CS248690B1 - Způsob přípravy monokrystalických struktur tellurid bismutitý - sulfid-tellurid bismutitý BigTe^-BigTe^S^. - Google Patents
Způsob přípravy monokrystalických struktur tellurid bismutitý - sulfid-tellurid bismutitý BigTe^-BigTe^S^. Download PDFInfo
- Publication number
- CS248690B1 CS248690B1 CS31385A CS31385A CS248690B1 CS 248690 B1 CS248690 B1 CS 248690B1 CS 31385 A CS31385 A CS 31385A CS 31385 A CS31385 A CS 31385A CS 248690 B1 CS248690 B1 CS 248690B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- bigte
- sulfur
- telluride
- temperature
- crystal
- Prior art date
Links
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
Řešeni se týká nových monokrystalických struktur s P-N přechodem a proměnnou šířkou zakázaného pásu. Popisuje se způsob přípravy monokrystalických struktur o složení tellurid bismutitý -sulfid-tellurid bismitutý BigTe^ -BigTe^xS-g z krystalů p-typu BigTe^ čistého nebo dotovaného tak. že monokrystalické destičky s připozenymi štěpnými plochami (0001) jsou exponovány v parách siry, jejichž tenze je 0,030 kPa - 150 kEa, při teplotě 150 - 500 °C po dobu 10-400 hodin, nebo uvedeny do- kontaktu a kapalnou sirou při teplotě 120 - 400 °C po dobu 10 - 400 hodin. Rozštěpením vytemperovaných destiček podél plochy (0001) je získaná P -N struktura, která po opatření kontakty vykazuje výrazný usměrňovači efekt, charakterizujíoi krystalovou diodu a citlivost vůči IC zářeni.
Description
Vynález se týká způsobu přípravy monokrystalických struktur o složení tellurid bismutitý - sulfid-tellurid bismutitý Bi2Ie3 “ Bi2Te3-x?x* kd® x s θ·001 <t^°>4, citlivých k záření v infračervené oblasti spektra·
V současné době ae pro detektory ΐδ záření, které jsou založeny na bázi polovodičů, používá následujících materiálů: křemík, germanium, sloučeniny (zejména InSb), sloučeniny AIVgVI (P|jsj PbSe, PbTe) a nejvýznamnější se jeví směsné krystaly Cd^Jlgj^Te.
Doposud nebyl popsán způsob přípravy P-N přechodu na bázi směsných krystalů Bi2Te3e-xSx.
Sloučenině Bi2Te^ dotované sírou, resp· systému BigTe^-BigS^i byla věnována pozornost v řadě prací, které se týkají fázového ai.gr,™ .y.«ra Bi2I.3-a2S3 /např. G.Gmmberg, fcWauaann,
Helv. Phys. Acta 36. 810 (1963)/, dále transportních vlastností sloučenin ^2Te3-xSx /L.A. Kutasov, L.N.Lukjanova, Piz. Tvěrd. těla 24, 402 (1982)/, nebo optických vlastností /P.Lošlák a kol. Phys. Stát. Sol. (a) 8£, K143 (1984)/. Krystaly Bi2Te3 nedotovaného i dotovaného byly předmětem studia od roku 1957, ale teprve objev způsobu potlačení koncentrace antistrukturních poruch polarizací vazeb v krystalech AgBj1 / J.Horák a kol·, Philos. Mag. B 50. 665 (1984)/umožail vytvořit strukturu s P-N přechodem. Na základě tohoto objevu je navržena metoda vedoucí k získání struktury na bázi sloučeniny Bi2Te3e^Sx vykazující proměnnou koncentraci síry na jednom krystalu a současně P-N přechod, jejíž příprava je předmětem tohoto vynálezu.
248 890
-2.
Předmět·® vynálezu je způsob přípravy monokryztalických struktur o složení tellurid bismutitý - sulfid-tellurid biarnutitý BigTekde x s Ο,ΟΟΚΟ,Αι a proměnnou Šířkou zakázaného pásu způsobenou gradientem koncentrace síry a současně s P-N přechodem, vyznačený tím, že monokrystaly p-typU BigT·^ čistého nebo dotovaného jsou exponovány v parách síry, jejichž tenze se pohybuje v rozmezí'0,030 kPaaí 150 kPa, při z
teplotě 150 <Ú5B0°C po dobu 10a£fó hodin, nebo uvedeny do kontaktu s kapalnou sírou při teplotě 120 po dobul0o<400 hodin·
Po táto expozici jsou krystaly rozštěpeny podél plochy (0001), Čímž se získá struktura BigTe^-BígTe^jS*, která po opatření vhodnými kontakty může být použita ke- konstrukci krystalových diod.
Při tomto postupu se vychází z monokrystalu p-BigTe^ připraveného Bridgmanovou metodou, z něhož se připraví monokrystalická destičky neštípáním podle ploch (0001 )t vyznačujících ae dobrou ětěpitelností. Tytp krystaly se podrobí interakci se sírou za výěe uvedených podmínek. Na styku pevná a plynná, rsap. kapalná řáse dochází jednak k narůstání krystalu charakterizovanému reakcí mezi sorbovanými molekulami síry a antistruktumími poruchami a jednak k difúzi atomů síry do krystalu· Tato difúze je umožněna reakcí
1/2 S2(g) + 2 Bije ♦ 2 h + 2 Ie2 ^==± S*0 + Bi2Te3, podle která se koncentrace antistrukturních poruch Bij0 během reakce s parami síry snižuje. V oblasti P-N přechodu dochásí k výraznému snížení koncentrace volných nositelů (děr), jak znact y/še uvedená rovnice, v povrchové oblasti pak vzniká slou-3
248 690 čenina Bi2Te^-xSx s n-typem vodivosti. Oblast v blízkosti P-N přechodu má pravděpodobně povahu struktury s proměnnou šířkou zakázaného pásu·
Zařízení pro přípravu struktury BigTeyBigTe^j^ difúzí plynné síry do p-typu Bi^Te^ je znázorněno na obr. 1. Zařízení sestává z křemenné ampule (1), v níž na grafitovém loži (2) je umístěn vzorek Bi2Te^ (3) a v druhé části ampule (1) síra (4)» přičemž teplota v peci je měřena termočlánky (5). Ampule (1) je umístěna v keramické peci (6), jejíž vinutí (7) se skládá ze dvou sekcí umožňujících nastavení požadovaného teplotního gradientu v peci. Kromě toho je do keramické pece (6) vsazena ocelová trubka (8)‘ eliminující lokální teplotní gradienty a zajištující homogenní rozložení teploty v obou částech pece· Aby byla eliminována možnost sublimace síry na vzorek Bi2Te^|je vždy teplota krystalu o něco vyšší než teplota kapalné síry. Zařízení znázorněné na obr. 1 tedy umožňuje provádět interakci krystalů BigTe-^ s parami síry, umožňuje nastavit teplotu Tp při které dochází k reakci krystalu s parami síry, teplotu roztavené síry T2 řídící tenzi par síry v ampuli a dobu potřebnou ke vzniku n-typu Bi2Tě>xSx.
Příprava monokrystalické struktury o složení BigTe^-BigTe^^^ 8 P-N přechodem je demonstrována následujícími příklady:
Příklad 1
Krystal p-BigTe^ ( koncentrace děr 2,4 x 1018 děr cm“3) formě moaokrystalické destičky rozměrů 60 x 10 x 4 mm se umístí v jedné části ampule znázorněné na obr· 1, do druhé části ampule se vloží síra o čistotě 5N. Ampule se evakuuje a zataví·
248 890
Po umístění ampule v keramické peci se provádí temperování za následujících podmínek: teplota krystalu = 420°C, teplota kapalné síry T2 = 230°C, tanze par síry 800 Pa, doba temperování t « 48 hodin· Po expozici krystalu v parách siry za uvedených podmínek se provede relativné prudké ochlazení krystalu tím, že temperační ampule s krystalem se vyjme z pece a ponechá několik hodin při laboratorní teplotě· Získaný krystal se rozětíp ne uprostřed nejkratěí strany vzorku podél ploch (0001), čímž se získá jídvě monokrystalické destičky, které mají na jedné straně vrstvu p-BigTe^ a na druhé straně vrstvu n-Bi2Te^eXSx·
Příklad 2
Stejné destičky monokrystalu p-Bi2Te- jako v příkladu 1 se vloží do křemenné ampule spolu s práškovou sírou, prostor ampule ee propláchne argonem, vyčerpá se vakuum 40 Pa a ampule se zataví· Pofcmw se ampule vloží do pece, v níž se síra za zvýšené teploty roztáv^ a provede se temperování monokrystálických destiček v kapalné síře při teplotě 25O°C po dobu 120 hodin· Po skončení temperování se ampule ochladí na vzduchu na pokojovou teplotu, plochy vzorku, které byly v kontaktu se sírou* se broušením a leštěním očistí od přebytečné síry a po rozštěpení podél plochy (0001) se získají monokrystálické struktury BigTe^-Bi2Te^_xSx·
Na obr· 2 je schematicky znázorněna krystalická dioda, zhotovená z monokrystalické destičky Bi2Te^-Bi2Te^vXSx· Strana o složení BigTe^ (9) je opatřena plošným zlatým kontaktem (10), vytvořeným buč pomocí zlaté pasty, nebo redukcí chloridu zlatitého· Na straně se složením j® n»nesena např· stříbr248 890 ná pasta ve formě kulovité kapičky (12) pokud možno malých rozměrů, která tvoří kontakt s přívodním stříbrným nebo zlatým vlasovým drátem (13)· Takto upravená struktura 8 P-N přechodem na bázi p-BigTe^ - n-BigTe^.^ je citlivé k infračervenému záření·
Na obr. 3 je uvedena volt-ampérová charakteristika, tedy závislost procházejícího proudu na vloženém napětí, připravené krystalové diody·
Na obr· 4 je uvedeno spektrální rozdělení napětí, vyvolaného interakcí IČ záření se vzorkem· Tato závislost napětí na vlnové délce dopadajícího záření byla měřena při teplotě místnosti následujícím způsobem: Ze zdroje záření, kterým byla Globarová lampa, byl vydělen pomocí monochromátoru Zeiss (s hranolem chloridu sodného) svazek paprsků o vlnových délkách 2-10^um; monochromatické světlo, přerušované frekvencí 6,17 Hz dopadalo na vzorek a vzniklý střídavý signál byl měřen za použití vhodné transformátorové vazby předzesilovače a zesilovače typu UNIPAN. Při měření byly kontakty na vzorku zastíněny, aby byly eliminovány kontaktní jevy· Měření bylo opakováno po jednom týdnu v rozmezí 3 měsíců a byla shledána dokonalá reprodukovatelnost a dobrá stabilita signálu·
Je třeba zdůraznit, že výše popsaný postup přípravy P-N přechodu na krystalech BigTe^ je původní, nebyl dosud v literatuře popsán a jeho bezesporým kladem je jednoduchost, dokonalá kontrola procesu a reprodukovatelnost připravených krystalů s P-N přechodem· Nastavením podmínek, tj« tlaku par síry, teploty a doby temperace krystalu lze připravit vzorky BÍ2Ie3-xSx 8 r^2*“
- G 248 890 ným obsahem siry v oblasti n-typu vodivosti a lze tak připravit krystaly citlivé vůči infračervenému záření v oblasti vlnových délek 2-8^um.
Claims (3)
1* Způsob přípravy aonokrystalickýeh struktur tellurid bisnutitý - sulfid-tellurid bisnutitý BigTe^ - ®i>2T*3-xSx’ kde x « 0,001 - 0,4, s proměnnou šířkou zakázaného páau způsobenou gradientem koncentrace síry a současně s P-N přechodem, vyznačený tím, že monokrystaly p-typu BigTe^ čistého nebo dotovaného jsou temperovány v kontaktu se sírou při teplotě 120 - 500°C po dobu 10-400 hodin a po temperaci rozštěpeny podél plochy (0001)·
2· Způsob podle bodu 1, vyznačený tím, Se kontakt krystalů p-typu BigTe^ čistého nebo dotovaného se provádí v parách síry při teplotě 150 - 500°C, jejichž tenze je 0,0J0 kPa - 150 kPa, po dobu 10-400 hodin·
3· Způsob podle bodu 1, vyznačený tím, že kontakt krystalů p-typu BigTe^ čistého nebo dotovaného ae provádí s kapalnou sírou při teplotě 12O-4OO°C po dobu 10-400 hodin·
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS31385A CS248690B1 (cs) | 1985-01-17 | 1985-01-17 | Způsob přípravy monokrystalických struktur tellurid bismutitý - sulfid-tellurid bismutitý BigTe^-BigTe^S^. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS31385A CS248690B1 (cs) | 1985-01-17 | 1985-01-17 | Způsob přípravy monokrystalických struktur tellurid bismutitý - sulfid-tellurid bismutitý BigTe^-BigTe^S^. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS248690B1 true CS248690B1 (cs) | 1987-02-12 |
Family
ID=5335028
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS31385A CS248690B1 (cs) | 1985-01-17 | 1985-01-17 | Způsob přípravy monokrystalických struktur tellurid bismutitý - sulfid-tellurid bismutitý BigTe^-BigTe^S^. |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS248690B1 (cs) |
-
1985
- 1985-01-17 CS CS31385A patent/CS248690B1/cs unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Doty et al. | Properties of CdZnTe crystals grown by a high pressure Bridgman method | |
| Schmit | Growth, properties and applications of HgCdTe | |
| JPS6021960B2 (ja) | Hg↓1−↓xCd↓xTe組成層の製法 | |
| Ryzhikov et al. | Luminescence dynamics in ZnSeTe scintillators | |
| KR20190096932A (ko) | 화합물 반도체 및 그 제조 방법 | |
| Kamijoh et al. | Single crystal growth of LiInS2 | |
| CS248690B1 (cs) | Způsob přípravy monokrystalických struktur tellurid bismutitý - sulfid-tellurid bismutitý BigTe^-BigTe^S^. | |
| Su et al. | Growth of ZnTe by physical vapor transport and traveling heater method | |
| Mullins et al. | High temperature optical properties of cadmium telluride | |
| Bradford et al. | PREPARATION OF VAPOR GROWN LEAD–TIN TELLURIDE FOR 8–14 MICROMETER PHOTODIODES | |
| Scholl et al. | Preparation and properties of ZnGeAs2 | |
| Korbutyak et al. | Growth and characterization of high-resistivity CdTe | |
| CS247467B1 (cs) | Způsob přípravy monokrystalických struktur tellurid bismutitý - selenid-tellurid bismutitý Bi2Te3-Bi2Te3„Se„ s P-N přechodem | |
| Dammak et al. | Optical spectroscopy of titanium-doped CdZnTe | |
| Colombo et al. | Growth of large diameter (Hg, Cd) Te crystals by incremental quenching | |
| Bao et al. | Study of semitransparent palladium contacts on mercuric iodide by photoluminescence spectroscopy and thermally stimulated current measurements | |
| Shah et al. | TlBr/sub x/I/sub 1-x/photodetectors for scintillation spectroscopy | |
| Su | Partial pressure of Cd in equilibrium with stochiometric melt and solid of (Cd0. 8Zn0. 2) Te between 300 C and 1250 C for melt growth | |
| Steininger | High pressure reflux technique for growth of Hg1-xCdxTe crystals | |
| Chen et al. | Calorimetric and Spectroscopic Characterization of Zone Refined and Regrown Lead Lodide | |
| Selvaraj et al. | Growth of phthalocyanine doped anthracene crystal using a three-zone furnace by vacuum sublimation method | |
| Nowak et al. | Heteroepitaxial homogeneous CdxHg1− xTe films | |
| Bleicher et al. | N-type PbS and PbS1− x Se x layers prepared by the hot-wall epitaxy | |
| Chang et al. | Growth and characterization of ZnSe single crystals by closed tube method | |
| Nelson et al. | Improvements to melt preparation in LPE growth of semiconductor heterostructures |