CS271888B1 - Portable rastering eiectron microscope - Google Patents
Portable rastering eiectron microscope Download PDFInfo
- Publication number
- CS271888B1 CS271888B1 CS886117A CS611788A CS271888B1 CS 271888 B1 CS271888 B1 CS 271888B1 CS 886117 A CS886117 A CS 886117A CS 611788 A CS611788 A CS 611788A CS 271888 B1 CS271888 B1 CS 271888B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- microscope
- specimen
- portable
- tube
- eiectron
- Prior art date
Links
- 238000005086 pumping Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 abstract description 4
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 2
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
Vynález se týká přenosného rastrovacího elektronového mikroskopu, tvořeného tubusem mikroskopu s komorou preparátu a stolkem preparátu, čerpacím ústrojím a napájecími, ovládacími a zobrazovacími obvody.
Osou známy rastrovací elektronové mikroskopy, u nichž je komora preparátu, na níž je upevněn tubus mikroskopu, pevně uložená ve stole, na němž a v němž jsou dále uloženy napájecí, ovládací a zobrazovací obvody. U těchto mikroskopů se zkoumaný preparát vkládá do komory preparátu, v níž se čerpacím ústrojím vytvoří vakuum, načež je možno zahájit pozorování preparátu.
Nevýhodou mikroskopu stávající konstrukce je jeho praktická nepřencsnost, daná jeho rozměry a hmotností, a zejména v případě jeho využití jako elektronového litografu obtížná manipulace se stolkem preparátu, kdy se elektrické přívody zpracovávaného čipu jen velmi obtížně pájejí k vakuové průchodce.
Jinou nevýhodou pak je nemožnost použít takový mikroskop při nedestruktivním zkoumání například namáháním částí větších ploch.
Uvedené nevýhody dosavadního stavu do značné míry odstraňuje přenosný rastrovací elektronový mikroskop, tvořený tubusem mikroskopu s komorou preparátu a stolkem preparátu, čerpacím ústrojím a napájecími, ovládacími a zobrazovacími obvody, podle vynálezu, jehož podstatou je, že tubus mikroskopu je výkyvné uložen v podstavci, přičemž uložení tubusu mikroskopu v podstavci je opatřena aretačnim ústrojím.
Výhody přenosného rastrovacího elektronového mikroskopu podle vynálezu spočívají zejména v tom, že umožňuje snadnou manipulaci se stolkem preparátu, což je zvláště důležité při práci s čipy, jejichž vývody je třeba prostřednictvím vakuové průchodky propojit s vnějšími zdroji. Jinou výhodou je možnost jeho použití jako přisávacího mikroskopu pro nedestruktivní zkoumání například únavových jevů na větších namáhaných plochách, jako jsou křídla letadel. Další výhodou pak je snadná přenosnost a skladovatelnost, daná malými rozměry, malou hmotností a snadnou rozebiratelností mikroskopu.
Vynález bude dále podrobněji popsán podle přiložených výkresů, kde na obr. 1 je schematicky znázorněn v částečném řezu pohled na příkladné provedení sestaveného přenosného rastrovacího elektronového mikroskopu podle vynálezu a na obr. 2 je znázorněn boční pohled na tentýž elektronový mikroskop ve vychýleném stavu.
Na obr. 1 je znázorněn tubus £ mikroskopu s komorou 2 preparátu a stolkem 2 preparátu Tubus i mikroskopu je uchycen v objímce £ s čepy 5. Čepy 5 jsou otočně uloženy ve výřezu £ podstavce 7_, přičemž jeden z čepů 5 je opatřen aretačnim ústrojím £.
Na obr. 2 je znázorněn tentýž mikroskop, aretovaný aretačnim ústrojím £ ve vychýleném stavu.
V činnosti přenosného rastrovacího elektronového mikroskopu podle vynálezu se po zavzdušnění tubusu £ mikroskopu sejme stolek 2 preparátu a na něj se uchytí preparát. Pokud je sledovaným preparátem například čip, je možno jeho vývody připájet k vývodům vakuové průchodky v komoře 2 preparátu nebo stolku 2 preparátu, přičemž se tubus £ mikroskopu zaaretuje v poloze, v níž je vakuová průchodka nejlépe přístupná obsluze. Po propojení vývodů čipu a vakuové průchodky se stolek 3 preparátu přiloží zpět ke komoře 2 preparátu a vzduch v tubusu i mikroskopu se neznázorněným čerpacím ústrojím odčerpá, načež je možno čip zkoumat při současném přivedení různých vhodných napětí k různým vývodům čipu. Při použití tohoto elektronového mikroskopu jako elektronového litografu je možno za obdobných podmínek na čipu vytvořit pomocí programu počítače, řídícího funkci tohoto elektronového mikroskopu, požadovaný integrovaný obvod. Konečně v případě použití'elektronového mikrosko pu jako přisávacího mikroskopu se po zavzdušnění tubusu £ mikroskopu sejme stolek 3 preparátu, tubus £ mikroskopu se po případném vyjmutí z podstavce £, přiloží komorou 2 preparátu ke zkoumané ploše, načež se vzduch v tubusu £ mikroskopu neznázorněným čerpacím ústrojím odčerpá a je možno začít s pozorováním zkoumané plochy.
CS 271888 Bl
Vynález lze g výhodou využít zejména při zkoumání a vytváření integrovaných obvodů na čipech a pro zkoumání preparátů, jejichž vývody je třeba vyvést vné vakua.
Claims (1)
- Přenosný rastrovací elektronový mikroskop, tvořený tubusem mikroskopu s komorou preparátu a stolkem preparátu, čerpacím ústrojím a napájecími, ovládacími a zobrazovacími obvody, vyznačující se tím, žs tubus (1) mikroskopu je výkyvná uložen v podstavci (7), ί přičemž uložení tubU9U (1) mikroskopu v podstavci (7) je opatřeno aretačním ústrojím (8).
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS886117A CS271888B1 (en) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | Portable rastering eiectron microscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS886117A CS271888B1 (en) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | Portable rastering eiectron microscope |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS611788A1 CS611788A1 (en) | 1990-03-14 |
| CS271888B1 true CS271888B1 (en) | 1990-12-13 |
Family
ID=5407455
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS886117A CS271888B1 (en) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | Portable rastering eiectron microscope |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS271888B1 (cs) |
-
1988
- 1988-09-13 CS CS886117A patent/CS271888B1/cs unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS611788A1 (en) | 1990-03-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6191598B1 (en) | High resolution analytical probe station | |
| US7372283B2 (en) | Probe navigation method and device and defect inspection device | |
| US7180317B2 (en) | High resolution analytical probe station | |
| JP6656728B2 (ja) | 相関顕微鏡 | |
| CN109283362B (zh) | 双射束带电粒子显微镜中的样品制备和检查 | |
| US6653825B2 (en) | Meter lead holder device | |
| EP2159580A1 (en) | Probe tip | |
| Cinibulk et al. | Preparation of thin sections of coated fibers for characterization by transmission electron microscopy | |
| CN108550513A (zh) | 三维力电透射电镜原位样品杆 | |
| US6640610B2 (en) | Automatic integrated mechanical and electrical angular motion detector test system | |
| IL98086A0 (en) | Installation for the study or the transformation of the surface of samples placed in a vacuum or in a controlled atmosphere | |
| JP2001515594A (ja) | 裏面放出型顕微鏡検査を用いた探測 | |
| Edelmann | A simple freeze‐drying technique for preparing biological tissue without chemical fixation for electron microscopy | |
| US10141157B2 (en) | Method for adjusting height of sample and observation system | |
| CN117524820A (zh) | 样品架夹具 | |
| US10373795B2 (en) | Integrated circuit analysis systems and methods with localized evacuated volume for e-beam operation | |
| US6961672B2 (en) | Universal diagnostic platform for specimen analysis | |
| EP3361233A1 (en) | Bond test apparatus and bond test cartridge with integrated illumination system | |
| JP2003035682A (ja) | 試料ホルダ及び試料分析方法 | |
| US20030015978A1 (en) | Apparatus and method for adjusting components of an optical or mechanical system | |
| CN107407696A (zh) | 与用于改变物体表面的装置相结合的扫描探针显微镜 | |
| CN114325283A (zh) | 一种真空光辐照条件下的半导体性能测试系统及其控制方法 | |
| CN222364911U (zh) | 一种可快速处理组织切片的荧光成像设备 | |
| Perujo et al. | Design of a dedicated target chamber for PIXE microanalysis of mineral samples | |
| JPH04105079A (ja) | 電子ビーム装置 |