CS261684B1 - Zapojenie 11a testovanie elektromagnetickej spúšte ističa - Google Patents

Zapojenie 11a testovanie elektromagnetickej spúšte ističa Download PDF

Info

Publication number
CS261684B1
CS261684B1 CS875853A CS585387A CS261684B1 CS 261684 B1 CS261684 B1 CS 261684B1 CS 875853 A CS875853 A CS 875853A CS 585387 A CS585387 A CS 585387A CS 261684 B1 CS261684 B1 CS 261684B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
current
test
circuit breaker
circuit
microcomputer
Prior art date
Application number
CS875853A
Other languages
English (en)
Slovak (sk)
Other versions
CS585387A1 (en
Inventor
Rudolf Bies
Peter Slavik
Jozef Ing Jancovic
Original Assignee
Rudolf Bies
Peter Slavik
Jozef Ing Jancovic
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rudolf Bies, Peter Slavik, Jozef Ing Jancovic filed Critical Rudolf Bies
Priority to CS875853A priority Critical patent/CS261684B1/cs
Publication of CS585387A1 publication Critical patent/CS585387A1/cs
Publication of CS261684B1 publication Critical patent/CS261684B1/cs

Links

Landscapes

  • Breakers (AREA)

Description

261684
Vynález sa týká zapojenia na testovanieelektromagnetickej spúšťe ističa.
Doteraz sa testovanie a nastavovanie e-lektromagnetickej spúšte instičov. vykonáváručně, alebo poloautomaticky. Pri ručnomsposobe testovania sa velkost testovacie-ho prúdu a čas jeho trvania nastavuje ruč-ně podlá účinku testovacieho prúdu na e-lektromagnetickú spúšť ističa. Obsluha turozhodne o správnosti nastavenia elektro-magnetickej spúšte ističa· Testovací prúdtřeba nastavovat na dve velkosti. Prvá vel-kost testovacieho prúdu představuje testo-vací prúd, pri ktorom ešte nesmie dojstprostrednictvom elektromagnetickej spúštek v-ypnutiu spínacieho mechanizmu ističa.Druhá velkost testovacieho prúdu před-stavuje testovací prúd, pri ktorom musídojst prostrednictvom elektromagnetickejspúšte k vypnutiu spínacieho mechanizmuističa. Ak třeba, obsluha ručně pootočí na-stavovacou skrutkou elektromagnetickejspúšte ističa, připadne zapne spínací me-chanizmus ističa. Týmto sposobom obslu-ha pokračuje tak dlho až sa dosiahne po-žadovaného účinku testovacieho prúdu naelektromagnetickú špúšť ističa. Pri poloau-tomiatíckom spósobe sú vopred nastavenédve velkosti testovacieho prúdu a čas tr-vania testovacieho prúdu. Cas trvania tes-tovacieho prúdu je nastavený dlhšie akopožadovaná doba za ktorú musí elektro-magnetická spúšť vypnúť spínací mechaniz-mus ističa. Prvá velkosť testovacieho prúdupředstavuje testovací prúd, pri ktorom eš-te nesmie dojsť prostrednictvom elektro-magnetickej spúšte k vypnutiu spínaciehomechanizmu ističa. Druhá velkosť testova-cieho prúdu představuje testovací prúd priktorom musí dojsť prostrednictvom elektro-magnetickej spúšte k vypnutiu spínaciehomechanizmu ističa, pričom sa vyhodnocujedoba, za ktorú došlo k vypnutiu spínacie-ho mechanizmu ističa. Obsluha postupnézapína jednotlivé velkosti testovacieho prú-du a podlá ich účinku na spínací mecha-nizmus ističa a doby za ktorú došlo k vy-pnutiu spínacieho mechanizmu ističa roz-hodne o správnosti nastavenia elektromag-netickej spúšte ističa. Ak třeba, obsluharučně pootočí nastavovacou skrutkou elek-tromagnetickej spúšte ističa, připadne zap-ne spínací mechanizmus ističa. Týmto spo-sobom obsluha pokračuje tak dlho, až sadosiahne požadovaného účinku testovacie-ho prúdu na elektromagnetickú spúšť ističa.Nevýhody ručného sposobu testovania spo-čívajú najma v tom., že si vyžaduje vysokúzručnosť obsluhy a je Ďasovo náročné čonevyhovuje pre sériová výrobu. Nevýhodypoloautomatického sposobu testovania spo-čívajú v tom, že si vyžaduje tiež vysokúzručnosť obsluhy a vopred nastavené vel-kosti testovacieho prúdu vykazujú značnúnestabilitu vzhladom ku kolísaniu sieťovéhonapútia alebo k rozptylu odporových hod- not v kontaktných prechodoch, či k výrob-nému rozptylu odporových hodnot vlastné-ho ističa.
Vyššie uvedené nevýhody odstraňuje za-pojenie na testovanie elektromagnetickejspúšte ističa podlá vynálezu, ktoréhb pod-statou je, že výstup mikropočítača je připo-jený cez obvod předvolby stabilizovanýchprúdov na zadávací vstup stabilizátora prú-du. Prvý výstup stabilizátora prúdu je při-pojený jednak cez testovaný istič na prú-dový bočník a jednak na prvý vstup napá-ťového bistabilného obvodu. Druhý výstupstabilizátora prúdu je připojený na prúdo-vý bočník a na druhý vstup napaťovéhobistabilného obvodu obojsmerne připojené-ho na mikropočítač. Prúdový bočník je při-pojený jednak na spátnovazobný vstup sta-bilizátora prúdu a jednak na analógovývstup analógovej pamate prúdu pripojenejna mikropočítač· Výstup analógovej pamateprúdu je připojený na číslicový voltmeterobojsmerne připojený na mikropočítač.
Zapojením na testovanie elektromagne-tickej spúšťe ističa sa docieli toho, že prúdtečúci testovaným, ističom je stabilizovaný,ktorý eliminuje přechodové odpory a odpo-rový rozptyl ističov, Testovací prúd meranýčíslicovým voltmetrom vykazuje dobrú roz-lišovaciu schopnost Výhodou je aj to, žeporovnanie předvolených a nameranýchhodnot je v číslicovej formě, čím sa neza-náša do výsledku žiadna nepřesnost. ,Na pripojenom výkrese je nakreslenábloková schéma zapojenia na testovanie e-lektromagnetickej spúšte ističa.
Zapojenie na testovanie elektromagnetic-kej spúšte ističa pozostáva z riadiaceho mo-dulu 1 připojeného na mikropočítač 2. Mik-ropočítač 2 je obojsmerne připojený na mo-nitorované členy 3, upínací mechanizmus4, naťahovací mechanizmus 5 a nastavovacímechanizmus 6. Upínací mechanizmus 4 jetvořený ložkom ovládaným pneumatickýmvalcom a nad ložkom je uložený odpruženýkontaktný palec. Naťahovací mechanizmus 5 je tvořený ramenom ovládaným pneuma-tickým valcom. Nastavovací mechanizmus 6 pozostáva zo skrutkovacej jednotky. Vý-stup mikropočítača 2 je připojený na obvod 7 předvolby stabilizovaných prúdov, ktorýje připojený na zadávací vstup 8 stabilizá-tora 9 prúdu. Prvý výstup 10 stabilizátora 9prúdu je připojený jednak cez testovanýistič 11 na prúdový bočník 12 a jednak naprvý vstup 18 napaťového bistabilného ob-vodu 19. Druhý výstup stabilizátora prúdu9 je připojený na prúdový bočník 12 a naddruhý vstup 20 napaťového bistabilného ob-vodu 19 obojsmerne připojeného na mikro-počítač 2. Prúdový bočník 12 je připojenýjednak na spatnovázobný vstup 14 stabili-zátora 9 prúdu a jednak na analógový vstup15 .analógovej pamate 16 prúdu pripojenejna mikropočítač 2. Výstup analógovej pa-mate 16 prúdu je připojený na číslicový 261684
S voltmeter 17 obojsmerne připojený na mik-ropočítač 2.
Funkcia zapojenia na testovanie elektro-magnetické] spustě ističa je následovně:Před spuštěním testovacieho zariadenia sav riadiacom module 1 nastavía požadovanéparametre a to velkost prúdu, tolerančněhranice prúdu, počet testov testovaného* is-tiča 11. Riadiaci modul 1 na podnět obslu-hy prostřednictvími mikropočítača 2, upína-cieho mechanizmu 4 upne a súčasne na-kontaktuje testovaný istič 11, pričom pro-stredníctvom naťahovacieho mechanizmu 5natiahne testovaný istič 11. Potom následu-je súbor testov čo do velkosti roznych hod-not testovacích prúdov prechádzajúcich ceztestovaný istič 11, ktorý pozostáv® z testudolným testovacím prúdom, testu nastavo-vacím prúdom a testu horným testovacímprúdom. Test dolným testovacím prúdom,pri ktoroim správné nastavený testovaný is-tič 11 nesmie vypnut'· Test nastavovacímprúdom pri. ktorom správné nastavený tes-tovaný istič 11 nesmie vypnul. Ak testova-ný istič 11 pri nastavovacom testovacomprúde vypol, potom mikropočítač 2 pro-stredníctvom nastavovacieho mechanizmu6 pootočí nastavovanou skrutkou elektro-magneticko] spúšte testovaného ističa 11.Test horným testovacím prúdom pri ktoromsprávné nastavený testovaný istič 11 musívypnúť. Před každým testom dolným nasta-vovacím a horným testovacím prúdom jepredradený test kontrolným testovacímprúdom. Test kontrolným testovacím prú-dom preveruje správnost nakontaktovaniaa natiahnuti® testovaného ističa 11. Súbortestov začína testom horným testovacímprúdom, pokračuje testom nastavovacímtestovacím prúdom a končí dvojicou testovhorným testovacím prúdom a potom dol-ným testovacím prúdom. Test horným tes-tovacím prúdom sa po sebe opakuje podlápředvolby. Test nastavovacím testovacímprúdom sa opakuje dovtedy, až sa dosiahnesprávného nastavenia testovaného ističai 11.Maximálny počet nastavení je daný předvol-bou. Dvojica testov horným testovacím prú-dom potom dolným testovacím prúdom sapo sebe opakuje podlá předvolby. Predval-ba počtu jednotlivých testov a maximálne-ho počtu nastavenia je zadaná v riadiacommodule 1 a zabezpečuje ich mikropočítač 1.Ak vplyvom testovacieho prúdu déjde k v.y-pnutiu testovaného ističa 11, potom mikro-počítač 2 prostřednictvím naťahovaciehomechanizmu 5 natiahne testovaný istič 11.Každý test zabezpečuje mikropočítač 2tým, že vynuluje jednak analogovu pamať16 prúdu a jednak napáfový bistabilný ob-vod 19 ďalej cez obvod 7 předvolby stabili-zovaných prúdov vybudí napaťovou úrov-ňou zadávací vstup 8 stabilizátora 9 prúdu.Velkost napáťovej úrovně zodpovedá vel- kosti požadovaného testovacieho prúdu.Stabilizátor 9 prúdu na základe napáťovejúrovně na zadávacom vstupe 8. generujetestovací prúdu do prvého výstupu 10, kto-rý sa uzatvára cez testovaný istič 11 a prú-dový bočník 12 do druhého výstupu 13 sta-bilizátoria 9 prúdu. Prúdový bočník 12 sta-bilizáťora 9 prúdu zabezpečuje požadovanýtestovací prúd cez testovaný istič 11. Prú-dový bočník 12, tým že je súčasne připoje-ný na analógový vstup 12 analógovej pamá-te 16 prúdu odovzdá informáciu vo forměnapátia o velkosti testovacieho prúdu pre-chádzajúceho cez prúdový bočník 12 do a-nalógovej památe 16 prúdu. Analogová pa-mať. 16 prúdu na základe vstupnej napaťo-vej hodnoty na analógovom vstupe 15 ge-neruje úměrné napátie na výstupe s pamě-ťovou funkciou, ktoré je přivedené na vstupčíslicového voltmetr® 17. Stabilizátor prúdu9 odevzdává informáciu o napatí, ktoré jepotřebné na pretlačenie požadovaného* tes-tovacieho prúdu cez testovaný istič 11· Aktestovaný istič 11 v priebehu trvania tes-tovacieho prúdu vypne, alebo nebol vobeczapnutý, vtedy napatie na prvom výstupe 10voči druhému výstupu 13 stabilizátora 9prúdu dosiahne maximálnu hodnotu a týmnapáfový bistabilný obvod 19 změní stav navýstupe. Mikropočítač 2 prostredníctvomnapěťového bistabilného obvodu 19 získáváúdaj či v priebehu trvania testovacieho prú-du došlo k vypnutiu testovaného ističa 11,alebo či bol testovaný istič 11 vobec na-ftalinu tý. Ak bol testovaný istič 11 natiah-nutý a nedošlo k jeho vypnutiu počias tes-tovacieho prúdu, mikropočítač 2 prostred-níctvom číslicového voltmetr a 17 získává ú-daj o velkosti testovacieho prúdu, ktorýprešiel testovaným ističom 11. Súčasne mik-ropočítač 2 porovná snímnutú hodnotu tes-tovaného prúdu s předvolenou tolerancioutestovacieho prúdu v riadiacom module 1.Kečf sa testovací prúd pohybuje v nastave-nej tolerancii, tak mikropočítač 2 považujetestovací úkon za správný, zariadenie můžepokračovat v- dalších testovacích úkonoch.Ak sa testovací prúd nachádza mimo na-stavenej tolerancie, tak mikropočítač 2 po-važuje testovací úkon za chybný, nepokra-čuje v dalších testovacích úkonoch, pričomchybu oznámí prostredníctvom monitorova-cích členovi 3. Keď v priebehu testovaciehoprúdu došlo k vypnutiu testovaného ističa11, alebo testovaný istič 11 nebol natiahnu-tý, neidochádza k meraniu testovacieho prú-du. V případe ak v* priebehu testoviania tes-tovaný istič 11 nie je možné nastavit, ale-bo nedosiahne požadované parametre, jetento* z ďalšieho testovania vyřaděný. Vý-sledek testu spracováva mikropočítač 2 aodovzdáva ho* prostredníctvom monitorova-cích členov 3.

Claims (1)

  1. 261684 PREDMET Zapojenie na testovanie elktrorhagnetic-kej spúšte ističa pozostávajúce z riadiacehomodulu připojeného na mikropočítač a při-pojenými monitorovacími členmi, upínacímmechanizmom, naťahovacím mechanizmom,nastavovacím mechanizmům a z testovacíchčlenov ističa tvořených obvodom předvol-by stabilizovaných prúdov,, stabilizátoromprúdu, prúdovým bočníkom, analogovoupamaťou prúdu, číslicovým voltmetrom anapátovým bistabilným obvodom vyznaču-júce sa tým, že výstup mikropočítača (2) jepřipojený cez obvod (7) předvolby stabi-lizovaných prúdov na zadávací vstup (8)stabilizátora (9) prúdu, pričom prvý výstup(10] stabilizátora (9) prúdu je připojený VYNALEZU jednak cez testovaný istič (11] na prúdovýbočník (12) a jednak na prvý vstup (18]niapáťovéhO' bistabilného obvodu (19), kýmdruhý výstup (13) stabilizátora (9) prúduje připojený na prúdový bočník (12) a nadruhý vstup (20) napáťového bistabilnéhoobvodu (19), obojsmerne připojeného namikropočítač (2), zatial' čo> prúdový bočník(12) je připojený jednak na spatnovázob-ný vstup (14) stabilizátora (9) prúdu a jed-nak na analogový vstup (15) analógovejpamate (16) prúdu pripojenej na mikropo-čítač (2), kým výstup analógovej pamate(16) prúdu je připojený na číslicový volt-meter (17) obojsmerne připojený na mikro-počítač (2). 1 list výkresov
CS875853A 1987-08-06 1987-08-06 Zapojenie 11a testovanie elektromagnetickej spúšte ističa CS261684B1 (sk)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS875853A CS261684B1 (sk) 1987-08-06 1987-08-06 Zapojenie 11a testovanie elektromagnetickej spúšte ističa

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS875853A CS261684B1 (sk) 1987-08-06 1987-08-06 Zapojenie 11a testovanie elektromagnetickej spúšte ističa

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS585387A1 CS585387A1 (en) 1988-07-15
CS261684B1 true CS261684B1 (sk) 1989-02-10

Family

ID=5404234

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS875853A CS261684B1 (sk) 1987-08-06 1987-08-06 Zapojenie 11a testovanie elektromagnetickej spúšte ističa

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS261684B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS585387A1 (en) 1988-07-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101436685B1 (ko) 행열전환장치 및 이를 이용한 반도체 부품의 테스트 시스템
CN100583054C (zh) 主板测试电路
EP1224487B1 (en) Circuit and method for improved test and calibration in automated test equipment
US10317456B2 (en) Spike safe floating current and voltage source
CN110221199B (zh) 一种剩余电流保护断路器测试机
CS261684B1 (sk) Zapojenie 11a testovanie elektromagnetickej spúšte ističa
US4110807A (en) Continuity monitoring system
JP2006084249A (ja) 絶縁検査方法および絶縁検査装置
CN110907809A (zh) 一种大规模数字集成电路的板方式程控电压拉偏试验电路
KR101315506B1 (ko) 신호 무결성 개선을 위해 트레이스 길이를 조절한 신호 토폴로지 회로
CN112526443A (zh) 一种电能表误差自检测功能的测试装置
CN113391198B (zh) 磁保持继电器额定短路接通能力试验装置及其试验方法
CN219871718U (zh) 一种电源测试系统
JP4685030B2 (ja) トライアックのトリガを制御するシステムおよび方法
CN117214686A (zh) 继电器测试装置及测试方法
CN101210940A (zh) 在线测量直流电流系统和方法
AT521604A4 (de) Vorrichtung zur Überprüfung von Fehlerstromschutzschaltern
CN213661446U (zh) 一种电源供电电路及其钳位电路
US5973488A (en) Method for balancing a current controller
AU2017221058A1 (en) Testing device and method for testing a control unit of a switching device of a switchgear installation
CN219776935U (zh) 一种ptc阻温测试装置
GB2268811A (en) Calibrator for loop impedence tester
SU1379753A1 (ru) Устройство дл проверки источников питани
CN220252133U (zh) 集成化测试装置
JPH11295369A (ja) 継電器試験装置