CN2888534Y - 一种键盘测试仪 - Google Patents
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Abstract
一种键盘测试仪，该键盘测试仪包括单片机控制模块、分别与所述单片机控制模块连接的电源稳压滤波模块及通道选通模块；所述电源稳压滤波模块用于给单片机控制模块提供工作电源并滤除外界电源的杂波，所述通道选通模块与待测键盘相连接；单片机控制模块控制通道选通模块上不同的通道选通，实现对待测键盘上不同按键的测试。该键盘测试仪是通过利用单片机及其外围电路模拟人工按动电脑键盘的动作，单片机根据PS/2通讯协议读取由待测键盘反馈的信号，通过对比键盘按键信号与该反馈信号实现键盘测试的目的，所有的工作均由单片机及其外围电路模拟实现，无须人工操作，测试速度较快、测试效率较高。
Description
技术领域
本实用新型涉及仪器仪表测试领域，尤其是关于一种测试电脑键盘的键盘测试仪。
背景技术
现有的键盘测试仪是通过按动待测键盘的每个按键来完成对键盘的测试，该测试方法的测试原理是：用待测键盘IC取代已经与PC机连接好的键盘的电路板，然后通过测试员逐一按动该待测键盘IC上的按键进行键盘测试，PC机用于显示键盘按键的测试结果，该种方式的缺点是：由于现有的测试方式是通过人工手动操作完成键盘的按键测试，其测试速度较慢，测试效率较低。同时，长时间反复按动键盘也使得测试员比较疲劳，容易出现测试误差。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种测试速度较快，测试效率较高且误差较小的键盘测试仪。
为解决上述问题，本实用新型所采用的技术方案是：一种键盘测试仪，该键盘测试仪包括单片机控制模块、分别与所述单片机控制模块连接的电源稳压滤波模块及通道选通模块；所述电源稳压滤波模块用于给单片机控制模块提供工作电源并滤除外界电源的杂波，所述通道选通模块与待测键盘相连接；单片机控制模块控制通道选通模块上不同的通道选通，实现对待测键盘上不同按键的测试。
与现有技术相比，本实用新型的优势在于：本实用新型所述键盘测试仪是通过利用单片机及其外围电路模拟人工按动电脑键盘的动作，单片机根据PS/2通讯协议读取由待测键盘反馈的信号，通过对比键盘按键信号与该反馈信号实现键盘测试的目的，所有的工作均由单片机及其外围电路模拟实现，无须人工操作，测试速度较快、测试效率较高，同时整个测试过程都是单片机进行的，其测试精度相对于现有的人工手动测试方式来说也较高。
附图说明
图1是本实用新型键盘测试仪各模块连接工作原理图；
图2是本实用新型键盘测试仪电路原理图；
图3是本实用新型键盘测试仪工作流程图；
图4是本实用新型键盘测试仪8位模拟开关芯片的逻辑关系示意图；
图5是本实用新型键盘测试仪16位模拟开关芯片的逻辑关系示意图。
具体实施方式
下面结合说明书附图对本实用新型键盘测试仪工作原理具体说明。
现有的电脑键盘在设计上是将其作为矩阵式行列触发开关，当按下电脑键盘上的一个按键，该按键所对应的行与列即被选通，此时该行列选通信号通过键盘IC的编码按照PS/2通信协议传输到与键盘连接的电脑，电脑键盘的驱动程序再按照PS/2通讯协议进行解码，这样，电脑就知道用户按动的是键盘上的哪一个按键。本实用新型键盘测试仪正是基于这样的原理，利用单片机及其外围电路模拟人工按动键盘的动作，然后单片机再根据PS/2通讯协议读取键盘IC返回的信号，最后通过判断该按键信号与IC返回的信号是否对应即可判断出待测键盘是否正常。
如图1所示，本实用新型所述键盘测试仪包括电源稳压滤波模块、单片机控制模块及通道选通模块。本实用新型键盘测试仪工作电压为5V，由于外界所提供的5V电压杂波较大，因此上述电源稳压滤波模块在为键盘测试仪提供工作电压的同时还起到滤波的作用；该电源稳压滤波模块与单片机控制模块连通，所述单片机控制模块与通道选择模块连接，用于控制该通道选通模块的选通；在本说明书介绍的实施例中，所述单片机控制模块采用的是Mega8单片机芯片作为主控MCU。本实用新型所述键盘测试仪进一步包含一测试夹具模块及一LCD显示模块，所述测试夹具模块实现该键盘测试仪与待测键盘的连通，实现对待测键盘的测试；所述LCD显示模块用于实现所述键盘测试仪将其测试的结果显示在与其连通的电脑显示屏上。
图2是本实用新型键盘测试仪电路原理图，本实用新型键盘测试仪电路包括一单片机主控MCU、一片8位通道选通芯片及两片16位通道选通芯片。其中，在本说明书介绍的键盘测试仪实施方式中，所述单片机主控MCU是Mega8单片机芯片、8位通道选通芯片是CD4051、16位通道选通芯片是CD4067，如图1所示：Mega8单片机MCU通过控制上述3片通道选通的通断，模拟现有测试方法中测试员手动按键的过程，然后读取待测试键盘所返回的数据，通过将该返回数据与正确值进行对比对测试结果进行判断，达到键盘测试的目的。
图2中key0是复位开关，当键盘测试仪工作异常时，通过按动该复位开关key0进行测试仪复位；Mega8单片机芯片的引脚23、24与25连接上述8位通道选通芯片CD4051的引脚9、10及11，用于控制该8位通道选通芯片相应的通道选通；Mega8单片机芯片的引脚14连接测试状态灯D2，用于反映当前正在进行的测试状态；Mega8单片机芯片的引脚15、16、17和18与上述两片16位通道选通芯片CD4067的A、B、C、D端相连。控制该两片16位通道选通芯片相应的通道选通；Mega8单片机芯片的引脚9和19分别连接上述两片16位通道选通芯片的使能端INHIBIT，其中引脚9与JP4的INHIBIT相连，引脚19与JP3的INHIBIT相连，使能端INHIBIT选通的16位通道选通芯片CD4067工作；Mega8单片机芯片的引脚3是DATA数据输入端、引脚4是时钟CLOCK输入端，该两个端口用于对待测键盘进行触发控制；引脚13与key1轻触开关连接，用于启动键盘测试。
上述8位通道选通芯片CD4051的R0～R7引脚、两片16位通道选通芯片CD4067的C0～C17引脚与待测键盘对应按键连接；D3为测试仪电源指示灯、D1是测试状态指示灯、D2是测试结果指示灯。当key1轻触开关按下，D1和D2点亮，表示测试正在进行，测试完成后，如果待测键盘合格，则D1和D2同时熄灭，如果待测键盘不合格，则D1熄灭，D2保持点亮状态。
图3是本实用新型键盘测试仪工作流程图，图4是所述8位通道选通芯片CD4051的逻辑关系图，从图4中可以看到，CD4051具有3个通道控制端，当所述使能端INHIBIT为低电平时，CD4051的第6引脚inhibit端始终接地，A、B、C分别设置成不同电平(A、B、C即为图2所示的CD4051的引脚9、10、11)，上述R0～R7的8个通道中相应的通道选通；
图5是所述16位通道选通CD4067芯片的逻辑关系图，该16位通道选通芯片CD4067具有4个通道控制端，即图2所示的CD4067芯片的A、B、C、D控制端，当所述使能端INHIBIT为低电平(即为0)时，上述A、B、C、D分别设置不同电平，上述C0～C17的16个通道中相应的通道选通。
在本说明书介绍的键盘测试仪实施方式中，测试仪设计的一些参数如下：
测试仪工作电压：+5V；
测试仪待机电流：15mA；
测试仪最大工作电流：30mA；
测试仪整机功率＜0.2W；
测试仪测试周期：6s
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以作出若干改进，这些改进也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (5)
1.一种键盘测试仪，其特征在于：该键盘测试仪包括单片机控制模块、分别与所述单片机控制模块连接的电源稳压滤波模块及通道选通模块；所述电源稳压滤波模块用于给单片机控制模块提供工作电源并滤除外界电源的杂波，所述通道选通模块与待测键盘相连接；单片机控制模块控制通道选通模块上不同的通道选通，实现对待测键盘上不同按键的测试。
2.如权利要求1所述的键盘测试仪，其特征在于：所述键盘测试仪进一步包括一测试夹具模块及一LCD显示模块；该测试夹具模块与待测键盘的连接，实现所述键盘测试仪对待测键盘的测试；LCD显示模块用于实现所述键盘测试仪将其测试的结果显示在与其连通的电脑显示屏上。
3.如权利要求1所述的键盘测试仪，其特征在于：所述通道选通模块包括8位通道选通模块及16位通道选通模块。
4.如权利要求3所述的键盘测试仪，其特征在于：所述8位通道选通模块是CD4051芯片；所述16位通道选通模块是CD4067芯片。
5.如权利要求1至3任一项所述的键盘测试仪，其特征在于：所述单片机控制模块是Mega8芯片。
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| CN 200620013680 CN2888534Y (zh) | 2006-04-19 | 2006-04-19 | 一种键盘测试仪 |
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