CS253792B1 - Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev a zařízení k provádění tohoto způsobu - Google Patents
Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev a zařízení k provádění tohoto způsobu Download PDFInfo
- Publication number
- CS253792B1 CS253792B1 CS859430A CS943085A CS253792B1 CS 253792 B1 CS253792 B1 CS 253792B1 CS 859430 A CS859430 A CS 859430A CS 943085 A CS943085 A CS 943085A CS 253792 B1 CS253792 B1 CS 253792B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- terminal
- reactor
- plasma
- substrate
- treated
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 7
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 title abstract description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 21
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 claims abstract description 21
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 11
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 claims abstract description 4
- 230000013011 mating Effects 0.000 claims description 20
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 6
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 claims 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 abstract description 7
- 239000002131 composite material Substances 0.000 abstract 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 abstract 1
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 abstract 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 238000010849 ion bombardment Methods 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 238000001953 recrystallisation Methods 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
Řešení se týká způsobu a zařízení pro
zpracování povrchu dielektrických, polovodičových
nebo kovových vrstev reaktivním
iontovým leptáním a následným plazmovým
leptáním substrátu pro výrobu mikroelektronických
součástek, přičemž obě fáze se
provedou v jednom reaktoru. Podstata způsobu
je v tom, že se v reaktoru působí na
substrát aktivními částicemi buzenými
v plazmatu vysokofrekvenčního výboje reaktivním
iontovým leptáním, přeruší se působení
aktivních částic a dále se působí za
opačného zapojení elektrod plazmatickým
leptáním. Podstata zařízení je v tom, že
obsahuje sdružený přepínač, který svou
konstrukcí umožní postupně odpojit elektrody
reaktoru, odklíčovat vysokofrekvenční
generátor, přepojit elektrody a zaklíčovat
vysokofrekvenční generátor, takže
nemůže při přepojování dojít ani ke zkratu,
ani k nežádoucímu odlehčení vysokofrekvenčního
generátoru. Způsob a zařízení se použije
při zpracování substrátů při výrobě
mikroelektronických součástek.
Description
Vynález se týká způsobu zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev v oblasti výroby integrovaných obvodů vyššího stupně integrace a zařízení k provádění tohoto způsobu.
Jsou známy leptací postupy založené na buzení aktivních částic v plazmatu vysokofrekvenčního výboje. Z různých metod leptání v plazmatu je pro dosažení submikrometrickýoh rozměrů prvků nejvhodnější takzvané reaktivní iontové leptání. Při této metodě jsou uvnitř skleněného nebo křemenného reaktoru umístěny dvě paralelní deskové elektrody. Reaktor je vyčerpán na požadované vakuum, například pomooí rotační olejové a pak difuzní vývěvy. Na spodní elektrodu je přes oddělovací kondenzátor připojen vysokofrekvenční generátor, horní elektroda je zpravidla uzemněna. Leptané substráty jsou umístěny na spodní elektrodě, kde v důsledku bombardování kladnými ionty generovanými v plazmatu probíhá anizotropní leptání různých diélektrických, polovodičových nebo kovových vrstev. Předpětí na katodě přitom dosahuje až několika set Voltů a energie dopadajících iontů je tedy značná, což způsobuje, že při leptání dochází k narušení krystalické struktury spodní vrstvy až do hloubky řádově stovky nanometrů.
U substrátů, které nesnášejí zpracování při vyšších teplotách, nelze dosáhnout rekrystalizace. Například u MESFE tranzistorů na GaAs porušení krystalické struktury vede ke snížení proudu mezi kolektorem a emitorem až o SO i. Aby nedošlo k uvedenému porušení, je nutné zastavit leptání vrstev na určité minimální bezpečné tlouštce a doleptání provést jinou metodou.
Je známa pro tento účel například metoda plazmatického leptání. Pro tuto metodu se používá reaktor obdobného typu, kde je ale vysokofrekvenční generátor připojen na horní elektrodu a leptané substráty spočívají na spodní· uzemněné elektrodě. V tomto případě je iontové bombardování celkem zanedbatelné a k porušení krystalické struktury nedochází. Nevýhodou zůstává, že doleptání je nutné provést v jiném zařízení, čímž vznikají velké ztrátové časy při přenosu substrátů, může dojít ke kontaminaci a zanedbatelná není ani z investičního hlediska potřeba dvou reaktorů.
Uvedené nevýhody odstraňuje téměř v celém rozsahu způsob a zařízení ke zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev v reaktoru, obsahujícím ve vakuu zpracovaný substrát a deskové elektrody podle vynálezu, kde podstata způsobu spočívá v tom, že ve zmíněném reaktoru se na substrát působí aktivními částicemi buzenými v plazmatu vysokofrekvenčního výboje reaktivním iontovým leptáním, dále se přeruší působení aktivních částic, buzených v plazmatu vysokofrekvenčního výboje a působících na zpracovávaný substrát reaktivním iontovým leptáním a dále se působí na zpracováváný substrát za opačného zapojení deskových elektrod téhož reaktoru plazmatickým leptáním.
V době mezi zastavením působení aktivních částic, buzených v plazmatu vysokofrekvenčního výboje a působících na zpracovávaný substrát reaktivním iontovým leptáním a počátkem působení na zpracovávaný substrát za opačného zapojení elektrod téhož reaktoru plazmatickým leptáním je možno nastavit nové parametry výboje, nový tlak plynů, nové parametry průtoku plynů.
Předmětem vynálezu je také zařízení k provádění tohoto způsobu, obsahující reaktor se zpracovávaným substrátem a deskovými elektrodami ve vakuu, propojený s vysokofrekvenčním generátorem přes oddělovací kondenzátor, propojený s uzemněním, jehož podstata spočívá v tom, že sestává ze sdruženého přepínače s pěti polohami a se šesti propojovacími svorkami, kde první svorka je spojena dolním vedením s uzemněním, druhá svorka je spojena přes oddělovací kondenzátor s výstupní svorkou vysokofrekvenčního generátoru, třetí svorka a čtvrtá svorka jsou propojeny horními vedeními s výstupní klíěovací svorkou a vstupní klíčovací svorkou klíčovacího obvodu vysokofrekvenčního generátoru, pátá svorka je spojena s horní elektrodou reaktoru a šestá svorka je spojena se spodní elektrodou reaktoru, přičemž v první poloze sdruženého přepínače leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači mezi první svorkou a pátou svorkou, mezi druhou svorkou a šestou svorkou, a mezi třetí svorkou a čtvrtou svorkou, ve druhé poloze sdruženého přepínače leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači mezi první svorkou a pátou svorkou a šestou svorkou, ve třetí poloze sdruženého přepínače leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači mimo svorky, ve čtvrté poloze sdruženého přepínače leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači mezi první svorkou a šestou svorkou a mezi druhou svorkou a pátou svorkou a v páté poloze sdruženého přepínače leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači mezi první svorkou a šestou svorkou a mezi druhou svorkou a pátou svorkou a mezi třetí svorkou a čtvrtou svorkou.
Tím se dosáhne působení na zpracovávaný substrát jak reaktivním iontovým leptáním, tak plazmatickým leptáním v jednom reaktoru, přičemž k přepojování se využije sdruženého přepínače, který zajistí takovou vazbu přepojování elektrod a zaklíčování a odklíčování vysokofrekvenčního generátoru, že nedojde ani ke zkratu ani k nežádoucímu odlehčení vysokofrekvenčního generátoru.
Zařízení podle vynálezu, využívající způsobu podle vynálezu, je znázorněno v příkladném provedení na připojeném vyobrazení. Jedná se o reaktor propojený se sdruženým přepínačem.
Reaktor 1_ obsahuje dvě elektrody. Horní deskovou elektrodu 2_ a dolní deskovou elektrodu 2, nesoucí zpracovávaný substrát _4. Vývod _5 slouží k připojení vývěvy. Deskové elektrody 2_ a 3_ jsou spojeny se sdruženým přepínačem b, na který je napojeno dolním vedením 7_ uzemnění a přes oddělovací kondenzátor 2 3e připojen vysokofrekvenční generátor Vysokofrekvenční generátor 8^ je spojen se sdruženým přepínačem já horními vedeními 10 pro ovládání zaklíčování vysokofrekvenčního generátoru _8. Pro připojení k ostatním prvkům je sdružený přepínač 6_ opatřen první svorkou 11, druhou svorkou 12, třetí svorkou 13, čtvrtou svorkou 14, pátou svorkou 15, šestou svorkou 16 a vysokofrekvenční generátor 8_ je opatřen výstupní svorkou 17, výstupní klíčovací svorkou 18 a vstupní klíčovací svorkou 19.
Funkce popsaného zařízení odpovídá způsobu zpracování povrchu dielektrických polvodičových nebo kovových vrstev podle vynálezu. Do reaktoru se vloží zpracovávaný substrát 4. a reaktor 1_ se vyčerpá na potřebné vakuum, například pomocí olejové vývěvy a difuzní vývěvy. Přes sdružený přepínač 6_ se zapojí zaklíčovaný vysokofrekvenční generátor 8_ k dolní deskové elektrodě 3^ pro zpracovávaný substrát _4 reaktoru 1_ a uzemnění k horní deskové elektrodě _2 reaktoru 1.. Pak se působí na zpracovávaný substrát reaktivním iontovým leptáním. Dále se přepojí sdruženým přepínačem 6 přívody reaktoru 1. a doleptání se provede za tohoto opačného připojení deskových elektrod 2, 3 plazmatickým leptáním.
Způsob a zařízení podle vynálezu se použije při zpracování povrchu substrátu pro výrobu mikroelektronických součástek.
Claims (6)
1. Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev při výrobě mikroelektronických součástek, a to v reaktoru, obsahujícím ve vakuu zpracovávaný substrát a deskové elektrody, vyznačený tím, že se na zpracovávaný substrát působí aktivními částicemi buzenými v plazmatu vysokofrekvenčního výbojce reaktivním iontovým leptáním, dále se přeruší působení aktivních částic buzených v plazmatu vysokofrekvenčního výboje a působících na zpracovávaný substrát reaktivním iontovým leptáním a dále se působí na zpracovávaný substrát za opačného zapojení deskových elektrod téhož reaktoru plazmatickým leptáním.
2. Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev podle bodu 1, vyznačený tím, že v době mezi zastavením působení aktivních částic buzených v plazmatu vysokofrekvenčního výboje a působících na zpracovávaný substrát reaktivním iontovým leptáním a počátkem působení na zpracovávaný substrát za opačného zapojení deskových elektrod téhož reaktoru plazmatickým leptáním, se nastaví nové parametry výboje.
3. Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev podle bodu 1 až 2, vyznačený tím, že v době mezi zastavením působení aktivních částic buzených v plazmatu vysokofrekvenčního výboje a působících na zpracovávaný substrát reaktivním iontovým leptáním a počátkem působení na zpracovávaný substrát za opačného zapojení deskových elektrod téhož reaktoru plazmatickým leptáním se nastaví nový tlak plynů v reaktoru.
4. Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev podle bodu 1 až 3, vyznačený tím, že v době mezi zastavením působení aktivních částic buzených v plazmatu vysokofrekvenčního výboje a působících na zpracovávaný substrát reaktivním iontovým leptáním a počátkem působení na zpracovávaný substrát za opačného zapojení deskových elektrod téhož reaktoru plazmatickým leptáním se nastaví nové parametry průtoku plynů.
5. Zařízení k provádění způsobu podle bodů 1 až 4, obsahující reaktor se zpracovávaným substrátem a.deskovými elektrodami ve vakuu, propojený s vysokofrekvenčním generátorem přes oddělovací kondenzátor a propojený s uzemněním, vyznačený tím, že sestává ze sdruženého přepínače (6) s pěti polohami a se šesti propojovacími svorkami (11, 12, 13, 14, 15, 16), kde první svorka (11) je spojena dolním vedením (7) s uzemněním, druhá svorka (12) je spojena přes oddělovací kondenzátor (9) s výstupní svorkou (17) vysokofrekvenčního generátoru (8), třetí svorka (13) a čtvrtá svorka (14) jsou propojeny horními vedeními (10) s výstupní klíčovací svorkou (18) a vstupní klíčovací svorkou (19) klíčovacího obvodu vysokofrekvenčního generátoru (8), pátá svorka (15) je spojena s horní deskovou elektrodou (2) reaktoru (i) a šestá svorka (16) je spojena s dolní deskovou elektrodou (3) reaktoru (1), přičemž v první poloze sdruženého přepínače (6) leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači (6) mezi první svorkou (11) a pátou svorkou (15), mezi druhou svorkou (12) a šestou svorkou (16) a mezi třetí svorkou (13) a čtvrtou svorkou (14), ve druhé poloze sdruženého přepínače (6) leží vodivý můstek ve sdruženér·· přepínači (6) mezi první svorkou (11) a pátou svorkou (15) a mezi druhou svorkou (12) a šestou svorkou (16), ve třetí poloze sdruženého přepínače (6) leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači (6) mimo svorky (11, 12, 13, 14, 15, 16), ve čtvrté poloze sdruženého přepínače (6) leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači (6) mezi první svorkou (11) a šestou svorkou (16) a mezi druhou svorkou (12) a pátou svorkou (15) a v páté poloze sdruženého přepínače (6) leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači (6) mezi první svorkou (11) a šestou svorkou (16), mezi druhou svorkou (12) a pátou svorkou (15) a mezi třetí svorkou (13) a čtvrtou svorkou (14).
6. Zařízení podle bodu 5 vyznačené tím, že sdružený přepínač (6) má aretaci v první, třetí a páté poloze.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CS859430A CS253792B1 (cs) | 1985-12-18 | 1985-12-18 | Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev a zařízení k provádění tohoto způsobu |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CS859430A CS253792B1 (cs) | 1985-12-18 | 1985-12-18 | Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev a zařízení k provádění tohoto způsobu |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CS943085A1 CS943085A1 (en) | 1987-03-12 |
CS253792B1 true CS253792B1 (cs) | 1987-12-17 |
Family
ID=5444610
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CS859430A CS253792B1 (cs) | 1985-12-18 | 1985-12-18 | Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev a zařízení k provádění tohoto způsobu |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CS (1) | CS253792B1 (cs) |
-
1985
- 1985-12-18 CS CS859430A patent/CS253792B1/cs unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CS943085A1 (en) | 1987-03-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4410622A (en) | Forming interconnections for multilevel interconnection metallurgy systems | |
US7749901B2 (en) | Method for forming a tapered via of a semiconductor device | |
US3600218A (en) | Method for depositing insulating films of silicon nitride and aluminum nitride | |
US6197695B1 (en) | Process for the manufacture of passive and active components on the same insulating substrate | |
WO2003075333A1 (en) | Electrode for dry etching a wafer | |
JP2001007190A (ja) | 多層電極を有する薄板状セラミック及び製造方法 | |
US4400235A (en) | Etching apparatus and method | |
US3419761A (en) | Method for depositing silicon nitride insulating films and electric devices incorporating such films | |
US3642548A (en) | Method of producing integrated circuits | |
JP3266076B2 (ja) | マイクロ波プラズマ処理装置及びその実施に使用する対向電極 | |
JPH05291194A (ja) | プラズマ処理方法および装置 | |
JP2996159B2 (ja) | ドライエッチング方法 | |
JP3323928B2 (ja) | プラズマ処理装置 | |
US4381341A (en) | Two stage etching process for through the substrate contacts | |
CA1120611A (en) | Forming interconnections for multilevel interconnection metallurgy systems | |
CS253792B1 (cs) | Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev a zařízení k provádění tohoto způsobu | |
JPS6110239A (ja) | 半導体製造装置 | |
JP3362093B2 (ja) | エッチングダメージの除去方法 | |
RU2791206C1 (ru) | Способ формирования сквозных металлизированных отверстий в подложке карбида кремния | |
JPH01194325A (ja) | ドライエッチング方法 | |
JPS5987834A (ja) | 薄膜形成方法 | |
JP3271373B2 (ja) | ドライエッチング方法 | |
JP3357737B2 (ja) | 放電プラズマ処理装置 | |
JPH08316214A (ja) | プラズマ処理装置 | |
TWM665816U (zh) | 靜電吸盤及電漿處理裝置 |