CN221174759U - 一种探针限位机构及测试设备 - Google Patents
一种探针限位机构及测试设备 Download PDFInfo
- Publication number
- CN221174759U CN221174759U CN202323241804.4U CN202323241804U CN221174759U CN 221174759 U CN221174759 U CN 221174759U CN 202323241804 U CN202323241804 U CN 202323241804U CN 221174759 U CN221174759 U CN 221174759U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- probe
- bracket
- circuit board
- limiting plate
- mounting hole
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 145
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 27
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 2
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
本实用新型涉及测试设备技术领域,尤其涉及一种探针限位机构及测试设备,该探针限位机构包括:基板,开设有第一滑道;限位板,设置在基板上,用于固定连接电路板,开设有支架安装孔和多个螺栓安装孔,支架安装孔贯穿限位板,螺栓安装孔用于设置安装螺栓,安装螺栓的一端穿过螺栓安装孔并且进入到第一滑道内;夹具支架,通过支架安装孔与限位板固定连接;探针夹具,固定套设在夹具支架上,探针夹具的一端固定连接有探针,探针的一端用于与电路板的焊盘固定连接。通过本实用新型,可减少甚至避免电路板损坏的问题,提高了使用寿命,电路板与探针的电连接相对稳定,可获得相对准确的测量结果。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试设备技术领域,尤其涉及一种探针限位机构及测试设备。
背景技术
探针可用于测量待测物,例如探针可与电路板固定连接,并且通过探针与电路板的电连接来测量电流、电压、电阻等参数。可利用测量到的参数来计算回路损耗等。
在相关技术中,电路板固定连接有焊盘,探针的一端与焊盘固定连接,未对探针的另一端进行限位,即未对探针进行有效限位。由于未对探针进行有效限位,因此当探针受到外力时,将外力传递给焊盘,可导致焊盘从电路板脱落,造成电路板损坏。另外,当探针受到外力时,探针与电路板的电连接将受到影响,进而影响测量结果。
实用新型内容
(一)要解决的技术问题
鉴于现有技术的上述缺点、不足,本实用新型提供一种探针限位机构及测试设备,解决了由于未对探针进行有效限位,因此当探针受到外力时,可将外力传递给焊盘,从而导致电路板损坏的技术问题。
(二)技术方案
为了达到上述目的,本实用新型采用的主要技术方案包括:
第一方面,本实用新型实施例提供了一种探针限位机构,该探针限位机构包括:基板,开设有第一滑道;限位板,设置在基板上,用于固定连接电路板,开设有支架安装孔和多个螺栓安装孔,支架安装孔贯穿限位板,螺栓安装孔用于设置安装螺栓,安装螺栓的一端穿过螺栓安装孔并且进入到第一滑道内;夹具支架,通过支架安装孔与限位板固定连接;探针夹具,固定套设在夹具支架上,探针夹具的一端固定连接有探针,探针的一端用于与电路板的焊盘固定连接。
可选的,第一滑道为长条状,并且贯穿基板。
可选的,夹具支架上固定套设有两个或更多个探针夹具。
可选的,夹具支架为螺杆,螺杆通过支架安装孔贯穿限位板,螺杆上螺纹连接有第一螺母,第一螺母用于限制螺杆与限位板的相对位置。
可选的,限位板设置在两个第一螺母之间,两个第一螺母之间还设置有第一垫片,第一垫片套设在螺杆上。
可选的,探针夹具开设有第二滑道,第二滑道贯穿探针夹具,探针夹具通过第二滑道套设在夹具支架上。
可选的,探针夹具为长条状,第二滑道为长条状滑道。
可选的,夹具支架为螺杆,螺杆上螺纹连接有第二螺母,第二螺母用于限制螺杆与探针夹具的相对位置。
可选的,探针夹具设置在两个第二螺母之间,两个第二螺母之间还设置有第二垫片,第二垫片套设在螺杆上。
第二方面,本实用新型实施例提供一种测试设备,该测试设备包括:第一方面或其各实现方式中的探针限位机构。
(三)有益效果
本实用新型的有益效果是:
根据本实用新型的一种探针限位机构,可设置有探针夹具,探针夹具与探针固定连接,探针固定连接有电路板,探针夹具固定套设在夹具支架上;夹具支架与限位板固定连接,限位板固定连接该电路板。由此可见,电路板与探针的位置相对固定,探针分别固定连接有电路板和探针夹具,尤其是探针两端分别固定连接有电路板和探针夹具,解决了由于未对探针进行有效限位,因此当探针受到外力时,可将外力传递给焊盘,从而导致电路板损坏的技术问题。可减少甚至避免探针受的外力使焊盘从电路板脱落的问题,也可减少甚至避免电路板在外力作用下降低使用寿命。相应的,提高了使用寿命。由于电路板与探针的位置相对固定,因此可减少探针与电路板发生之间的抖动、相对移动、振动等,电路板与探针的电连接相对稳定,可获得相对准确的测量结果,减少了外力等因素对测量结果的影响,也可使回路损耗等计算的计算结果更加准确。
本实用新型所提供的测试设备设有上文所述的探针限位机构,由于上文所述的探针限位机构具有上述技术效果,则设有该探针限位机构的测试设备也应具有相应的技术效果。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例的探针限位机构的结构示意图;
图2为本申请实施例的探针限位机构的分解示意图;
图3为基于相关技术的回路损耗测试结果示意图;
图4为基于本申请实施例的回路损耗测试结果示意图。
附图标记:
1、基板;11、第一滑道;2、限位板;21、支架安装孔;22、螺栓安装孔;3、夹具支架;4、探针夹具;41、第二滑道;51、第一螺母;52、第一垫片;61、第二螺母;62、第二垫片;100、探针;200、焊盘。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
如上文所述,发明人在对测试设备、尤其是电路板测试设备的研究中发现,通常通过探针测量诸如电路板等的待测物;探针与电路板电连接,并且探针的一端与电路板相对固定,例如,探针具有两端,探针靠近电路板的一端可被焊接到电路板上固定设置的焊盘上,探针的远离电路板的一端为自由端,未对自由端进行限位,即未对探针进行有效限位;可通过探针来测量电路板的参数,例如电流、电压等。然而,当未对探针进行有效限位,尤其是未对探针远离电路板的一端进行限位,并且探针受到外力时,外力将被传递给焊盘,可导致焊盘从电路板脱落,也可导致电路板从固定位置脱离,造成电路板损坏。当探针受到外力时,探针与电路板的电连接将受到影响,进而影响测量结果,使测量结果不准确,例如测量到的参数产生较大波动。测量结果的不准确将导致回路损耗等计算结果不准确。
为了更好的解释本实用新型,以便于理解,下面结合附图,通过具体实施方式,对本实用新型作详细描述。本文所提及的“上”、“下”、“左”和“右”等方位名词以图1的定向为参照。将限位板2相对于基板1的位置定义为“上”。下面参照图1和图2来描述示例性实施例的探针限位机构及测试设备。
如图1和图2所示,本申请实施例提供一种探针限位机构,该探针限位机构包括:基板1,开设有第一滑道11;限位板2,设置在基板1上,用于与电路板固定连接,开设有支架安装孔21和多个螺栓安装孔22,支架安装孔21贯穿限位板2,螺栓安装孔22用于设置安装螺栓,安装螺栓的一端穿过螺栓安装孔22并且进入到第一滑道11内;夹具支架3,通过支架安装孔21与限位板2固定连接;探针夹具4,固定套设在夹具支架3上,探针夹具4的一端固定连接有探针100,探针100的一端用于与电路板的焊盘200固定连接。
需要说明的是,安装螺栓具有两端,安装螺栓的一端靠近螺栓安装孔22,并且穿过螺栓安装孔22,安装螺栓的另一端直径大于螺栓安装孔22的直径,并且远离螺栓安装孔22,按照安装螺栓的一端在下方并且安装螺栓的另一端在上方的位置关系分布。探针夹具4可平行于限位板2,也就是说,探针夹具4两端之间的连线平行于限位板2,探针夹具4远离夹具支架3的一端固定连接有探针100。探针100两端之间的连线可垂直于限位板2;探针100靠近限位板2的一端与焊盘200固定连接,探针100远离限位板2的另一端与探针夹具4固定连接。
需要说明的是,可设置并列的多个第一滑道11,安装螺栓可相对于第一滑道11滑动,以改变限位板2相对于基板1的位置;电路板可通过电路板安装螺栓与限位板2固定连接;支架安装孔21贯穿限位板2,螺栓安装孔22也贯穿限位板,支架安装孔21和螺栓安装孔22的贯穿方向为从下至上,即从限位板2的下表面贯穿至限位板2的上表面,当然贯穿方向也可为从上至下,即从限位板2的上表面贯穿至限位板2的下表面;夹具支架3可拆卸的与限位板2连接;探针夹具4可拆卸的与夹具支架3连接,探针100可通过焊接等方式与探针夹具4连接;探针100可用于测量电路板的电学指标,例如单端S参数、差分S参数、电压、电流、阻抗等,相应的参数可以是差分插入损耗、回路损耗等,还可测量斯密斯圆图、眼图等。
需要进一步说明的是,基板1上可设置与支架安装孔21对应的安装孔以便安装夹具支架3,电路板可以是矩形,矩形边长可在100毫米至1000毫米之间,螺栓安装孔22的间距可以是100毫米、150毫米、200毫米等;也可通过穿过电路板和螺栓安装孔22的电路板安装螺栓将电路板安装到限位板2上。
在示例性实施例中,探针100、探针夹具4、夹具支架3、限位板2以及电路板相对固定,因此可解决未对探针100进行有效限位,导致外力从探针100传递给焊盘200,造成电路板损坏的问题。可减少手动固定探针100的操作,减少甚至避免了手动操作用力不当的情况发生,提高了工作效率和安全性。可减少甚至避免探针100受到的外力传递给焊盘200和电路板,可减少焊盘200从电路板脱落的概率,提高了使用寿命。在测试电路板场景下,可使探针100相对稳定,创造了相对稳定的测试环境,减少了探针100与电路板的相对抖动、相对移动、振动等,可获得相对准确的测量结果,可减少外力等因素对测量结果造成的影响,可提高计算结果准确性。
进一步的,第一滑道11为长条状,并且贯穿基板1。
在示例性实施例中,第一滑道11可从基板1的下表面贯穿至基板1的上表面,也可从基板1的上表面贯穿至基板1的下表面。可通过长条状的第一滑道11使基板1与限位板2相对滑动,达到了便于调节的效果。
进一步的,夹具支架3上固定套设有两个或更多个探针夹具4。
在示例性实施例中,可设置两个或更多个探针夹具4,还可为每个探针夹具4设置对应的探针100,可提高集成度,实现多点测试,为测试提供了方便。
进一步的,夹具支架3为螺杆,螺杆通过支架安装孔21贯穿限位板2,螺杆上螺纹连接有第一螺母51,第一螺母51用于限制螺杆与限位板2的相对位置。
在示例性实施例中,螺杆可从限位板2的下表面贯穿至限位板2的上表面,也可从限位板2的上表面贯穿至限位板2的下表面。可设置两个第一螺母51,限位板2夹在两个第一螺母51之间,可限制夹具支架3与限位板2的相对运动。通过设置第一螺母51和螺杆,可提高安装和拆卸效率。在使用过程中,可调节螺杆相对于限位板2的位置,例如,可沿着垂直限位板2的方向调节螺杆的位置,达到了便于调节的效果,可适应多种厚度的电路板,该电路板位于限位板2上。
进一步的,限位板2设置在两个第一螺母51之间,两个第一螺母51之间还设置有第一垫片52,第一垫片52套设在螺杆上。
在示例性实施例中,通过设置第一垫片52,可提高第一螺母51、限位板2以及夹具支架3连接的紧密程度,提高了稳定性。
进一步的,探针夹具4开设有第二滑道41,第二滑道41贯穿探针夹具4,探针夹具4通过第二滑道41套设在夹具支架3上。
在示例性实施例中,第二滑道41可从探针夹具4的下表面贯穿至探针夹具4的上表面,也可从探针夹具4的上表面贯穿至探针夹具4的下表面。通过第二滑道41,夹具支架3与探针夹具4可滑动连接,可通过第二滑道41来调节夹具支架3与探针夹具4的相对于位置,例如,可使探针夹具4以夹具支架3为轴进行转动,还可通过相对滑动,调节与探针夹具4固定连接的探针100相对于夹具支架3的位置,提高了便利性,便于选择电路板上的测试点,具有更强的适配性。
进一步的,探针夹具4为长条状,第二滑道41为长条状滑道。
在示例性实施例中,探针夹具4可为长条状,第二滑道41为长条状滑道,与圆孔相比,通过设置长条状的第二滑道41,可达到调节方便的效果。
进一步的,夹具支架3为螺杆,螺杆上螺纹连接有第二螺母61,第二螺母61用于限制螺杆与探针夹具4的相对位置。
在示例性实施例中,可设置两个第二螺母61,探针夹具4位于两个第二螺母61之间。通过设置第二螺母61,可达到便于安装和拆卸的效果。
进一步的,探针夹具4设置在两个第二螺母61之间,两个第二螺母61之间还设置有第二垫片62,第二垫片62套设在螺杆上。
在示例性实施例中,通过设置第二垫片62,可使探针夹具4和夹具支架3的连接更加牢固。
图3和图4示出了回路损耗测试结果,图3是基于相关技术中的测试结果,图4是基于本申请实施例的测试结果。在图3和图4中,横坐标表示频率,可以是信号频率,纵坐标表示回路损耗,标准值可以是回路损耗的参考值,实测值为回路损耗的测量结果,2.5GHz和3GHz分别表示用作参考的基准线,基准线平行于纵坐标,频率相对小的2.5GHz基准线位于频率相对大的3GHz基准线左侧。还需要说明的是,图3中波动相对小的曲线为标准值曲线,波动相对大的曲线为实测值曲线,类似的,图4中波动相对小的曲线为标准值曲线,波动相对大的曲线为实测值曲线。通过图3的实测值和图4实测值之间的对比,可以看出,基于本申请实施例的回路损耗实测值波动较小,测试结果相对稳定。
本实用新型提供的另一个实施例的测试设备包括上述任一实施例提供的探针限位机构。
由于本实施例提供的测试设备,具有上述任一实施例提供的探针限位机构,因此该测试设备具有上述任一实施例提供的探针限位机构的全部有益效果,此处不再赘述。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连;可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”,可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”,可以是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”,可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度低于第二特征。
在本说明书的描述中,术语“一个实施例”、“一些实施例”、“实施例”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述,是指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本实用新型的限制,本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行改动、修改、替换和变型。
Claims (10)
1.一种探针限位机构,其特征在于,包括:
基板(1),开设有第一滑道(11);
限位板(2),设置在所述基板(1)上,用于与电路板固定连接,开设有支架安装孔(21)和多个螺栓安装孔(22),所述支架安装孔(21)贯穿所述限位板(2),所述螺栓安装孔(22)用于设置安装螺栓,所述安装螺栓的一端穿过所述螺栓安装孔(22)并且进入到所述第一滑道(11)内;
夹具支架(3),通过所述支架安装孔(21)与所述限位板(2)固定连接;
探针夹具(4),固定套设在所述夹具支架(3)上,所述探针夹具(4)的一端固定连接有探针(100),所述探针(100)的一端用于与所述电路板的焊盘(200)固定连接。
2.如权利要求1所述的探针限位机构,其特征在于,所述第一滑道(11)为长条状,并且贯穿所述基板(1)。
3.如权利要求1所述的探针限位机构,其特征在于,所述夹具支架(3)上固定套设有两个或更多个探针夹具(4)。
4.如权利要求1所述的探针限位机构,其特征在于,所述夹具支架(3)为螺杆,所述螺杆通过所述支架安装孔(21)贯穿所述限位板(2),所述螺杆上螺纹连接有第一螺母(51),所述第一螺母(51)用于限制所述螺杆与所述限位板(2)的相对位置。
5.如权利要求4所述的探针限位机构,其特征在于,所述限位板(2)设置在两个所述第一螺母(51)之间,两个所述第一螺母(51)之间还设置有第一垫片(52),所述第一垫片(52)套设在所述螺杆上。
6.如权利要求1所述的探针限位机构,其特征在于,所述探针夹具(4)开设有第二滑道(41),所述第二滑道(41)贯穿所述探针夹具(4),所述探针夹具(4)通过所述第二滑道(41)套设在所述夹具支架(3)上。
7.如权利要求6所述的探针限位机构,其特征在于,所述探针夹具(4)为长条状,所述第二滑道(41)为长条状滑道。
8.如权利要求1所述的探针限位机构,其特征在于,所述夹具支架(3)为螺杆,所述螺杆上螺纹连接有第二螺母(61),所述第二螺母(61)用于限制所述螺杆与所述探针夹具(4)的相对位置。
9.如权利要求8所述的探针限位机构,其特征在于,所述探针夹具(4)设置在两个所述第二螺母(61)之间,两个所述第二螺母(61)之间还设置有第二垫片(62),所述第二垫片(62)套设在所述螺杆上。
10.一种测试设备,其特征在于,包括:如权利要求1至9中任一项权利要求所述的探针限位机构。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202323241804.4U CN221174759U (zh) | 2023-11-29 | 2023-11-29 | 一种探针限位机构及测试设备 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202323241804.4U CN221174759U (zh) | 2023-11-29 | 2023-11-29 | 一种探针限位机构及测试设备 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN221174759U true CN221174759U (zh) | 2024-06-18 |
Family
ID=91460194
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202323241804.4U Active CN221174759U (zh) | 2023-11-29 | 2023-11-29 | 一种探针限位机构及测试设备 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN221174759U (zh) |
-
2023
- 2023-11-29 CN CN202323241804.4U patent/CN221174759U/zh active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN210243785U (zh) | 一种电路板测试治具 | |
CN105486927A (zh) | 一种固体绝缘材料体积电阻率的测量方法 | |
CN202159074U (zh) | 一种太阳电池通电测试装置 | |
CN221174759U (zh) | 一种探针限位机构及测试设备 | |
CN107741511B (zh) | 一种用于四引线法电阻测量的便捷接头 | |
CN221174758U (zh) | 一种测量机构安装台及测试设备 | |
CN209356619U (zh) | 可移动式绝缘杆工频耐压试验装置 | |
CN208839622U (zh) | 一种与电解试验装置配套使用的夹持台架 | |
KR100775916B1 (ko) | 4단자 저항 측정방법을 이용한 전기전도율 측정장치 | |
CN214843103U (zh) | 一种涂层测厚仪用支撑装置 | |
CN205103317U (zh) | 一种固体绝缘材料体积电阻率的测量装置 | |
CN214310811U (zh) | 检测装置 | |
CN210401542U (zh) | 一种用于电子设备元器件的检测设备 | |
CN113358936A (zh) | 一种用于屏蔽盖中导电胶条的电阻测量装置 | |
CN202975157U (zh) | 一种导体电阻测试装置 | |
CN219938316U (zh) | 一种光伏组件测试的导电工装及光伏组件测试设备 | |
CN211120961U (zh) | 一种电子元器件脚长测量治具 | |
CN111505495A (zh) | 一种熔断器温升试验固定装置 | |
CN218122193U (zh) | 电芯检测机构 | |
CN215574798U (zh) | 一种片材电阻测试装置 | |
CN218847166U (zh) | 一种测试设备 | |
CN218567559U (zh) | 电池电压内阻测试工装及装置 | |
CN210690756U (zh) | 一种蓄电池开关测试装置 | |
CN207964894U (zh) | 一种氧化锌电阻片电容量测试专用夹具 | |
CN220961634U (zh) | 飞针测试机上用的探针结构 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant |