CS198139B2 - Holographic device - Google Patents
Holographic device Download PDFInfo
- Publication number
- CS198139B2 CS198139B2 CS741782A CS178274A CS198139B2 CS 198139 B2 CS198139 B2 CS 198139B2 CS 741782 A CS741782 A CS 741782A CS 178274 A CS178274 A CS 178274A CS 198139 B2 CS198139 B2 CS 198139B2
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- points
- light source
- observation point
- change
- virtual
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/021—Interferometers using holographic techniques
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Holo Graphy (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Vynález se týká holografického zařízení pro zjištění nepravidelných deformací zkoušením materiálů bez porušení.
Nepravidelnými deformacemi se rozumějí takové deformace, které nepředstavují stejnoměrnou změnu polohy všech bodů povrchu měřeného předmětu, nýbrž pouze změnu polohy jednotlivých bodů nebo oblastí tohoto povrchu. Příkladem rovnoměrné deformace je zvětšení objemu tělesa, například kovového předmětu, vzniklé tepelným roztažením, kdežto nerovnoměrná deformace je taková deformace, která je vyvolána na omezeném jednotlivém místě takového kovového předmětu, například vadou vzniklou litím nebo lunkrem.
V ohledu ekonomickém je velký zájem, aby při zkoušení materiálů nebo při výstupní kontrole hotových průmyslových výrobků byly zjištěny takové nepravidelné deformace, které vznikají za určitých podmínek, jako například při zahřátí, aniž by byl předmět přitom poškozen nebo zničen, jak je to u dosavadních zkoušecích postupů nevyhnutelné, čímž se ve značném rozsahu ničí také celkem bezvadné obrobky nebo výrobky.
Je známo používat k takovému zkoušení bei porušení postupy biografické interíerometrie. Přitom se sejme hologram pred2 metu v jeho nezměněném výchozím stavu a tento hologram se srovná za superposice s hologramem, který byl ze stejného předmětu sejmut ve stejném postavení, ale ve stavu způsobujícím změnu jeho povrchu. Přitom se dostane interferenční obrazec, na kterém lze zjistit a změřit změnu a zejména nepravidelné změny. V západoněmeckém zveřejňovacím spise č. 1 906 511 je popsán postup a uspořádání, které slouží ke zkoušení pneumatik na skryté závady. Přitom se sejme hologram z nahuštěné pneumatiky krátce po nahuštění a potom nějaký čas později a tyto hologramy se srovnají vzájemnou superposicí.
Ze získaného interferenčního obrazce lze zviditelnit závady ve struktuře pneumatiky, které se projevují v podobě jinak neviditelných vyklenutí. Možnost měřit změny tvaru trojrozměrných předmětů holografickou interferometru byla poprvé popsána Hildebrantem a Hainesem v časopisu Optics 5 (1966, str. 172, 173, 595—602).
Tam je navrženo, aby za pomoci interferometrického, s koherentním světlem pracujícího měřicího zařízení byly měřeny změny tvaru trojrozměrných předmětů, vyvolané tepelným protažením, nabráním vlhkosti nebo zatížením tlakem. Přitom se hologram předmětu v jeho původním stavu překládá přes jeho hologram ve změněném stavu, přičemž známým způsobem' vzniknou proužkovité interferenční obrazce, jejichž poloha a ' vzdálenost připouštějí měření polohy a kvantitativního rozsahu tvarových _ změn.
U těchto známých postupů však velice ruší, že interferenční čáry jsou vyvolávány jak pravidelnou deformací, tak i nepravidelnou deformací a mohou být většinou jen obtížně přiřazovány. To znamená, že hledané vadné místo nebo zdroj závad lze na - základě takových interferenčních obrazců jen . identifikovat a změřit.
Vynález vychází proto z úlohy vytvořit takové holografické zařízení pro zjištění nepravidelných deformací zkoušením materiálů bez porušení, které by umožnilo potlačit interferenční čáry vyvolané pravidelnou deformací, takže v interferenčním obrazci by byly vidět v podstatě pouze ony čáry, které jsou přiřazeny - - nepravidelné - de- formaci.
Daná úloha je podle vynálezu rozřešena tím, že holografické zařízení obsahuje rotační těleso, obklopující zkoumaný předmět _ anebo tímto předmětem1 - - obklopené, - - s pozrcadleným povrchem odpovídajícím zkoumanému předmětu pro odraz světelných paprsků, dopadajících z virtuálního -světelného zdroje na předmět, od něhož odražené se protínají v pozorovacím· bodě, - - přičemž virtuální body odrazu těchto paprsků leží na elipsoidu, jehož ohniska splývají s virtuálním světelným zdrojem a s pozorovacím bodem. Doplňujícím znakem je to, že předmět je umístěn na středové kolmici na spojovací čáru mezi světelným zdrojem a pozorovacím bodem.
Podle výhodného provedení vynálezu, je rotační těleso kuželovité.
Holografické zařízení uspořádané podle vynálezu může být s úspěchem používáno pro zkoušení materiálů bez porušení, například v sériové výrobě, - neškoleným personálem za pomoci - pevně postavených zařízení. Jelikož - - je k dispozici velký předmětný prostor, lze použít téměř libovolných způsobů vytváření povrchové deformace, například použít tepla nebo změny tlakových poměrů - mezi předmětem- a okolním prostředím, a vyšetřovat také předměty - větších rozměrů.
Příklad provedení vynálezu je znázorněn na výkresech a- bude v souvislosti s nimi popsán, kde znázorňuje obr. 1 schematicky holografické - uspořádání, přičemž předmět je reprodukován v šikmém průmětu I a obr. 2 - dráhu paprsků na předmětu.
Světelný paprsek, vystupující z laseru 1, například z hélioneónového laseru, a mající vlnovou délku 632,8 nm, prochází fotozávěrkou 2 a - štěpí se pak v děliči 3 paprsků na - předmětný paprsek a a na referenční paprsek b. Předmětný paprsek a se po rozšíření objektivem 4 , odchyluje na zrcadle 5 a osvětluje - předmět 7 přes konvexní zrcadlo 6.
Světlo, rozptýleně odrážené od předmětu a představované vybraným pozorovacím paprskem a‘, dostává se k fotosensitivní vrstvě 8 na - desce 9. Referenční paprsek b se odchyluje na zrcadle 10 a je soustavou čoček 11, 12 rozšiřován buď do paralelního, nebo - do rozbíhavého svazku. Po odchýlení na zrcadle 13 osvtěluje přímo fotosensitivní vrstvu 8. Na - této fotosensitivní vrstvě 8 se zaznamená interferenční pole, které je vytvářeno referenčním paprskem b a světlem přicházejícím rozptýleně od předmětu 7. Osvětlování fotosensitivní vrstvy 8 se časově řídí - fotozávěrkou 2. Fotosensitivní vrstva má vysokou rozlišovací schopnost, - více než 1000 čar na 1 mm. Na obraze ve fotosensitivní vrstvě 8 fixovaném je optická informace, vycházející z předmětu 7, uložena jako- interferenční pole, to znamená jako hologram předmětu 7.
.......Osvětlí-li --se tento hologram - jen referenčním paprskem b, může být virtuální obraz předmětu 7, který vzniká ohybem referenčního paprsku b na interferenčním poli, pozorován na svém - - původním místě.
Na- - průsečíku-, dráhy předmětného paprsku a, odchýleného konvexním zrcadlem 6, po prodloužení této - dráhy směrem nazad, je virtuální světelný - zdroj - 14. Za deskou 9 je pozorovací bod 15. Osa úhlu mezi předmětným - paprskem a a vybraným pozorovacím paprskem a.4 určuje polohu - předmětu 7. U znázorněného příkladu provedení splývá uvedená osa úhlu v středové kolmici 16 na spojnici 17 mezi virtuálním světelným zdrojem 14 a pozorovacím bodem 15. Předmět 7 leží pak ve vrcholu soustavy elipsoidů 18, v jejichž ohnisku je virtuální světelný zdroj 14 a pozorovací bod 15, a - které jsou geometrickým místem pro stejně dlouhé dráhy od virtuálního světelného zdroje 14 k - předmětnému bodu 19 na povrchu předmětu 7 a k pozorovacímu bodu 15. Na místě předmětného bodu 19 je v případě znázorněném v obr. 1 virtuální předmětný bod 194. Dráha předmětného paprsku a od laseru 1, popřípadě od virtuálního světelného zdroje 14 k předmětnému bodu 19, popřípadě k. virtuálnímu předmětnému bodu 19‘, a - jeho difusní odraz jako - vybraný pozorovací paprsek a‘ k pozorovacímu bodu - 15 opisují shora uvedenou dráhu.
Kolem předmětu 7, který v tomto případě je válcovitým tělesem, ležícím svou osou ve středové kolmici 16, je souose upraven otevřený přímý dutý komolý kužel 20, uvnitř pozrcadlený, jehož základna je obrácena k virtuálnímu světelnéjnu zdroji 14 a k pozorovacímu bodu 15.
Z obr. 1 vyplývá, že předmětné paprsky a, dopadající ve směru od virtuálního světelného zdroje 14, urazí na své cestě od konvexního zrcadla 6 k pozorovacímu bodu bodu 15 přes vnitřní stěnu dutého komolého kužele 20 a povrch předmětu 7 stejnou dráhu, přičemž jsou mezi uvedenými členy dvakrát odráženy.
Obr. 2 znázorňuje dutý komolý kužel 20 v osovém řezu s předmětem 7 v něm upraveným. Jsou znázorněny dva dílčí paprsky ai, Ά2 předmětného svazku paprsku a, jak vycházejí z virtuálního světelného zdroje 14, dopadají na pozrcadlenou vnitřní plochu komolého kužele 20, od ní jsou odchylovány na předmětné body 21 a 22 na povrchu předmětu 7 a od něho jsou opět odráženy jako difusní světlo, v tomto případě znázorněné jako paprsky аз, ад. Tyto paprsky аз, ai náležejí к paprskům vybraným okem pozorovatele, které je v pozorovacím bodu 15. Virtuální předmětné body 2Г, 22‘ paprsků a.i, аг leží na stejném elipsoidu 23, jehož ohnisky jsou virtuální světelný zdroj 14 a pozorovací bod 15. Urazí tedy stejnou dráhu od virtuálního světelného zdroje 14 přes předmětné body 21, popř. 2Г к pozorovacímu bodu 15 a od virtuálního světelného zdroje 14 pres předmětný bod 22, popř. virtuální předmětný bod 22‘ к pozorovacímu bodu 15.
Plochy, pro které je optická dráha světelného paprsku od virtuálního světelného zdroje 14 přes předmětný bod 21 nebo 22 až к pozorovacímu bodu 15 konstantní, jsou tím přizpůsobeny vyšetřované ploše předmětu 7, popřípadě při rovnoměrné válcové deformaci také změně tvaru vyšetřované plochy předmětu 7.
Jestliže se však nějaký povrchový bod předmětu 7 nepravidelně posune, s výjimkou případu, kdy toto posunutí nastane u• vnitř povrchu předmětu 7, dojde ke změně optické dráhy od virtuálního světelného zdroje 14 přes tento bod předmětu 7 к pozorovacímu bodu 15 a tato změna se liší od pravidelné změny optické dráhy. Dochází pak к interferenci mezi hologramem nezměněného stavu a mezi hologramem změněného stavu a tato interference se vyjádří příslušnými interferenčními čarami, přičemž jen tyto čáry se objeví v interferenčním obrazci. Jsou tedy v hologramu viditelné také
Claims (2)
- PŘEDMĚT nepravidelné změny předmětu 7 bez pravidelných interferenčních čar, které se jinak objeví při vynechání kuželového zrcadla 20 a které by rušily interferenční čáry ukazující částečnou nepravidelnou změnu předmětu 7. Je tedy bez obtíží možné rozeznat nepravidelnou změnou polohy bodů nebo skupin bodů, v povrchu předmětu 7 a rovněž je změřit.Normální deformace předmětu 7, tj. deformace, které rovnoměrně zasahují celý jeho povrch, jak tomu například je při tepelném roztažení předmětu 7 nebo při změně jeho objemu v důsledku změn tlakových poměrů v jeho okolí, nevedou к porušení záznamu zvláštní změny polohy jednotlivých bodů nebo malých oblastí v povrchu předmětu 7 na interferenčním obrazci, jelikož celková změna tvaru vyvolává takovou polohu všech povrchových bodů, pro kterou je změna optické dráhy od světelného zdroje 14 přes bod povrchu к pozorovacímu bodu 15 buď stejná, nebo téměř stejná, takže buď nevznikají žádné, nebo vznikají jen nečetné interferenční čáry.Předmětem 7 může být například válec z kovové slitiny, který má být zkoušen na skryté vady lití. Jeho hologram se nejdříve zachytí ve studeném stavu při osvětlení fotosensitivní vrstvy 8 předmětným paprskem a a referenčním paprskem b. Potom se předmět 7 zahřeje vedením nebo vyzářením tepla. Interferenční obrazec potom sejmutého hologramu ve fotosensitivní vrstvě 8 ve spojení s hologramem sejmutým ve výchozím stavu předmětu 7 neukáže při nepřítomnosti vad žádné interferenční čáry nebo jich ukáže pouze nepatrný počet. Naproti tomu závady vzniklé odléváním se co do polohy i rozsahu zřetelně projeví ve zvýšeném počtu interferenčních čar.Změna tvaru může být dále vyvolána změnou mechanického zatížení předmětu 7 nebo jeho rozkmitáním nebo tečením materiálu předmětu 7.VYNÁLEZU1. Holografické zařízení pro zjištění nepravidelných deformací zkoušením materiálů bez porušení, vyznačující se tím, že obsahuje rotační těleso (20), obklopující zkoumaný předmět (7) anebo tímto předmětem obklopené, s pozrcadleným povrchem odpovídajícím zkoumanému předmětu (7) pro odraz světelných paprsků (a, a‘, ai, аг, аз, ad), dopadajících z virtuálního světelného zdroje (14) na předmět (7), od něhož odražené se protínají v pozorovacím bodě (15), přičemž virtuální body (19‘, 2Г, 22') odrazu těchto paprsků leží na elipsoidu (18, 23), jehož ohniska splývají s virtuálním světelným zdrojem (14) a s pozorovacím bodem (15), umístěnými tak, že předmět (7) je umístěn na středové kolmici (16) na spojovací čáru (17) mezi světelným zdrojem (14) a pozorovacím bodem (15).
- 2. Holografické zařízení podle bodu 1, vyznačující se tím, že rotační těleso (20) je kuželovité.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2312435A DE2312435C3 (de) | 1973-03-13 | 1973-03-13 | Holographische Anordnung zur Ermittlung unregelmäßiger Verformungen durch zerstörungsfreie Werkstoffprüfung |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS198139B2 true CS198139B2 (en) | 1980-05-30 |
Family
ID=5874636
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS741782A CS198139B2 (en) | 1973-03-13 | 1974-03-12 | Holographic device |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US3976380A (cs) |
| JP (1) | JPS597924B2 (cs) |
| AT (1) | AT350817B (cs) |
| CS (1) | CS198139B2 (cs) |
| DD (1) | DD111608A1 (cs) |
| DE (1) | DE2312435C3 (cs) |
| FR (1) | FR2221745B1 (cs) |
| GB (1) | GB1469271A (cs) |
| SU (1) | SU575475A1 (cs) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2721215C3 (de) * | 1977-05-11 | 1981-02-05 | Opto-Produkte Ag, Zuerich (Schweiz) | Reifenprüfgerät zur zerstörungsfreien holographischen Werkstoffprüfung von Fahr- und Flugzeugreifen auf Fehlstellen |
| US4171914A (en) * | 1978-01-27 | 1979-10-23 | Laser Technology, Inc. | Hologram apparatus for testing welds |
| US4234256A (en) * | 1978-04-03 | 1980-11-18 | The Goodyear Tire & Rubber Company | Determining depth location of separations within a tire |
| US4225237A (en) * | 1978-05-11 | 1980-09-30 | Opto Produkte Ag | Tire checking apparatus |
| DE2822204A1 (de) * | 1978-05-22 | 1979-11-29 | Opto Produkte Ag | Reifenpruefgeraet |
| FR2672684B1 (fr) * | 1991-02-13 | 1994-02-04 | Aerospatiale Ste Nationale Indle | Procede et dispositif de controle non destructif par interferometrie holographique d'enceintes en materiau composite bobine sur liner metallique. |
| KR100297518B1 (ko) * | 1993-01-19 | 2001-11-22 | 빅토르에브게노비치파닌 | 부하가걸린물체의기계적거동의비파괴검사방법,그판정방법및그장치 |
| US7872746B2 (en) * | 2006-12-22 | 2011-01-18 | Alcon, Inc. | Single light source uniform parallel light curtain |
| US8760637B2 (en) | 2010-08-30 | 2014-06-24 | Alcon Research, Ltd. | Optical sensing system including electronically switched optical magnification |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3582176A (en) * | 1968-12-26 | 1971-06-01 | Ibm | Holographic optical method and system for photoprinting three-dimensional patterns on three-dimensional objects |
| US3644047A (en) * | 1969-05-08 | 1972-02-22 | Gc Optronics Inc | Apparatus and method of simultaneously inspecting a plurality of surfaces of a body by holographic interferometry |
-
1973
- 1973-03-13 DE DE2312435A patent/DE2312435C3/de not_active Expired
-
1974
- 1974-02-18 AT AT129674A patent/AT350817B/de not_active IP Right Cessation
- 1974-03-04 FR FR7407292A patent/FR2221745B1/fr not_active Expired
- 1974-03-11 US US05/450,106 patent/US3976380A/en not_active Expired - Lifetime
- 1974-03-11 SU SU7402008640A patent/SU575475A1/ru active
- 1974-03-11 DD DD177102A patent/DD111608A1/xx unknown
- 1974-03-12 GB GB1088974A patent/GB1469271A/en not_active Expired
- 1974-03-12 CS CS741782A patent/CS198139B2/cs unknown
- 1974-03-13 JP JP49028167A patent/JPS597924B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| AT350817B (de) | 1979-06-25 |
| US3976380A (en) | 1976-08-24 |
| DD111608A1 (cs) | 1975-02-20 |
| FR2221745B1 (cs) | 1978-01-06 |
| SU575475A1 (ru) | 1977-10-05 |
| JPS5041590A (cs) | 1975-04-16 |
| GB1469271A (en) | 1977-04-06 |
| ATA129674A (de) | 1978-11-15 |
| FR2221745A1 (cs) | 1974-10-11 |
| DE2312435C3 (de) | 1978-06-08 |
| DE2312435B2 (de) | 1977-10-13 |
| DE2312435A1 (de) | 1974-09-19 |
| JPS597924B2 (ja) | 1984-02-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ES2447545T3 (es) | Sistema y método de deflectometría de transformada de Fourier | |
| US3644047A (en) | Apparatus and method of simultaneously inspecting a plurality of surfaces of a body by holographic interferometry | |
| CN102645181B (zh) | 确定光学测试表面的形状的方法和设备 | |
| JPS647322B2 (cs) | ||
| JP2008513751A (ja) | 測定対象物の複数の面を測定するための光学式測定装置 | |
| CS198139B2 (en) | Holographic device | |
| US3592548A (en) | Holographic method of dimensional inspection | |
| Nomura et al. | Shape measurements of mirror surfaces with a lateral-shearing interferometer during machine running | |
| CN109716056A (zh) | 干涉确定光学表面的形状的测量装置 | |
| Neumann et al. | Off-table holography: A technique that permits the practice of holography in a vibration environment | |
| US6606160B1 (en) | Nondestructive testing of diffusely reflective objects | |
| US3823604A (en) | Method of and apparatus for detecting surface form irregularities | |
| RU2559797C1 (ru) | Способ дилатометрии | |
| Osten et al. | Remote shape control by comparative digital holography | |
| JP3540004B2 (ja) | 斜入射干渉計 | |
| JP2025506571A (ja) | 平行面を有する基板の表面品質を分析するためのシステムおよび方法 | |
| US3671130A (en) | Interferometer of the center balance type | |
| Greco et al. | Micro-temperature effects on absolute flatness test plates | |
| JP7350296B2 (ja) | スペクトル制御干渉法に基づく光学アライメント | |
| Subramanian et al. | On a curvature based non-destructive moiré technique for detecting defects in plates | |
| Ismailov et al. | Holographic Study of Surface Relief Using a Shear Interferometer | |
| Simon et al. | The Mach-Zehnderinterferometer: examination of a volume by non-classicallocalization plane shifting | |
| JP3635543B2 (ja) | シリンダ干渉計 | |
| Page | Interferometry | |
| Munoz-Lopeza et al. | Asian Journal of Physics |