CS272861B1 - Device for polymeric foils' three refractive indices nx,ny and nz measuring - Google Patents

Device for polymeric foils' three refractive indices nx,ny and nz measuring Download PDF

Info

Publication number
CS272861B1
CS272861B1 CS543888A CS543888A CS272861B1 CS 272861 B1 CS272861 B1 CS 272861B1 CS 543888 A CS543888 A CS 543888A CS 543888 A CS543888 A CS 543888A CS 272861 B1 CS272861 B1 CS 272861B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
refractometer
measuring
plane
prism
polymeric
Prior art date
Application number
CS543888A
Other languages
English (en)
Slovak (sk)
Other versions
CS543888A1 (en
Inventor
Jozef Ing Csc Polakovic
Bedrich Ing Travnicek
Ladislav Prof Ing Drsc Valko
Original Assignee
Jozef Ing Csc Polakovic
Travnicek Bedrich
Ladislav Prof Ing Drsc Valko
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jozef Ing Csc Polakovic, Travnicek Bedrich, Ladislav Prof Ing Drsc Valko filed Critical Jozef Ing Csc Polakovic
Priority to CS543888A priority Critical patent/CS272861B1/cs
Publication of CS543888A1 publication Critical patent/CS543888A1/cs
Publication of CS272861B1 publication Critical patent/CS272861B1/cs

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

pt * 1 CS 272 8δ1 B1
Vynález sa týká zariadenia na meranie troch, indexov lomu N , N a N , resp. troj lomuz X «/ z polymérnych folií. V súčasnosti používané zariadenie na meranie trojlomu polymérnych fólií.pozostávaz Abbého refraktometra upraveného tak, že okulár Je nahradený zariadením so zabudovanýmpolarimetrickým analyzátorom, ktorý umožňuje nastavit polarizační! rovinu tak, Že je rovno-běžná s rovinou meracieho hranola refraktometra, takže uhol Τ’ , ktorý zviera polarizačnírovina a rovina meracieho hranola refraktometra má nulová hodnotu aj tak, že polarizačnárovina je kolmá na rovinu refraktometra f = 90°. V povrchu polymérnej fólie zvolíme akodefinovaný směr len směr naví jania fólie. Voči tomuto směru možno definovat pravoúhlý kar-tézský systém. Definovaný směr vo fólii može mat voči rovině meracieho hranola dve orien-tácie, a to: može byt rovnoběžný s rovinou meracieho hranola refraktometra, takže uhol ~ 0, alebo kolmý na rovinu meracieho hranola refraktometra, takže i*11 = 90°.
Nevýhoda komerčného zariadenia je v tom, že meranie troch indexov lomu vyžaduje zásahdo optického systému a to tým, že okulár refraktometra musí byt pri každom meraní nahrade-ný zariadením s polarizátorom. Táto nevýhoda je odstránená zariadením pódia vynálezu, na meranie troch indexov lomupolymérnych fólií, ktoré pozostáva z refraktometra opatřeného Osvětlovacím hranolom a mera-cím hranolom a zo sústavy na polarizáciu a orientáciu roviny polarizovaného světla voči ro-vině refraktometra, ktorého podstata spočívá v tom, že osvětlovací hranol je opatřený dr-žiakom, na ktorom je umiestnený otočný goniometrický nástavec s nasadeným polaroidným fil-mom pomocou krúžka.
Zariadenie umožňuje orientovat rovinu vstupujúceho polarizovaného světla rovnoběžněs rovinou refraktometra, takže ¥ = 0° aj kolmo na rovinu refraktometra, ¥ = 90°·
Foliu možno voči rovině refraktometra orientovat tak, že definovaný směr fólie jes ňou rovnoběžný, = 0° alebo je na ňu kolmý, = 90°. Zariadenie umožňuje merat tri in-dexy Νχ, Hy a líz vhodnou kombináciou uhlov 'f a “ΰ1.
Na priloženom výkrese je znázorněná schéma zariadenia pódia vynálezu.
Zariadenie podlá vynálezu pozostáva z refraktometra l_i na ktorého osvětlovací hranol 3je připojený otočný goniometrický nástavec 5 pomocou držiaka 4. Na goniometrickom nástavci5 je nastavený polaroidový film 7 pomocou kovového krúžku 6. Vzorka 2 polymérnej fólie jeuložená medzi osvětlovacím hranolom 3 a meracím hranolom 9 refraktometra 2· Goniometrickýnástavec 5 umožňuje měnit orientáciu roviny polarizovaného světla voči rovině meraciehohranola 9 refraktometra 2· Světlo pre funkciu zariadenia sa získává zo světelného zdroja 8.
Eunkcia zariadenia je následovní. Světlo zo světelného zdroja 8 vstupuje cez polaroido-vý film 7, osvětlovací hranol 3, vzorku 2 polymérnej fólie a merací hranol 9 do refrakto-metra 2·
Indexy lomu Νχ, Ny a Nz polymérnej fólie 2 sa merajú refráktometrom 2 po nastaveníuhla natočením goniometrického nástavca 5 voči rovině meracieho hranola 9 refraktometra 2na hodnoty: a) ψ = 0° b) ψ = 90° a po orientácii definovaného směru vo vzorke 2 polymérnej fólie voči rovině refraktometra2 na hodnoty uhla: a) = 0° b) 90° ako je uvedené v tabulke 1.
Priestor medzi fóliou 2 a měrným hranolom 9 a medzi fóliou 2 a osvětlovacím hranolom 3je potřebné vyplnit vhodnou immerznou kvapalinou, ktorá sa volí pódia vlastností vzorky 2polymérnej fólie. ií CS 272 861 B1
Ako konkrétny příklad merania troch indexov lomu N, Na N uvedieme výsledky prez x y z případ, keu polymérnou foliou 2 bola československá biaxálne orientovaná polypropylénováfólie. Ako immerzná kvapalina bol použitý benzylalkohol. Ako definovaný směr sa zvolilsměr navíjania fólie. Merania boli vykonané na vzorkách fólie o rozmeroch 60 mm x 60 mmpři teplote 25 °G dvomi sposobmi: a) na jednej fólii bolo vykonaných 12 meraní, ktoiých výsledky sú uvedené v tabuíke 1 > b) merania sa vykonali na 12-tich fóliach rózne vybraných, ktoiých výsledky sú uve-dené v tabuíke 2. Z výsledkov uvedených v tabuíke 1 a 2 vyplývá, že reprodukovateínosí meraní je na úrovni zodpovedajúcej refraktometrickým meraniam.
Zvýšené hodnoty strednej odchýlky a štandardnej odchýlky, uvedené v tabuíke 2 sú sposobené nehomogenitou fólie, ktorá sa prejavila aj na strednej hodnotě Νχ po zmene o-
rientácie fólie v tabuíke 1 z hodnoty N = 0°) = 1,5103 + 0,001 na hodnotu N
Λ x f "* X (i>* = 90 ) = 1,5090 + 0,001. Změna orientácie folie sposobí, že na plochu meracieho hra-nola 9 sa dostane iná časí fólie, ktorá móže mař málo odlišná fyzikálnu štruktúru, čo sauž prejaví na hodnotě indexu lomu.
Zariadenie podlá vynálezu može nájsí uplatnenie například pri kontrole výroby poly-mérnych fólií, například pre výkonové kondensátory.
Tabulka 1: čí slomerania Nx *x ^=0° ψ = 90° ψ = 0° ψ = 90° 0° = o° •z^ = 90° = 90° 1 1,5100 1,5282 1,5099 1,5158 2 1,5102 1,5283 1,5092 1,5157 3 1,5103 1,5283 1,5093 1,5156 4 1,5101 1,5280 1,5088 1,5155 5 1,5103 1,5281 1,5089 1,5159 6 1,5106 1,5283 1,5089 1,5158 7 1,5105 1,5283 1,5090 1,5160 8 1 ,5105 1,5284 1,5088 1,5159 9 1,5103 1,5283 1,5089 1,5158 10 1,5103 1,5284 1,5089 1,5157 11 1,5102 1,5283 1,5090 1,5160 '12 1,5103 1,5284 1,5088 1,5158 středná hodnota 1,5103 1,5282 1,5090 1,5188 středná odchýlka 0,0001 0,0001 0,00026 . 0,0001 štandardná odchýlka 0,0001 0,0001 0,00025 0,0001

Claims (1)

  1. 3 ía 3 CS 272 861 B1 Tabulka 2r Číslo fólie Kx Ny “x ffz 1 1,5108 1,5288 1,5108 1,5182 2 1,5103 1,5278 1,5099 1,5172 3 1,5038 1,5273 1,5108 1,5170 4 1,5108 1,5272 1,5102 1,5168 5 1,5122 1,5272 1,5102 1,5168 6 1,5100 1,5272 1,5108 1,5178 7 1,5103 1,5288 1,5098 1,5165 8 1,5110 1,5268 1,5092 1,5168 9 1,5086 • 1,5264 1,5095 1,5165 10 1,5096 1,5265 1,5092 1,5163 11 1,5092 1,5270 1,5095 1,5155 12 1,5122 1,5288 1,5092 1,5165 středná hodnota 1,5104- 1,5277 1,5105 1,5169 středná odchýlka 0,0011 0,0009 0,0023 0,0006 Standardná odchýlka 0,0010 0,0008 0,0022 0,0006 PREDMET VYNÁLEZU Zariadenie na meranie troch indexov lomu N„, N , N polymérnych fólií pozostávajdce y * v " z refraktometra, opatřeného osvětlovacím hranolom a meracím hranolom a sdstavy na polari-záciu a orientáciu roviny polarizovaného světla voSi rovině refraktometra, vyznačujdce satým, že osvětlovací hranol (3) Je opatřený držiakom (4), na ktorom Je umiestnený otočnýgoniometrický nástavec (5) s nasadeným polaroidovým filmom (7) pomocou krúžku (6). 1 výkres
CS543888A 1988-08-03 1988-08-03 Device for polymeric foils' three refractive indices nx,ny and nz measuring CS272861B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS543888A CS272861B1 (en) 1988-08-03 1988-08-03 Device for polymeric foils' three refractive indices nx,ny and nz measuring

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS543888A CS272861B1 (en) 1988-08-03 1988-08-03 Device for polymeric foils' three refractive indices nx,ny and nz measuring

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS543888A1 CS543888A1 (en) 1990-06-13
CS272861B1 true CS272861B1 (en) 1991-02-12

Family

ID=5399298

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS543888A CS272861B1 (en) 1988-08-03 1988-08-03 Device for polymeric foils' three refractive indices nx,ny and nz measuring

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS272861B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS543888A1 (en) 1990-06-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2008002981A2 (en) Circular birefringence refractometer: method and apparatus for measuring optical activity
JPS62157549A (ja) シート状透光性試料の異方性測定方法
US3797940A (en) Refractometer with displacement measured polarimetrically
US3197643A (en) Electro-optical plane aligning apparatus
CN108572143B (zh) 全偏振测量显微镜
JPS6483135A (en) Measuring apparatus of polarized infrared ray for thin film
CN212989163U (zh) 一种测量透明平板介质折射率的装置
CN111896486A (zh) 一种手性物质光学活性测量装置及方法
CS272861B1 (en) Device for polymeric foils' three refractive indices nx,ny and nz measuring
Azzam NIRSE: Normal-incidence rotating-sample ellipsometer
JP2791479B2 (ja) レターデーション測定方法
CN113203686A (zh) 一种非平面透明元件的偏振特性检测装置及检测方法
CN113281256B (zh) 穆勒矩阵测量装置及其测量方法
Smith An automated scanning ellipsometer
US3345905A (en) Apparatus for measuring phase differences in polarized light
CN212159558U (zh) 一种无相位调制结构的相位型spr传感系统
CN113252306A (zh) 空气隙v棱镜折射率测量装置
SU792107A2 (ru) Рефрактометр
Cameron Apparatus and techniques for the measurement of certain optical properties of ore minerals in reflected light
CN104833485B (zh) 一种能够同时检测两个双折射器件光轴方向的装置及方法
SU1024703A1 (ru) Способ контрол толщины и показател преломлени диэлектрической пленки на диэлектрической подложке
Stromberg et al. Ellipsometry techniques and their application to polymer adsorption
CN86106782A (zh) 参比式高分辨率多用激光光学分析仪
King The effect of sample cell windows in precision polarimetry
Cha et al. Optical characterization of three‐dimensional surface and bulk anisotropy in high refractive index polymers