CS255134B1 - Zařfzenf pro cejchování čidla pro máření radiační složky tepelného toku - Google Patents
Zařfzenf pro cejchování čidla pro máření radiační složky tepelného toku Download PDFInfo
- Publication number
- CS255134B1 CS255134B1 CS863386A CS338686A CS255134B1 CS 255134 B1 CS255134 B1 CS 255134B1 CS 863386 A CS863386 A CS 863386A CS 338686 A CS338686 A CS 338686A CS 255134 B1 CS255134 B1 CS 255134B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- sensor
- circular plates
- calibrating
- heat
- measuring
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measuring Volume Flow (AREA)
Abstract
Řešení se týká zařízení pro cejchování čidla pro měření radiační složky tepelného toku. Zařízení je tvořeno tak, že mezi středy dvou rovnoběžných kruhových desek s upraveným povrchem, na kterém jsou umístěna teplotní čidla pro měření povrchové teploty, je vloženo čidlo s multitermočlánkem. Na odvráceném povrchu kruhových desek je umístěno elektrické odporové topení s tepelnou izolací.
Description
Vynález se týká zařízení pro cejchování čidla pro měření radiační složky tepelného toku.
V praxi se často setkáváme s potřebou rychlého a dostatečně přesného stanovení tepelného toku. Mezi aparáty, splňující tyto požadavky, patří čidlo s multitermočlánkem. Představuje plochou kruhovou destičku, u níž se určuje rozdíl teplot u obou povrchů, úměrný tepelnému toku. Jedná se o velice operativní, jednoduchou pomůcku. Malé rozměry, snadná manipulace i nízká časová konstanta tvoří příznivé předpoklady k aplikacím v energetice, aktinometrii, meteorologii v atmosféře i kosmickém prostoru. Značným problémem, jehož zvládnutí podmiňuje veškeré praktické použití, je správné ocejchování čidla. Zatím není k dispozici vhodný způsob cejchování. Nelze doporučit často používanou metodu, využívající modelu dokonale černého tělesa. Základním problémem je eliminace rušivého vlivu okolního prostředí, která může výsledek zatížit značnou chybou.
Uvedené nevýhody odstraňuje zařízení pro cejchování čidla pro měření radiační složky-tepelného toku podle vynálezu, jehož podstata spočívá v tom, že mezi středy dvou rovnoběžných kruhových desek s upraveným povrchem, na kterém jsou umístěna teplotní čidla pro měření povrchové teploty, je vloženo čidlo s multitermočlánkem. Na odvráceném povrchu kruhových desek je upraveno elektrické odporové topeni s tepelnou izolací. Poměr průměru, kruhových desek k jejich vzájemné vzdálenosti je nejméně 5. Povrch kruhových desek je upraven mořením nebo speciálním nátěrem o známé emisivitě.
Zařízení pro cejchování čidla s multitermočlánkem umožňuje efektivní, jednoduché a dostatečně přesné nalezení oejchovní křivky čidla pro stanovení tepelného toku. V řadě případů bude závislost mezi údajem čidla a hodnotou tepelného toku lineární. Zařízení pro cejchováni čidla umožní vyjádřit případnou odchylku od linearity. Je-li oejchovní zařízení provozováno při různých polohách vůči vertikále, rozdíly v získaných cejohovnioh závislostech dovolují určit vliv volné konvence na údaj čidla.
Na připojeném výkresu je znázorněn příklad zařízení pro cejchování čidla pro měření radiální složky tepelného toku podle vynálezu.
Čidlo 2 s multitermočlánkem je vloženo mezi středy dvou rovnoběžných kruhových desek 2, 2, jejichž povrch 2 je upraven mořením nebo speciálním nátěrem. Na povrchu J_ jsou umístěna teplotní čidla 4 např. termočlánky. Na odvráceném povrchu kruhových desek 2» 2 j® umístěno elektrické odporové topení 2» které je zakryto tepelnou izolací 2· Poměr průměru D kruhových desek 2' 2 jejich vzájemné vzdálenosti A je nejméně 5, aby se transportní poměry v místě instalace čidla 2 příliš nelišily od dvojice nekonečných rovnoběžných rovin. Poloha kruhových desek 2< 2 a Čidla 2 j® zabezpečována speciálními držáky. Při procesu cejchování je čidlo 2 3 multitermočlánkem vloženo mezi první kruhovou desku 2 ° teplotě T^, emisivitě í.^, a druhou kruhovou desku 2 ° teplotě T^, emisivitě Při těchto poměrech se odečte údaj čidla 2» který odpovídá hodnotě hustoty tepelného toku q dané vztahem
- Τ’) q = kde 61 = 5,62.10® W.m-2K-4 Stefan-Boltzmannova konstanta. Teplota desek je dána v K. Závislost mezi hustotou tepelného toku q a údajem čidla 2' získaná pro žádané rozmezí teplot i emisivit kruhových desek 2» 2 3e hledanou oejchovní křivkou čidla 2- Při cejchováni záleží na rovnoměrnosti emisivity povrchů 2 i na rovnoměrnosti povrchových teplot obou kruhových desek 2» 2' která je kontrolována teplotními čidly j4·
Claims (3)
- PŘEDMĚT VYNÁLEZU1. Zařízení pro cejchování čidla pro měřeni radiační složky tepelného toku, sestávající z čidla s multitermočlánkem, vyznačené tím, že mezi středy dvou rovnoběžných kruhových desek (1, 2) s upraveným povrchem (7), na kterém jsou umístěna teplotní čidla (4) pro měřeni povrchové teploty, je vloženo čidlo (3) s multitermočlánkem, přičemž na odvráceném povrchu kruhových desek (1, 2) je upraveno elektrické odporové topení (5) s tepfelnou izolací (6).
- 2. Zařízení podle bodu 1, vyznačené tlm, že poměr průměru (D) kruhových desek (1, 2) k jejich vzájemné vzdálenosti (A) je nejméně 5.
- 3. Zařízení podle bodu 1, vyznačené tím, že povrch (7) kruhových desek (1, 2) je upraven mořením nebo speciálním nátěrem o známé emisivitě.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS863386A CS255134B1 (cs) | 1986-05-08 | 1986-05-08 | Zařfzenf pro cejchování čidla pro máření radiační složky tepelného toku |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS863386A CS255134B1 (cs) | 1986-05-08 | 1986-05-08 | Zařfzenf pro cejchování čidla pro máření radiační složky tepelného toku |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS338686A1 CS338686A1 (en) | 1987-06-11 |
| CS255134B1 true CS255134B1 (cs) | 1988-02-15 |
Family
ID=5373765
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS863386A CS255134B1 (cs) | 1986-05-08 | 1986-05-08 | Zařfzenf pro cejchování čidla pro máření radiační složky tepelného toku |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS255134B1 (cs) |
-
1986
- 1986-05-08 CS CS863386A patent/CS255134B1/cs unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS338686A1 (en) | 1987-06-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6331075B1 (en) | Device and method for measuring thermal conductivity of thin films | |
| PL139300B1 (en) | Method of determination of thermal conductivity and heat storage capacity of materials and apparatus therefor | |
| US3049012A (en) | Radiation compensating thermoelectric device | |
| US3266290A (en) | Measurement of thermal conductivity | |
| JPH0479573B2 (cs) | ||
| CS255134B1 (cs) | Zařfzenf pro cejchování čidla pro máření radiační složky tepelného toku | |
| Venart | A simple radial heat flow apparatus for fluid thermal conductivity measurements | |
| Blumm | The laser flash technique: a widespread technology for measurement of the thermal diffusivity of solids and liquids | |
| Hager Jr | Thin‐Heater Thermal Conductivity Apparatus | |
| US3313140A (en) | Automatic calibration of direct current operated measuring instruments | |
| Boyer et al. | Measurements of Surface Temperatures IA Portable Thermocouple Device Compensated for Heat Losses | |
| JP3380023B2 (ja) | 温度基準装置 | |
| SU1395939A1 (ru) | Способ измерени толщины листового материала | |
| Kostoff et al. | Measurements of momentum accommodation of gas molecules at surfaces | |
| Hahtela et al. | Calibration of Industrial Platinum Resistance Thermometers up to 700∘ C | |
| SU1744519A1 (ru) | Устройство дл измерени температуры | |
| Lohrengel | Determination of the surface temperature of poor heat conducting materials by radiation measurements from− 60° C to+ 250° C in vacuum | |
| Moreno et al. | New experimental apparatus for the study of the Bénard–Rayleigh problem | |
| Nugraha et al. | Development of Inhomogeneity Measurement System for Type T Thermocouple with Local Heating Method | |
| Scott et al. | Discussion of Heat Flow Meter Apparatus Calibration and Traceability Issues for Thermal Conductivity Measurements | |
| SU1663428A1 (ru) | Способ неразрушающего контрол толщины пленочного покрыти издели | |
| Mandell | 20 Messrs. W. Mandell and J. West on | |
| John et al. | Emissivity Measurement Using Heat Flux Method at Cryogenic Temperatures | |
| Progar et al. | The design and uncertainty analysis of an improved total hemispherical emittance transient calorimeter | |
| SU1659815A1 (ru) | Способ определени теплопроводности материалов |