CN2881550Y - 一种新型眼镜框轨迹检测仪 - Google Patents

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郭庆
陈尚松
陈淑文
胡锦泉
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Abstract

本实用新型公开了一种新型的眼镜框轨迹检测仪，其主要特征是：采用了容栅位移传感器技术，壳体内配置有“7”字型测试探头，将容栅位移传感器分别配置在“7”字型测试探头的竖边上和读轨座上，测试探头沿眼镜框轨迹移动，移动高度由附在测试探头竖边上的容栅位移传感器测出。径向位移由附在读轨座上的容栅位移传感器测出，采集到的坐标数据，经电脑计算，结果显示在液晶屏幕上。这种眼镜框轨迹检测仪，测量数据精度高，比进口的高一个数量级，而且结构简单，价格低廉。

Description

一种新型眼镜框轨迹检测仪
技术领域：
本实用新型涉及检测仪器，特别是一种采用容栅技术的眼镜框轨迹检测仪。
背景技术：
在眼镜的生产订单中列有许多技术参数，生产厂家必须按技术参数生产并对产品进行检测。其中要用到一台眼镜框轨迹检测仪，对眼镜框轨迹进行自动检测，通过测量与计算给出多项技术参数，目前常用的眼镜框轨迹检测仪来自美国，其技术特点是采用光电度盘位移传感器。光电度盘位移传感器是将位移带动一齿条，齿条带动一齿盘，齿盘上的一圈小孔，可通过光电计数器测出齿盘转动角度，该角度大小与齿条位移成正比，从而测得位移值。这种光电度盘位移传感器工艺结构复杂，传动误差大，位移测量精度只能做到0.1mm，而且价格昂贵。我国是眼镜生产大国，世界上百分之八十的眼镜出自中国。研制知识产权属于中国、性价比更好的眼镜框轨迹检测仪，十分迫切。
实用新型内容：
本实用新型的目的是要公开一种价格低廉、结构简单、测量精度高的采用容栅技术的眼镜框轨迹检测仪。
本新型包括壳体、配置在壳体内的工控计算机和传动控制装置，其特征是：在壳体的外壳上设置有与工控计算机连接的液晶显示屏、读轨座和控制键盘，在壳体内设置有测试探头，在测试探头的竖边上设置有容栅位移传感器，另在读轨座上也配装有容栅位移传感器。
所述的测试探头为“7”字型测试探头，竖边为可三向移动的转轴，横边为轨迹探头。
所述的容栅位移传感器由电子模块和容栅尺组成，其特征是电子模块为发射接收极作定尺，容栅尺为反射极作动尺。
检测时，将被检测眼镜框固定在读轨座上，“7”字型测试探头的横边沿眼镜内槽走一圈，由于“7”字型测试探头的竖边为可三向移动的转轴，可以上下左右自由移动，移动的高度H可以由附在“7”字型测试探头竖边上的容栅位移传感器测出。“7”字型测试探头还随读轨座由步进电机按一定的步距角(例如0.9°)旋转一周0°～360°，在旋转的过程中测试探头7字型横边轨迹探头，随眼镜框内槽轨迹变化在读轨座上作径向位移，其径向位移R大小可以由附在读轨座上的容栅位移传感器测出。这样测试探头沿眼镜框内槽走一圈，即可采集到镜框内槽轨迹坐标数据，经电脑计算，得到所求结果，并显示在仪器顶部的液晶屏幕上。
本实用新型的关键技术是采用容栅位移传感器取代了现有技术的光电度盘位移传感器，容栅位移传感器的电子模块为发射接收极、容栅尺为反射极，从电子模块上的发射电极发射不同的电信号，经容栅反射后，被电子模块上的接收电极接收到，并将收到的电信号经集成电路进行数据处理。由于容栅尺处在电子模块的不同位置，所接收的信号不相同，这样经数据处理后就能计算出容栅尺所处的位置，即得到位移数据。该位移数据经接口电路转换后可送到计算机进行读数和计算，从而可以得到要测量的位移参数，位移测量精度能做到0.01mm，因此，这种新型检测仪，结构简单，测量精度高，比现有技术提高一个数量级，而且价格低廉。
附图说明：
图1是本新型外壳体上的配置的结构示意图；
图2是本新型容栅位移传感器组成示意图；
图3是本新型测量部分安装示意图。
具体实施方式：
在壳体(1)外壳上设置液晶显示屏(4)、读轨座(3)、控制键盘(2)，在壳体(1)内部配置“7”字型测试探头(6)及工控计算机，驱动和传动装置，在“7”字型测试探头(6)的竖边和读轨座上分别设置容栅位移传感器(5)，电子模块(5-1)为定尺，容栅尺(5-2)为动尺，容栅位移传感器(5)通过接口电路和计算机连接，液晶显示屏(4)与工控计算机连接，“7”字型测试探头(6)的横边与镜框(7)内槽活动接触。

Claims (3)

1.一种新型眼镜框轨迹检测仪，包括壳体(1)、配置在壳体(1)内的工控计算机和传动控制装置，其特征是：在壳体(1)的外壳上设置有与工控计算机连接的液晶显示屏(4)、读轨座(3)、控制键盘(2)，在壳体(1)内设置有测试探头(6)，测试探头(6)的竖边上设置有容栅位移传感器(5)，在读轨座(3)上也配装有容栅位移传感器(5)。
2.根据权利要求1所述的一种新型眼镜框轨迹检测仪，其特征是：测试探头(6)为“7”字型，其竖边为可三向移动的转轴，横边为轨迹探头。
3.根据权利要求1所述的一种眼镜框轨迹检测仪，其特征是：容栅位移传感器(5)包括电子模块(5-1)和容栅尺(5-2)，电子模块(5-1)为发射接收极，为定尺，容栅尺(5-2)为反射极，为动尺。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN102466461A (zh) * 2010-11-08 2012-05-23 上海雄博精密仪器股份有限公司 一种眼镜架扫描机
CN102869951A (zh) * 2010-03-04 2013-01-09 施耐德两合公司 用于测量眼镜架的测量装置

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