CS243347B1 - Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AIIIBV látek - Google Patents
Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AIIIBV látek Download PDFInfo
- Publication number
- CS243347B1 CS243347B1 CS851250A CS125085A CS243347B1 CS 243347 B1 CS243347 B1 CS 243347B1 CS 851250 A CS851250 A CS 851250A CS 125085 A CS125085 A CS 125085A CS 243347 B1 CS243347 B1 CS 243347B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- protective
- insulating
- annealing
- semi
- insulating layer
- Prior art date
Links
Landscapes
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Abstract
Nanášení a testování a poimplantačního žíhání aIIIbV látek při testování materiálu a při přípravě výroby integrovaných obvodů. Podstata řešení spočívá v tom, že nanášení ochranné a izolační vrstvy na bázi nitridu, případně kysličníku křemíku nebo hliníku,.'nebo jejich kombinací chemickými reakcemi, nebo termálním rozkladem na poloizolační podložky z aIIIbv látek, a žíhání poloizolačních podložek z AI:tIBv látek a poloizolačních podložek z aii:cBv látek s implantovanými vrstvami se provádí v jednom žíhacím zařízení v průběhu jednoho pracovního cyklu, přičemž nanášení .ochrany né a izolační vrstvy se zahajuje již v náběhu žíhání před dosažením teploty 873 K.
Description
(54) Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AIIIBV látek
Nanášení a testování a poimplantačního žíhání aIIIbV látek při testování materiálu a při přípravě výroby integrovaných obvodů. Podstata řešení spočívá v tom, že nanášení ochranné a izolační vrstvy na bázi nitridu, případně kysličníku křemíku nebo hliníku,.'nebo jejich kombinací chemickými reakcemi, nebo termálním rozkladem na poloizolační podložky z aIIIbv látek, a žíhání poloizolačních podložek z AI:tIBv látek a poloizolačních podložek z aii:cBv látek s implantovanými vrstvami se provádí v jednom žíhacím zařízení v průběhu jednoho pracovního cyklu, přičemž nanášení .ochrany né a izolační vrstvy se zahajuje již v náběhu žíhání před dosažením teploty 873 K.
Vynález se týká způsobu nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AIIIBV látek s použitím poimplantačního nebo testovacího žíhání jednak poloizolačních podložek z AI:IIBV látek a dále poloizolačních podložek z A^^B^ látek s implantovanými vrstvami.
Jedním z důležitých technologických procesů při přípravě integrovaných obvodů na bázi galiumarsenidu nebo jiných AIII:bV látek je žíhání. Používá se při temperování, testování tepelné odolnosti a k aktivaci iontů implantovaných do poloizolačního galiumarsenidu.
Provádí se obvykle při teplotách v rozmezí 1 023 až 1 173 K. Zahříváním galiumarsenidu nad teplotu 873 K však dochází k vypařování arsenu z povrchu podložky, a tím ke změně složení a nežádoucí změně elektrických parametrů povrchové vrstvy.
K zamezení rozkladu galiumarsenidu za zvýšené teploty se používá řada způsobů. Mezi nejúčinnější patří způsob, při kterém se galiumarsenid pokryje tenkou, řádově 101 až 10^ nanometrů tlustou ochrannou a izolační vrstvou kysličníku křemíku, nitridu křemíku nebo kysličníku hliníku.
Tyto ochranné a izolační vrstvy se nanášejí v samostatném technologickém cyklu ve speciálních, k tomu účelu zkonstruovaných deposičních zařízeních při teplotě nižší než 873 K, a to termálním rozkladem napařováním nebo naprašováním příslušných sloučenin.
V průběhu dalšího, zcela samostatného technologického cyklu se na jiném zařízení podložka z galiumarsenidu, nebo poloizolační podložka s implantovanými ionty žíhá při teplotě 1 023 až 1 173 K v inertní atmosféře vodíku, argonu nebo dusíku po dobu řádově 101 min.
Nevýhodou stávajícího způsobu je skutečnost, že se jednotlivé operace, to je jednak nanášení ochranné a izolační vrstvy a dále žíhání provádějí samostatně v nejméně dvou speciálních, pro tyto účely zkonstruovaných zařízeních - reaktorech, a že je časově i energeticky poměrně náročný.
Při stávajícím pracovním způsobu v nejméně dvou cyklech dochází také k vícenásobnému tepelnému namáhání materiálu, přičemž zvláště při nahřívání podložky s izolační vrstvou na teplotu žíhání dochází vzhledem k rozdílnému koeficientu roztažnosti k pnuti, které může mít za následek porušení povrchové vrstvy poloizolační podložky, nebo její implantované části.
Výše uvedené nedostatky odstraňuje způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podlož ky z látek, podle vynálezu, s použitím poimplantačního nebo testovacího žíhání jednak poloizolačních podložek z AII:CBV látek s implantovanými vrstvami.
Podstata vynálezu spočívá v tom, že nanášení ochranné a izolační vrstvy na bázi nitridu, případně kysličníku křemíku nebo hliníku, nebo jejich kombinací chemickými reakcemi, nebo termálním rozkladem na poloizolační podložky z AIIJ:BV látek a na implantované vrstvy na izolačních podložkách z AI:!:ibV látek a žíhání poloizolačních podložek z AIIXBV látek a poloizolačních podložek z AIITBV látek s implantovanými vrstvami se provádí v jednom žíhaoím zařízení v průběhu jednoho pracovního cyklu, přičemž nanášení ochranné a izolační vrstvy se zahajuje již v průběhu náběhu žíhání před dosažením teploty 873 K.
Výhodou pracovního způsobu podle vynálezu je skutečnost, že podložka z galiumarsenidu je tepelně namáhána poměrně kratší dobu, než tomu bylo u dosavadních způsobů, a nárůst izolační vrstvy probíhá ve stejném časovém průběhu jako žíhání.
Protože teplota je při nanášení izolační a ochranné vrstvy vyšší než 773 K, jsou výsledné izolační a ochranné vrstvy kompaktnější, než byly ochranné a izolační vrstvy, vytvoené za nižších teplot.
Způsob podle vynálezu je rychlý, snadno realizovatelný, soustavně reprodukovatelný a lze jej s výhodou používat při testování tepelné odolnosti poloizolačních podložek z gali» umarsenidu nebo jiných látek, dále k testování funkce implantovaných vrstev a také při vlastním procesu výroby integrovaných obvodů.
Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AXIIBV látek podle vynálezu bude následovně blíže popsán ve dvou příkladových provedeních:
Příklad 1
Způsob testování tepelné odolnosti poloizolačních podložek z galiumarsenidu:
Povrchově upravená poloizolační podložka z galiumarsenidu se zasune do držáku umístěného v žíhacím reaktoru. Reaktor se uzavře a propláchne inertním plynem a začne vyhřívat.
Jakmile teplota dosáhne 673 až 723 K, vpustí se do reaktoru směs silanu a kyslíku, přičemž se teplota dále zvyšuje až na teplotu 1 123 K. Přitom dochází k termálnímu rozkladu silanu a kyslíku, při kterém narůstá na poloizolační podložce z galiumarsenidu vrstva kysličníku křemíku.
Jakmile tlouštka této vrstvy dosáhne 100 až 150 nanometrů, nárůst izolační vrstvy se zastavením dávkování silanu a kyslíku přeruší. Poloizolační podložka z galiumarsenidu se potom dále žíhá jen v inertní atmosféře po dobu 30 min při teplotě 1 123 K takzvaným Rockwellov ským testem.
Po ochlazení se podložka vyjme z reaktoru a ochranná a izolační vrstva se odleptá a provede se měření elektrických parametrů poloizolačního galiumarsenidu.
Příklad 2
Způsob lokální implantace implantovaných iontů a nanášení ochranné a izolační vrstvy při výrobě integrovaných obvodů:
Na povrchově upravené podložce poloizolačního galiumarsenidu se postupně vytvoří známou technologií požadované motivy a provede se implantace iontů do lokálně ohraničených oblastí, například do MESFE tranzistorů, načež se po odstranění fotoresistu provede kontrolní měření implantované dávky.
Poloizolační podložky z galiumarsenidu s naimplantovanými motivy se uloží na držák umístěný v žíhacím reaktoru. Reaktor se uzavře a postupem uvedeným v příkladu 1 se provádí žíhání, při kterém nastává aktivace implantovaných iontů, přičemž se na podložku s implantovanou vrstvou současně nanese požadovaná tlouštka ochranné a izolační vrstvy kysličníku křemíku, nitridu křemíku, nebo kysličníku hlinitého.
Po ochlazení a vyjmutí podložky s implantovanou vrstvou z reaktoru se z podložky galiumarsenidu postupným odstraněním ochranné a izolační vrstvy odhalí naimplantované části, na kterých se zhotoví známým způsobem kontakty a Schottkyho přechody.
Claims (1)
- pRedmět VYNÁLEZUZpůsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AII:IBV látek s použitím poimplantačního nebo testovacího žíhání jednak poloizolačních podložek z AI:tIBV látek, a dále poloizolačních podložek z AIIIBV látek s implantovanými vrstvami, vyznačený tím, že nanášení ochranné a izolační vrstvy na bázi nitridu, případně kysličníku křemíku nebo hliníku, nebo jejich kombinací chemickými reakcemi nebo termálním rozkladem na poloizolační podložky z ΑΙΣΙΒν látek a na implantované vrstvy na izolačních podložkách z AI:IIBV látek a žíhání poloizolačních podložek z AIIIBV látek a poloizolačních podložek z AI:tIBV látek s Implantovanými vrstvami se provádí v jednom žíhacím zařízení v průběhu jednoho pracovního cyklu, přičemž nanášeni ochranné a izolační vrstvy se zahajuje již v průběhu náběhu žíhání před dosažením teploty 873 K.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS851250A CS243347B1 (cs) | 1985-02-21 | 1985-02-21 | Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AIIIBV látek |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS851250A CS243347B1 (cs) | 1985-02-21 | 1985-02-21 | Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AIIIBV látek |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS125085A1 CS125085A1 (en) | 1985-08-15 |
| CS243347B1 true CS243347B1 (cs) | 1986-06-12 |
Family
ID=5346393
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS851250A CS243347B1 (cs) | 1985-02-21 | 1985-02-21 | Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AIIIBV látek |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS243347B1 (cs) |
-
1985
- 1985-02-21 CS CS851250A patent/CS243347B1/cs unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS125085A1 (en) | 1985-08-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ATE369624T1 (de) | Verfahren zur hochtemperatur- kurzzeithärtung von materialen mit niedrieger dielektrizitätskonstante unter verwendung eines schnellen thermischen prozesses | |
| Sachse et al. | Electrical properties of platinum-hydrogen complexes in silicon | |
| US4661177A (en) | Method for doping semiconductor wafers by rapid thermal processing of solid planar diffusion sources | |
| Von Allmen et al. | Phase transformations in laser‐irradiated Au‐Si thin films | |
| Wemple et al. | Long-term and instantaneous burnout in GaAs power FET's: Mechanisms and solutions | |
| Wesch | Ion implantation in III–V compounds | |
| Yeow et al. | An investigation of the influence of low-temperature annealing treatments on the interface state density at the Si-SiO2 | |
| Levy et al. | Formation of palladium silicide by rapid thermal annealing | |
| Wood et al. | Melting model of pulsed laser processing | |
| Kwong et al. | Pulsed laser heating of silicon: The coupling of optical absorption and thermal conduction during irradiation | |
| Deneuville et al. | Influence of preparation conditions on forward‐bias currents of amorphous silicon Schottky diodes | |
| CS243347B1 (cs) | Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AIIIBV látek | |
| Licoppe et al. | Direct measurement of solid‐phase epitaxial growth kinetics in GaAs by time‐resolved reflectivity | |
| US3156593A (en) | Fabrication of semiconductor devices | |
| GB2230607A (en) | Temperature- controlled bodies | |
| Levy et al. | Formation of palladium and titanium silicides by rapid thermal annealing | |
| JPS60239400A (ja) | 化合物半導体のアニ−ル法 | |
| Micheli et al. | Laser microfabrication of thin films: Part one | |
| JPS57102053A (en) | Semiconductor device | |
| US3469308A (en) | Fabrication of semiconductive devices | |
| JPS57166025A (en) | Heat treatment method for compound semiconductor device | |
| US4302278A (en) | GaAs Crystal surface passivation method | |
| Lojek | The Behavior of Free-Carriers During Rapid Thermal Annealing of Doped Silicon | |
| US3384518A (en) | Method for making semiconductor devices | |
| Drowley et al. | Formation of Shallow P+ Junctions Using Two-StepAnneals |