CN221099630U - 一种在轴类光学测量机上测量盘类零件的装置 - Google Patents

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梅建强
周光君
李林
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Hubei Boen Machinery Manufacturing Co ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种在轴类光学测量机上测量盘类零件的装置,包括卡盘组件、轴类光学测量机本体,测量机本体上设有主轴、主轴顶面设有锥孔,卡盘组件包括卡盘板体、可径向移动的卡爪,还包括锥柄,锥柄上部套设有环形连接件,环形连接件上设有螺纹孔,卡盘板体的底面固定有卡盘法兰,卡盘法兰的外径与测量机的尺寸相适应,卡盘组件与锥柄通过螺栓固定连为一体。本实用新型通过将盘类零件的夹具一体连接于轴类测量机的主轴上,从而实现了在轴类测量机测量盘类产品,通过将改进后的轴类测量机测量的数据与轮廓度仪、三坐标上测量的数据进行对比,验证了数据的准确性,因而提高了轴类测量机的利用率,降低了检测设备的投资成本,提高了检测效率。

Description

一种在轴类光学测量机上测量盘类零件的装置
技术领域
本实用新型涉及盘类零件检测技术领域,具体涉及一种在轴类光学测量机上测量盘类零件的装置。
背景技术
发明人在实现本实用新型的过程中发现:
由于受场地及测量能力限制,三坐标和轮廓度仪测量能力不够,特别是影响到首件检测报告结果的时间早晚,直接会影响到产品质量和班产量。特别是配油盘外圆直径、跳动、倒角、距离等的检查需要占据轮廓度仪和三坐标一定的测量资源。因而着手考虑能不能在轴类光学测量机上扩展快速测量诸如配油盘的盘类零件。
发明内容
为了解决盘类零件在轴类测量机上检测的问题,本实用新型提供了一种在轴类光学测量机上测量盘类零件的装置,可实现盘类零件在改进后的轴类光学测量机上进行检测。
发明构思:鉴于测量轴类是用双顶尖定位及驱动轴类零件L转动进行测量(如图1所示),考虑利用现有的测量机的主轴11,将顶尖21调整为盘类零件的夹具,同时尽可能减少安装件的数量、方便拆装更换,不影响轴类零件的测量。
为此,本实用新型的技术方案为:一种在轴类光学测量机上测量盘类零件的装置,包括卡盘组件、轴类光学测量机本体,测量机本体上设有主轴、主轴顶面设有锥孔,卡盘组件包括卡盘板体、可径向移动的卡爪,其特征在于:还包括锥柄,锥柄上部套设有环形连接件,环形连接件上设有螺纹孔,
卡盘板体的底面固定有卡盘法兰,卡盘法兰的外径与测量机的尺寸相适应,卡盘组件与锥柄通过卡盘法兰、环形连接件螺栓固定连为一体,构成方便在测量机主轴上拆装的一体件。
对上述技术方案的进一步改进在于:所述卡盘组件采用SE05超薄精密卡盘。具有既能内夹外圆,又能外涨内孔的特点,提高通用性。
对上述技术方案的进一步改进在于:所述锥柄上螺纹连接有螺母。目的是方便该一体件从主轴的锥孔中拆卸褪出。
对上述技术方案的进一步改进在于:所述环形连接件、卡盘法兰上均设有四个对称的安装孔。保证卡盘与锥柄连接牢固,同时方便拆卸维护。
有益效果:本实用新型通过将盘类零件的夹具一体连接于轴类测量机的主轴上,从而实现了在轴类测量机测量盘类产品,通过将改进后的轴类测量机测量的数据与轮廓度仪、三坐标上测量的数据进行对比,验证了数据的准确性,因而提高了轴类测量机的利用率,降低了检测设备的投资成本,提高了效率。
附图说明
图1是现有轴类测量机在测量状态下的示意图。
图2是本实用新型的结构图。
图3是本实用新型的锥柄与环形连接件的结构图。
图中所示:1、主轴;2、卡盘板体;3、卡爪;4、锥柄;5、环形连接件;6、卡盘法兰。
具体实施方式
下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述,但该实施例不应理解为对本实用新型的限制。
本实用新型如图1至图3所示:
一种在轴类光学测量机上测量盘类零件的装置,包括卡盘组件、轴类光学测量机本体,测量机本体上设有主轴1、主轴顶面设有锥孔,需要说明的是卡盘组件为现有商品,故结构上不作详细描述,但需要增加螺钉孔来实现连接、减小最大外圆来适应测量机测量直径要求,卡盘组件包括卡盘板体2、可径向移动的卡爪3,还包括锥柄4,锥柄上部套设有环形连接件5,环形连接件上设有螺纹孔,
卡盘板体的底面固定有卡盘法兰6,卡盘法兰的外径与测量机的尺寸相适应(图中阴影部分为多出的部分,去除的目的是与测量机尺寸相适应),卡盘组件与锥柄通过卡盘法兰、环形连接件采用沉头螺栓固定连为一体,构成方便在测量机主轴上拆装的一体件。
其中:卡盘组件采用SE05超薄精密卡盘。具有既能内夹外圆,又能外涨内孔的特点,提高通用性。
锥柄上螺纹连接有螺母7。目的是方便该一体件从主轴的锥孔中拆卸褪出。
环形连接件5、卡盘法兰6上均设有四个对称的安装孔。保证卡盘与锥柄连接牢固,同时方便拆卸维护。
本说明书中未作详细说明之处,为本领域公知的技术。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种在轴类光学测量机上测量盘类零件的装置,包括卡盘组件、轴类光学测量机本体,测量机本体上设有主轴、主轴顶面设有锥孔,卡盘组件包括卡盘板体、可径向移动的卡爪,其特征在于:还包括锥柄,锥柄上部套设有环形连接件,环形连接件上设有螺纹孔,
卡盘板体的底面固定有卡盘法兰,卡盘法兰的外径与测量机的尺寸相适应,卡盘组件与锥柄通过卡盘法兰、环形连接件螺栓固定连为一体,构成方便在测量机主轴上拆装的一体件。
2.根据权利要求1所述一种在轴类光学测量机上测量盘类零件的装置,其特征在于:所述卡盘组件采用SE05超薄精密卡盘。
3.根据权利要求1或2所述一种在轴类光学测量机上测量盘类零件的装置,其特征在于:所述锥柄上螺纹连接有螺母。
4.根据权利要求3所述一种在轴类光学测量机上测量盘类零件的装置,其特征在于:所述环形连接件、卡盘法兰上均设有四个对称的安装孔。
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