CZ20002378A3

CZ20002378A3 - Apparatus for testing electronic components

Info

Publication number: CZ20002378A3
Application number: CZ20002378A
Authority: CZ
Inventors: Joseph Baumann; Jakob Hermann
Original assignee: Electro Scientific Industries, Inc.
Priority date: 1999-09-21
Filing date: 1999-09-21
Publication date: 2001-02-14

Abstract

Testovací zařízení zahrnuje transportní kolo (8), pevné nosné těleso (84), na kterémje zajištěna pohyblivá základna (78) prostřednictvím alespoň jedné pružné konstrukce. K pohyblivé základně (78) je zajištěno množství vedení (66), která mohou být posouvána skrz komplementární tunely v pevném vodícím bloku (94) směrem k na boku umístěným vývodům elektronické součástky (12) určené k testování. Transportní kolo (8) má množství po obvodě rozmístěných komůrek (24) pro přijetí elektronických součástek (12). Každá z komůrek (24) obsahuje kovový spodek. Zařízení dále zahrnuje kovový váleček (96) pro přitlačeni na konec součástky během testování. Kovový spodek každé komůrky (24) a kovový váleček (96) usnadňují elektrické spojení mezi vývody umístěnými na koncích součástky a vedeními (66) z testovací sondy (60), umístěnými na bocích kola (8).The test device comprises a transport wheel (8), a fixed carrier a body (84) on which a movable base (78) is provided by means of at least one resilient structure. K moving a base (78) is provided with a plurality of conduits (66) that can be pushed through complementary tunnels in the solid guide the block (94) towards the side-mounted outlets electronic components (12) for testing. Transportní the wheel (8) has a plurality of circumferentially spaced chambers (24) for receiving electronic components (12). Each of the chambers (24) comprises a metal bottom. The device further includes a metallic device a roller (96) for pressing the end of the component during testing. The metal bottom of each chamber (24) and the metal the roller (96) facilitates electrical connection between the terminals located at the ends of the component and lines (66) of the test probes (60) located on the sides of the wheel (8).

Description

Oblast technikyTechnical field

Předkládaný vynález se týká oblasti testovacích zařízení. Zejména se předkládaný vynález týká zařízení 5 zkonstruovaného pro usnadnění testování malých elektronických součástek. Je popsáno unikátní transportní kolo a přítlačné zařízení pro použití v zařízení zkonstruovaném pro testování elektronických součástek. Transportní kolo a přítlačné zařízení jsou zkonstruovány pro umožnění testování vývodů umístěných na bocích a/nebo koncích součástek. Je rovněž popsána unikátní testovací sonda, která může být rovněž použita v zařízení zkonstruovaném pro testování elektronických součástek. Sonda obsahuje množství vedení zajištěných na jednom konci k pohyblivé, pružně zajištěné 15 základně. Vedení procházejí skrz stacionární vodící blok, který přesně vede konce vedení směrem k vývodům umístěným na boku součástky, která má být testována, a/nebo směrem k částem kola a přítlačného zařízení.The present invention relates to the field of testing devices. In particular, the present invention relates to a device 5 designed to facilitate testing of small electronic components. A unique transport wheel and thrust device for use in a device designed for testing electronic components is disclosed. The transport wheel and thrust device are designed to allow testing of outlets located at the sides and / or ends of the components. Also described is a unique test probe that can also be used in a device designed to test electronic components. The probe comprises a plurality of guides secured at one end to a movable, resiliently secured base. The guides pass through a stationary guide block that precisely guides the ends of the guides towards the outlets located on the side of the component to be tested and / or towards the parts of the wheel and the thrust device.

Dosavadní stav technikyBACKGROUND OF THE INVENTION

Jak se elektronická zařízení stávají stále více běžnými, zvyšuje se dramaticky počet malých elektronických součástek, které vyžadují testování. V odezvě na tuto potřebu se staly běžně používanými automatizovaná zařízení schopná testovat velká množství elektronických součástek při velmi vysokých rychlostech. Například jsou zařízení tohoto typu schopná zpracovat až 50000 elektronických součástek za hodinu.As electronic devices become more common, the number of small electronic components that require testing increases dramatically. In response to this need, automated devices capable of testing large quantities of electronic components at very high speeds have become commonly used. For example, devices of this type are capable of processing up to 50,000 electronic components per hour.

3Q Při testování elektronických součástek se obvykle vyskytují určité problémy, které se často zvýrazňují při * · zmenšení velikosti testované součástky. Tyto problémy představují podstatná omezení pro maximální rychlost zpracování součástek, která je dosažitelná testovacími zařízeními podle dosavadního stavu techniky.3Q When testing electronic components, there are usually some problems that are often highlighted when reducing the size of the tested component. These problems present significant limitations to the maximum processing speed of components that can be achieved by prior art testing devices.

Jedním problémem u testovacího zařízení je vnitřní transportní mechanismus. Většina velko-objemových testovacích zařízení přesouvá součástky, které mají být testovány, z přívodního nebo nakládacího stanoviště do testovacího stanoviště a potom do třídícího stanoviště. Transportní mechanismus nejenže musí být schopen přesouvat součástky vysoce přesným a kontrolovaným způsobem, ale musí být rovněž trvanlivý, relativně levný a musí umožnit testovacímu zařízení dosáhnout elektrického kontaktu s vývody umístěnými na boku a/nebo konci testované součástky. Kombinace těchto Ί 5 atributů v optimální podobě ještě v dosavadním stavu techniky nebyla nalezena.One problem with the test device is the internal transport mechanism. Most bulk test equipment moves the parts to be tested from the inlet or loading station to the test station and then to the sorting station. The transport mechanism must not only be able to move components in a highly accurate and controlled manner, but must also be durable, relatively inexpensive, and allow the test device to reach electrical contact with the terminals located on the side and / or end of the test component. A combination of these Ί 5 attributes in optimal form has not been found in the prior art.

Druhým problémem je, že mnoho součástek má těsně vedle sebe umístěné vývody na boku, které musí být kontaktovány současně. To vyžaduje, aby testovací sonda měla těsně oddálená vedení, která jsou vyrovnána s vývody umístěnými na boku součástky. Vedení sondy musí být rovněž schopná rychlého a přeného přesunutí. Navíc tlak aplikovaný každým vedením na vývod součástky, která je testována, musí být přesně řízen, protože tento tlak musí být dostatečný pro dosažení dobrého kontaktu a zároveň nesmí být velký tak, aby způsobil poškrábání nebo jiné poškození vývodu nebo vedení.The second problem is that many components have side-by-side outlets that must be contacted simultaneously. This requires the test probe to have closely spaced conduits that are aligned with the outlets located on the side of the component. The probe leads must also be capable of rapid and transient movement. In addition, the pressure applied by each line to the outlet of the component being tested must be precisely controlled because this pressure must be sufficient to achieve good contact and at the same time must not be large enough to cause scratches or other damage to the outlet or line.

Potřebné přesné umístění a řízení vedení sondy bylo pro dosavadní stav techniky extrémně obtížně dosažitelné, pokud bylo vůbec možné, a velmi výrazně omezovalo rychlost 30 zpracování zařízení podle dosavadního stavu techniky.The necessary precise placement and control of the probe guidance was extremely difficult to achieve in the prior art, if at all possible, and greatly limited the processing speed of the prior art devices.

« *«*

Podstata vynálezuSUMMARY OF THE INVENTION

Předkládaným vynálezem je unikátní transportní kolo a unikátní testovací sonda, které jsou výhodně použity v testovacím zařízení pro transport a testování malýchThe present invention is a unique transport wheel and a unique test probe, which are preferably used in a test device for transporting and testing small

- , elektronických součástek, jako jsou integrované pasivní součástky (IPC). Příklady IPC jsou čipy, které mají pole kondenzátoru, induktorů a varistorů. Elektronické součástky tohoto typy mají obvykle velikost v rozsahu od 1 mm do 33 mm na délku krát 0,5 mm až 1,5 mm na šířku nebo tloušťku a mají ¹⁰ z vývody umístěné na konci a/nebo na boku.- electronic components such as integrated passive components (IPC). Examples of IPCs are chips having capacitor, inductor and varistor fields. Electronic components of this type typically have sizes ranging from 1 mm to 33 mm in length by 0.5 mm to 1.5 mm in width or thickness and have ¹⁰ outlets located at the end and / or side.

Transportní kolo má velký počet po obvodě umístěných štěrbinových komůrek (nebo vybrání) přijímajících součástky, přičemž každá komůrka má velikost pro přijetí jediné elektronické součástky, která má být transportována. Při výhodném způsobu použití zařízení využívající toto transportní kolo používá kolo pro nesení každé součástky od nakládacího stanoviště do testovacího stanoviště a potom do třídícího prostoru. V třídícím prostoru jsou součástkyThe transport wheel has a plurality of circumferentially disposed slot chambers (or recesses) of receiving components, each chamber being sized to receive a single electronic component to be transported. In a preferred use of the apparatus utilizing this transport wheel, the wheel uses a wheel to carry each component from the loading station to the test station and then to the sorting space. There are parts in the sorting space

2q tříděny podle výsledků zjištěných v testovacím stanovišti.2q sorted according to test site results.

Na dnu každé komůrky v transportním kolu je kovová vložka, na které během transportu spočívá jeden konec součástky. Vložka nejenže zvyšuje trvanlivost kola vytvořením kovového kontaktního povrchu, ale, když kolo transportuje elektronické součástky mající vývody umístěné na konci, vložka tvoří také elektrický kontakt s vývodem umístěným na spodku součástky. Vystavené vnější konce vložky potom vytvářejí na boku umístěné kovové oblasti na kolu, které mohou být kontaktovány na boku umístěnou testovací sondou v testovacím stanovišti, aby se tak elektricky spojil vývod umístěný na spodku součástky s testovacím přístrojem.At the bottom of each chamber in the transport wheel is a metal liner on which one end of the component rests during transport. The liner not only increases the durability of the wheel by forming a metal contact surface, but when the wheel transports electronic components having outlets located at the end, the liner also forms electrical contact with the outlet located at the bottom of the component. The exposed outer ends of the liner then form laterally positioned metal areas on the wheel that can be contacted on the side by a placed test probe at the test station to electrically connect the outlet located at the bottom of the component to the tester.

Ve výhodném provedení je transportní kolo použito v zařízení, které má speciálně zkonstruované testovací stanoviště. Testovací stanoviště obsahuje kovový kontaktní váleček, který se valí podél obvodu kola a kdykoliv tento váleček přechází přes jednu z komůrek přitlačí se tento váleček dolů na vrchní nebo vnější konec jakékoliv elektronické součástky, která je umístěna uvnitř komůrky.In a preferred embodiment, the transport wheel is used in a device having a specially designed test site. The test station comprises a metal contact roller that rolls along the circumference of the wheel and whenever the roller passes through one of the chambers, the roller is pressed downwardly to the top or outer end of any electronic component that is located inside the chamber.

Když se váleček přitlačí dolů na komůrku, zlepšuje ták kontakt mezi vývodem umístěným na spodku součástky a kovovou vložkou kola. Navíc tento kovový váleček bude v kontaktu s vývodem umístěným na vršku součástky a tím umožní elektrický kontakt s uvedeným vývodem přes těleso tohoto kovového válečku.When the roller is pressed down on the chamber, it also improves contact between the outlet located at the bottom of the component and the metal wheel lining. In addition, the metal roller will be in contact with an outlet located on top of the component and thereby allow electrical contact with the outlet through the body of the metal roller.

Sestava sondy podle předkládaného vynálezu obsahuje mnoho testovacích vedení, která jsou přesně umístěna a řízena. Při použití v testovacím zařízení používajícím transportní kolo bude tato sonda výhodně mít shodnou pravou a levou část s vedeními každé části umístěnými na každé straně transportního kola. Sonda je namontována na nosné konstrukci a každá sada vedení je zajištěna k pružně nesené pohyblivé základně. Zařízení aplikující sílu (tlak), výhodně řízené počítačem, je použito pro aplikaci tlaku na základnu pro způsobení řízeného posunutí přidružených vedení. Každá sada vedení prochází skrz stacionární vodící blok, který přesně vede vedení směrem k vývodům součástky, která má být testována. Při použití s transportním kolem a kovovým kontaktním válečkem podle výše uvedeného popisu může sonda obsahovat přídavná vedení, která jsou vedena pro vytvoření • · · · kontaktu s jednou nebo s oběma stranami kovové vložky kola a s jednou nebo s oběma stranami kontaktního válečku. Tímto způsobem sonda může vytvořit elektrický kontakt s oběma vývody umístěnými na koncích součástky. Sestava sondy je kompaktní, má nízkou hmotnost, vyžaduje malou údržbu, je samo-nastavovací prostřednictvím počítačového řízení pohybu zařízení aplikujícího sílu, a není příliš drahá na výrobu. Navíc konstrukce sondy umožňuje, aby se vedení pohybovala rychle a aby byla umístěna extrémně blízko vedle sebe.The probe assembly of the present invention comprises a plurality of test leads that are precisely positioned and controlled. When used in a test device using a transport wheel, the probe will preferably have the same right and left portions with the guides of each portion located on each side of the transport wheel. The probe is mounted on a supporting structure and each guide set is secured to a resiliently supported movable base. A force applying device, preferably computer controlled, is used to apply pressure to the base to cause a controlled displacement of the associated conduits. Each set of conduits passes through a stationary guide block that accurately guides the conduit towards the terminals of the component to be tested. When used with the transport wheel and metal contact roller as described above, the probe may include additional guides that are provided to contact one or both sides of the metal wheel liner and one or both sides of the contact roller. In this way, the probe can make electrical contact with both terminals located at the ends of the component. The probe assembly is compact, lightweight, low maintenance, self-adjusting through computerized motion control of the force applying device, and not too expensive to manufacture. In addition, the design of the probe allows the guides to move quickly and be positioned extremely close to each other.

Přehled obrázků na výkresechBRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS

Obr.l znázorňuje pohled zpředu na zařízení pro testování a třídění elektronických součástek, které má transportní.kolo a testovací sondu ]_5 podle vynálezu;Fig. 1 shows a front view of a device for testing and sorting electronic components having a transport wheel and a test probe 15 according to the invention;

Obr.2 znázorňuje pohled shora na zařízení znázorněné na obr. 1;Fig. 2 shows a top view of the device shown in Fig. 1;

Obr.3 znázorňuje pohled zpředu na elektronickou součástku umístěnou v jedné z komůrekFig. 3 shows a front view of an electronic component housed in one of the chambers

- „ , transportního kola v miste těsné před vstupem do testovacího stanoviště;-, a transport wheel in a location just before entering the test station;

Obr.4 znázorňuje pohled zezadu na transportní kolo;Fig. 4 shows a rear view of the transport wheel;

Obr.5 znázorňuje první fázi výroby okrajové (ráfkové) části transportního kola;Fig. 5 shows the first stage of production of the rim portion of the transport wheel;

Obr.6 znázorňuje druhou fázi výroby okrajové části transportního kola;Fig. 6 shows a second stage of manufacturing the edge portion of the transport wheel;

Obr.7 znázorňuje třetí fázi výroby okrajové části transportního kola;Fig. 7 shows a third stage of manufacturing the edge portion of the transport wheel;

·· • · · ··· · · · ·

Obr.8 znázorňuje finální fázi výroby okrajové části transportního kola;Fig. 8 shows the final stage of production of the rim portion of the transport wheel;

Obr.9 znázorňuje boční, detailní pohled na testovací sondu podle předkládaného vynálezu, 5 pricemz sonda je ilustrována v poloze, ve které vedení sondy ještě nebyla uvedena do kontaktu na elektronickou součástku pro testování;Fig. 9 shows a side, detailed view of a test probe according to the present invention, wherein the probe is illustrated in a position in which the probe lead has not yet been contacted by the electronic component for testing;

Obr.10 znázorňuje sondu podle obr. 9 v okamžiku, ve kterém vedení sondy již byla uvedena do kontaktu s elektronickou součástkou pro testování.Fig. 10 shows the probe of Fig. 9 at a time when the probe leads have already been contacted with the electronic component for testing.

Příklady provedení vynálezu . , . ,DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION. ,. ,

Níže budou popsana provedeni vynalezu ve spojeni s odkazy na připojené výkresy, na kterých stejné vztahové značky označují stejné části na jednotlivých výkresech, přičemž je znázorněno zařízení 1 pro testování a třídění malých elektronických součástek.Embodiments of the invention will be described below with reference to the accompanying drawings, in which like reference numerals designate like parts throughout the drawings, showing a device 1 for testing and sorting small electronic components.

Obr. 1 znázorňuje pohled zpředu na zařízení 1.. Zařízení 1 obsahuje přiváděči (nakládací) stanoviště 2, testovací stanoviště 4., třídící stanoviště 6. a transportní kolo 8.. V praxi každé ze stanovišť a transportní kolo jsou všechny kombinovány v jedné jednotce skříňového typu (skříň není znázorněna).Giant. 1 shows a front view of the device 1. The device 1 comprises a feeder station 2, a test station 4, a sorting station 6 and a transport wheel 8. In practice, each of the stations and the transport wheel are all combined in one box type unit. (cabinet not shown).

Přiváděči stanoviště 2. obsahuje nálevkovitou násypku 10, do které jsou v hromadných množstvích sypány malé elektronické součástky (rovněž označované jako části 12.) . Těmito malými elektronickými součástkami budou obvykle • · • · · 4 • fc fcfc integrované pasivní součástky (IPC), jako jsou čipové kondenzátory, varistory a induktory. Násypka 10 se vyprazdňuje do přenášecího přístroje 14, který obsahuje vibrační jednotku (není znázorněna, která usnadňuje oddělení součástek a jejich posouvání podél rampy 16.The feeder station 2 comprises a funnel hopper 10 into which small electronic components (also referred to as parts 12) are poured in bulk. These small electronic components will usually be fc fcfc integrated passive components (IPCs) such as chip capacitors, varistors and inductors. The hopper 10 is emptied into a transfer apparatus 14 which includes a vibration unit (not shown) that facilitates the separation of the components and their movement along the ramp 16.

Rampa 16 se vyprazdňuje do zásobníku 18. který je zkonstruován pro držení relativně malého množství částí 12. Jakmile jsou v zásobníku 18, mohou části 12 z něj vystupovat skrz výstup tvořený otvorem 20 (viz obr. 2) v jeho spodní části. Zásobník 18 obsahuje smetávací kolečko 22, které funguje pro zabránění částem 12 v unikání z konce zásobníku 18 a rovněž pomáhá udržet části 12 směrem k levé boční části zásobníku 18 . Jak každá část 12 opouští zásobník 18, je přímo přijímána uvnitř komplementárně veliké dvoustranné komůrky 24 umístěné na vnějším okraji transportního kola 8.. Znázornění části 12 umístěné do okraje transportního kola 8. je ilustrováno na obr. 3. Je třeba uvést, že část 12 obsahuje vývody 26 umístěné na bocích a vývody 28 umístěné na koncích.The ramp 16 is emptied into a container 18, which is designed to hold a relatively small number of portions 12. Once in the container 18, the portions 12 may exit therethrough through the outlet formed by the opening 20 (see FIG. 2) at the bottom thereof. The cartridge 18 includes a sweep wheel 22 that functions to prevent the portions 12 from escaping from the end of the cartridge 18 and also helps to retain the portions 12 towards the left side portion of the cartridge 18. As each portion 12 exits the cartridge 18, it is directly received within a complementary large two-sided chamber 24 located at the outer edge of the transport wheel 8. An illustration of the portion 12 positioned at the edge of the transport wheel 8 is illustrated in Figure 3. it includes terminals 26 disposed on the sides and terminals 28 disposed on the ends.

Obr. 4 znázorňuje pohled zezadu na transportní kolo 8.. Transportní kolo 8. obsahuje kovovou hlavu 30 a kruhovou část ve formě okrajového (ráfkového) prvku 32. Okrajový prvek 32 má průměr přibližně od dvanácti do osmnácti palců (přibližně 30,48 cm až 45,72 cm) a je snímatelný z kovové hlavy 30 prostřednictvím použití běžných upevňovacích prostředků, jako jsou šrouby 34.Giant. 4 shows a rear view of the transport wheel 8. The transport wheel 8 comprises a metal head 30 and an annular portion in the form of a rim element 32. The rim element 32 has a diameter of about twelve to eighteen inches (about 30.48 cm to 45 inches). 72 cm) and is removable from the metal head 30 by using conventional fastening means such as screws 34.

Okrajový prvek 32 je výhodně vyroben z tuhého a nevodivého plastového materiálu. Všechny komůrky 24 jsou umístěny v okrajovém prvku 32 a vytvářejí obvodové otvory ve vnější hraně tohoto okrajového prvku 32. Jak bude stručně popsáno, dno každé komůrky obsahuje kovovou vložku 36. Tím, ·· že okrajový prvek 32 je odnímatelný z kovové hlavy 30, může uživatel odstranit jeden okrajový prvek a nahradit jej dalším okrajovým prvkem, který má odlišně velké komůrky 24, aby odpovídaly odlišné velikosti elektronických součástek. Kovová hlava 30 má řemenici 38 upevněnou ke svému zadnímu povrchu a spojenou prostřednictvím řemene 40 (znázorněno na obr. 1) s elektrickým motorem 42 . Elektrický motor 42 je odpovědný za vytváření otáčení transportního kola 8..The edge element 32 is preferably made of a rigid and non-conductive plastic material. All of the chambers 24 are located in the rim member 32 and create peripheral openings in the outer edge of the rim member 32. As will be briefly described, the bottom of each cell comprises a metal insert 36. By the rim member 32 is removable from the metal head 30, the user remove one edge element and replace it with another edge element having differently sized chambers 24 to match the different sizes of electronic components. The metal head 30 has a pulley 38 secured to its rear surface and connected by a belt 40 (shown in FIG. 1) to an electric motor 42. The electric motor 42 is responsible for generating the rotation of the transport wheel 8.

Obr.Giant.

ilustruj ící, až obr. 8 znázorňují detailní pohledy jak je okrajový prvek 32 vyráběn.illustrating to Fig. 8 show detailed views of how the edge member 32 is manufactured.

Obr. 5 znázorňuje část okrajového prvku, když je tento prvek v počáteční fázi výroby. V tomto okamžiku je okrajový prvek ve formě jednoduchého kruhu. Pokud by byl veden průřez skrz část znázorněnou na obr. 5, bylo by patrné, že tato část má obdélníkový průřez, který má výhodně rozměry přibližně 6 mm na šířku krát přibližně 15 mm na výšku.Giant. 5 shows part of the edge element when the element is in the initial production phase. At this point, the edge element is in the form of a simple circle. If the cross-section were guided through the portion shown in Fig. 5, it would be seen that this portion has a rectangular cross-section, preferably having dimensions of approximately 6 mm in width by approximately 15 mm in height.

Obr. 6 znázorňuje stejnou část okrajového prvku, jako je znázorněna na obr. 5. Zde ale bylo do okrajového prvku vyvrtáno množství děr 44 a do každé této díry 44 byla našroubována kovová vložka 36 ve formě stavěcího šroubu.Giant. 6 shows the same portion of the edge element as shown in FIG. 5. However, here a plurality of holes 44 have been drilled into the edge element and a metal insert 36 in the form of a set screw has been screwed into each hole 44.

Obr. 7 znázorňuje stejnou část okrajového prvku, jako je znázorněna na obr. 5 a obr. 6. Zde ale byla horní část 4_6 okrajového prvku obrobena tak, aby měla tloušťku mírně menší než 2,5 mm. Obrobená horní část 46 zasahuje přibližně 6 mm od vršku okrajového prvku do bodu v nebo blízko u středu kovových vložek 36 (stavěčích šroubů). Množství děr ,48. může být rovněž vyvrtáno do okrajového prvku v tomto okamžiku pro umožnění spojení okrajového prvku s kovovou hlavou 30. prostřednictvím upevňovacích prostředků ve formě šroubů 34.·Giant. 7 shows the same portion of the edge element as shown in FIGS. 5 and 6. However, here, the upper portion 46 of the edge element has been machined to have a thickness slightly less than 2.5 mm. The machined top 46 extends approximately 6 mm from the top of the edge member to a point at or near the center of the metal inserts 36 (set screws). Number of holes, 48. it can also be drilled into the edge element at this time to allow the edge element to be connected to the metal head 30 by means of fastening means in the form of screws 34. ·

444 4 4 * ·· 44 • 4 4 · 4 9 9 · 4 · 4 • 4 4 4 4444444 4 4 * ·· 44 • 4 4 · 4 9 9 · 4 · 4 4 4444

44 4 44444444 4 444444

444 4 4 4444444 4 4 4445

444 44 444 444 4« 44444 44 444 444 4

Obr. 8 znázorňuje stejnou část okrajového prvku, jako je znázorněna na předcházejících třech obrázcích. V posledním kroku obrábění je v horní části 46 okrajového prvku vytvořeno množství zářezů 50. Tyto zářezy jsou centrovány na a procházejí částečně skrz kovové vložky 36 ve formě stavěčích šroubů a tvoří komůrky 24. Šířka každého zářezu 50 je o málo větší, než je šířka nebo tloušťka elektronické součástky, která bude přijímána ve výsledné komůrce 24 . Jakmile již byly tyto zářezy 50 vyrobeny, je do středu kovové vložky 36 vyvrtáno úzké průchozí vrtání nebo tunel 52., který pokračuje směrem dolů, dokud neprochází zcela skrz okrajový prvek. Toto průchozí vrtání 52 umožňuje aplikovat podtlak (vakuum) na spodek každé komůrky 24 z běžného vakuového přístroje (není znázorněn) přes adaptér 54 znázorněný na obr. 1, obr. 2, obr.Giant. 8 shows the same portion of the edge element as shown in the preceding three figures. In the last machining step, a plurality of notches 50 are formed in the upper portion 46 of the rim element. These notches are centered on and extend partially through the metal inserts 36 in the form of set screws and form chambers 24. The width of each notch 50 is slightly greater than width or the thickness of the electronic component to be received in the resulting chamber 24. Once these notches 50 have been made, a narrow through bore or tunnel 52 is drilled into the center of the metal insert 36 and continues downwards until it passes completely through the edge element. This through bore 52 allows vacuum to be applied to the bottom of each chamber 24 from a conventional vacuum apparatus (not shown) via the adapter 54 shown in FIG. 1, FIG. 2, FIG.

9a obr. 10. Aplikace vakua nebo podtlaku na komůrku 24 slouží pro účely napomáhání udržet část 12 v komůrce při otáčení transportního kola 8..9a. 10. The application of vacuum or vacuum to the chamber 24 serves to help maintain the portion 12 in the chamber as the transport wheel 8 is rotated.

Na obr. 8 je rovněž třeba si všimnout, že boční části kovových vložek 36 (stavěčích šroubů) jsou umístěny na o Ω bocích okrajového prvku a jsou vystaveny těsně pod přidruženou komůrkou 24 . Důsledkem je, že boční části 56, jsou snadno přístupné z boků transportního kola.It should also be noted in Fig. 8 that the side portions of the metal inserts 36 (set screws) are located on the sides of the edge element and are exposed just below the associated chamber 24. As a result, the side portions 56 are easily accessible from the sides of the transport wheel.

Jak bylo uvedeno v předcházejícím popisu, obr. 3 znázorňuje elektronickou součástku 12 umístěnou v jedné z ²⁵ komůrek 24 transportního kola. Obr. 3 znázorňuje část 12 těsně předtím, než tato část vstoupí do testovacího stanoviště 4.. V testovacím stanovišti A jsou vedení z testovací sondy dočasně uvedeny do kontaktu buď přímo nebo nepřímo s vývody součástky 12.. Různé části testovacího stanoviště jsou detailně znázorněny na obr. 9 až obr. 11.As mentioned in the foregoing, FIG. 3 shows an electronic component 12 disposed in one of the ²⁵ chambers 24 of the transport wheel. Giant. 3 shows the portion 12 just before it enters the test station 4. At test station A, the leads from the test probe are temporarily contacted either directly or indirectly with the terminals of the component 12. The different parts of the test station are shown in detail in FIG. 9 to 11.

4«4 «

4 4 44 4 4

4 4 4 44 4 4 4

4 4 44 4 4

4 444 44

444 4 ·444 4 ·

« 4«4

44

Testovací stanoviště obsahuje testovací sondu 60 mající pravou a levou boční část 62 respektive 64 . Každá tato část obsahuje množství vedení 66. Ačkoliv každá část je znázorněna tak, že má pět vedení, může být v každé z bočních částí použito většího či menšího počtu vedení. Mělo by být uvedeno, že v některých případech sonda 60 může obsahovat pouze jednu z částí 62 nebo 64.The test station comprises a test probe 60 having right and left side portions 62 and 64, respectively. Each portion comprises a plurality of guides 66. Although each portion is shown to have five guides, a greater or lesser number of guides may be used in each of the side portions. It should be noted that in some cases the probe 60 may comprise only one of the portions 62 or 64.

Každé vedení 66 je vyrobeno z vodivého materiálu, je poměrně tuhé a může mít formu levného drátku nebo čepu.Each guide 66 is made of a conductive material, is relatively rigid and may be in the form of a low-cost wire or pin.

Vnější konec 68 každého vedení je výhodně plochý a je upraven pro vytváření kontaktu s vývodem části, která má být testována. Opačný konec 70 každého vedení je elektricky Spojen s ohebným drátkem 72, který je sám spojen s testovacím přístrojem 74, jako je osciloskop, logický analyzátor, emulátor nebo jiný velmi dobře známý testovací nebo diagnostický přístroj, Svorka 7 6, nebo jiný upevňovací prostředek či upevňovací způsob, je použita pro upevnění koncové části 70 každého vedení s pohyblivou základnou 78.. Mělo by být zřejmé, že hodní a spodní vedení 66 jsou znázorněna tak, že mají zakřivený tvar na základně, zatímco ostatní vedení jsou znázorněna jako přímá. Ohnutí zadní části horních a spodních vedení zvětšuje prostor dosažitelný pro ukotvení vedení, zatímco ve stejném okamžiku umožňuje těsné umístění vedení vedle sebe, protože procházejí směrem ven od základny. Zakřivená část každého horního a spodního vedení je polohově omezena kolíky 79, které vystupují nahoru od povrchu základny 78. V závislosti na prostorové dosažitelnosti může být sonda vyrobena se všemi vedeními přímými nebo, pokud prostorová dosažitelnost je značně omezena, více či méně vedení by mohlo mít zakřiveně tvarované zadní části stejnýmThe outer end 68 of each conduit is preferably flat and is adapted to make contact with the outlet of the portion to be tested. The opposite end 70 of each conduit is electrically coupled to a flexible wire 72 which is itself coupled to a test apparatus 74, such as an oscilloscope, logic analyzer, emulator or other well known test or diagnostic apparatus, terminal 76, or other fastening means. It should be understood that the upper and lower guides 66 are shown to have a curved shape on the base, while the other guides are shown to be straight. The bending of the rear of the upper and lower guides increases the space available for anchoring the guides, while at the same time it allows a tight position of the guides side by side as they extend outward from the base. The curved portion of each upper and lower guide is positively constrained by pins 79 that extend upwardly from the surface of the base 78. Depending on the spatial reachability, the probe may be made with all straight guides or, if spatial reachability is severely limited, more or less guides curved shaped back of the same

00 « 0 ·00 «0 ·

0 00 0

0 *0 *

0 00 0

00 ·· · · •00 ·· · ·

způsobem, jako je tomu u znázorněných horních a spodních vedení, přičemž by byla zajištěna přídavnými kolíky 79.in a manner similar to the upper and lower guides shown, being secured by additional pins 79.

Každá ze základen 78 je pohyblivě zajištěna k relativně nepohyblivému nosnému tělesu ve formě základové c desky 80 . Tato deska 80 je zajištěna upevňovacími prostředky 82 k pevné konstrukci, jako je statický rám 84 zařízení. Konstrukce použitá pro pohyblivé upevnění každé základny k desce 80 umožňuje pružný pohyb základny. Ve výhodném provedení má upevňovací konstrukce formu dvou tenkých kovových listových per 8 6. Ačkoliv jsou znázorněna dvě listová pera, mohlo by alternativně být použito jiného počtu listových per, například jedno listové pero nebo více než dvě listová pera. Mělo by rovněž být zřejmé, že ačkoliv je znázorněno použití listových per, může být alternativněEach of the bases 78 is movably secured to a relatively stationary support body in the form of a base plate 80. This plate 80 is secured by fastening means 82 to a rigid structure, such as a static frame 84 of the device. The structure used to movably attach each base to the plate 80 allows for flexible movement of the base. In a preferred embodiment, the fastening structure is in the form of two thin metal leaf springs 86. Although two leaf springs are shown, another number of leaf springs could be alternatively used, for example one leaf spring or more than two leaf springs. It should also be understood that although the use of leaf pens is shown, it may alternatively be

5 použito jiných ekvivalentních pružných konstrukcí, jako 2)sou jiné týpy per nebo pružin, včetně spirálových pružin, nebo dokonce pružného materiálu, jako je pryž. Navíc může být použito tlumícího zařízení (není znázorněno), jako hydraulický válec nebo měkký tlumící prvek, v těsné blízkostiOther equivalent elastic structures such as 2) are other types of springs or springs, including coil springs, or even a resilient material such as rubber. In addition, a damping device (not shown), such as a hydraulic cylinder or a soft damping element, may be used in close proximity

0 klidové polohy jedné nebo obou zakladen pro utlumeni jakékoliv nežádoucí oscilace základny nebo základen.The resting positions of one or both of the bases to attenuate any undesirable oscillation of the base or bases.

V blízkosti každé základny 78 a nepohyblivě zajištěna k základové desce 80 je umístěno sílu aplikující (přítlačné) zařízení 88 . Zařízení 88 je znázorněno tak, že má píst 90, který je schopen aplikovat tlak na bok pohyblivé základny 78 a tím způsobovat, že uvedená základna se pohybuje směrem k transportnímu kolu 8... Ovládání zařízení 88 probíhá prostřednictvím drátů 91 a je výhodně způsobováno testovacím přístrojem 74 nebo prostřednictvím počítače (není znázorněn) , 30 který může být začleněn v testovacím zařízení nebo může být • ···· φ · φφφφ ·· · φ · · φ · « · φ • φ φ φ φφφφ φ φφ φ φφφφφφ φφφ φ φ φφφφ φφφ φφ φφφ φφφ φφ Φφ samostatný. Ve výhodném provedení je zařízení 88 elektricky napájeno a může být ve formě solenoidu, lineárního ovladače nebo jiného zařízení, nebo ve formě kombinace zařízení či prvků, schopných aplikovat sílu na pohyblivou základnu 78.A force applying device 88 is positioned adjacent each base 78 and immovably secured to the base plate 80. The device 88 is shown to have a piston 90 capable of applying pressure to the side of the movable base 78 thereby causing said base to move toward the transport wheel 8 ... The control of the device 88 is via wires 91 and is preferably caused by a test or by means of a computer (not shown) 30, which may be incorporated in a test device or may be a test device or may be a test device or may be incorporated into a test device. φ φ φ φ φ samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný samostatný. In a preferred embodiment, the device 88 is electrically powered and may be in the form of a solenoid, a linear actuator or other device, or in the form of a combination of devices or elements capable of applying force to the movable base 78.

Jako alternativní provedení ke znázorněnému provedení může být sílu aplikující zařízení mechanicky ovládáno a pohybováno v korcích s posouváním transportního kola 8.. Rovněž ve výhodném provedení je testovacím přístrojem/počítačem také řízena vzdálenost, o kterou se posouvá píst 90. To umožňuje sondě, aby byla automaticky nastavena, zatímco testovací přístroj/počítač může změnit vzdálenost posunutí vedení prostřednictvím síly aplikujícího zařízení 88 pro kompenzování změn v důsledku opotřebení vedení nebo odlišně velikých částí 12.As an alternative to the illustrated embodiment, the force applying device may be mechanically actuated and moved in the cradles as the transport wheel 8 is moved. Also, in a preferred embodiment, the test device / computer also controls the distance by which the piston 90 is moved. automatically adjusted, while the tester / computer can change the distance of line shifting by the force of the applying device 88 to compensate for changes due to line wear or different sized parts 12.

Od základny 78 každé vedení 66 prochází skrz průchozí vrtání nebo tunel 92 ve vodícím bloku 94 . Vodící blok 94 obsahuje množství průchozích vrtání 92 s prostřední částí každého vedení umístěnou uvnitř jednoho průchozího vrtání 92. Ve výhodném provedení je délka každého průchozího vrtání dvakrát nebo třikrát větší než jeho průměr. To zlepšuje směrové vedení udělené každému vedení průchozím vrtáním.From the base 78, each conduit 66 passes through a through bore or tunnel 92 in the guide block 94. The guide block 94 comprises a plurality of through bores 92 with an intermediate portion of each guide positioned within one through bore 92. In a preferred embodiment, the length of each through bore is two or three times greater than its diameter. This improves the directional guidance given to each guide through through bore.

Každý vodící blok 94 je pevně zajištěn k základové desce 80 sondy a oddálen od sousední základny 78 . Protože vodící bloky jsou pevné, nepohybují se když se pohybují základny. Mělo by být zcela zřejmé, že ačkoliv jsou všechna vedení znázorněna jako procházející skrz vodící blok, toto opatření není striktně vyžadováno. V alternativním provedení, které není znázorněno, mohou některá z vedení míjet vodící blok.Each guide block 94 is fixedly secured to the probe base plate 80 and spaced apart from the adjacent base 78. Because the guide blocks are fixed, they do not move when the bases move. It should be understood that although all lines are shown passing through the guide block, this measure is not strictly required. In an alternative embodiment, not shown, some of the guides may pass the guide block.

• titititi ti · titi titi • ti ti · · ti · titititi • ti ti · titititi ti titi ti titititi·· tititi ti ti titititi• ti ti ti ti ti ti ti ti ti ti ti ti ti ti ti ti ti ti ti ti ti ti

..............................

Umístěn v přímce s obvodem okrajového prvku 32 je přítlačný přístroj, který obsahuje kontaktní váleček 96. Váleček je vyroben z elektricky vodivého materiálu a je otočný na osičce 97, která je zajištěna k základové desce 80 (nebo alternativně k rámu zařízení) přes pružinové držáky 98.Placed in line with the periphery of the rim element 32 is a thrust device that includes a contact roller 96. The roller is made of an electrically conductive material and is rotatable on an axle 97 that is secured to the base plate 80 (or alternatively to the device frame) via spring brackets 98 .

Pružinové držáky jsou výhodně běžné konstrukce a mohou připomínat pérové čepy používané v testovacích zařízeních podle dosavadního stavu techniky. Držáky 98 mají proměnlivou délku a obsahují pružiny, které kontinuálně předpínají nebo tlačí držáky do jejich maximální délky. Jak se transportní kolo otáčí, pružinové držáky kontinuálně tlačí váleček směrem k okrajovému prvku 32, přičemž se váleček valí na a současně tlačí na obvod okrajového prvku. Obr. 3 znázorňuje váleček v kontaktu s zubovou částí 99 okrajového prvku. Jak kolo pokračuje v otáčení z polohy znázorněné na obr. 3, váleček se odvaluje od zubové části 99 okrajového prvku a valí se na vnější konec součástky 12 . Jakmile váleček plně tlačí na součástku 12, je tato součástka připravena pro testování a je v poloze znázorněné na obr. 9. Směrem dolů působící síla vyvíjená válečkem na součástku 12 tlačí součástku těsně proti povrchu kovové vložky 36 a tím zajišťuje dobrý kontakt mezi vývodem 28 umístěným na spodku součástky a kovovou vložkou. Navíc váleček tlačící dolů na vršek součástky 12 vytváří dobrý kontakt mezi vývodem 28 umístěným na vršku součástky a povrchem válečku. To umožňuje vedení 66 ze sondy, aby vytvořila elektrický kontakt s vývodem 28 umístěným na vršku součástky prostřednictvím přitlačení proti jednomu nebo oběma bokům válečku. Na výkresech jsou vedení znázorněna, jak vytvářejí kontakt s oběma boky válečku.The spring mounts are preferably of conventional construction and may resemble spring pins used in prior art test devices. The holders 98 are of variable length and comprise springs that continuously bias or push the holders to their maximum length. As the transport wheel rotates, the spring holders continuously push the roller toward the edge member 32 while the roller rolls on and at the same time pushes the periphery of the edge member. Giant. 3 shows the roller in contact with the tooth portion 99 of the edge element. As the wheel continues to rotate from the position shown in Fig. 3, the roller rolls away from the tooth portion 99 of the rim element and rolls to the outer end of the component 12. Once the roller fully presses on the component 12, the component is ready for testing and is in the position shown in FIG. 9. The downward force exerted by the roller on the component 12 pushes the component tightly against the surface of the metal insert 36 thereby ensuring good contact between the outlet 28 on the bottom of the component and metal insert. Moreover, the roller pushing down on the top of the component 12 makes good contact between the outlet 28 located on the top of the component and the surface of the roller. This allows the lead 66 from the probe to make electrical contact with the outlet 28 located on the top of the component by pressing against one or both sides of the roller. In the drawings, the guides show how they make contact with both sides of the roller.

»·· * ··»··· · ··

Při činnosti, když je část 12 uvedena do testovacího stanoviště pro testování a je správně umístěna mezi pravou boční a levou boční polohou sondy, je řídícím počítačem vyslán elektrický signál k oběma sílu aplikujícím zařízením 88. Každé zařízení 88 potom bude aplikovat tlak na bok přiléhající pohyblivé základny 78 a způsobí, že se základna posune směrem k transportnímu kolu 8.. Ve výhodném provedení by se základny pohybovaly pouze o krátkou vzdálenost, jako například 1 mm (vzdálenost jsou na výkresech znázorněny ve zvětšeném měřítku). Jak se základny pohybují směrem k části, která má být testována, vedení upevněná k základnám se pohybují skrz průchozí vrtání ve vodících blocích a jsou tím přesně zacíleny tak, že jejich konce 68 se přesně uvedou do kontaktu s bočními terminály části, která má být testována, a rovněž směrem k vystaveným vnějším bočním částem 56 kovové vložky 3-6 umístěné u dna každé komůrky 24 a bokům kovového válečku 96. Obr. 10 znázorňuje okamžik, ve kterém sílu aplikující zařízení 88 již způsobilo předem stanovenou velikost posunutí základen 78 a konce 68 vedení jsou v kontaktu s vývody na součástce, a rovněž s bočními částmi 56 kovové vložky a s boky kovového válečku 96. Potom může začít testování součástky.In operation, when part 12 is brought to the test site for testing and correctly positioned between the right side and left side positions of the probe, an electrical signal is sent to the two force applying devices 88 by the control computer. Each device 88 will then apply pressure to the side adjacent the movable In a preferred embodiment, the bases would only move a short distance, such as 1 mm (the distance is shown in enlarged drawings). As the bases move towards the part to be tested, the lines fixed to the bases move through the through bore in the guide blocks and are thereby precisely targeted so that their ends 68 are precisely in contact with the side terminals of the part to be tested. and also toward exposed outer side portions 56 of the metal insert 3-6 disposed at the bottom of each chamber 24 and the sides of the metal roller 96. FIG. 10 illustrates the point at which the force applying device 88 has already caused a predetermined amount of displacement of the bases 78 and the guide ends 68 are in contact with the terminals on the component as well as the side portions 56 of the metal liner and the sides of the metal roller 96.

Jakmile již bylo testování součástky 12 dokončeno, písty 90 sílu aplikujícího zařízení 88 se zatáhnou. Listová pera 86 potom způsobí, že základny 78 a vedení upevněná k těmto základnám se vrátí do jejich původní polohy, znázorněné na obr. 9. Kolo 8. se potom bude otáčet a způsobí, že váleček 96 se odvalí od konce součásti 12. Otáčení kola bude pokračovat, dokud následující součástka 12 není uvedena doOnce the testing of the component 12 has been completed, the pistons 90 of the force applying device 88 retract. The leaf springs 86 then cause the bases 78 and the guides fixed to these bases to return to their original position as shown in Fig. 9. The wheel 8 will then rotate causing the roller 96 to roll away from the end of the component 12. Rotating the wheel will continue until the next component 12 is put into

-· ·9· 9 - 9 « « « 9 «9 • 9 • 9 • 9 • 9 9 9 9 9 • • 9 9 9 9 9 9 9 9 • 99 • 99 9 9 • 9 9 9 • 9 9 9 9 9 9 9 9 9 9 9 9 9

9 ·· 99 • 9 9 • 9 99 ·· 99 • 9 9 • 9 9

9 99 9

9 9 99 9 9

99 testovacího stanoviště. Případně otáčení kola uvede testovanou součástku do třídícího stanoviště 6.99 test site. Alternatively, rotation of the wheel will bring the test component into the sorting station 6.

Třídící stanoviště je běžné konstrukce a obsahuje blok 100, který má množství elektricky ovládaných solenoidových ventilů (nejsou znázorněny). Každý ventil je spojen se zdrojem tlakového vzduchu prostřednictvím hadice 102 a když je otevřen může vést tlakovaný vzduch směrem k jedné komůrce 24 . V zákrytu s komůrkami a s ventily je množství trubiček 104, přičemž každá trubička je specifická pro polohu jedné z komůrek 24 a prochází ke své vlastní přidělené přijímací přihrádce 106.The sorting station is of conventional construction and includes a block 100 having a plurality of electrically operated solenoid valves (not shown). Each valve is connected to a source of pressurized air via a hose 102 and, when opened, can direct pressurized air towards one chamber 24. In alignment with the cells and valves there are a plurality of tubes 104, each tube being specific to the position of one of the cells 24 and passing to its own assigned receiving tray 106.

Poté, co součástka 12 již byla otestována v testovacím stanovišti, jsou její testovací výsledky, dočasně uloženy testovacím přístrojem. Testovací přístroj je spojen se solenoidovými ventily tak, že na základě testovacích výsledků určených v testovacím stanovišti, když součástka 12. dosáhne vhodné polohy a bude v zákrytu s určitým jedním z ventilů, je ventil řízen do otevřeného stavu testovacím přístrojem a tlakovaný vzduch je potom směrován z ventilu do komůrky 24, která přiléhá k tomuto ventilu. To způsobí, že součástka 12 bude vytlačena do přiléhající trubičky 104 a potom do vhodné přijímací přihrádky 106.After the component 12 has been tested at the test site, its test results are temporarily stored by the test apparatus. The tester is connected to the solenoid valves such that based on the test results determined at the test station when the component 12 reaches a suitable position and is in alignment with one of the valves, the valve is driven open by the tester and the pressurized air is then directed from the valve to the chamber 24 adjacent to the valve. This causes the component 12 to be extruded into the adjacent tube 104 and then into a suitable receiving compartment 106.

Ačkoliv sonda 60 byla v tomto popisu popsána jako použitá uvnitř testovacího stanoviště testovacího a třídícího zařízení popisovaného výše, mělo by být zcela zřejmé, že tato sonda může být použita v jakémkoliv jiném typu zařízení nebo prostředí, ve kterém se používá elektrická sonda. Podobně popisované transportní kolo £ a/nebo kovový kontaktní váleček mohou být použity v testovacích zařízeních elektronických součástek, jiných než jaké bylo znázorněno, a mohou býtAlthough probe 60 has been described in this specification as being used within the test station of the testing and sorting device described above, it should be understood that the probe can be used in any other type of device or environment in which an electrical probe is used. Similarly, the transport wheel 6 and / or the metal contact roller may be used in electronic component testing devices other than those shown and may be

• a··· • a ··· 9 9 #9 9 # 9 99 99 ·· · ·· · 99 99 ·* · * 9 9 9 9 9 9 9 9 • • • • • • « « 9 9 9 9 • ·· • ·· • • • • 9 9 9 9 9 9 9 9 9 9 • · · • · · • • • • 9 9 9 9 9 9 9 9 999 99 999 99 »·· »·· 9 99 9 99 99 99 99 99

použity s jinými typy testovacích sond, než jaká byla znázorněna.used with test probe types other than those shown.

Zde popisovaná provedení byla diskutována pro účely lepšího objasnění nových aspektů předkládaného vynálezu.The embodiments described herein have been discussed in order to better elucidate new aspects of the present invention.

Ačkoliv byla znázorněna a popsána výhodná provedení vynálezu, může být provedeno mnoho změn, modifikací a náhrad osobou s běžnými znalostmi v oboru, aniž by byl překročen rozsah a podstata vynálezu, jak je definováno v připojených patentových nárocích.Although preferred embodiments of the invention have been illustrated and described, many changes, modifications and substitutions may be made by one of ordinary skill in the art without departing from the scope and spirit of the invention as defined in the appended claims.

Claims

PATENT CLAIMS

A probe designed for use in testing electronic components, which probe may be operatively coupled to a test apparatus, comprising:

a stationary structure, a base movably secured to said stationary structure, a plurality of electrically conductive elongate lines secured to said base and operatively connected to the test apparatus, at least one of the lines having an end portion adapted to contact the terminal of the electronic component to be tested;

a guide block secured to said stationary structure having at least one through bore, at least one of said guides extending through and movable within said at least one through bore; and an electromechanically driven piston for moving said base, wherein when the electronic component is positioned at a predetermined position relative to said guide block, the actuator causes said force applying device to move said base, thereby causing the guides secured to said base to move toward said component, and said at least one through bore will guide the at least one of said leads towards the outlet of said electronic component.

The probe of claim 1, wherein said base is secured to said stationary structure by a resilient structure.

• · · · · · ·

The probe of claim 2, wherein said resilient structure is in the form of at least one leaf spring.

The probe of claim 1, wherein the guide block has a plurality of said through bores, each of said guides passing through a different one of said through bores.

5. The probe of claim 1, wherein the electromechanically operated piston is in the form of an electrically operated solenoid.

6. The probe of claim 1, wherein the driver is in the form of a computer.

The probe of claim 1, further characterized _; includes:

a second base movably secured to said stationary structure;

a plurality of electrically conductive elongate lines provided to said second base and operatively connected to the test tool, wherein at least one of said lines has an end portion adapted to contact a terminal of the electronic component to be tested;

a second guide block secured to said stationary structure having at least one through bore, at least one of said guides secured to said second base extending through and movable within said at least one through bore; and an electromechanically driven piston which, when the electronic component is positioned in a predetermined position relative to said second guide block, will actuate the actuators and cause said second base to be displaced such that the guide .30 • 9

9 9 secured to said second base are displaced towards said component.

A transport wheel adapted for use in an electronic component testing device, the transport wheel functioning to transfer said electronic components from a feeder station where said components are loaded into a transport wheel and then to a test station where said components are tested, characterized by by comprising:

a circular portion made of a non-conductive material, the circular portion comprising a plurality of chambers each sized to receive an electronic component to be tested; and a plurality of metal members, each metal member forming the bottom of each chamber and being able to contact an end-positioned outlet of the electronic component when said component is positioned in the chamber on top of said metal member, each of said metal members comprising at least one lateral a portion that is accessible from a location outside to the first flank of the circular portion.

The transport wheel of claim 8, wherein the metal member is secured to the annular portion by a plurality of turns located in the central portion of said member.

The transport wheel of claim 8, wherein each of said chambers is capable of contacting a vacuum source through a through bore that extends through a metal member associated with the chamber and continues through the non-conductive material in the annular portion.

A method of manufacturing a transport wheel adapted for use in an electronic component testing device, the transport wheel being operable to transfer said electronic components from a feeder station where they are

5, said components are loaded into a transport wheel, and then to a test station where said components are tested, comprising:

forming a circular element of a non-conductive material; forming a plurality of through holes in said

10 of a circular element, said through holes being evenly distributed around said circular element;

placing each of the plurality of metal elements in each of the plurality of through holes;

machining a peripheral portion of said annular member to reduce the size of the thickness of said peripheral portion; and forming a plurality of equally spaced notches in said peripheral portion, said notches being positioned such that one of said metal elements each forms a lower portion of each notch.

20 ',',

The method of claim 11, wherein the metal member is positioned such that it is accessible from at least one side of the circular member.

..

The method of claim 11, wherein each metal member has external threads, wherein insertion of each metal member into the circular member is achieved by rotating the metal member such that its threads engage the inner surface of the associated through hole in the circular member.

• · · · · · · · · · ·

14. The method of claim 11, wherein, after said notches have been formed, a through bore is drilled through each of said metal elements and continues through the non-conductive material of the annular element.

15. Apparatus for testing electronic components, comprising:

a feed station adapted to receive bulk quantities of electronic components and then to dispense said components through the outlet;

a transport wheel, the transport wheel having a plurality of separate, spaced, circumferentially spaced chambers adapted to receive electronic components from the delivery station exit, each chamber being open on two opposite sides and wherein the lower portion 15 of each chamber comprises a metal area capable of contacting an end-positioned outlet of the electronic component when said component is disposed in said chamber, the metal region comprising a portion exposed to at least one side of said wheel;

20 May ,,,. a test station comprising a probe having a plurality of movable guides, said guides capable of contacting a plurality of side-mounted outlets of the electronic component when said component is located in a chamber of said transport wheel near 25 of said probe;

a test apparatus operatively connected to said test site probe; and wherein, when the electronic component is placed in one of the chambers of the transport wheel, it can be transported from the feeding station to the test station.

»· ·

I · ·

16. The apparatus of claim 15, wherein said probe comprises:

support body;

a base movably secured to said support body 5;

said plurality of movable lines, each line being elongate, made of an electrically conductive material and secured to said base and operatively connected to the test apparatus, and wherein at least one of the lines has

10 is an end portion adapted for. contacting the terminal of the electronic component to be tested;

a guide block secured to said support body and having a plurality of through bores through which a plurality of said guides pass and within which are said guides

15 movable; and a force applying device capable of causing displacement of said base when the electronic component is positioned in a predetermined position relative to said guide block, wherein displacement of said base causes

20 corresponding to displacement of the guides secured to said base, and wherein a plurality of said guides are guided as they are moved through through bores in the guide block.

Device according to claim 16, characterized in that the base of the probe 1 is connected to the probe carrier body by a flexible structure.

18. The apparatus of claim 15, further comprising a thrust device, wherein when the electronic component is located at a lower end test station.

30, the pressure device acts to press down on the upper end of the component.

19. The apparatus of claim 18, wherein the presser comprises a roller that rolls along the peripheral portion of the transport wheel, said roller being secured to the apparatus by at least one spring retaining element that positively biases the roller toward the peripheral portion of the transport wheel. .

The apparatus of claim 19, wherein the roller is made of an electrically conductive metal material.

21. The apparatus of claim 20, wherein the probe comprises lines that are located, wherein when the electronic component is in the test station and located for testing, at least one line of said probe will be in contact with the metal region of the chamber in which the component is positioned, and at least one other of the probe guides will contact the side of the roller.

22. The apparatus of claim 21, wherein the probe comprises:

support body;

a base movably secured to said support body;

said plurality of movable lines, each line being elongated, made of an electrically conductive material and secured to said base and operatively connected to a test apparatus, and wherein at least one of the lines has an end portion adapted to contact the outlet of the electronic component to be tested ;

a guide block secured to said support body and having a plurality of through bores through which a plurality of said guides pass and within which the guides are movable; and a force applying device capable of causing 5 displacements of said base when said electronic component is positioned at a predetermined position relative to said guide block, said displacement of said base causing a corresponding displacement of the lines secured to said base, and wherein a plurality of said lines are guided their

10 by means of through bores in the guide block.