CS253792B1 - Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev a zařízení k provádění tohoto způsobu - Google Patents

Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev a zařízení k provádění tohoto způsobu Download PDF

Info

Publication number
CS253792B1
CS253792B1 CS859430A CS943085A CS253792B1 CS 253792 B1 CS253792 B1 CS 253792B1 CS 859430 A CS859430 A CS 859430A CS 943085 A CS943085 A CS 943085A CS 253792 B1 CS253792 B1 CS 253792B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
terminal
reactor
plasma
substrate
treated
Prior art date
Application number
CS859430A
Other languages
English (en)
Other versions
CS943085A1 (en
Inventor
Zdenek Novotny
Frantisek Horacek
Original Assignee
Zdenek Novotny
Frantisek Horacek
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zdenek Novotny, Frantisek Horacek filed Critical Zdenek Novotny
Priority to CS859430A priority Critical patent/CS253792B1/cs
Publication of CS943085A1 publication Critical patent/CS943085A1/cs
Publication of CS253792B1 publication Critical patent/CS253792B1/cs

Links

Landscapes

  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

Řešení se týká způsobu a zařízení pro zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev reaktivním iontovým leptáním a následným plazmovým leptáním substrátu pro výrobu mikroelektronických součástek, přičemž obě fáze se provedou v jednom reaktoru. Podstata způsobu je v tom, že se v reaktoru působí na substrát aktivními částicemi buzenými v plazmatu vysokofrekvenčního výboje reaktivním iontovým leptáním, přeruší se působení aktivních částic a dále se působí za opačného zapojení elektrod plazmatickým leptáním. Podstata zařízení je v tom, že obsahuje sdružený přepínač, který svou konstrukcí umožní postupně odpojit elektrody reaktoru, odklíčovat vysokofrekvenční generátor, přepojit elektrody a zaklíčovat vysokofrekvenční generátor, takže nemůže při přepojování dojít ani ke zkratu, ani k nežádoucímu odlehčení vysokofrekvenčního generátoru. Způsob a zařízení se použije při zpracování substrátů při výrobě mikroelektronických součástek.

Description

Vynález se týká způsobu zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev v oblasti výroby integrovaných obvodů vyššího stupně integrace a zařízení k provádění tohoto způsobu.
Jsou známy leptací postupy založené na buzení aktivních částic v plazmatu vysokofrekvenčního výboje. Z různých metod leptání v plazmatu je pro dosažení submikrometrickýoh rozměrů prvků nejvhodnější takzvané reaktivní iontové leptání. Při této metodě jsou uvnitř skleněného nebo křemenného reaktoru umístěny dvě paralelní deskové elektrody. Reaktor je vyčerpán na požadované vakuum, například pomooí rotační olejové a pak difuzní vývěvy. Na spodní elektrodu je přes oddělovací kondenzátor připojen vysokofrekvenční generátor, horní elektroda je zpravidla uzemněna. Leptané substráty jsou umístěny na spodní elektrodě, kde v důsledku bombardování kladnými ionty generovanými v plazmatu probíhá anizotropní leptání různých diélektrických, polovodičových nebo kovových vrstev. Předpětí na katodě přitom dosahuje až několika set Voltů a energie dopadajících iontů je tedy značná, což způsobuje, že při leptání dochází k narušení krystalické struktury spodní vrstvy až do hloubky řádově stovky nanometrů.
U substrátů, které nesnášejí zpracování při vyšších teplotách, nelze dosáhnout rekrystalizace. Například u MESFE tranzistorů na GaAs porušení krystalické struktury vede ke snížení proudu mezi kolektorem a emitorem až o SO i. Aby nedošlo k uvedenému porušení, je nutné zastavit leptání vrstev na určité minimální bezpečné tlouštce a doleptání provést jinou metodou.
Je známa pro tento účel například metoda plazmatického leptání. Pro tuto metodu se používá reaktor obdobného typu, kde je ale vysokofrekvenční generátor připojen na horní elektrodu a leptané substráty spočívají na spodní· uzemněné elektrodě. V tomto případě je iontové bombardování celkem zanedbatelné a k porušení krystalické struktury nedochází. Nevýhodou zůstává, že doleptání je nutné provést v jiném zařízení, čímž vznikají velké ztrátové časy při přenosu substrátů, může dojít ke kontaminaci a zanedbatelná není ani z investičního hlediska potřeba dvou reaktorů.
Uvedené nevýhody odstraňuje téměř v celém rozsahu způsob a zařízení ke zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev v reaktoru, obsahujícím ve vakuu zpracovaný substrát a deskové elektrody podle vynálezu, kde podstata způsobu spočívá v tom, že ve zmíněném reaktoru se na substrát působí aktivními částicemi buzenými v plazmatu vysokofrekvenčního výboje reaktivním iontovým leptáním, dále se přeruší působení aktivních částic, buzených v plazmatu vysokofrekvenčního výboje a působících na zpracovávaný substrát reaktivním iontovým leptáním a dále se působí na zpracováváný substrát za opačného zapojení deskových elektrod téhož reaktoru plazmatickým leptáním.
V době mezi zastavením působení aktivních částic, buzených v plazmatu vysokofrekvenčního výboje a působících na zpracovávaný substrát reaktivním iontovým leptáním a počátkem působení na zpracovávaný substrát za opačného zapojení elektrod téhož reaktoru plazmatickým leptáním je možno nastavit nové parametry výboje, nový tlak plynů, nové parametry průtoku plynů.
Předmětem vynálezu je také zařízení k provádění tohoto způsobu, obsahující reaktor se zpracovávaným substrátem a deskovými elektrodami ve vakuu, propojený s vysokofrekvenčním generátorem přes oddělovací kondenzátor, propojený s uzemněním, jehož podstata spočívá v tom, že sestává ze sdruženého přepínače s pěti polohami a se šesti propojovacími svorkami, kde první svorka je spojena dolním vedením s uzemněním, druhá svorka je spojena přes oddělovací kondenzátor s výstupní svorkou vysokofrekvenčního generátoru, třetí svorka a čtvrtá svorka jsou propojeny horními vedeními s výstupní klíěovací svorkou a vstupní klíčovací svorkou klíčovacího obvodu vysokofrekvenčního generátoru, pátá svorka je spojena s horní elektrodou reaktoru a šestá svorka je spojena se spodní elektrodou reaktoru, přičemž v první poloze sdruženého přepínače leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači mezi první svorkou a pátou svorkou, mezi druhou svorkou a šestou svorkou, a mezi třetí svorkou a čtvrtou svorkou, ve druhé poloze sdruženého přepínače leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači mezi první svorkou a pátou svorkou a šestou svorkou, ve třetí poloze sdruženého přepínače leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači mimo svorky, ve čtvrté poloze sdruženého přepínače leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači mezi první svorkou a šestou svorkou a mezi druhou svorkou a pátou svorkou a v páté poloze sdruženého přepínače leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači mezi první svorkou a šestou svorkou a mezi druhou svorkou a pátou svorkou a mezi třetí svorkou a čtvrtou svorkou.
Tím se dosáhne působení na zpracovávaný substrát jak reaktivním iontovým leptáním, tak plazmatickým leptáním v jednom reaktoru, přičemž k přepojování se využije sdruženého přepínače, který zajistí takovou vazbu přepojování elektrod a zaklíčování a odklíčování vysokofrekvenčního generátoru, že nedojde ani ke zkratu ani k nežádoucímu odlehčení vysokofrekvenčního generátoru.
Zařízení podle vynálezu, využívající způsobu podle vynálezu, je znázorněno v příkladném provedení na připojeném vyobrazení. Jedná se o reaktor propojený se sdruženým přepínačem.
Reaktor 1_ obsahuje dvě elektrody. Horní deskovou elektrodu 2_ a dolní deskovou elektrodu 2, nesoucí zpracovávaný substrát _4. Vývod _5 slouží k připojení vývěvy. Deskové elektrody 2_ a 3_ jsou spojeny se sdruženým přepínačem b, na který je napojeno dolním vedením 7_ uzemnění a přes oddělovací kondenzátor 2 3e připojen vysokofrekvenční generátor Vysokofrekvenční generátor 8^ je spojen se sdruženým přepínačem já horními vedeními 10 pro ovládání zaklíčování vysokofrekvenčního generátoru _8. Pro připojení k ostatním prvkům je sdružený přepínač 6_ opatřen první svorkou 11, druhou svorkou 12, třetí svorkou 13, čtvrtou svorkou 14, pátou svorkou 15, šestou svorkou 16 a vysokofrekvenční generátor 8_ je opatřen výstupní svorkou 17, výstupní klíčovací svorkou 18 a vstupní klíčovací svorkou 19.
Funkce popsaného zařízení odpovídá způsobu zpracování povrchu dielektrických polvodičových nebo kovových vrstev podle vynálezu. Do reaktoru se vloží zpracovávaný substrát 4. a reaktor 1_ se vyčerpá na potřebné vakuum, například pomocí olejové vývěvy a difuzní vývěvy. Přes sdružený přepínač 6_ se zapojí zaklíčovaný vysokofrekvenční generátor 8_ k dolní deskové elektrodě 3^ pro zpracovávaný substrát _4 reaktoru 1_ a uzemnění k horní deskové elektrodě _2 reaktoru 1.. Pak se působí na zpracovávaný substrát reaktivním iontovým leptáním. Dále se přepojí sdruženým přepínačem 6 přívody reaktoru 1. a doleptání se provede za tohoto opačného připojení deskových elektrod 2, 3 plazmatickým leptáním.
Způsob a zařízení podle vynálezu se použije při zpracování povrchu substrátu pro výrobu mikroelektronických součástek.

Claims (6)

1. Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev při výrobě mikroelektronických součástek, a to v reaktoru, obsahujícím ve vakuu zpracovávaný substrát a deskové elektrody, vyznačený tím, že se na zpracovávaný substrát působí aktivními částicemi buzenými v plazmatu vysokofrekvenčního výbojce reaktivním iontovým leptáním, dále se přeruší působení aktivních částic buzených v plazmatu vysokofrekvenčního výboje a působících na zpracovávaný substrát reaktivním iontovým leptáním a dále se působí na zpracovávaný substrát za opačného zapojení deskových elektrod téhož reaktoru plazmatickým leptáním.
2. Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev podle bodu 1, vyznačený tím, že v době mezi zastavením působení aktivních částic buzených v plazmatu vysokofrekvenčního výboje a působících na zpracovávaný substrát reaktivním iontovým leptáním a počátkem působení na zpracovávaný substrát za opačného zapojení deskových elektrod téhož reaktoru plazmatickým leptáním, se nastaví nové parametry výboje.
3. Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev podle bodu 1 až 2, vyznačený tím, že v době mezi zastavením působení aktivních částic buzených v plazmatu vysokofrekvenčního výboje a působících na zpracovávaný substrát reaktivním iontovým leptáním a počátkem působení na zpracovávaný substrát za opačného zapojení deskových elektrod téhož reaktoru plazmatickým leptáním se nastaví nový tlak plynů v reaktoru.
4. Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev podle bodu 1 až 3, vyznačený tím, že v době mezi zastavením působení aktivních částic buzených v plazmatu vysokofrekvenčního výboje a působících na zpracovávaný substrát reaktivním iontovým leptáním a počátkem působení na zpracovávaný substrát za opačného zapojení deskových elektrod téhož reaktoru plazmatickým leptáním se nastaví nové parametry průtoku plynů.
5. Zařízení k provádění způsobu podle bodů 1 až 4, obsahující reaktor se zpracovávaným substrátem a.deskovými elektrodami ve vakuu, propojený s vysokofrekvenčním generátorem přes oddělovací kondenzátor a propojený s uzemněním, vyznačený tím, že sestává ze sdruženého přepínače (6) s pěti polohami a se šesti propojovacími svorkami (11, 12, 13, 14, 15, 16), kde první svorka (11) je spojena dolním vedením (7) s uzemněním, druhá svorka (12) je spojena přes oddělovací kondenzátor (9) s výstupní svorkou (17) vysokofrekvenčního generátoru (8), třetí svorka (13) a čtvrtá svorka (14) jsou propojeny horními vedeními (10) s výstupní klíčovací svorkou (18) a vstupní klíčovací svorkou (19) klíčovacího obvodu vysokofrekvenčního generátoru (8), pátá svorka (15) je spojena s horní deskovou elektrodou (2) reaktoru (i) a šestá svorka (16) je spojena s dolní deskovou elektrodou (3) reaktoru (1), přičemž v první poloze sdruženého přepínače (6) leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači (6) mezi první svorkou (11) a pátou svorkou (15), mezi druhou svorkou (12) a šestou svorkou (16) a mezi třetí svorkou (13) a čtvrtou svorkou (14), ve druhé poloze sdruženého přepínače (6) leží vodivý můstek ve sdruženér·· přepínači (6) mezi první svorkou (11) a pátou svorkou (15) a mezi druhou svorkou (12) a šestou svorkou (16), ve třetí poloze sdruženého přepínače (6) leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači (6) mimo svorky (11, 12, 13, 14, 15, 16), ve čtvrté poloze sdruženého přepínače (6) leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači (6) mezi první svorkou (11) a šestou svorkou (16) a mezi druhou svorkou (12) a pátou svorkou (15) a v páté poloze sdruženého přepínače (6) leží vodivý můstek ve sdruženém přepínači (6) mezi první svorkou (11) a šestou svorkou (16), mezi druhou svorkou (12) a pátou svorkou (15) a mezi třetí svorkou (13) a čtvrtou svorkou (14).
6. Zařízení podle bodu 5 vyznačené tím, že sdružený přepínač (6) má aretaci v první, třetí a páté poloze.
CS859430A 1985-12-18 1985-12-18 Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev a zařízení k provádění tohoto způsobu CS253792B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS859430A CS253792B1 (cs) 1985-12-18 1985-12-18 Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev a zařízení k provádění tohoto způsobu

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS859430A CS253792B1 (cs) 1985-12-18 1985-12-18 Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev a zařízení k provádění tohoto způsobu

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS943085A1 CS943085A1 (en) 1987-03-12
CS253792B1 true CS253792B1 (cs) 1987-12-17

Family

ID=5444610

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS859430A CS253792B1 (cs) 1985-12-18 1985-12-18 Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev a zařízení k provádění tohoto způsobu

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS253792B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS943085A1 (en) 1987-03-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4410622A (en) Forming interconnections for multilevel interconnection metallurgy systems
US7749901B2 (en) Method for forming a tapered via of a semiconductor device
US3600218A (en) Method for depositing insulating films of silicon nitride and aluminum nitride
US6197695B1 (en) Process for the manufacture of passive and active components on the same insulating substrate
WO2003075333A1 (en) Electrode for dry etching a wafer
JP2001007190A (ja) 多層電極を有する薄板状セラミック及び製造方法
US4400235A (en) Etching apparatus and method
US3419761A (en) Method for depositing silicon nitride insulating films and electric devices incorporating such films
US3642548A (en) Method of producing integrated circuits
JP3266076B2 (ja) マイクロ波プラズマ処理装置及びその実施に使用する対向電極
JPH05291194A (ja) プラズマ処理方法および装置
JP2996159B2 (ja) ドライエッチング方法
JP3323928B2 (ja) プラズマ処理装置
US4381341A (en) Two stage etching process for through the substrate contacts
CA1120611A (en) Forming interconnections for multilevel interconnection metallurgy systems
CS253792B1 (cs) Způsob zpracování povrchu dielektrických, polovodičových nebo kovových vrstev a zařízení k provádění tohoto způsobu
JPS6110239A (ja) 半導体製造装置
JP3362093B2 (ja) エッチングダメージの除去方法
RU2791206C1 (ru) Способ формирования сквозных металлизированных отверстий в подложке карбида кремния
JPH01194325A (ja) ドライエッチング方法
JPS5987834A (ja) 薄膜形成方法
JP3271373B2 (ja) ドライエッチング方法
JP3357737B2 (ja) 放電プラズマ処理装置
JPH08316214A (ja) プラズマ処理装置
TWM665816U (zh) 靜電吸盤及電漿處理裝置