CS252351B1 - Zariadenie na zobrazenie zmien bioelektrických potenciálov živého objektu - Google Patents

Zariadenie na zobrazenie zmien bioelektrických potenciálov živého objektu Download PDF

Info

Publication number
CS252351B1
CS252351B1 CS822582A CS258282A CS252351B1 CS 252351 B1 CS252351 B1 CS 252351B1 CS 822582 A CS822582 A CS 822582A CS 258282 A CS258282 A CS 258282A CS 252351 B1 CS252351 B1 CS 252351B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
dielectric plate
bioelectric
bioelectric potentials
microscope
potentials
Prior art date
Application number
CS822582A
Other languages
English (en)
Slovak (sk)
Other versions
CS258282A1 (en
Inventor
Tivadar Tuharsky
Original Assignee
Tivadar Tuharsky
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tivadar Tuharsky filed Critical Tivadar Tuharsky
Priority to CS822582A priority Critical patent/CS252351B1/cs
Publication of CS258282A1 publication Critical patent/CS258282A1/cs
Publication of CS252351B1 publication Critical patent/CS252351B1/cs

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Description

Riešenie sa týká zariadenia na zobrazenie zmien bioelektrických potenciálov živého objektu zvazkom elektrónov v rastrovacím elektrónovom mikroskope. Podstatou zariadenia je, že v predmetovom ohnisku rasírotvaciehio elektronového mikro-skopu je umiestnená dielektrická deštička s vodivým povrchom na vákuovej straně, oddelujúca pozorovaný objekt připojený k dioštičke od vákuového priestoru mikroskopu. Zariadenie je určené na snimanie bioelektrických potenciálov buněčného povrchu a k slediovainiu jeho’ rozloženia a časových zmien bioelektrickej aktivity povrchu živých buniek.
252351 2323S1
Vynález sa týká zariadenia na zobrazenie zmien bioelektrických potenciálov živého objektu zvázkom elektrónov v rastrovacom elektrómovom mikroskope.
Doteraz najnovšie zariadenie piodta autorského osvedčemia č. 212 506, pozostáva z multielektródového pota přikládaného na skúmaný objekt a každá elektróda multielektródového' póla je zapájaná v časovom slede multiplexonom analogového signálu, signál po flltrácii a aosilnení zobrazený na zobrazo-vacej jednotko a ďalej spracovainý. Táto metoda je dostatečná pre makroskopické objekty a miera jej miniaturizácie pre menšie objekty je ohraničená pri obvodoch vysokej integrácie (LSI] počtom 18 000 aktívnych prvkov na čipe a pri integrovaných obvodoch vel’mi vysokej integrácie (ULSI) 10 miliónov elementov na cm2, ktoré však v dostatočnej miere nestačía ešte na pokrytie povrchu buniek systémom snímacích elektród.
Zaužívainé zariadenia na snímanie biloelektrických potenciálov buniek živého objektu sú vybavené mikroelektródami, ktoiré sú vzhladom na rozměry buniek obrovské. Nevýhlodlou doterajšieho spósobu je, že umožňuje sledovanie napěťových potenciálov len z obmedzenébo· priestoru buňky, čím uniká pozonovaniu celkové rozloženie elektrického pota povrchu buňky a jeho· lokálně změny.
Tieto doterajšie nevýhody odstraňuje zariadenie, ktorého podstatou je, že v predmetovej rovině rastrovacieho elektronového mikroskopu je umiestnená dielektrická deštička s vodivým povrchom, oddelujúoa pozorovaný objekt přiložený k tejto· doštičke, od vakuového priestoru mikroskopu, pričom rozlišovacia schopnost mikroskopu je nepriamo úměrná hrúbke dielektricke] doštičky.
Hlavnou přednostou tohto zariadenia je, že umožňuje dosiahnuť celkový plošný obraz, kde určitý stupeň jasu odpovedá určíte j velkosti bioelektrickébo potenciálu povrchu buňky, přeneseného cez dielektrickú doštičku. Ak vychádzame zo· súčasného stavu výroby dielektrickej doštičky podta autorského osvedčeniia československého· čís. 182 470 štiepením muskovitu (sluda), dosahuje sa hrůbky 50 nm (manometrov) pri plochách až 1 cm2. Za předpokladu, že najmenší zobrazený bod sa bude rádovo blížit velklosťiou hrúbke dielektrickej dioštičke, vychádza hustota snímaných bodov rádovo 1010/cm2, čo je o tri rády viac ako teoretická hustota prvklov ULSI.
Vynález bližšle Objasní přiložený výkres, na ktorom je schematicky znázorněné usporiadanie upraveného· rastrovacieho elektronového mikroskopu s dielektrickou doštičkou.
Elektronový mikroskop 1 na obrázku je tvořený zdrojom 2 eletrónov, optickou sústavou 8, ktorou prechádza zvázok 7 elektrónov a dopadá na vodivý povrch 4 dielektrickej doštičky 3, pod ktorou je umiestnený pozorovaný objekt S připojený k dioštičke 3. Napěťový kontrast je snímaný detekíolrom 6. Vodivý povrch 4 dielektrickej doštičky 3 je vytvořený například hustým nánoisom drobných, navzájom nespojených vodivých plošiek, čo možno· urchď nastriekaním vodivou farbou apod.
Funkčná činnost zariadenia je nasledovná. Zvázok 7 elektrónov prechádza optickou sústavou 8 a dopadá na vodivý povrch 4 dielektrickej doštičky 3. Mikroskopické čiastočky vodivého· povrchu 4 sa uabíjajú postupné cez dielektrickú doštičku 3 kapacitmou vazbou, až sa vyrovná]ú nábojů ekvlvalemtnému na bnnečnom povrchu pozorovaného objektu 5, tesne připojeného k dielektrickej doštičke 3. Taktu vytvořený napěťový kontrast má však opačnú polaritu a je snímaný detektorům 6, ktorým sa vyhodnocuje jeho· vctkosC.
Zariadenie podta vynálezu je určené na snímanie bioelektrických potenciálov buněčného povrchu a na sledovanie jeho· nozloženia a časových zmien btoelektrickej aktivity povrchu živých buniek.

Claims (1)

  1. PREDMET Zariadenie na zobrazenie zmien bioelektrických potenciálov živého objektu vyznačené tým, že v predmetovom ohnisku rastrovacieho elektronového mikroskopu je umiestnená dielektrická doštička (3) s vo- YNÁLEZU divým povrchom (4] oddelujúoa pozorovaný objekt (5j připojený k dielektrickej doštičke (3j od vakuového priestoru mikroskopu (1). 1 list výkresov 232351 v . i'-'»?TF rr/jv4Xi7jw-. ;.-/v^i?«.«w«íer-.-.^^^r^wrro^--v-a»ii'T^'TiCT^r^jsí\r<.'w^rvní-«v-«trrwwwíXínees»«^tíiWfet»p^'W(>!ia«^!a’pi,
CS822582A 1982-04-13 1982-04-13 Zariadenie na zobrazenie zmien bioelektrických potenciálov živého objektu CS252351B1 (sk)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS822582A CS252351B1 (sk) 1982-04-13 1982-04-13 Zariadenie na zobrazenie zmien bioelektrických potenciálov živého objektu

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS822582A CS252351B1 (sk) 1982-04-13 1982-04-13 Zariadenie na zobrazenie zmien bioelektrických potenciálov živého objektu

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS258282A1 CS258282A1 (en) 1987-01-15
CS252351B1 true CS252351B1 (sk) 1987-08-13

Family

ID=5363361

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS822582A CS252351B1 (sk) 1982-04-13 1982-04-13 Zariadenie na zobrazenie zmien bioelektrických potenciálov živého objektu

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS252351B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS258282A1 (en) 1987-01-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4429925C1 (de) Verfahren und Detektoreinrichtung zur elektronischen positionsbezogenen Erfassung von Strahlung
KR102748217B1 (ko) 전기화학 감지, 정전용량 감지 및 전계 방출 감지를 위한 나노구조 어레이 기반의 센서들
EP1219975B1 (en) Corpuscular beam image detector using gas amplification by pixel type electrodes
US4988867A (en) Simultaneous positive and negative ion detector
EP0892275A3 (en) Method and apparatus for testing semiconductor and integrated circuit structures
DE102006019178A1 (de) Anordnung zur zweidimensionalen Messung von verschiedenen Komponenten im Querschnitt einer Mehrphasenströmung
DE602008005948D1 (de) Musterdefinitionsvorrichtung mit eigenständiger Gegenelektroden-Anordnungsplatte
DE2719930A1 (de) Ionisationskammer
Meredith et al. Electron‐gas interactions in the environmental scanning electron microscopes gaseous detector
US11719834B2 (en) Ionizing radiation detecting device
DE19500660A1 (de) Mikropartikelmanipulation an freien Antennenspitzen
CS252351B1 (sk) Zariadenie na zobrazenie zmien bioelektrických potenciálov živého objektu
US11906563B2 (en) Electric potential measuring device and method for manufacturing electric potential measuring device
DE60313282T2 (de) Vorrichtung für geladene Teilchen mit Reinigungseinheit und Verfahren zu deren Betrieb
EP0285896B1 (de) Verfahren zum Testen von Leitungsnetzwerken
JP6563810B2 (ja) 半導体装置、放射ディテクタ及び製造方法
Pickard et al. Printed circuit microelectrodes and their application to honeybee brain
Eng et al. Scanning auger and work-function measurements applied to dispenser cathodes
JPH0335634B2 (cs)
DE102009015563A1 (de) Röntgenstrahlungsdetektor zur Detektion von ionisierender Strahlung, insbesondere zur Verwendung in einem CT-System
DE69810785T2 (de) Analyse geladener teilchen
US20050247880A1 (en) Solid-state X-ray detector with support mounted steering electrodes
Oak et al. Particle capture on fibers in strong electric fields: I. Experimental studies of the effects of fiber charge, fiber configuration, and dendrite structure
Maffitt Interpretation of Electron‐Mirror Micrographs of Ferroelectric and Dielectric Surfaces
JP3760336B2 (ja) 減圧下での除電方法