CS271888B1 - Portable rastering eiectron microscope - Google Patents

Portable rastering eiectron microscope Download PDF

Info

Publication number
CS271888B1
CS271888B1 CS886117A CS611788A CS271888B1 CS 271888 B1 CS271888 B1 CS 271888B1 CS 886117 A CS886117 A CS 886117A CS 611788 A CS611788 A CS 611788A CS 271888 B1 CS271888 B1 CS 271888B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
microscope
specimen
portable
tube
eiectron
Prior art date
Application number
CS886117A
Other languages
English (en)
Other versions
CS611788A1 (en
Inventor
Jaroslav Ing Klima
Lubomir Rndr Tuma
Jiri Ing Petr
Original Assignee
Klima Jaroslav
Tuma Lubomir
Petr Jiri
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Klima Jaroslav, Tuma Lubomir, Petr Jiri filed Critical Klima Jaroslav
Priority to CS886117A priority Critical patent/CS271888B1/cs
Publication of CS611788A1 publication Critical patent/CS611788A1/cs
Publication of CS271888B1 publication Critical patent/CS271888B1/cs

Links

Landscapes

  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

Vynález se týká přenosného rastrovacího elektronového mikroskopu, tvořeného tubusem mikroskopu s komorou preparátu a stolkem preparátu, čerpacím ústrojím a napájecími, ovládacími a zobrazovacími obvody.
Osou známy rastrovací elektronové mikroskopy, u nichž je komora preparátu, na níž je upevněn tubus mikroskopu, pevně uložená ve stole, na němž a v němž jsou dále uloženy napájecí, ovládací a zobrazovací obvody. U těchto mikroskopů se zkoumaný preparát vkládá do komory preparátu, v níž se čerpacím ústrojím vytvoří vakuum, načež je možno zahájit pozorování preparátu.
Nevýhodou mikroskopu stávající konstrukce je jeho praktická nepřencsnost, daná jeho rozměry a hmotností, a zejména v případě jeho využití jako elektronového litografu obtížná manipulace se stolkem preparátu, kdy se elektrické přívody zpracovávaného čipu jen velmi obtížně pájejí k vakuové průchodce.
Jinou nevýhodou pak je nemožnost použít takový mikroskop při nedestruktivním zkoumání například namáháním částí větších ploch.
Uvedené nevýhody dosavadního stavu do značné míry odstraňuje přenosný rastrovací elektronový mikroskop, tvořený tubusem mikroskopu s komorou preparátu a stolkem preparátu, čerpacím ústrojím a napájecími, ovládacími a zobrazovacími obvody, podle vynálezu, jehož podstatou je, že tubus mikroskopu je výkyvné uložen v podstavci, přičemž uložení tubusu mikroskopu v podstavci je opatřena aretačnim ústrojím.
Výhody přenosného rastrovacího elektronového mikroskopu podle vynálezu spočívají zejména v tom, že umožňuje snadnou manipulaci se stolkem preparátu, což je zvláště důležité při práci s čipy, jejichž vývody je třeba prostřednictvím vakuové průchodky propojit s vnějšími zdroji. Jinou výhodou je možnost jeho použití jako přisávacího mikroskopu pro nedestruktivní zkoumání například únavových jevů na větších namáhaných plochách, jako jsou křídla letadel. Další výhodou pak je snadná přenosnost a skladovatelnost, daná malými rozměry, malou hmotností a snadnou rozebiratelností mikroskopu.
Vynález bude dále podrobněji popsán podle přiložených výkresů, kde na obr. 1 je schematicky znázorněn v částečném řezu pohled na příkladné provedení sestaveného přenosného rastrovacího elektronového mikroskopu podle vynálezu a na obr. 2 je znázorněn boční pohled na tentýž elektronový mikroskop ve vychýleném stavu.
Na obr. 1 je znázorněn tubus £ mikroskopu s komorou 2 preparátu a stolkem 2 preparátu Tubus i mikroskopu je uchycen v objímce £ s čepy 5. Čepy 5 jsou otočně uloženy ve výřezu £ podstavce 7_, přičemž jeden z čepů 5 je opatřen aretačnim ústrojím £.
Na obr. 2 je znázorněn tentýž mikroskop, aretovaný aretačnim ústrojím £ ve vychýleném stavu.
V činnosti přenosného rastrovacího elektronového mikroskopu podle vynálezu se po zavzdušnění tubusu £ mikroskopu sejme stolek 2 preparátu a na něj se uchytí preparát. Pokud je sledovaným preparátem například čip, je možno jeho vývody připájet k vývodům vakuové průchodky v komoře 2 preparátu nebo stolku 2 preparátu, přičemž se tubus £ mikroskopu zaaretuje v poloze, v níž je vakuová průchodka nejlépe přístupná obsluze. Po propojení vývodů čipu a vakuové průchodky se stolek 3 preparátu přiloží zpět ke komoře 2 preparátu a vzduch v tubusu i mikroskopu se neznázorněným čerpacím ústrojím odčerpá, načež je možno čip zkoumat při současném přivedení různých vhodných napětí k různým vývodům čipu. Při použití tohoto elektronového mikroskopu jako elektronového litografu je možno za obdobných podmínek na čipu vytvořit pomocí programu počítače, řídícího funkci tohoto elektronového mikroskopu, požadovaný integrovaný obvod. Konečně v případě použití'elektronového mikrosko pu jako přisávacího mikroskopu se po zavzdušnění tubusu £ mikroskopu sejme stolek 3 preparátu, tubus £ mikroskopu se po případném vyjmutí z podstavce £, přiloží komorou 2 preparátu ke zkoumané ploše, načež se vzduch v tubusu £ mikroskopu neznázorněným čerpacím ústrojím odčerpá a je možno začít s pozorováním zkoumané plochy.
CS 271888 Bl
Vynález lze g výhodou využít zejména při zkoumání a vytváření integrovaných obvodů na čipech a pro zkoumání preparátů, jejichž vývody je třeba vyvést vné vakua.

Claims (1)

  1. Přenosný rastrovací elektronový mikroskop, tvořený tubusem mikroskopu s komorou preparátu a stolkem preparátu, čerpacím ústrojím a napájecími, ovládacími a zobrazovacími obvody, vyznačující se tím, žs tubus (1) mikroskopu je výkyvná uložen v podstavci (7), ί přičemž uložení tubU9U (1) mikroskopu v podstavci (7) je opatřeno aretačním ústrojím (8).
CS886117A 1988-09-13 1988-09-13 Portable rastering eiectron microscope CS271888B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS886117A CS271888B1 (en) 1988-09-13 1988-09-13 Portable rastering eiectron microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS886117A CS271888B1 (en) 1988-09-13 1988-09-13 Portable rastering eiectron microscope

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS611788A1 CS611788A1 (en) 1990-03-14
CS271888B1 true CS271888B1 (en) 1990-12-13

Family

ID=5407455

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS886117A CS271888B1 (en) 1988-09-13 1988-09-13 Portable rastering eiectron microscope

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS271888B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS611788A1 (en) 1990-03-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6191598B1 (en) High resolution analytical probe station
US7372283B2 (en) Probe navigation method and device and defect inspection device
US7180317B2 (en) High resolution analytical probe station
JP6656728B2 (ja) 相関顕微鏡
CN109283362B (zh) 双射束带电粒子显微镜中的样品制备和检查
US6653825B2 (en) Meter lead holder device
EP2159580A1 (en) Probe tip
Cinibulk et al. Preparation of thin sections of coated fibers for characterization by transmission electron microscopy
CN108550513A (zh) 三维力电透射电镜原位样品杆
US6640610B2 (en) Automatic integrated mechanical and electrical angular motion detector test system
IL98086A0 (en) Installation for the study or the transformation of the surface of samples placed in a vacuum or in a controlled atmosphere
JP2001515594A (ja) 裏面放出型顕微鏡検査を用いた探測
Edelmann A simple freeze‐drying technique for preparing biological tissue without chemical fixation for electron microscopy
US10141157B2 (en) Method for adjusting height of sample and observation system
CN117524820A (zh) 样品架夹具
US10373795B2 (en) Integrated circuit analysis systems and methods with localized evacuated volume for e-beam operation
US6961672B2 (en) Universal diagnostic platform for specimen analysis
EP3361233A1 (en) Bond test apparatus and bond test cartridge with integrated illumination system
JP2003035682A (ja) 試料ホルダ及び試料分析方法
US20030015978A1 (en) Apparatus and method for adjusting components of an optical or mechanical system
CN107407696A (zh) 与用于改变物体表面的装置相结合的扫描探针显微镜
CN114325283A (zh) 一种真空光辐照条件下的半导体性能测试系统及其控制方法
CN222364911U (zh) 一种可快速处理组织切片的荧光成像设备
Perujo et al. Design of a dedicated target chamber for PIXE microanalysis of mineral samples
JPH04105079A (ja) 電子ビーム装置