CS275881B6 - Meracia sústava, najma pre testovanie analogových a analogovo-číslicových integrovaných obvodov - Google Patents

Meracia sústava, najma pre testovanie analogových a analogovo-číslicových integrovaných obvodov Download PDF

Info

Publication number
CS275881B6
CS275881B6 CS501087A CS501087A CS275881B6 CS 275881 B6 CS275881 B6 CS 275881B6 CS 501087 A CS501087 A CS 501087A CS 501087 A CS501087 A CS 501087A CS 275881 B6 CS275881 B6 CS 275881B6
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
interface
bus
internal
analog
programmable modules
Prior art date
Application number
CS501087A
Other languages
English (en)
Slovak (sk)
Other versions
CS8705010A1 (en
Inventor
Jaroslav Ing Csc Slipka
Jiri Ing Stella
Jan Ing Libicher
Juraj Ing Kuniak
Lubomir Rndr Kontsek
Vladimir Ing Niederland
Milan Ing Ivanco
Vendelin Ing Maretta
Jan Ing Latta
Original Assignee
Jaroslav Ing Csc Slipka
Jiri Ing Stella
Jan Ing Libicher
Juraj Ing Kuniak
Lubomir Rndr Kontsek
Vladimir Ing Niederland
Milan Ing Ivanco
Vendelin Ing Maretta
Jan Ing Latta
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jaroslav Ing Csc Slipka, Jiri Ing Stella, Jan Ing Libicher, Juraj Ing Kuniak, Lubomir Rndr Kontsek, Vladimir Ing Niederland, Milan Ing Ivanco, Vendelin Ing Maretta, Jan Ing Latta filed Critical Jaroslav Ing Csc Slipka
Priority to CS501087A priority Critical patent/CS275881B6/cs
Publication of CS8705010A1 publication Critical patent/CS8705010A1/cs
Publication of CS275881B6 publication Critical patent/CS275881B6/cs

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

1 CS 275881 B 6
Vynález rieši meraciu sústavu, najma pře testovanie analogových a analógovo-číslico-vých integrovaných obvodov. V súčasnosti známe meracie sústavy pře testovanie analogových a analógovo-číslicovýchintegrovaných obvodov sú riešené buď ako súbor účelovo vvybraných meracích prístrojov,vybavených špeci.álnym komunikačným rozhraním a riadených počítačom, alebo ako Specializo-vané meracie sústavy, vybavené Specifickými programovatelnými. modulmi, konfigurované a tr-vale naprogramované podl’a účelu použitia , vybavené lokálnou riadiacou jednotkou, v ktorejje uložený testovací program a ktorá naviac umožňuje vykonávat’ automatické previerkuvlastnej prevádzkyschopnosti. Nevýhodou prvých je najma obmedzenosť účelovej špecifiká-cie sústavy, nízká univerzálnost’ použitia a velká doba spracovania jednotlivých meracíchprocedur, čo v konečnom dosledku spósobuje nízku produktivitu - týchto meracích sústav.Naviac, údaje o rýchlosti, přesnosti, stabilitě a diagnostickovatelnosti týchto sústav súv rozhodujúcej miere odvodené od parametrov použitých meracích prístrojov, čo kladi.e zvý-šené nároky na výběr týchto prístrojov a při přesných meraniach spósobuje neadekvátnynárast ceny aj spotřeby elektrickej energie. Nevýhodou druhých je najma to, že sú určenévýlučné na testovanie integrovaných obvodov jedného typu. Tento nedostatok je čiastočnekompenzovaný možnosťou pripojenia viacerých takýchto sústav prostredníctvom lokálnych ria-diacich jednotiek k spoločnému riadiacemu počítačů, čím sa však výrazné zvyšuje mohutnostmeracej sústavy s negativným vplyvom na ekonomiku takéhoto riešenia. Okrem toho, automa-tická previerka vlastnej prevádzkyschopnosti zaručuje len funkciu a nie přesnost’ a stabi-litu parametrov, čo napriek potenciálnej výhodě, ktorou je rýchlosť, z hladiska metrolo-gického zabezpečenia meracej sústavy třeba klasifikovat ako nevýhodu.
Vyššie uvedené nedostatky odstraňuje meracia sústava, najma pře testovanie analogo-vých a analógovo-číslicových integrovaných obvodov, podl’a tohoto vynálezu, ktorého podsta-ta spočívá v tom, že k prvej zbernici je připojený riadiaci mikropočítač, prepojovacierozhranie a prostredníctvom vonkajších rozhraní periférne zariadenia. K prepojovaciemurozhraniu sú cez preojovaciu zbernicu připojené vnútorné rozhrania, modul kontroly elek-trických podmienok, modul kontroly klimatických podmienok a vnútorný etalon, pričom k vnú-torným rozhraniam sú připojené cez vnútorné zbernice programovatelné moduly. Programova-telné moduly sú připojené k msraciemu rozhraniu cez vnútorné komunikačnú zbernicu, ku kti—rej je připojený aj vnútorný etalon a k meraciemu rozhraniu je připojený najmenej jedenmeraný objekt.
Meracia sústava, najma pre testovanie analogových a analogovo-číslicových integrova-ných obvodov, podlá tohoto vynálezu, překonává výhody doposial známých riešeni meracíchsústav pre vykonávanie statických a dynamických meraní analogových a analógovo-číslicovýchintegrovaných obvodov v přesnosti, a to aj při zohladnení faktorov vonkajšieho vplyvu,najma teploty prostredia, na přesnost’ merania, ďalej v dlhodobej stálosti, diagnostikova-telnosti, univerzálnosti použitia, programovej flexibilitě a modulárnej variabilitě, připorovnatelnéj rýchlosti, nižšej spotřebě elektrickej energie a nižších realizačných ajuživatelských nákladoch.
Na pripojenom nákrese je na obr. 1 znázorněný jeden příklad meracej sústavy, najmapře testovanie analogových a analógovo-číslicových integrovaných obvodov podlá vynálezua na obr. 2 je znázorněný příklad konkrétného zapojenia meracej sústavy, najma pře testo-vanie analogových a analógovo-číslicových integrovaných obvodov podlá vynálezu. K prvej zbernici ZM je připojený riadiaci mikropočítač RM, ktorý komplexně riadimeraciu sústavu. K prvej zbernici ZM sú ďalej připojené vonkajšie rozhrania VR1 až VRn,ktoré vytvárajú komunikačně rozhranie pře periférne zariadenia PZ1 až PZn, napříkladdisplej, tlačiareň, ovládaciu jednotku, vonkajšie památe, teplotnú komoru, krokovací au-tomat, trimovacie zariadenie a podobné, ktoré sú připojené k vonkajším rozhraniam VR1 ažVRn. Pře oddelenie riadiacej a výkonovej časti meracej sústavy je k prvej zbernici ZM při-pojené prepojovacie rozhranie RMP. K prepojovaciemu rozhraniu RMP je pře vytvořeni samo- CS 275881 B 6 2 statného komunikačného prostriedku výkonovej časti meracej sústavy připojená přepojova-či a zbernica PRZ, ku ktorej sú ďalej připojené vnútorné rozhráni a RPB1 až RPBn. Ďalej jek prepojovacej zbernici. PRZ připojený modul KEP kontroly elektrických podmienok, dalšímodul KKP kontroly klimatických podmienok a vnútorný etalon VE. K vnútorným rozhraniamRPB1 až RPBn sú za účelom vytvorenia samostatného komunikačného prostriedku v rámci blokupřipojené informačně zbernice ZB1 až ZBn, pričom na informačnú zbernicu ZB1 sú připojenéprogramovatelné moduly PM11 až PMln a na ďalšiu informačnú zbernicu ZBn sú připojené ďal-šie programovatefnémoduly PMnl až PMnn. Programovatelné moduly PM11 až PMln a ďalšieprogramovatelné moduly PMnl až PMnn, například při testovaní integrovaného obvodu typuanalogový multiplexer, predstavujú moduly referenčných napatí, modul generátora, modulmerača času, 'jednosměrný voltmetr a zdroje napátia a prúdu. Tieto moduly obsahujú aj po-třebné spínacie a prepínacie prvky pře vytvorenie aktuálnej kofigurácie podlá programova-nej funkcie. Programovatelné moduly PM11 až PMln a ďalšie programovatelné moduly PMnl ažPMnn sú připojené na vnútornú komunikačnú zbernicu VKZ, ku ktorej je ďalej připojenývnútorný etalon VE a meracie rozhranie RMD. K meraciemu rozhraniu RMO je připojený najme-nej jeden meraný objekt M01 až MOn. Ďalej bude popísaná činnost’ meracej sútavy, najma pre testovanie analogových a analó-govo-číslicových integrovaných obvodov, podlá vynálezu, a tu na jednom příklade konkrét-nej realizácie, ktorý je znázorněný na obr. 2. V tejto meracej sústave periférne zariade-nie PZ1 je displej, periférne zariadenie PZ2 je vonkajšia pamáť na pružnom disku, vonkaj-šie rozhranie VR1 je rozhranie displeja, vonkajšie rozhranie VR2 je rozhranie památj napružnom disku, prvá zbernica ZM je zbernica riadiaceho mikropočítača R_M, riadiaci mikro-počítač RM sa skládá z procesora a operačnej památi, prepojovacie rozhranie RMP je rozhra-nie medzi prvou zbernicou ZM riadiaceho mikropočitača RM a přepojovanou zbernicou PRZ,prepojovacia zbernica PRZ je samostatný komunikačný prostriedok na riadiacej úrovni výko-novej časti meracej sústavy, vnútorné rozhrania’ RPB1 až RPB3 sú rozhrania na úrovni bloku,ktoré spracovávajú riadiace signály, dekódujú adresy bloku, adresy modulov a prenášajú po-vely a údaje, modul KEP kontroly elektrických podmienok zabezpečuje sledovanie přítomnostia přesnosti napájacích hladin, další modul KKP kontroly klimatických podmienok zabezpeču-je sledovanie teploty, informačně zbernice ΖΒΓ až ZB3 sú samostatné komunikačně prostried-ky na riadiacej úrovni v rámci bloku, programovatelný modul PM11 je generátor sinusovéhopriebehu, programovatelné moduly PM12 až PM17 sú zdroje referenčného napátia, programova-telný modul PM21 je merač času, programovatelný modul PM22 je voltmeter, programovatelnémoduly PM31 až PM33 sú zdroje napátia a prúdu, vnútorný etalon VE je etalon napatí, od-porov a kmitočtu, vnútorná komunikačně zbernica VKZ je vytvořená z přepojení predstavujú-cich samostatnú kalibračnú a samostatnú meraciu zbernicu a zo signálových přepojení, me-racie rozhranie RMO je rozhranie, výhradně v tomto konkrétnom případe, pře jeden meranýobjekt M01 a meraný objekt M01 je integrovaný obvod typu analogový multiplexer. Činnost’takto určenej meracej sústavy je nasledovná: Povel z periférneho zariadenia PZ1, tj. zklávesnice displeja, sa cez vonkajšie rozhranie VR1 a prvú zbernicu ZM prenesie do riadia-ceho mikropočítača RM. Riadiaci mikropočítač RM prostredníctvom prvej zbernice ZM a von-kajšieho rozhrania VR2 památi na pružnom disku načíta z periférneho zariadenia PZ2, tj.z vonkajšej památi na pružnom disku, do vlastnej operačnej památi testovací program přeintegrovaný obvod typu analogový multiplexer. Tento testovací program sa skládá z nasledu-júcich častí: Kontrola a vyhodnotenie přítomnosti a přesnosti napájacích hladin, kontrolaa vyhodnotenie teploty prostredia, kalibrácia meracej sústavy, meranie parametrov analo-gového multiplexera, vyhodnotenie nameraných hodnot a výpis výsledkov testu na obrazovkudispleja. Na základe ďalši.eho povelu z periférneho zariadenia PZ1 riadiaci mikropočítač RMzačne vykonávat’ testovací program. V časti testovacieho programu "kontrola a vyhodnoteniepřítomnosti a přesnosti napájacích hladin" sa na činnosti podielajú riadiaci. mikropočítačRM, prvá zbernica ZM, prepojovacie rozhranie RMP, prepojovacia zbernica PRZ, modul KEPkontroly elektrických podmienok, vonkajšie rozhranie VR1 a periférne zariadenie PZ1. 3 CS 275881 B 6
Na základe instrukci! tejto časti testovacieho programu riadiaci mikropočítač RM prostred-níctvom prvej zbernice ZM, prepojovacieho rozhrania RMP a prepojovacej zbernice PRZ vy-čítá stavové slovo z modulu KEP kontroly elektrických podmienok. Ak niektoré z napájacíchhladin nie je přítomná, alebo je mimo dovolenej tolerancie, stavové slovo spósobí preruše-nie testovacieho programu v riadiacom mikropočítači RM a na periférnom zariadení PZ1 sazobrazí chybové hlásenie. Ak sú všetky napájacie hladiny přítomné a v predpísanej toleran-ci],. stavové slovo kontroly elektrických podmienok je bez chybových priznakov a riadiacimikropočítač RM pokračuje vo vykonávaní testovacieho programu. V časti testovacieho progra-mu "kontrola a vyhodnotenie teploty prostredia" sa na činnosti podielajú riadiaci mikro-počítač RM, zbernica ZM, rozhranie RMP, prepojovacia zbernica PRZ, modul KKP kontrolyklimatických podmienok, rozhranie VR1 a displej ako periférne zariadenie PZ1. Na základeinštrukcií tejto časti testovacieho programu riadiaci mikropočítač RM prostredníctvomzbernice ZM,, rozhrania RMP a prepojovacej zbernice PRZ vyčítá stavové slovo z modulukontroly klimatických podmienok KKP, v ktorom je obsiahnutý údaj o teplote prostredia. Akje tento údaj mimo dovoleného teplotného intervalu, riadiaci mikropočítač RM přeruší vy-konáváme testovaciehb programu a na obrazovke periférneho zariadenia PZ1 sa zobrazí chy-bové hlásenie. Ak je údaj o teplote prostredia v prípustnom intervale, riadiaci mikropočí-tač RM pokračuje vo vykonávaní testovacieho programu. V časti testovacieho programu"kalibrácia meracej sústavy" sa na činnosti podielajú riadiaci mikropočítač RM, prvá zber-nica ZM, prepojovacie rozhranie RMP, prepojovacia zbernica PRZ, vnútorné rozhranie RPB1až RPB3, vnútorný etalon VE, informačně zbernice ZB1 až ZB3, programovatelné moduly PM11až PM17, ďalšie programovatelné moduly PM21 a PM22 a ďalšie programovatelné moduly PM31až PM33, vnútorná komunikačná zbernica VKZ, meracie rozhranie RMO, vonkajšie rozhranieVR1 a periférne zariadenie PZ1. Na základe inštrukcií tejto časti testovacieho programusa prostredníctvom prvej zbernice ZM, prepojovacieho rozhrania RMP, prepojovacej zbernicePRZ, vnúturných rozhraní RPB1 až RPB3, informačných zberníc ZB1 až ZB3. vnútorného etalo-nu VE a tej časti vnútornej komunikačnej zbernice VKZ, ktorá je vyhradená pře kalibráciua signálové prepojenia, vykoná postupné kalibrácia programovalných modulov PM11 až PM17,dalších programovatelných modulov PM21 a PM22 a dalších programovatelných modulov PM31 ažPM33 aj meracieho rozhrania RMO. Přitom kalibrácia voltmetra, zdrojov napátia a prúdu,zdrojov referenčného napátia a amplitúdy generátora sinusového priebehu sa opiera o etalonnapátia, kalibrácia meracieho rozhrania RMO sa opiera o etalon odporu a kalibrácia meračačasu a frekvencie generátora sinusového priebehu sa opiera o etalon kmitočtu. Ak niektorýz programovatelných modulov PM11 až PM17, dalších programovatelných modulov PM21 a PM22a dalších programovatelných modulov PM31 až PM33, alebo meracie rozhranie RMO nie je možnéskalibrovať, riadiaci mikropočítač RM přeruší vykonávanie testovacieho programu a na obra-zovke periférneho zariadenia PZ1 sa zobrazí chybové hlásenie. Ak sú všetky programovatelnémoduly PM11 až PM17, ako aj ďalšie programovatelné moduly PM21 a PM22 a ďalšie programova-telné moduly PM31 až PM33 aj meracie rozhranie RMO úspěšně skalibrované, riadiaci mikro-počítač RM si vypočítá a uloží kalibračně konstanty a ďalej pokračuje vo vykonávaní testo-vacieho programu. Následuje časť testovacieho programu "meranie parametrov analogovéhomultlplexera". V tejto časti testovacieho programu sa na činnosti podielajú riadiaci mikro-počítač RM, prvá zbernica ZM, prepojovacie rozhranie RMP, prepojovacia zbernica PRZ,vnútorné rozhraní a RPB1 až RPB3, informačně zbernice ZB1 až ZB3, programovatelné modulyPM11 až PM17, ďalšie programovatelné moduly PM21 a PM22 a ďalšie programovatelné modulyPM31 až PM33, vnútorná komunikačná zbernica VKZ, meracie rozhranie RMO a meraný objekt M01.Na základe inštrukcií tejto časti testovacieho programu sa prostredníctvom prvej zberniceZM, prepojovacieho rozhrania RMP, prepojovacej zbernice PRZ, vnútorných rozhraní RPB1 ažRPB3, informačných zberníc ZB1 až ZB3, programovatelných modulov PM11 až PM17 a dalšíchprogramovatelných modulov PM21 a PM22 a dalších programovatelných modulov PM31 až PM33,ďalej tej časti vnútornej komunikačnej zbernice VKZ, ktorá je vyhradená pře merania a sig-nálové prepojenia, a meracieho rozhrania RMO postupné vykonajú merania statických para-metrov, ako sú odběry, vstupné logické prúdy, odpor kanálu v zopnutom stave, vstupný zvyš-

Claims (2)

  1. CS 275881 B 6 4 kový prúd vo vypnutom stave, výstupný zvyškový prúd vo vypnutom stave, výstupný zvyškovýprúd při zopnutom kanáli, vstupný prúd pri medzných podmienkach, a meranie dynamickéhoparametra, ako je doba prepnutia výstupu z jedného kanálu na druhý. Výsledky jednotlivýchmeraní riadiaci mikropočítač RM uloží do svojej operačnej pamati a ďalej pokračuje vo vy-konávaní testovacieho programu. V časti testovacieho programu "vyhodnotenie nameranýchhodnot a výpis výsledkov testu na obrazovku displeja" sa vykoná spracovanie nameranýchhodnot a výpis výsledkov testu na obrazovku periférneho zariadenia PZ1 V tejto častitestovacieho programu sa na činnosti zúčastni riadiaci mikropočítač RM, prvá zbernica ZM,vonkajšie rozhranie VR1 a displej ako periférne zariadenie PZ1. Na základe inštrukciítejto časti testovacieho programu a s pomocou kalibračných konštánt riadiaci mikropočítačRM vykoná korekcie nameraných výsledkov a takto upravené hodnoty zobrazí na obrazovke pe-riférneho zariadenia PZ1 ako parametre testovaného integrovaného obvodu typu analogovýmultiplexer. Meracia sústava podl’a vynálezu je zvlášť vhodná pře vykonávanie statických a dyna-mických meraní analogových a analógovo-číslicových integrovaných obvodov, a to pri vývojitýchto obvodov, při medzioperačných a výstupných kontrolách u výrobcov týchto obvodova na merania na vstupnej kontrole u výrobcov finálnych elektronických ;zariadení s velkouspotřebou analogových a analógovo-číslicových integrovaných obvodov. PATENTOVÉ NÁROKY Meracia sústava, najma pře testovanie analogových a analógovo-číslicových integro-vaných obvodov, vyznačujúca sa tým, že k prvej zbernici (ZM) je připojený riadiaci mikro-počítač (RM), vonkajšie rozhrania (VR1 až VRn) a prepojovacie rozhranie (RMP), pričom k vonkajším rozhraniam (VR1 až VRn) sú připojené periférne zariadenia (PZ1 až PZn) a k prepo-jovaciemu rozhraniu (RMP) je připojená prepojovacia zbernica (PRZ), ku ktorej sú ďalejpřipojené rozhrania (RPB1 až RPBn), modul (KEP) kontroly elektrických podmienok, dalšímodul (KKP) kontroly klimatických podmienok a vnútorný etalon (VE), ktorý je ďalej při-pojený k vnútornej komunikačnej zbernici (VKZ), ku ktorej sú připojené programovatelnémoduly (PM11 až PMln) a ďalšie programovatelné moduly (PMnl až PMnn), pričom programova-telné moduly (PM11 až PMln) sú připojené prostredníctvom informačnej zbernice (ZB1) k pr-vému vnútornému'rozhraniu (RPB1) a ďalšie programovatelné moduly (PMnl až PMnn) sú pro-stredníctvom ďalšej informačnej zbernice (Z8n) připojené k ďalšiemu vnútornému rozhraniu(RPBn) a k vnútornej komunikačnej zbernici (VKZ) je připojené meracie rozhranie (RMO),ku ktoréinu je připojený najmenej jeden meraný objekt (M01 až MOn).
  2. 2 výkresy
CS501087A 1987-07-02 1987-07-02 Meracia sústava, najma pre testovanie analogových a analogovo-číslicových integrovaných obvodov CS275881B6 (sk)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS501087A CS275881B6 (sk) 1987-07-02 1987-07-02 Meracia sústava, najma pre testovanie analogových a analogovo-číslicových integrovaných obvodov

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS501087A CS275881B6 (sk) 1987-07-02 1987-07-02 Meracia sústava, najma pre testovanie analogových a analogovo-číslicových integrovaných obvodov

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS8705010A1 CS8705010A1 (en) 1991-02-12
CS275881B6 true CS275881B6 (sk) 1992-03-18

Family

ID=5394138

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS501087A CS275881B6 (sk) 1987-07-02 1987-07-02 Meracia sústava, najma pre testovanie analogových a analogovo-číslicových integrovaných obvodov

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS275881B6 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS8705010A1 (en) 1991-02-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4651088A (en) Device for testing semiconductor devices
CA1040712A (en) Programmable tester
EP0056895A2 (en) Automatic test system
US7852099B1 (en) Frequency trimming for internal oscillator for test-time reduction
US6202186B1 (en) Integrated circuit tester having pattern generator controlled data bus
JP2003035574A (ja) 応答型センサ及び応用計測システム
DE69726219D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung einer Speicher-integrierten Schaltung
US6694282B2 (en) Method and device for determining an operating temperature of a semiconductor component
US5659125A (en) Automatic calibration method for carbon monoxide monitors
JPS63101780A (ja) 電気回路を有する制御装置を検査するための検査方法および検査システム
US8148996B2 (en) Circuit testing apparatus
US5930735A (en) Integrated circuit tester including at least one quasi-autonomous test instrument
US5528136A (en) VLSI component tester with average current measuring capability
CS275881B6 (sk) Meracia sústava, najma pre testovanie analogových a analogovo-číslicových integrovaných obvodov
US6892338B2 (en) Analog/digital characteristics testing device and IC testing apparatus
CN117074825A (zh) 集成化功能测试系统及方法
KR100219392B1 (ko) 기능 검사가 가능한 범용 계측기
JP2000208569A (ja) 測定装置及び測定方法
Nayar Microprocessor-Based Instrumentation
RU43979U1 (ru) Автоматизированный программно-технический комплекс для контроля плат
US7428474B2 (en) Integrated circuit with self-proofreading function and measuring device using the same
US6198699B1 (en) Semiconductor testing apparatus
JPH0152797B2 (cs)
Page An Automated Temperature Controller for the Advanced Hall Effect Experimental Data Acquisition System.
JPH04190175A (ja) Ic試験装置