CS265486B1 - Dvoukrystaiový neutronový difraktometr - Google Patents

Dvoukrystaiový neutronový difraktometr Download PDF

Info

Publication number
CS265486B1
CS265486B1 CS869542A CS954286A CS265486B1 CS 265486 B1 CS265486 B1 CS 265486B1 CS 869542 A CS869542 A CS 869542A CS 954286 A CS954286 A CS 954286A CS 265486 B1 CS265486 B1 CS 265486B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
crystal
reflection
diffraction
geometry
elastically deformed
Prior art date
Application number
CS869542A
Other languages
English (en)
Other versions
CS954286A1 (en
Inventor
Pavol Rndr Csc Mikula
Petr Rndr Lukas
Jiri Ing Csc Kulda
Rudolf Ing Drsc Michalec
Original Assignee
Pavol Rndr Csc Mikula
Petr Rndr Lukas
Jiri Ing Csc Kulda
Rudolf Ing Drsc Michalec
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pavol Rndr Csc Mikula, Petr Rndr Lukas, Jiri Ing Csc Kulda, Rudolf Ing Drsc Michalec filed Critical Pavol Rndr Csc Mikula
Priority to CS869542A priority Critical patent/CS265486B1/cs
Publication of CS954286A1 publication Critical patent/CS954286A1/cs
Publication of CS265486B1 publication Critical patent/CS265486B1/cs

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Zařízení pro měření maloúhlového rozptylu termálních neutronů na bázi elasticky deformovaných monokrystalů, které slouží ke studiu mikrostruktury kondenzovaných látek. Účelem je zvýšení efektivnosti sběru experimentálních dat při měření maloúhlového rozptylu na difraktometru v dvoukrystalovém bezdispersním uspořádáni. Toto uspořádání elasticky deformovaných krystalů je vytvořené tak, že první krystal je uložen v poloze symetrické reflexe v geometrii na odraz a druhý krystal je uložen v poloze zcela asymetrické reflexe v geometrii na odraz, přičemž za výstupem druhého krystalu je upraven polohově citlivý detektor. Uvedeného účelu se dosáhne využitím zvláštního řezu druhého krystalu umožňujícího difrakci v geometrii úplné asymetrie, pomocí které se převádí úhlová závislost rozptylu pod malými úhly na prostorovou ve směru podélné osy krystalu. Prostorové rozložení míst, ve kterých dochází k sekundární difrakci neutronů prošlých vzorkem a rozptýlených pod malými úhly, umožňuje k jejich registraci a analýze místa difrakce použít polohově citlivého detektoru. Řešení je možné využít v jaderné fyzice, fyzice kondenzovaných látek, materiálovém výzkumu a chemii.

Description

Vynález se týká dvoukrystalového neutronového difrektometru pro měření mikrostruktury kondenzovaných látek pomocí maloúhlového rozptylu, který je využíván v materiálovém výzkumu při zkoumání technologických postupů.
Dosud se k měření mikrostruktury kondenzovaných látek pomocí maloúhlového rozptylu termálních neutronů v oblasti rozptylových úhlů menších než 10 rad používá systému dvou monokrystalů v symetrickém geometrickém a bezdispersním difrakčním uspořádání, kde analýza rozptylu na malé úhly způsobeného vzorkem, umístěným mezi krystaly, je prováděna měřením závislosti intenzity odražených neutronů druhým krystalem pro různé úhlové odchylky od přesně paralelní polohy vzhledem k prvnímu krystalu.
Nevýhoda tohoto zařízení spočívá především v nustnosti měření intenzity neutronů rozptýlených pod malými úhly po jednotlivých úhlových krocích natáčením druhého krystalu v určitém úhlovém intervalu.
Výše uvedený nedostatek odstraňuje dvoukrystalový neutronový difraktometr pro měření mikrostruktury kondenzovaných látek pomoci maloúhlového rozptylu podle vynálezu. Dva elasticky deformované krystaly v bezdispersním uspořádání, kde první krystal má orientaci pro symetrický odraz a druhý krystal orientaci pro zcela asymetrický odraz, umožňují měření maloúhlového rozptylu neutronů pomocí polohově citlivého detektoru, umístěného za výstupem druhého krystalu.
Výhodou zařízení podle vynálezu je především použití polohově citlivého detektoru, který umožňuje převedeni úhlové závislosti rozptýlených neutronů vzorkem na prostorovou závislost a zkracuje sběr experimentálních dat 10 až lOOkrát a tím značně snižuje provozní náklady.
Příklad provedení zařízení podle vynálezu je uveden na výkresu, na kterém je znázorněn řez dvoukrystalovým bezdispersním uspořádáním dvou elasticky deformovaných krystalů v geometrii symetrické a úplně asymetrické polohy vzhledem k dopadajícímu svazku.
První krystal 2 s difrakčními rovinami 2« vytvořenými paralelně k jeho podélné ose a druhý krystal 2 s difrakčními rovinami £ v poloze zcela asymetrické reflexe v geometrii na odraz jsou v bezdispersním uspořádání. Na difrakční roviny 2 prvního krystalu 2 dopadá polychromatický svazek 2 termálních neutornů. Odtud se odráží monochromatický svazek 2 termálních neutornů, který prochází štěrbinovou clonou T_ a vzorkem 2 a vstupuje do druhého krystalu 2 jeho čelní stranou 9. Neutrony nerozptýlené vzorkem 2 jsou odraženy difrakčními rovinami £ v oblasti 11 druhého krystalu 2 a neutrony rozptýlené jsou odraženy v oblasti 12 druhého krystalu 2. Velikost účinné plochy 10 difrakčníoh rovin 2 prvního krystalu 2 je určena velikostí otvoru štěrbinové clony 7_.
V dokonalém monokrystalu je difrakoe termálních neutronů dána Braggovým zákonem, tj. pouze ty neutrony difraktuji na rovinách dokonalého monokrystalu, pro které úhel dopadu a vlnová délka splňují Braggovu podmínku. V elasticky deformovaném monokrystalu dochází k odchylce od Braggova zákona a také k výběru jiných termálních neutornů, pro které je Braggova podmínka splněna lokálně.
V dvoukrystalovém neutronovém difraktometru podle vynálezu dochází k odrazu monochromatic kého svazku 6 termálních neutronů na difrakčníoh rovinách £ druhého krystalu 2 pouze v místě se stejnou lokální Braggovou podmínkou, splněnou již při prvním odrazu na prvním krystalu
2· Symetrickým odrazem na difrakčnich rovinách 2 prvního krystalu 2 dochází podle lokálního splnění Braggova zákona k výběru monochromatických neutronů ze spojitého spektra, přičemž difrakční parametry jsou přesně určeny lokálním úhlem dopadu na difrakční roviny, typem difrakčnich rovin a typem elastické deformace. Hustota toku monochromatického svazku 6 termálních neutronů, procházejících štěrbinovou clonou 7_ přes zkoumaný vzorek 2 do druhého krystalu 2 je přímo úměrná velikosti účinné plochy 10 difrakčnich rovin 2 prvního krystalu a gradientu deformace ve směru kolmém k difrakčním rovinám 3. Bez vzorku .8 se monochromatic ký svazek 6 termálních neutronů, odražený v oblasti účinné plochy 10 difrakčních rovin 3, odraz! podruhé v oblasti 11 druhého krystalu 2. Při vloženém vzorku jí dochází při průchodu monochromatického svazku 6 neutornů na mikrodefektech vzorku 8 k maloúhlovému rozptylu neutronů, přičemž pro rozptýlené nefitrony již nejsou splněny lokální Braggovy podmínky v oblasti 11 druhého krystalu 2, ale v oblastech 12, které jsou prostorově oddělené od oblasti 11 Gradient deformace je výhodné u druhého krystalu 2 volit větší nežli u prvního krystalu JL a tak zmenšit délku oblasti 11 druhého krystalu 2 vzhledem k délce účinné plochy 10 difrakčních rovin Ji. Prostorové rozlišení neutronů prošlých vzorkem ji umožňuje polohově citlivý detektor 13
Jako nejvýhodnější pro zařízení podle vynálezu se k praktickému použití jeví destičky dokonalých monokrystalů se zanedbatelnou absorpcí jako je např. Si.
Zařízení podle vynálezu je možné s výhodou použít v jaderné fyzice, fyzice kondenzovaných látek, materiálovém výzkumu a chemii.

Claims (1)

  1. Dvoukrystalový neutronový difraktometr pro měření mikrostruktury kondenzovaných látek pomocí maloúhlového rozptylu na bázi dvoukrystalového bezdispersního uspořádání elasticky deformovaných krystalů, vyznačený tím, že první krystal (1) je uložen v poloze symetrické reflexe v geometrii na odraz a druhý krystal (2) je uložen v poloze zcela asymetrické reflexe v geometrii, na odraz, přičemž za výstupem druhého krystalu (2) je upraven polohově citlivý detektor (13).
CS869542A 1986-12-18 1986-12-18 Dvoukrystaiový neutronový difraktometr CS265486B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS869542A CS265486B1 (cs) 1986-12-18 1986-12-18 Dvoukrystaiový neutronový difraktometr

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS869542A CS265486B1 (cs) 1986-12-18 1986-12-18 Dvoukrystaiový neutronový difraktometr

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS954286A1 CS954286A1 (en) 1989-02-10
CS265486B1 true CS265486B1 (cs) 1989-10-13

Family

ID=5445307

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS869542A CS265486B1 (cs) 1986-12-18 1986-12-18 Dvoukrystaiový neutronový difraktometr

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS265486B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS954286A1 (en) 1989-02-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69420375T2 (de) Matrix aus optischen biosensoren
Dibble et al. Conserved scalar fluxes measured in a turbulent nonpremixed flame by combined laser Doppler velocimetry and laser Raman scattering
US5745543A (en) Apparatus for simultaneous X-ray diffraction and X-ray fluorescence measurements
Bunge et al. Neutron Diffraction Texture Analysis Using a 2θ‐Position Sensitive Detector
EP1396716B1 (en) X-ray optical system for small angle scattering measurements
JPH11352079A (ja) Xafs測定方法及びxafs測定装置
Loveday et al. The effect of diffraction by the diamonds of a diamond-anvil cell on single-crystal sample intensities
EP2455747B1 (en) X-ray powder diffractometer in a transmission geometry and method
CS265486B1 (cs) Dvoukrystaiový neutronový difraktometr
EP0122441B1 (en) Spectroanalysis system
KR920003050A (ko) 단결정 소재의 외부상 침전물의 검사방법
US4256961A (en) X-ray spectroscope
GB2107560A (en) A method for determining the orientation of a crystal
Larsen et al. X-ray diffraction studies of polycrystalline thin films using glancing angle diffractometry
JPH04329347A (ja) 薄膜試料x線回折装置
US3023311A (en) X-ray diffractometry
Favier et al. Method of analysis of the regularity of lamellar eutectic structures by diffraction of a laser beam
JP2866471B2 (ja) 単色x線回折装置
Eatough et al. The Effects of Using Long Soller Slits as “Parallel Beam Optics” for Gixrd on Diffraction Data
Kearley Instrumentation for neutron spectroscopy
JPH10253554A (ja) 全反射蛍光x線分析装置
SU911249A1 (ru) Устройство дл измерени ширины запрещенной зоны полупроводниковых материалов
Duarte et al. Flame structure characterization based on rayleigh thermometry and two-point laser-doppler measurements
Desjardins Neutron monochromator response based on the secondary extinction Green's function for Bragg geometry
Kumar et al. Studies on scattering of laser radiation from viewing dump in tokamak Thomson scattering system