CN221326700U - 一种soc芯片微电路测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种SOC芯片微电路测试装置，包括装夹组件、电路板、底座和测试组件，其中电路板设于所述装夹组件上，SOC芯片设于所述电路板上，所述装夹组件设于所述底座上，所述底座用于移动和支撑所述SOC芯片微电路测试装置，测试组件包括测试器和手摇部，所述手摇部包括手抓杆、转动部和顶杆，所述手抓杆与所述底座和所述转动部转动连接，所述转动部与所述顶杆转动连接，所述顶杆与所述测试器固定连接，上述提供的SOC芯片微电路测试装置通过设计了手摇部，用手摇的方式操作测试组件，使SOC芯片微电路测试装置的结构简化，使操作人员能方便的移动SOC芯片微电路测试装置。

Description

一种SOC芯片微电路测试装置

技术领域

本申请涉及测试技术领域，尤其涉及一种SOC芯片微电路测试装置。

背景技术

电子设备中的SOC(System-on-Chi p)芯片是现代科技产品的关键组成部分，它集成了多个功能模块，如处理器、内存和接口电路。在SOC芯片的制造和使用过程中，需要对其进行精确的微电路测试，以确保其功能和性能正常。

在微电路的测试中为了保证实验的准确性需要进行多次实验，在已有的一些SOC芯片微电路测试装置中往往通过电动的机械结构来完成反复实验的动作，这样可以节约操作人员的体力，但是这些机械结构因为增加了如电机一类的驱动结构，往往体积大且笨重，使得SOC芯片微电路测试装置往往只能固定在一个位置使用，这样降低了SOC芯片微电路测试装置的便携性，且复杂的机械结构维修困难。

为此有必要提出一种结构简便的SOC芯片微电路测试装置来解决已有的一些SOC芯片微电路测试装置结构笨重不利移动的问题。

实用新型内容

有鉴于此，有必要提供一种手动操作的SOC芯片微电路测试装置，以解决上述问题。

本申请的实施例提供一种SOC芯片微电路测试装置，包括：

装夹组件；

电路板，设于所述装夹组件上，SOC芯片设于所述电路板上，所述电路板用于对SOC芯片进行测试；

底座，所述装夹组件设于所述底座上，所述底座用于移动和支撑所述SOC芯片微电路测试装置；

测试组件，包括测试器和手摇部，所述手摇部包括手抓杆、转动部和顶杆，所述手抓杆上具有第一转动点与第二转动点，所述第一转动点位于所述手抓杆一端，所述第一转动点与所述底座转动连接，所述第二转动点位于所述手抓杆两端之间，所述第二转动点与所述转动部一端转动连接，所述转动部远离所述手抓杆的一端具有第三转动点，所述第三转动点与所述顶杆一端转动连接，所述顶杆与所述测试器固定连接。

在本申请的至少一个实施例中，所述底座上设有一个导向环，所述顶杆贯穿所述导向环，所述顶杆能够沿所述导向环的轴线方向运动。

在本申请的至少一个实施例中，所述装夹组件具有放置位，所述放置位用于放置所述电路板；

所述导向环的轴线与所述放置位垂直设置。

在本申请的至少一个实施例中，所述底座上设有导向杆，所述测试组件与所述导向杆滑动连接，所述测试组件能够沿所述导向杆的长度方向移动；

其中所述导向杆的长度方向与所述顶杆的长度方向平行。

在本申请的至少一个实施例中，所述装夹组件与所述底座之间设有弹簧，所述底座上设有导杆，所述装夹组件与所述导杆滑动连接。

在本申请的至少一个实施例中，所述底座上设有计数器，所述计数器用于监测脉冲数量。

在本申请的至少一个实施例中，所述底座两侧设有把手，所述把手与所述底座转动连接。

在本申请的至少一个实施例中，所述底座远离所述装夹组件的一侧设有防滑垫。

在本申请的至少一个实施例中，所述底座上设有指示灯。

在本申请的至少一个实施例中，所述底座上设有开关与电源接口。

上述提供的SOC芯片微电路测试装置通过设计了手摇部，用手摇的方式操作测试组件，使SOC芯片微电路测试装置的结构简化，且底座可以使操作人员更方便安全的移动SOC芯片微电路测试装置，从而解决了已有的一些SOC芯片微电路测试装置结构笨重不利移动的问题。

附图说明

图1为SOC芯片微电路测试装置的立体图；

图2为SOC芯片微电路测试装置的立体图；

图3,为SOC芯片微电路测试装置的爆炸图。

主要元件符号说明

100、SOC芯片微电路测试装置；1、装夹组件；11、放置位；12、弹簧；2、电路板；3、底座；31、把手；32、防滑垫；33、导向杆；34、导杆；35、导向环；36、指示灯；37、电源接口；38、开关；4、测试组件；41、测试器；42、手摇部；421、手抓杆；422、转动部；423、顶杆；424a、第一转动点；424b、第二转动点；424c、第三转动点；5、计数器。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例进行描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。

需要说明的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“顶”、“底”、“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、以及类似的表述只是为了说明的目的。

本申请的实施例提供一种SOC芯片微电路测试装置，包括：

装夹组件；

电路板，设于所述装夹组件上，SOC芯片设于所述电路板上，所述电路板用于对SOC芯片进行测试；

底座，所述装夹组件设于所述底座上，所述底座用于移动和支撑所述SOC芯片微电路测试装置；

测试组件，包括测试器和手摇部，所述手摇部包括手抓杆、转动部和顶杆，所述手抓杆上具有第一转动点与第二转动点，所述第一转动点位于所述手抓杆一端，所述第一转动点与所述底座转动连接，所述第二转动点位于所述手抓杆两端之间，所述第二转动点与所述转动部一端转动连接，所述转动部远离所述手抓杆的一端具有第三转动点，所述第三转动点与所述顶杆一端转动连接，所述顶杆与所述测试器固定连接。

上述提供的SOC芯片微电路测试装置通过设计了手摇部，用手摇的方式操作测试组件，使SOC芯片微电路测试装置的结构简化，且底座可以使操作人员更方便安全的移动SOC芯片微电路测试装置，从而解决了已有的一些SOC芯片微电路测试装置结构笨重不利移动的问题。

下面结合附图，对本申请的一些实施例作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

请参阅图1-图3，本申请的实施例提供一种SOC芯片微电路测试装置100，包括装夹组件1、电路板2、底座3和测试组件4，其中电路板2设于所述装夹组件1上，SOC芯片设于所述电路板2上，所述电路板2用于对SOC芯片进行测试，所述装夹组件1设于所述底座3上，所述底座3用于移动和支撑所述SOC芯片微电路测试装置100，测试组件4包括测试器41和手摇部42，所述手摇部42包括手抓杆421、转动部422和顶杆423，所述手抓杆421上具有第一转动点424a与第二转动点424b，所述第一转动点424a位于所述手抓杆421一端，所述第一转动点424a与所述底座3转动连接，所述第二转动点424b位于所述手抓杆421两端之间，所述第二转动点424b与所述转动部422一端转动连接，所述转动部422远离所述手抓杆421的一端具有第三转动点424c，所述第三转动点424c与所述顶杆423一端转动连接，所述顶杆423与所述测试器41固定连接。

具体地，装夹组件1提供一个固定和支撑SOC芯片的平台，确保SOC芯片稳固安装在测试装置上。保障SOC芯片在测试过程中的稳定性，避免因不稳定而导致的测试误差。电路板2放置SOC芯片，用于对SOC芯片进行测试。提供一个电气连接和测试接口，确保测试信号能够准确传递到SOC芯片。底座3用于移动和支撑SOC芯片微电路测试装置100。提供了设备的基础支撑结构，使得SOC芯片测试装置能够轻松移动到不同的测试场景。测试组件4中测试器41包括测试SOC芯片的功能组件。手摇部42通过手动操作，控制测试器41的动作。提供了用户友好的手动控制方式，使得SOC芯片测试更加灵活，适用于不同的测试需求。同时简化了测试装置的结构，更容易被携带移动。

在一具体实例中，所述底座3上设有一个导向环35，所述顶杆423贯穿所述导向环35，所述顶杆423能够沿所述导向环35的轴线方向运动。

具体地，导向环35提供了一个环形的导向结构，用于引导和限制顶杆423在轴线方向上的运动。确保顶杆423在测试过程中沿着预定的轴线方向移动，增加了测试的准确性和稳定性。顶杆423通过导向环35，穿过其中心轴线，使得顶杆423在轴线方向上能够自由运动。提供了一种可控制和可调整的机制，确保顶杆423能够在测试装置中以轴线方向运动，保障测试的准确性。

进一步地，当手动操作手摇部42时，转动部422将运动传递到顶杆423，由于顶杆423贯穿导向环35，它能够沿导向环35的轴线方向运动。用户通过手动操控能够精确控制顶杆423的轴线方向的运动，使得测试器41能够在需要的方向上对SOC芯片进行准确的测试。

在一具体实例中，所述装夹组件1具有放置位11，所述放置位11用于放置所述电路板2；

所述导向环35的轴线与所述放置位11垂直设置。

具体地，提供一个特定的区域，用于安放和定位所述电路板2，确保电路板2在测试装置中的准确定位。保障SOC芯片与测试器41之间的电连接准确、可靠，避免因电路板2位置不当而导致的测试误差。导向环35的轴线垂直于放置位11设置，用于引导和限制顶杆423在非轴线方向上的运动。防止顶杆423在测试过程中发生不必要的侧向运动，确保测试在轴线方向上的准确性和稳定性。

进一步地，用户将电路板2放置在装夹组件1的放置位11上。在测试过程中，当手动操作手摇部42时，转动部422将运动传递到顶杆423，而导向环35的设置确保顶杆423在轴线方向上运动，同时放置位11确保电路板2在测试装置中的正确位置，这样使得在测试过程中不会出现误差，通过限制顶杆423的移动和电路板2摆放的位置使得在操作过程中测试器41可以准确的接触电路板2上的某些区域。

在一具体实例中，所述底座3上设有导向杆33，所述测试组件4与所述导向杆33滑动连接，所述测试组件4能够沿所述导向杆33的长度方向移动；

其中所述导向杆33的长度方向与所述顶杆423的长度方向平行。

具体地，导向杆33提供了一个固定的引导结构，使得测试组件4在长度方向上能够沿导向杆33进行滑动。通过导向杆33的设置，确保测试组件4在测试过程中沿着特定轨迹移动，增强了测试的稳定性和准确性。导向杆33与顶杆423的长度方向平行的作用是增加测试组件4在移动时的稳定性，顶杆423与测试器41之间的连接可能会随着使用时间的增加而变的不牢固，使得测试器41可能会出现偏斜，影响测试，而导向杆33因为固定在底座3上，比顶杆423与测试器41的连接处更能受力，在顶杆423与测试器41之间的连接处不牢固时由导向杆33限制测试器41的移动，达到多重保障，从而增加测试设备的使用寿命

在一具体实例中，所述装夹组件1与所述底座3之间设有弹簧12，所述底座3上设有导杆34，所述装夹组件1与所述导杆34滑动连接。

具体地，弹簧12起到缓冲和减震的作用，通过提供弹性支撑，使得装夹组件1与底座3之间的连接具有柔性。在SOC芯片测试过程中，由于操作或测试引起的冲击或振动可以被弹簧12吸收，减小了对SOC芯片的不良影响，提高了测试的稳定性和可靠性。导杆34提供了一个固定的引导结构，用于引导和限制装夹组件1在底座3上的运动轨迹，确保移动的稳定性和精度。通过导杆34的引导，确保了装夹组件1在测试过程中沿着预定的轨迹进行移动，有助于对SOC芯片进行准确的测试。装夹组件1与导杆34的滑动连接提供了相对运动的可能性，使得装夹组件1可以在导杆34的引导下沿长度方向移动。

进一步地，当用户操作手持部使测试器41沿顶杆423长度方向运动时，最终测试器41会与电路板2接触，为了防止用户操作时用力太大，使测试器41损坏电路板2，所以在放置位11底部设置了弹簧12，弹簧12靠产生的弹力支撑电路板2，当测试器41接触到电路板2时会使弹簧12压缩，而导杆34的存在使电路板2的运动不会发生倾斜，而是沿着导杆34长度方向运动，弹簧12可以达到一个卸力的效果，从而保护电路板2。

在一具体实例中，所述底座3上设有计数器5，所述计数器5用于监测脉冲数量。

具体地，计数器5在SOC芯片测试装置中用于记录或监测产生的脉冲数量，脉冲通常表示测试过程中的某种特定事件或信号。通过监测脉冲数量，用户可以了解测试过程中的活动程度、频率或特定事件发生的次数，从而评估SOC芯片的性能或特性。

在一具体实例中，所述底座3两侧设有把手31，所述把手31与所述底座3转动连接。

具体地，把手31的存在使得操作人员在搬运SOC芯片微电路测试装置100的过程当中有一个可以抓握的抓手，使搬运的过程更加高效，而转动连接是为了把手31可以在不使用的时候转动到与底座3外侧平行的状态，可以节约空间，而需要移动测试装置时可以用过将把手31转动到适合抓握的角度再进行搬运，而把手31上也存在一个限制结构，使得把手31旋转到一定角度后会与限制结构抵接，从而限制移动，避免使操作人员的手夹在把手31和底座3之间，增加操作人员的负担。

在一具体实例中，所述底座3远离所述装夹组件1的一侧设有防滑垫32。

具体地，该特征的目的是增加SOC芯片微电路测试装置100的稳定性，防止在测试过程中发生意外滑动。防滑垫32的设置能够提供额外的摩擦力，使得底座3在测试过程中更牢固地固定在工作表面上，确保测试的准确性和可靠性。防滑垫32通常采用高摩擦材料，位于底座3远离装夹组件1的一侧。当底座3放置在工作表面上时，防滑垫32直接接触工作表面，提供额外的阻力，使得底座3更难以滑动或倾斜。

在一具体实例中，所述底座3上设有指示灯36。

具体地，该特征旨在提供实时的工作状态指示，为用户提供关于SOC芯片测试装置运行情况的信息。指示灯36的设置能够直观地反映装置的工作状态，例如是否处于开启、关闭、测试中或故障状态，为用户提供及时的反馈，有助于监控和维护。

进一步地，底座3上设有两个指示灯36，一个指示灯36为红色，用于显示SOC芯片微电路测试装置100是否通电，通电则红色指示灯36亮起，未通电则熄灭。另一个为绿色指示灯36，用于显示SOC芯片微电路测试装置100是否启动，启动了绿色指示灯36亮起，熄灭则未启动。

在一具体实例中，所述底座3上设有开关38与电源接口37。

具体地，该特征的目的在于提供对SOC芯片微电路测试装置100的电源控制和供电接口。通过这一设计，用户能够方便地启动或关闭装置，实现对电源的灵活控制，同时电源接口37的设置方便了电能供应。

以上所述的仅是本申请的实施方式，在此应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请创造构思的前提下，还可以做出改进，但这些均属于本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种SOC芯片微电路测试装置，其特征在于，包括：

装夹组件；

电路板，设于所述装夹组件上，SOC芯片设于所述电路板上，所述电路板用于对SOC芯片进行测试；

底座，所述装夹组件设于所述底座上，所述底座用于移动和支撑所述SOC芯片微电路测试装置；

测试组件，包括测试器和手摇部，所述手摇部包括手抓杆、转动部和顶杆，所述手抓杆上具有第一转动点与第二转动点，所述第一转动点位于所述手抓杆一端，所述第一转动点与所述底座转动连接，所述第二转动点位于所述手抓杆两端之间，所述第二转动点与所述转动部一端转动连接，所述转动部远离所述手抓杆的一端具有第三转动点，所述第三转动点与所述顶杆一端转动连接，所述顶杆与所述测试器固定连接。

2.根据权利要求1所述的SOC芯片微电路测试装置，其特征在于，所述底座上设有一个导向环，所述顶杆贯穿所述导向环，所述顶杆能够沿所述导向环的轴线方向运动。

3.根据权利要求2所述的SOC芯片微电路测试装置，其特征在于，所述装夹组件具有放置位，所述放置位用于放置所述电路板；

所述导向环的轴线与所述放置位垂直设置。

4.根据权利要求3所述的SOC芯片微电路测试装置，其特征在于，所述底座上设有导向杆，所述测试组件与所述导向杆滑动连接，所述测试组件能够沿所述导向杆的长度方向移动；

其中所述导向杆的长度方向与所述顶杆的长度方向平行。

5.根据权利要求1所述的SOC芯片微电路测试装置，其特征在于，所述装夹组件与所述底座之间设有弹簧，所述底座上设有导杆，所述装夹组件与所述导杆滑动连接。

6.根据权利要求1所述的SOC芯片微电路测试装置，其特征在于，所述底座上设有计数器，所述计数器用于监测脉冲数量。

7.根据权利要求1所述的SOC芯片微电路测试装置，其特征在于，所述底座两侧设有把手，所述把手与所述底座转动连接。

8.根据权利要求1所述的SOC芯片微电路测试装置，其特征在于，所述底座远离所述装夹组件的一侧设有防滑垫。

9.根据权利要求1所述的SOC芯片微电路测试装置，其特征在于，所述底座上设有指示灯。

10.根据权利要求1所述的SOC芯片微电路测试装置，其特征在于，所述底座上设有开关与电源接口。