CN221378069U - 一种用于芯片测试用的悬臂探针卡 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，涉及探针卡技术领域，包括电路板，所述电路板的顶端通过螺栓连接有安装板，所述电路板的左右两侧固定连接有装配座，且装配座的内侧通过转轴连接有探针，且探针呈相互对称设置，所述探针的顶部设有导线，且导线的另一端与电路板的内壁固定连接，所述装配座的内部活动连接有调节机构，且调节机构位于探针的上侧，所述安装板的内部活动连接有导向环，本实用新型通过设置的定位机构，通过转动调节杆带动推动板进行前后移动，通过对推动板的水平位置进行调整，使探针进行轻微转动，从而对探针的角度进行调整，使探针能更好的与芯片接触，从而保证探针与芯片检测的结果。

Description

一种用于芯片测试用的悬臂探针卡

技术领域

本实用新型涉及探针卡技术领域，具体是一种用于芯片测试用的悬臂探针卡。

背景技术

探针卡是一种测试接口，主要对裸芯进行测试，通过连接测试机和芯片，通过传输信号对芯片参数进行测试，探针卡是在检测设备与集成电路芯片之间的一种连接介子，半导体测试行业所用的探针卡的基本结构是将探针的一端通过比如焊接的方式，固定在电路板(PCB)上，通过使用探针主体触碰芯片引出信号，达到检测的作用。

现有的悬臂探针卡在使用时，无法对探针进行调节，当测试芯片的尺寸不同时，无法很好的使探针与芯片进行接触，导致无法对芯片进行检测，使用较为不便，为此，我们提供了一种用于芯片测试用的悬臂探针卡解决以上问题。

实用新型内容

解决的技术问题

本实用新型的目的就是为了弥补现有技术的不足，提供了一种用于芯片测试用的悬臂探针卡。

技术方案

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，包括电路板，所述电路板的顶端通过螺栓连接有安装板，所述电路板的左右两侧固定连接有装配座，且装配座的内侧通过转轴连接有探针，且探针呈相互对称设置，所述探针的顶部设有导线，且导线的另一端与电路板的内壁固定连接，所述装配座的内部活动连接有调节机构，且调节机构位于探针的上侧，所述安装板的内部活动连接有导向环，且导向环的底端固定连接有定位机构。

上述的，所述调节机构包括推动板、连接板、连杆一、连杆二和调节杆，所述连杆一和连杆二分别活动连接于连接板的两端，所述连接板位于推动板的两侧，所述连接板的顶端通过连杆一与推动板活动连接，且连杆一位于推动板的前端，所述调节杆的后端活动连接于推动板的内部。

上述的，所述装配座的内部开设有调节槽，所述推动板的前端穿过调节槽并活动连接于调节槽的内部，所述调节杆位于推动板的底部，且调节杆的前端穿过装配座的内壁并与装配座通过螺纹活动连接。

上述的，所述推动板位于探针的正上方，所述连接板的底端通过连杆二活动连接于探针的内部，且连杆二位于探针的上侧。

上述的，所述定位机构包括支撑块、连接弹簧、卡块和定位垫板，所述定位垫板活动连接于支撑块的底部，所述支撑块的两端内壁开设有容纳槽，所述连接弹簧位于容纳槽的内壁，且连接弹簧的一端固定连接于容纳槽的内壁，所述卡块固定连接于连接弹簧的另一端，且定位垫板的两端活动连接于卡块的外部。

上述的，所述支撑块的顶端固定连接于导向环的底端，且支撑块位于导向环的两侧，所述支撑块和定位垫板之间设置有定位槽，且探针的分别活动连接于定位槽的内部，所述定位垫板的两端内壁开设有卡槽，所述卡块与卡槽相适配，且卡块分别位于卡槽的内部。

上述的，所述导向环的顶端固定连接有限位弹簧，所述限位弹簧的顶端固定连接有压力感应装置，且压力感应装置固定连接于安装板的内壁。

有益效果：

与现有技术相比，该一种用于芯片测试用的悬臂探针卡具备如下有益效果：

一、本实用新型通过设置的定位机构，通过转动调节杆带动推动板进行前后移动，通过对推动板的水平位置进行调整，使探针进行轻微转动，从而对探针的角度进行调整，使探针能更好的与芯片接触，从而保证探针与芯片检测的结果。

二、本实用新型通过设置的定位机构，通过支撑块两端设置的卡块，使连接弹簧向外推动卡块，使卡块分别插入定位垫板两端的卡槽内，从而将探针固定在支撑块与定位垫板之间的定位槽内，并通过限位弹簧推动向下推动导向环，方便调整探针与芯片之间的高度，使探针与芯片接触更贴合，保证探针的检测结果。

本实用新型的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或者可以从本实用新型的实践中得到教导。

附图说明

图1为本实用新型的立体结构示意图；

图2为本实用新型的俯视结构示意图；

图3为本实用新型的局部剖面立体结构示意图；

图4为本实用新型的图2中A处放大结构示意图；

图5为本实用新型的局部立体结构示意图。

图中：1、电路板；2、安装板；3、装配座；4、探针；5、导线；6、调节机构；601、推动板；602、连接板；603、连杆一；604、连杆二；605、调节杆；7、导向环；8、定位机构；801、支撑块；802、连接弹簧；803、卡块；804、定位垫板；9、调节槽；10、容纳槽；11、定位槽；12、卡槽；13、限位弹簧；14、压力感应装置。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图1-5所示，本实用新型提供一种技术方案：一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，包括电路板1，电路板1的顶端通过螺栓连接有安装板2，电路板1的左右两侧固定连接有装配座3，且装配座3的内侧通过转轴连接有探针4，且探针4呈相互对称设置，探针4的顶部设有导线5，且导线5的另一端与电路板1的内壁固定连接，装配座3的内部活动连接有调节机构6，且调节机构6位于探针4的上侧，安装板2的内部活动连接有导向环7，且导向环7的底端固定连接有定位机构8。

通过转动调节杆605带动推动板601进行前后移动，通过对推动板601的水平位置进行调整，使探针4进行轻微转动，从而对探针4的角度进行调整，使探针4能更好的与芯片接触，并通过支撑块801两端设置的卡块803，使连接弹簧802向外推动卡块803，使卡块803分别插入定位垫板804两端的卡槽12内，从而将探针4固定在支撑块801与定位垫板804之间的定位槽11内，并通过限位弹簧13推动向下推动导向环7，方便调整探针4与芯片之间的高度，使探针4与芯片接触更贴合，保证探针4的检测结果。

如图1和图3所示，调节机构6包括推动板601、连接板602、连杆一603、连杆二604和调节杆605，连杆一603和连杆二604分别活动连接于连接板602的两端，连接板602位于推动板601的两侧，连接板602的顶端通过连杆一603与推动板601活动连接，且连杆一603位于推动板601的前端，调节杆605的后端活动连接于推动板601的内部，装配座3的内部开设有调节槽9，推动板601的前端穿过调节槽9并活动连接于调节槽9的内部，调节杆605位于推动板601的底部，且调节杆605的前端穿过装配座3的内壁并与装配座3通过螺纹活动连接，推动板601位于探针4的正上方，连接板602的底端通过连杆二604活动连接于探针4的内部，且连杆二604位于探针4的上侧。

通过转动调节杆605带动推动板601进行前后移动，通过对推动板601的水平位置进行调整，使探针4进行轻微转动，从而对探针4的角度进行调整，使探针4能更好的与芯片接触，从而保证探针4与芯片检测的结果。

如图1、图4和图5所示，定位机构8包括支撑块801、连接弹簧802、卡块803和定位垫板804，定位垫板804活动连接于支撑块801的底部，支撑块801的两端内壁开设有容纳槽10，连接弹簧802位于容纳槽10的内壁，且连接弹簧802的一端固定连接于容纳槽10的内壁，卡块803固定连接于连接弹簧802的另一端，且定位垫板804的两端活动连接于卡块803的外部，支撑块801的顶端固定连接于导向环7的底端，且支撑块801位于导向环7的两侧，支撑块801和定位垫板804之间设置有定位槽11，且探针4的分别活动连接于定位槽11的内部，定位垫板804的两端内壁开设有卡槽12，卡块803与卡槽12相适配，且卡块803分别位于卡槽12的内部，导向环7的顶端固定连接有限位弹簧13，限位弹簧13的顶端固定连接有压力感应装置14，且压力感应装置14固定连接于安装板2的内壁。

通过支撑块801两端设置的卡块803，使连接弹簧802向外推动卡块803，使卡块803分别插入定位垫板804两端的卡槽12内，从而将探针4固定在支撑块801与定位垫板804之间的定位槽11内，并通过限位弹簧13推动向下推动导向环7，方便调整探针4与芯片之间的高度，使探针4与芯片接触更贴合，保证探针4的检测结果。

工作原理：使用时，通过转动调节杆605带动推动板601进行前后移动，通过对推动板601的水平位置进行调整，使探针4进行轻微转动，从而对探针4的角度进行调整，使探针4能更好的与芯片接触，并通过支撑块801两端设置的卡块803，使连接弹簧802向外推动卡块803，使卡块803分别插入定位垫板804两端的卡槽12内，从而将探针4固定在支撑块801与定位垫板804之间的定位槽11内，并通过限位弹簧13推动向下推动导向环7，方便调整探针4与芯片之间的高度，使探针4与芯片接触更贴合，保证探针4的检测结果。

需要说明的是，在本文中，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，此外，除非另有明确的规定和限定，术语“固设”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，“安装”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体的连接；“相连”可以是机械连接，也可以是电连接；“连接”可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，也可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，包括电路板(1)，其特征在于：所述电路板(1)的顶端通过螺栓连接有安装板(2)，所述电路板(1)的左右两侧固定连接有装配座(3)，且装配座(3)的内侧通过转轴连接有探针(4)，且探针(4)呈相互对称设置，所述探针(4)的顶部设有导线(5)，且导线(5)的另一端与电路板(1)的内壁固定连接，所述装配座(3)的内部活动连接有调节机构(6)，且调节机构(6)位于探针(4)的上侧，所述安装板(2)的内部活动连接有导向环(7)，且导向环(7)的底端固定连接有定位机构(8)。

2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，其特征在于：所述调节机构(6)包括推动板(601)、连接板(602)、连杆一(603)、连杆二(604)和调节杆(605)，所述连杆一(603)和连杆二(604)分别活动连接于连接板(602)的两端，所述连接板(602)位于推动板(601)的两侧，所述连接板(602)的顶端通过连杆一(603)与推动板(601)活动连接，且连杆一(603)位于推动板(601)的前端，所述调节杆(605)的后端活动连接于推动板(601)的内部。

3.根据权利要求2所述的一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，其特征在于：所述装配座(3)的内部开设有调节槽(9)，所述推动板(601)的前端穿过调节槽(9)并活动连接于调节槽(9)的内部，所述调节杆(605)位于推动板(601)的底部，且调节杆(605)的前端穿过装配座(3)的内壁并与装配座(3)通过螺纹活动连接。

4.根据权利要求2所述的一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，其特征在于：所述推动板(601)位于探针(4)的正上方，所述连接板(602)的底端通过连杆二(604)活动连接于探针(4)的内部，且连杆二(604)位于探针(4)的上侧。

5.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，其特征在于：所述定位机构(8)包括支撑块(801)、连接弹簧(802)、卡块(803)和定位垫板(804)，所述定位垫板(804)活动连接于支撑块(801)的底部，所述支撑块(801)的两端内壁开设有容纳槽(10)，所述连接弹簧(802)位于容纳槽(10)的内壁，且连接弹簧(802)的一端固定连接于容纳槽(10)的内壁，所述卡块(803)固定连接于连接弹簧(802)的另一端，且定位垫板(804)的两端活动连接于卡块(803)的外部。

6.根据权利要求5所述的一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，其特征在于：所述支撑块(801)的顶端固定连接于导向环(7)的底端，且支撑块(801)位于导向环(7)的两侧，所述支撑块(801)和定位垫板(804)之间设置有定位槽(11)，且探针(4)的分别活动连接于定位槽(11)的内部，所述定位垫板(804)的两端内壁开设有卡槽(12)，所述卡块(803)与卡槽(12)相适配，且卡块(803)分别位于卡槽(12)的内部。

7.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，其特征在于：所述导向环(7)的顶端固定连接有限位弹簧(13)，所述限位弹簧(13)的顶端固定连接有压力感应装置(14)，且压力感应装置(14)固定连接于安装板(2)的内壁。