CN2867340Y - 分光光度计棱镜消杂散光装置 - Google Patents

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武进田
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Abstract

本实用新型公开了一种分光光度计棱镜消杂散光装置，其结构包括：将分光光度计单色器的光输出或/和输入处的通光孔置于棱镜反光镜系统的光学物面上，棱镜反光镜系统中的棱镜位于单色器外的所述通光孔的光路上，位于棱镜后方设有一个与入射光呈一定夹角的反光镜，该反光镜的反射光经过棱镜后，其光路上的光谱会聚点处，设有一个通过某种光谱的光阑狭缝，在光阑狭缝之后的光路上设有第二反光镜，第二反光镜的反射光路上设有样品或光源。本实用新型具有对进入或输出单色器的光进行分解提纯，减低杂散光的效果和优点。

Description

分光光度计棱镜消杂散光装置
技术领域
本实用新型涉及一种光谱测试仪器，特别涉及一种对混合光分解为单色光的分光光度计。
背景技术
分光光度计是一种将混合光分解为单色光，并对样品进行光谱测试的仪器。所述单色器输出的单色光光谱纯度是仪器一项重要指标。在实际的仪器使用中，单色器输出的光中除了选用的单色光外，往往还会混有少量其他成分的光，这部分光就是杂散光，它影响测试结果的准确性。因此，尽量减低杂散光是分光光度计仪器技术追求的目标。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种分光光度计棱镜消杂散光装置，以减低传统的分光光度计输出的光中的杂散光的技术问题。
本实用新型所述分光光度计棱镜消杂散光装置，其结构包括：
置于棱镜反光镜系统的光学物面上的分光光度计单色器的光输出或/和输入的狭长条形通光孔，该通光孔称狭缝；
与分光光度计单色器的上述狭缝共同构成对从单色器输出或输入的光进行处理的棱镜反光镜系统，其中棱镜位于单色器外的所述狭缝的光路上，位于棱镜后方设有一个与入射光呈一定夹角的反光镜，该反光镜的反射光经过棱镜后进行会聚，在其光路上的光谱会聚点处，设有一个通过某种光谱的光阑狭缝，在光阑狭缝之后的光路上设有第二反光镜，样品或光源设在第二反光镜的反射光路上。
如上所述分光光度计棱镜消杂散光装置，其中棱镜和棱镜后方的反光镜或单独或共同被固定于一个可转动的轴上。
如上所述分光光度计棱镜消杂散光装置，其中棱镜后方的反光镜为凹面反光镜结构。
本实用新型具有对进入或输出单色器的光进行分解提纯，减低杂散光的效果和优点。
附图说明
图1是本实用新型的对从单色器输出的光进行分解提纯的光学原理图。
图2是本实用新型的对进入单色器的光进行分解提纯的光学原理图。
具体实施方式
本实用新型的具体结构和光学原理请参见图1至图2。在图1中，本装置是通过棱镜和反光镜系统对从单色器输出的光进一步分解提纯的。单色器2具备光的输出、输入端口7、1，称狭缝，该狭缝有选择地让某种波长的光通过。在单色器狭缝外的光路中增加了一个棱镜反射镜系统。其中的棱镜5在单色器狭缝外的光路上，位于棱镜5后端设置一反光镜6。通过所述棱镜5和反光镜6对从单色器输出的光进一步分解，并将各色光会聚于光阑狭缝4附近，在该光阑狭缝附近形成一个光谱带，光阑狭缝让其中有用的光通过而挡住其它的光，从而达到减低杂散光的作用。在图1中，光线经过棱镜5后被反光镜6以一定角度反射，再通过棱镜5向第二个反光镜3反射，在第二个反光镜3之前的光路上的光谱聚会处设有光阑狭缝4，该光阑狭缝4就是如上所述的挡往其它的光通过，仅让其中有用的光通过。第二反光镜3再将经过选择的有用光谱的光反射到样品8上。
图2反映的光学系统原理与图1相同，其光路是逆向的，由光源9经反光镜3、狭缝4、棱镜5、反光镜6、棱镜5后至单色器光输入狭缝1，此时，光输入狭缝1起光阑狭缝的作用，使有用的光通过而挡住其它的光。由于其原理与图1相同，在此就不重复描述。
为了改变经由单色器出狭缝照在棱镜系统上的光的入射角，让经棱镜分解得到的光谱带可在光阑狭缝处移动，从而对光谱进行选择，将棱镜和其后端的反光镜分别或共同设置在一个可绕轴转动的可调角度机构上。其中棱镜后方的反光镜可以是凹面反光镜结构。

Claims (3)

1、一种分光光度计棱镜消杂散光装置，其特征在于它包括：
置于棱镜反光镜系统的光学物面上的分光光度计单色器的光输出或/和输入的狭长条形通光孔，该通光孔称狭缝；
与分光光度计单色器的上述狭缝共同构成对从单色器输出或输入的光进行处理的棱镜反光镜系统，其中棱镜位于单色器外的所述狭缝的光路上，位于棱镜后方设有一个与入射光呈一定夹角的反光镜，该反光镜的反射光经过棱镜后进行会聚，在其光路上的光谱会聚点处，设有一个通过某种光谱的光阑狭缝，在光阑狭缝之后的光路上设有第二反光镜，样品或光源设在第二反光镜的反射光路上。
2、如权利要求1所述的一种分光光度计棱镜消杂散光装置，其特征在于：其中棱镜和棱镜后方的反光镜或单独或共同被固定于一个可转动的轴上。
3、如权利要求1所述的一种分光光度计棱镜消杂散光装置，其特征在于：其中棱镜后方的反光镜为凹面反光镜结构。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7626697B2 (en) 2006-09-15 2009-12-01 Shenzhen Mindray Bio-Medical Electronics Co., Ltd. Grating photometer
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Effective date of registration: 20090508

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Owner name: BEIJING RUILI ANALYTICAL INSTRUMENT CO.,LTD.

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CP03 Change of name, title or address

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Patentee before: Beijing Ruili Analytical Instrument Corp.

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