokonce i mezi blízko situovanou zadní stěnou nebo vnitřními strukturami, které mohou tvořit část testovaného předmětu nebo mohou být k němu připojeny, například žebrovitými strukturami, které často nacházíme v turbínových křídlových profilech (jak je • 9
9· • 9 9 a 9 • 9 9 «999 i
• 9 • 999 • 9 « 9 ·
zobrazeno na obr. 1), zatímco používání tradičních tepelných nebo ultrazvukových metod pro takové struktury s blízko umístěnou zadní stěnou by normálně vedlo k rozmazaným obrazům a zkomoleným datům.
Obr. 3 ukazuje příklad tisku infračerveného tranzientního termografického obrazu kovového stupňovitého standardu ze slitiny niklu, vytvořeného v souladu s metodou a zařízením předkládaného vynálezu. Stupňovitý standard použitý k vytvoření obrazu z obr. 3 má šest čtvercových sekcí různé tloušťky a mnohem tlustší dolní oblast (není zobrazena), která je použita jako tepelně tlustá referenční část pro získání dat referenční T-t křivky, potřebných k určení skutečné tloušťky. Tloušťka každé ze šesti sekcí je signalizována barevným odstínem (nebo tónem šedi), který odpovídá barvě na tloušťkovém klíči se sloupcovou stupnicí, který je zobrazen napravo od obrazu. V tomto případě, zahrnuje sloupcová stupnice znaky tloušťky v rozsahu od 0,016 do 0,064 palce (0,04 - 0,16 cm).
Jiné provedení předkládaného vynálezu odstraňuje potřebu získávání hodnot kontrastu pro každý obrazový prvek. V tomto provedení jsou určeny a porovnány výskyty inflexního bodu v čase v T-t křivkách intenzity obrazového prvku odpovídajících rozlišovacímu prvku jak měřeného předmětu tak referenčního bloku, který má jednu nebo více částí, u kterých je známá tloušťka. Výskyt inflexního bodu (bodů) referenčního bloku v čase, vztažený k inflexnímu bodu předmětu indikuje tloušťku tohoto předmětu. Pokud inflexní bod předmětu padne mezi inflexní body odpovídající dvěma částem různé tloušťky v bloku, zjistí se tloušťka předmětu interpolací. Zatímco je ve výhodném provedení kontrast obrazového prvku určen tak, jak je uvedeno výše za použití tepelně tlusté reference, je možné provádět užitečná měření bez určení » * o ·
9 4 β ·« • 9 9 «9 v • l««* 4 · 9 B • * 4 · ·
494 4 44 BB* «9 9· • ·· 9 • 4 4
4«
4·
4444 kontrastu obrazového prvku za použití pouhých inflexních bodů intenzity obrazového prvku.
Zatímco byl vynález popsán v souvislosti s tím, co je v současnosti považováno za nejpraktičtější a výhodné provedení, rozumí se, že vynález nemá být omezen pouze na zde zveřejněné provedení, ale naopak, je zamýšleno pokrytí různých modifikací a ekvivalentních uspořádání, zahrnutých v duchu a rozsahu připojených nároků.
Claims (25)
- PATENTOVÉ NÁROKY1. Zařízení (10) pro vysokorychlostní infračervenou tranzientní termografii pro určování tloušťky stěny předmětu (1) vyznačující se tím, že zahrnuje:kameru (13) spolem senzorů v ohniskové rovině citlivou na infračervené záření; zdroj tepla (11);spektrálně laděný filtr (18) umístěný opticky mezi zmíněný zdroj a předmět pro zamezení doznívajících emisí dlouhovlnného infračerveného záření; a systém zpracování obrazových dat pro řízení shromažďování a analýzy infračervených obrazových dat.
- 2. Zařízení pro infračervenou tranzientní termografii podle nároku 1 vyznačující se tím, že spektrálně laděný filtr (18) je obecně propustný pro viditelné a ultrafialové světlo a odráží infračervené záření v rozsahu 3-5 mikronů.
- 3. Zařízení pro infračervenou tranzientní termografii podle nároku 1 vyznačující se tím, že spektrálně laděný optický filtr (18) zabraňuje emisi v podstatě veškerého infračerveného záření v rozsahu 3-5 mikronů ze zábleskové lampy.
- 4. Způsob vysokorychlostní infračervené trenzientní termografie pro určování tloušťky předmětu (12) vyznačující se tím, že obsahuje kroky:a) ukládání dat o intenzitě obrazového prvku z předem určeného sledu obrazových snímků získaných z kamery (13) s polem senzorů v ohniskové rovině citlivé na infračervené ···· * » » ♦I ·· · záření, kde je každému následně shromážděnému obrazovému snímku přiřazeno číslo snímku se vzrůstající hodnotou iineárně odpovídající uplynulému času;b) určení kontrastní křivky obrazového prvku z dat intenzity obrazového prvku pro obrazový prvek ze zmíněného sledu obrazových snímků;c) provedení gaussovského časového vyhlazení dat kontrastní křivky obrazového prvku získané v kroku (b);d) určení časové derivace dat kontrastní křivky obrazového prvku z oddělených datových bodů v čase na kontrastní křivce po gaussovském časovém vyhlazení;e) identifikace lokalizovaného vrcholu derivovaných hodnot v časové derivaci dat kontrastní křivky obrazového prvku;f) použití předem určené váhové funkce na zmíněné lokalizované vrcholové hodnoty identifikované v kroku (e) k určení hodnoty významu pro každou identifikovanou vrcholovou hodnotu derivace;g) výběr jedné vrcholové hodnoty derivace kontrastní křivky na základě nejvýznamnější hodnoty určené v kroku (f); ah) určení tloušťky předmětu L na základě čísla snímku toho obrazového snímku, ve kterém se objeví vrcholová hodnota derivace kontrastní křivky, vybraná v kroku (g).
- 5. Způsob infračervené tranzientní termografie podle nároku 4 vyznačující se tím, že kontrastní křivka obrazových prvků je určena odečtením dat referenční křivky obrazového prvku od dat intenzity obrazového prvku pro daný obrazový prvek.•· ♦ · © »· ««·© ·©·· © · · « · · © « • · · a · · © • ·· ··© ·· ···©
- 6. Způsob infračervené tranzientní termografie podle nároku 5 vyznačující se tím, že data referenční křivky obrazového prvku jsou určena z dat intenzity obrazového prvku tepelně tlusté referenční části předmětu, kde tato referenční část aproximuje charakteristiky hypotetického nekonečně tlustého předmětu.
- 7. Způsob infračervené tranzientní termografie podle nároku 5 vyznačující se tím, že data referenční křivky obrazového prvku jsou určena z dat intenzity obrazového prvku získaných z tepelně tlusté oblasti odděleného kovového referenčního kusu, který má značně podobné charakteristiky vodivosti tepla a je zobrazen spolu s předmětem.
- 8. Způsob infračervené tranzientní termografie podle nároku 4 vyznačující se tím, že proměnná emisní schopnost způsobená zakřivením povrchu a/nebo různými stavy povrchu zobrazovaného předmětu je kompenzována modifikací dat intenzity obrazového prvku předem určeným ziskovým faktorem pro vybrané obrazové prvky.
- 9. Způsob infračervené tranzientní termografie podle nároku 4 vyznačující se tím, že data intenzity obrazového prvku pro vybrané obrazové prvky jsou modifikována za účelem kompenzace vlivů proměnné infračervené emisní schopnosti díky zakřivením povrchu daného předmětu.
- 10. Způsob infračervené tranzientní termografie podle nároku 4 vyznačující se tím, že kontrastní křivka obrazového prvku zahrnující data intenzity obrazového prvku získaná • · * f ···· · · · ’ ·· «« 4» * · « 4 • · · · • · « · · ♦ « * « * · ·· ··· 9· ··»♦ v předem určeném časovém úseku je přesazena srovnáním vybraných bodů na křivce intenzity obrazového prvku s vybranými body na normalizované referenční křivce obrazového prvku.
- 11. Způsob infračervené tranzientní termografie podíe nároku 4 vyznačující setím, že velikost časového vyhlazovacího okna použitého pro gaussovské vyhlazení dat kontrastní křivky obrazového prvku je úměrná číslu snímku, které odpovídá počátečnímu času vyhlazovacího okna tak, že velikost vyhlazovacího okna vzrůstá s časem.
- 12. Způsob infračervené tranzientní termografie podle nároku 4 vyznačující se tím, že velikost časového vyhlazovacího okna použitého pro gaussovské vyhlazení dat kontrastní křivky obrazového prvku je úměrná druhé odmocnině čísla snímku, které odpovídá počátečnímu času vyhlazovacího okna.
- 13. Způsob infračervené tranzientní termografie podle nároku 4 vyznačující se tím, že časová derivace dat kontrastní křivky obrazového bodu se získá použitím běžného tříbodového derivačního algoritmu modifikovaného výběrem tří datových bodů na kontrastní křivce rovnoměrně rozložených v čase takových, že první a třetí datový bod jsou odděleny časovým úsekem úměrným druhé odmocnině hodnoty čísla snímku pro druhý (střední) datový bod.• · ··· ··· ·♦· · *· ··· ·· ··*
- 14. Způsob infračervené tranzientní termografie podle nároku 4 vyznačující se tím, že tloušťka L je určena následujícími rovnicemi:Tc = 4Ι_2/π2α a tinfi”0,9055T c, kde a je tepelná rozptylnost předmětu a kde tínfi přímo souvisí s hodnotou čísla snímku toho obrazového snímku, ve kterém se objeví vrchol derivace kontrastní křivky s největším významem.
- 15. Způsob infračervené tranzientní termografie podle nároku 4 vyznačující se tím, že předmět je před shromažďováním infračervených obrazových snímků pokryt tenkou vrstvou látky s vysokou ultrafialovou viditelností a infračervenou emisní schopností.
- 16. Zařízení pro určováni tloušťky předmětu majícího povrch, který může být zviditelněn jako pole obrazových prvků vyznačující se tím, že zahrnuje:zdroj tepia (11) pro rychlé zahřívání povrchu předmětu (1);prostředek pro zaznamenávání intenzity obrazových prvků v posloupnosti infračervených obrazů;prostředek pro určování dat kontrastu obrazových prvků ze zaznamenané intenzity obrazových prvků;prostředek pro určování derivace dat kontrastu na základě hodnoty čísla snímku přiřazené infračervenému obrazu; a prostředek pro určování tloušťky vzhledem k jiným částem předmětu na základě kontrastu obrazového prvku a čísla obrazového snímku.
·♦ · « « ·« • * • * • ···· * · «* · · • » » » · ·· • * ·< · • · · • · ·· • * ···· - 17.Způsob vysokorychlostní infračervené tranzientní termografie pro určování skutečné tloušťky předmětu vyznačující se tím, že obsahuje kroky:a) shromažďování dat intenzity obrazového prvku z předem určené posloupnosti infračervených obrazových snímků předmětu za použití kamery s polem senzorů v ohniskové rovině citlivé na infračervené záření, kde každý obrazový snímek zahrnuje množinu obrazových prvků;b) získání hodnoty reprezentující průměrnou intenzitu obrazového prvku z dat intenzity obrazových prvků odpovídajících tepelně tlusté referenční části předmětu;c) určení dat kontrastu obrazových prvků odečítáním zmíněné hodnoty reprezentující průměrnou intenzitu obrazového prvku od dat intenzity obrazového prvku pro daný obrazový prvek;d) opakování kroků (b) a (c) pro každý snímek zmíněné posloupnosti infračervených obrazových snímků za účelem získání teplotně-časové (T-t) kontrastní křivky pro zmíněný obrazový prvek; ae) určení skutečné tloušťky v rozlišovacím prvku předmětu odpovídajícího obrazovému prvku za použití kontrastní křivky, kde určení je založené na vztahu invariantním k toku tepla mezi inflexním bodem na kontrastní křivce a charakteristickým časem toku tepla, který je závislý na tepelné rozptylnosti předmětu.
- 18.Způsob infračervené tranzientní termografie podle nároku 17 vyznačující se tím, že krok určení skutečné tloušťky v rozlišovacím prvku předmětu odpovídajícím obrazovému prvku za použití zmíněné kontrastní křivky dále zahrnuje kroky:provedení časového vyhlazení dat kontrastní křivky obrazového prvku;
4» « 4 9 4 9 9 9 4 4 • »444 4 4 9 4 4 9* 9 • 4 4 9 • 4 · · • •4 • 49 4*4 4· 494« určení časové derivace dat kontrastní křivky obrazového bodu z datových bodů oddělených v čase na kontrastní křivky;identifikace iokalizovaných vrcholových hodnot derivace v časové derivaci dat kontrastní křivky obrazového bodu;aplikace předem určené váhové funkce na tyto lokalizované vrcholové hodnoty k určení hodnoty významu pro každou identifikovanou vrcholovou hodnotu derivace;výběr jedné vrcholové hodnoty derivace kontrastní křivky na základě této hodnoty významu; a určení skutečné tloušťky předmětu v rozlišovacím prvku základě čísla snímku toho obrazového snímku, ve kterém objeví vybraná vrcholová hodnota derivace kontrastní křivky.na se - 19.Způsob infračervené tranzientní termografie podle nároku 18 vyznačující se tím, že velikost okna vyhlazovací funkce použitého pro časové vyhlazeni dat kontrastní křivky obrazového prvku je úměrná čísiu snímku odpovídajícího počátečnímu času vyhlazovacího okna tak, že velikost vyrovnávacího okna se zvětšuje s časem.
- 20.Způsob infračervené tranzientní termografie podle nároku 18 vyznačující se tím, že velikost časového vyhlazovacího okna použitého pro gaussovské vyhlazení dat kontrastní křivky obrazového bodu je úměrná druhé odmocnině čísla snímku, který odpovídá počátečnímu času vyhlazovacího okna.
- 21.Způsob vysokorychlostní infračervené tranzientní termografie pro určování skutečné tloušťky předmětu vyznačující se tím, že obsahuje kroky:• · « 9 » 99 9 9 9 99 ···· 9 9 9 • 9 9 9 «·· · 99 99 » 99 99 «9 999999 9a) shromažďování dat intenzity obrazového prvku z předem určené posloupnosti infračervených obrazových snímků předmětu a sousedícího odděleného referenčního kusu zobrazeného společně s objektem za použití kamery s polem senzorů v ohniskové rovině citlivé na infračervené záření, kde každý obrazový snímek zahrnuje množinu obrazových prvků a referenční kus má teplotně tlustou referenční část se značně podobnými charakteristikami vodivosti tepla jako předmět;b) získání hodnoty reprezentující průměrnou intenzitu obrazového prvku z dat intenzity obrazových prvků odpovídajících tepelně tlusté referenční části referenčního kusu;c) určení dat kontrastu obrazových prvků odečítáním zmíněné hodnoty reprezentující průměrnou intenzitu obrazového prvku od dat intenzity obrazového prvku pro daný obrazový prvek;d) opakování kroků (b) a (c) pro každý snímek zmíněné posloupnosti infračervených obrazových snímků za účelem získání tepiotně-časové (T-t) kontrastní křivky pro zmíněný obrazový prvek; ae) určení skutečné tloušťky v rozlišovacím prvku předmětu odpovídajícího obrazovému prvku za použití kontrastní křivky, kde určení je založené na vztahu invariantním k toku tepla mezi inflexním bodem na kontrastní křivce a charakteristickým časem toku tepla, který je závislý na tepelné rozptylnosti předmětu.
- 22.Způsob vysokorychlostní infračervené tranzientní termografie podle nároku 21 vyznačující se tím, že krok určení skutečné tloušťky v rozlišovacím prvku předmětu odpovídajícím obrazovému prvku za použití zmíněné kontrastní křivky dále zahrnuje kroky:
• 9 9 9 «9 9 9 9 9 9 9999 * 9 9 · · 9 9 9 9 9 99 9 9 99· 9 9 9 9 9 9 9 •« 9 9 9 9 provedení časového vyhlazení dat kontrastní křivky obrazového prvku;určení časové derivace dat kontrastní křivky obrazového bodu z datových bodů oddělených v čase na kontrastní křivky;identifikace lokalizovaných vrcholových hodnot derivace v časové derivaci dat kontrastní křivky obrazového bodu;aplikace předem určené váhové funkce na tyto lokalizované vrcholové hodnoty k určení hodnoty významu pro každou identifikovanou vrcholovou hodnotu derivace;výběr jedné vrcholové hodnoty derivace kontrastní křivky na základě této hodnoty významu; a určení skutečné tloušťky předmětu v rozlišovacím prvku na základě čísla snímku toho obrazového snímku, ve kterém se objeví vybraná vrcholová hodnota derivace kontrastní křivky. - 23. Způsob infračervené tranzientní termografie podle nároku 22 vyznačující se tím, že velikost okna vyhlazovací funkce použitého pro časové vyhlazení dat kontrastní křivky obrazového prvku je úměrná číslu snímku odpovídajícího počátečnímu času vyhlazovacího okna tak, že velikost vyrovnávacího okna se zvětšuje s Časem.
- 24.Způsob infračervené tranzientní termografie podle nároku 18 vyznačující se tím, že velikost časového vyhlazovacího okna použitého pro gaussovské vyhlazení dat kontrastní křivky obrazového bodu je úměrná druhé odmocnině čísla snímku, který odpovídá počátečnímu času vyhlazovacího okna.• * 9 • * 9 © 9 9 9« *9 ©·© 9 9 «999 * • * 99© 949 ·♦· · ·* ©*· ©4 »···
- 25.Způsob vysokorychlostní infračervené tranzientní termografie pro určování skutečné tloušťky předmětu vyznačující se tím, že obsahuje kroky:a) shromažďování dat intenzity obrazového prvku z předem určené posloupnosti infračervených obrazových snímků předmětu a sousedícího odděleného referenčního kusu zobrazeného společně s objektem za použití kamery s poíem senzorů v ohniskové rovině citlivé na infračervené záření, kde každý obrazový snímek zahrnuje množinu obrazových prvků a referenční kus má jednu nebo více samostatných částí se známou tloušťkou a se značně podobnými charakteristikami vodivosti tepla jako předmět;b) určení inflexních bodů vT-t křivkách intenzity obrazového prvku odpovídajícího rozlišovacímu prvku předmětu a jednomu nebo více rozlišovacím prvkům odpovídajících různým částem známé tloušťky referenčního kusu; ac) určení skutečné tloušťky předmětu v rozlišovacím prvku předmětu porovnáváním relativních časů výskytu infexních bodů určených v kroku (b) a extrapolací nebo interpolací hodnoty tloušťky pro předmět z částí známé tloušťky na referenčním kusu.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/292,886 US6394646B1 (en) | 1999-04-16 | 1999-04-16 | Method and apparatus for quantitative nondestructive evaluation of metal airfoils using high resolution transient thermography |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CZ20013674A3 true CZ20013674A3 (cs) | 2002-04-17 |
CZ302194B6 CZ302194B6 (cs) | 2010-12-08 |
Family
ID=23126649
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CZ20013674A CZ302194B6 (cs) | 1999-04-16 | 2000-04-13 | Zpusob infracervené tranzientní termografie pro urcování tlouštky predmetu a zarízení k jeho realizaci |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6394646B1 (cs) |
EP (1) | EP1173724B1 (cs) |
JP (1) | JP4683728B2 (cs) |
KR (1) | KR100768626B1 (cs) |
AT (1) | ATE461422T1 (cs) |
CZ (1) | CZ302194B6 (cs) |
DE (1) | DE60044024D1 (cs) |
TW (1) | TW486568B (cs) |
WO (1) | WO2000063642A1 (cs) |
Families Citing this family (78)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20080101683A1 (en) * | 1999-12-22 | 2008-05-01 | Siemens Power Generation, Inc. | System and method of evaluating uncoated turbine engine components |
US7690840B2 (en) * | 1999-12-22 | 2010-04-06 | Siemens Energy, Inc. | Method and apparatus for measuring on-line failure of turbine thermal barrier coatings |
SE0003985L (sv) * | 2000-11-01 | 2002-05-02 | Ericsson Telefon Ab L M | En anordning och ett förfarande för inspektion |
DE10392293T5 (de) * | 2002-02-15 | 2005-09-22 | Lm Glasfiber A/S | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen des Vorhandenseins von Polymer in einem Windturbinenblatt |
US6712502B2 (en) * | 2002-04-10 | 2004-03-30 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Synchronized electronic shutter system and method for thermal nondestructive evaluation |
US7060991B2 (en) * | 2002-04-11 | 2006-06-13 | Reilly Thomas L | Method and apparatus for the portable identification of material thickness and defects along uneven surfaces using spatially controlled heat application |
US7060971B2 (en) * | 2002-09-13 | 2006-06-13 | Siemens Westinghouser Power Corporation | Reference standard systems for thermosonic flaw detection |
US7064331B2 (en) * | 2002-09-13 | 2006-06-20 | Siemens Power Generation, Inc. | Method for calibrating and enhancing flaw detection of an acoustic thermography system |
US6875979B2 (en) * | 2002-10-03 | 2005-04-05 | Indigo Systems Corporation | Thermal imaging calibration systems and methods |
GB2397878B (en) * | 2002-12-20 | 2006-01-11 | Peter Edmond Chandler | Apparatus and method for in-situ identification of coating defects using thermography |
US7338202B1 (en) * | 2003-07-01 | 2008-03-04 | Research Foundation Of The University Of Central Florida | Ultra-high temperature micro-electro-mechanical systems (MEMS)-based sensors |
US7425093B2 (en) * | 2003-07-16 | 2008-09-16 | Cabot Corporation | Thermography test method and apparatus for bonding evaluation in sputtering targets |
US20050018748A1 (en) * | 2003-07-24 | 2005-01-27 | Ringermacher Harry Israel | Actively quenched lamp, infrared thermography imaging system, and method for actively controlling flash duration |
US7015473B2 (en) * | 2003-09-30 | 2006-03-21 | General Electric Company | Method and apparatus for internal feature reconstruction |
US20050207468A1 (en) * | 2004-03-16 | 2005-09-22 | Mccullough Robert W | Inductively heated transient thermography method and apparatus for the detection of flaws |
WO2006023212A2 (en) * | 2004-07-26 | 2006-03-02 | Thermal Wave Imaging | Infrared camera measurement correction for pulsed excitation with subframe duration |
EP1831675A4 (en) * | 2004-12-16 | 2013-09-04 | Atlantic Business Ct Of Excellence And Commercialization Of Innovation Ltd | METHOD AND DEVICE FOR MONITORING MATERIALS |
DE102005009482B3 (de) * | 2005-02-23 | 2006-06-14 | V&M Deutschland Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung des Fertigungsprozesses zur Herstellung von warmgefertigten Rohren aus Stahl |
WO2006112447A1 (ja) * | 2005-04-18 | 2006-10-26 | Hallys Corporation | 電子部品及び、この電子部品の製造方法 |
US7591583B2 (en) * | 2005-05-18 | 2009-09-22 | Federal-Mogul World Wide, Inc. | Transient defect detection algorithm |
US7419298B2 (en) * | 2005-05-24 | 2008-09-02 | United Technologies Corporation | Thermal imaging method and apparatus |
US7632012B2 (en) * | 2005-09-01 | 2009-12-15 | Siemens Energy, Inc. | Method of measuring in situ differential emissivity and temperature |
US7388204B2 (en) * | 2005-12-07 | 2008-06-17 | Meyer Tool, Inc. | Apparatus and method for analyzing relative outward flow characterizations of fabricated features |
FR2895688B1 (fr) * | 2005-12-30 | 2010-08-27 | Pellenc Selective Technologies | Procede et machine automatiques d'inspection et de tri d'objets non metalliques |
US7432505B2 (en) * | 2006-05-04 | 2008-10-07 | Siemens Power Generation, Inc. | Infrared-based method and apparatus for online detection of cracks in steam turbine components |
US8220991B2 (en) * | 2006-05-12 | 2012-07-17 | The Boeing Company | Electromagnetically heating a conductive medium in a composite aircraft component |
US7538938B2 (en) * | 2006-06-13 | 2009-05-26 | Uchicago Argonne, Llc | Optical filter for flash lamps in pulsed thermal imaging |
US7671338B2 (en) * | 2006-06-14 | 2010-03-02 | Meyer Tool, Inc. | Apparatus and method for analyzing relative outward flow characterizations of fabricated features |
JP2008011467A (ja) * | 2006-06-30 | 2008-01-17 | Toshiba Corp | 表示パネルの撮像方法及び表示パネルの撮像装置 |
DE102006043339B4 (de) * | 2006-09-15 | 2010-11-11 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Bauteilwandstärken mittels Thermographie |
DE102006044443A1 (de) * | 2006-09-21 | 2008-04-03 | Robert Bosch Gmbh | Automatische Erkennung von Beschichtungsfehlern |
US7516663B2 (en) * | 2006-11-03 | 2009-04-14 | General Electric Company | Systems and method for locating failure events in samples under load |
US8055054B2 (en) * | 2006-12-15 | 2011-11-08 | General Electric Company | Method and apparatus for thermographic nondestructive evaluation of an object |
DE102006061794B3 (de) * | 2006-12-21 | 2008-04-30 | Thermosensorik Gmbh | Verfahren zur automatischen Prüfung einer Schweißverbindung |
JP4758383B2 (ja) * | 2007-03-30 | 2011-08-24 | トヨタ自動車株式会社 | 温度測定装置および温度測定方法 |
US7549789B2 (en) * | 2007-06-20 | 2009-06-23 | General Electric Company | Method and apparatus for thermographic nondestructive evaluation of an object |
DE102007047776A1 (de) * | 2007-10-05 | 2009-04-09 | Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft | Infrarot-Prüfvorrichtung und Verfahren zum Betreiben der Infrarot-Prüfvorrichtung |
US8276645B2 (en) * | 2008-03-17 | 2012-10-02 | Southwire Company | Porosity detection |
US8393784B2 (en) * | 2008-03-31 | 2013-03-12 | General Electric Company | Characterization of flaws in composites identified by thermography |
KR100881713B1 (ko) * | 2008-04-04 | 2009-02-06 | 주훈 | 진공 흑체 소스 패키지 |
US8147130B2 (en) * | 2008-04-18 | 2012-04-03 | General Electric Company | Heat flux measurement device for estimating fouling thickness |
US8577120B1 (en) | 2009-11-05 | 2013-11-05 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Methods and systems for characterization of an anomaly using infrared flash thermography |
US9066028B1 (en) | 2010-01-08 | 2015-06-23 | The United States Of America As Represented By The Administator Of The National Aeronautics And Space Administration | Methods and systems for measurement and estimation of normalized contrast in infrared thermography |
GB201001354D0 (en) * | 2010-01-28 | 2010-03-17 | Rolls Royce Plc | An apparatus and a method of determining the presence of an alumina layer on a component |
DE102010024134B4 (de) * | 2010-06-17 | 2012-07-12 | INPRO Innovationsgesellschaft für fortgeschrittene Produktionssysteme in der Fahrzeugindustrie mbH | Verfahren zum zerstörungsfreien Prüfen von mindestens teiloffenen hohlförmigen Bauteilen oder Systemkomponenten auf Dichtheit in der Serienproduktion |
US20120025079A1 (en) * | 2010-07-27 | 2012-02-02 | Raulerson David A | Infrared led source for thermal imaging |
US8692887B2 (en) * | 2010-08-27 | 2014-04-08 | General Electric Company | Thermal imaging method and apparatus for evaluating coatings |
FR2965353B1 (fr) * | 2010-09-28 | 2013-08-23 | Astrium Sas | Procede et dispositif de controle non destructif de pales d'eoliennes |
KR101245548B1 (ko) * | 2011-04-01 | 2013-03-20 | 한국전력공사 | 휘도 차이를 이용한 보일러 튜브의 화울링 감시 시스템 |
US9007466B2 (en) * | 2011-04-27 | 2015-04-14 | General Electric Company | System and method for thermographic inspection |
CN102221339B (zh) * | 2011-06-09 | 2012-09-05 | 首都师范大学 | 脉冲红外热波技术测厚方法 |
US8553233B2 (en) * | 2011-06-30 | 2013-10-08 | John W. Newman | Method and apparatus for the remote nondestructive evaluation of an object using shearography image scale calibration |
US8885884B2 (en) * | 2011-09-19 | 2014-11-11 | Siemens Corporation | Motion analysis through geometry correction and warping |
US8866084B2 (en) | 2012-09-06 | 2014-10-21 | Siemens Energy, Inc. | Infrared non-destructive evaluation method and apparatus |
EP2743688B1 (en) * | 2012-12-17 | 2017-05-03 | Thermosensorik Gmbh | Method and system for the examination of a sample by means of thermography |
US9964404B2 (en) * | 2013-03-01 | 2018-05-08 | United Technologies Corporation | Flash thermography double wall thickness measurement |
US9395337B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-07-19 | Digital Wind Systems, Inc. | Nondestructive acoustic doppler testing of wind turbine blades from the ground during operation |
US9194843B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-11-24 | Digital Wind Systems, Inc. | Method and apparatus for monitoring wind turbine blades during operation |
US9330449B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-05-03 | Digital Wind Systems, Inc. | System and method for ground based inspection of wind turbine blades |
US9453500B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-09-27 | Digital Wind Systems, Inc. | Method and apparatus for remote feature measurement in distorted images |
US8759770B1 (en) | 2013-04-08 | 2014-06-24 | General Electric Company | System and method for qualifying usability risk associated with subsurface defects in a multilayer coating |
FR3006447B1 (fr) * | 2013-05-30 | 2015-05-29 | Snecma | Procede d'inspection par transmission d'ultrasons ameliore |
EP2840387A1 (en) * | 2013-08-23 | 2015-02-25 | DCG Systems, Inc. | Lock-in thermography method and system for hot spot localization |
US9500611B2 (en) | 2013-09-26 | 2016-11-22 | General Electric Company | Lamp assembly for a thermographic nondestructive evaluation system |
JP6304880B2 (ja) * | 2014-06-17 | 2018-04-04 | 株式会社Ihi | 非破壊検査装置 |
CN104457998B (zh) * | 2014-12-30 | 2017-08-29 | 合肥金星机电科技发展有限公司 | 红外测温数据处理方法 |
US10242439B1 (en) | 2016-08-17 | 2019-03-26 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Contrast based imaging and analysis computer-implemented method to analyze pulse thermography data for nondestructive evaluation |
CN107192734A (zh) * | 2017-01-22 | 2017-09-22 | 东南大学 | 一种利用瞬态平面热源法测试岩体热导率的传感器及其测试装置 |
US10677715B2 (en) * | 2017-11-22 | 2020-06-09 | The Boeing Company | Thermography inspection for near-surface inconsistencies of composite structures |
US10822997B2 (en) | 2018-06-14 | 2020-11-03 | General Electric Company | Inspection tool and method |
US11280751B2 (en) | 2018-12-04 | 2022-03-22 | General Electric Company | System and method for optimizing a manufacturing process based on an inspection of a component |
US10670539B1 (en) | 2018-12-11 | 2020-06-02 | General Electric Company | Coating quality inspection system and method |
EP3751368B1 (en) | 2019-06-14 | 2023-09-27 | General Electric Company | Additive manufacturing-coupled digital twin ecosystem based on a surrogate model of measurement |
EP3751370A1 (en) | 2019-06-14 | 2020-12-16 | General Electric Company | Additive manufacturing-coupled digital twin ecosystem based on multi-variant distribution model of performance |
US11112349B2 (en) * | 2019-07-16 | 2021-09-07 | Saudi Arabian Oil Company | Metal loss determinations based on thermography machine learning approach for insulated structures |
KR102454418B1 (ko) | 2020-09-11 | 2022-10-17 | 고려대학교 산학협력단 | 열화상카메라를 이용한 부재 에너지 소산측정시스템 및 소산측정방법 |
CN113740352B (zh) * | 2021-09-08 | 2022-11-22 | 四川大学 | 一种航空发动机叶片裂纹与残余应力集成检测方法 |
CN113945188B (zh) * | 2021-09-18 | 2023-08-08 | 番禺得意精密电子工业有限公司 | 分析连接器焊接面在回流焊过程中翘曲的方法及系统 |
Family Cites Families (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3808439A (en) * | 1972-04-24 | 1974-04-30 | Us Army | Laser illumination thermal imaging device for nondestructive testing |
US4513384A (en) | 1982-06-18 | 1985-04-23 | Therma-Wave, Inc. | Thin film thickness measurements and depth profiling utilizing a thermal wave detection system |
US4854724A (en) | 1984-07-09 | 1989-08-08 | Lockheed Corporation | Method of and apparatus for thermographic evaluation of spot welds |
GB8431928D0 (en) | 1984-12-18 | 1985-01-30 | Stevenson G M | Non-destructively testing heat shrinkable sleeves |
JPS62172249A (ja) | 1986-01-25 | 1987-07-29 | Kajima Corp | 煙突の劣化診断方法及び装置 |
US4792683A (en) | 1987-01-16 | 1988-12-20 | Hughes Aircraft Company | Thermal technique for simultaneous testing of circuit board solder joints |
US4872762A (en) | 1987-08-25 | 1989-10-10 | Nkk Corporation | Method and apparatus for detecting defective portion on inner surface of pipe |
JPS6457135A (en) | 1987-08-28 | 1989-03-03 | Nippon Kokan Kk | Photographing method with infrared-ray camera |
GB8813423D0 (en) | 1988-06-07 | 1988-07-13 | Atomic Energy Authority Uk | Coating inspection |
JPH02264832A (ja) * | 1989-04-05 | 1990-10-29 | Nippon Steel Corp | 輻射加熱―放射測温方法及び装置 |
JPH0450734A (ja) * | 1990-06-19 | 1992-02-19 | Central Res Inst Of Electric Power Ind | 温度測定を伴う物体表面の非接触加熱装置 |
US5032727A (en) | 1990-09-14 | 1991-07-16 | Digital Equipment Corporation | Product defect detection using thermal ratio analysis |
FR2682757A1 (fr) * | 1991-10-21 | 1993-04-23 | Inst Francais Du Petrole | Dispositif et methode de controle non destructif et continu de l'epaisseur de profiles. |
US5250809A (en) | 1992-01-24 | 1993-10-05 | Shuji Nakata | Method and device for checking joint of electronic component |
US5246291A (en) | 1992-06-01 | 1993-09-21 | Motorola, Inc. | Bond inspection technique for a semiconductor chip |
EP0586901B1 (de) * | 1992-09-08 | 1997-02-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Messanordnung zur berührungslosen Bestimmung der Dicke und/oder thermischen Eigenschaften von Folien und dünnen Oberflächenschichten |
US5292195A (en) | 1992-09-09 | 1994-03-08 | Martin Marietta Corporation | Thermographic evaluation technique |
US5376793A (en) | 1993-09-15 | 1994-12-27 | Stress Photonics, Inc. | Forced-diffusion thermal imaging apparatus and method |
JPH07181018A (ja) * | 1993-12-22 | 1995-07-18 | Kao Corp | 接着剤塗布厚みの測定方法および測定装置 |
US5539656A (en) | 1994-10-11 | 1996-07-23 | United Technologies Corporation | Crack monitoring apparatus |
US5683181A (en) | 1995-05-12 | 1997-11-04 | Thermal Wave Imaging, Inc. | Method and apparatus for enhancing thermal wave imaging of reflective low-emissivity solids |
US5631465A (en) | 1996-02-29 | 1997-05-20 | Shepard; Steven M. | Method of interpreting thermographic data for non-destructive evaluation |
JPH09311109A (ja) * | 1996-05-22 | 1997-12-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光を使用した欠陥検査方法、およびその装置 |
WO1998005921A1 (de) | 1996-07-31 | 1998-02-12 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur wanddickenbestimmung an einer turbinenschaufel und vorrichtung zur durchführung des verfahrens |
WO1998005949A1 (de) | 1996-07-31 | 1998-02-12 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und vorrichtung zur delaminationsprüfung bei beschichtungen auf substraten, insbesondere bei vps-beschichtungen auf gasturbinenschaufeln |
US5711603A (en) | 1996-10-30 | 1998-01-27 | United Technologies Corporation | Nondestructive testing: transient depth thermography |
JPH10274675A (ja) | 1997-03-31 | 1998-10-13 | Shimadzu Corp | 放射線検出器 |
-
1999
- 1999-04-16 US US09/292,886 patent/US6394646B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-04-13 KR KR1020017013121A patent/KR100768626B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2000-04-13 EP EP00926002A patent/EP1173724B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-04-13 JP JP2000612695A patent/JP4683728B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2000-04-13 DE DE60044024T patent/DE60044024D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2000-04-13 TW TW089107111A patent/TW486568B/zh not_active IP Right Cessation
- 2000-04-13 WO PCT/US2000/010068 patent/WO2000063642A1/en not_active Application Discontinuation
- 2000-04-13 CZ CZ20013674A patent/CZ302194B6/cs not_active IP Right Cessation
- 2000-04-13 AT AT00926002T patent/ATE461422T1/de not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2000063642A1 (en) | 2000-10-26 |
EP1173724A1 (en) | 2002-01-23 |
ATE461422T1 (de) | 2010-04-15 |
EP1173724B1 (en) | 2010-03-17 |
CZ302194B6 (cs) | 2010-12-08 |
JP2003512596A (ja) | 2003-04-02 |
US6394646B1 (en) | 2002-05-28 |
TW486568B (en) | 2002-05-11 |
KR100768626B1 (ko) | 2007-10-18 |
DE60044024D1 (de) | 2010-04-29 |
JP4683728B2 (ja) | 2011-05-18 |
KR20020034990A (ko) | 2002-05-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CZ20013674A3 (cs) | Měření tlouą»ky kovové vrstvy pomocí tranzientní termografie | |
JP4698907B2 (ja) | 合成的熱基準による撮像方法 | |
US8692887B2 (en) | Thermal imaging method and apparatus for evaluating coatings | |
EP1203199B1 (en) | Thermal resonance imaging method | |
JP5178001B2 (ja) | 絶縁塗膜の非破壊評価の装置 | |
US6751342B2 (en) | System for generating thermographic images using thermographic signal reconstruction | |
CA2718762C (en) | Characterization of flaws in composites identified by thermography | |
US7805251B2 (en) | Two slope reference for synthetic thermal time of flight imaging | |
US7060991B2 (en) | Method and apparatus for the portable identification of material thickness and defects along uneven surfaces using spatially controlled heat application | |
WO2002089042A1 (en) | System for generating thermographic images using thermographic signal reconstruction | |
RU2003112053A (ru) | Способ активного теплового неразрушающего контроля качества объекта |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Patent lapsed due to non-payment of fee |
Effective date: 20130413 |