CN221039323U - 一种测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及产品测试技术领域，公开了一种测试装置，包括测试平台、第一测试模块以及第二测试模块，第一测试模块和第二测试模块设置于测试平台。测试平台设有用于放置测试主板的测试工位，第一测试模块位于测试工位，第一测试模块背离测试平台的一侧连接有第一测试探针，第一测试探针远离第一测试模块的一端用于与测试主板电性连接。第二测试模块与第一测试模块间隔设置，第二测试模块连接有第二测试探针，第二测试模块可朝向测试工位或远离测试工位移动，以使得第二测试探针远离第二测试模块的一端与测试主板电性连接或与测试主板脱离连接。本实用新型公开的测试装置，能够提高相机主板的测试效率。

Description

一种测试装置

技术领域

本实用新型涉及产品测试技术领域，特别涉及一种测试装置。

背景技术

相机主板在投入产线生产前，需要对主板的各功能进行测试，当各功能测试合格后，主板才能流入产线进行生产组装。由于相机主板需要与相机内部其它多个功能模块相互连接后才能进行测试，测试前相机主板与各功能模块之间需要手动连接，连接过程复杂繁琐，严重影响了测试效率。

实用新型内容

本实用新型提供了一种测试装置，能够提高相机主板的测试效率。

本实用新型提供一种测试装置，包括测试平台、第一测试模块以及第二测试模块，所述第一测试模块和所述第二测试模块设置于所述测试平台；

所述测试平台设有用于放置测试主板的测试工位，所述第一测试模块位于所述测试工位，所述第一测试模块背离所述测试平台的一侧连接有第一测试探针，所述第一测试探针远离所述第一测试模块的一端用于与所述测试主板电性连接；

所述第二测试模块与所述第一测试模块间隔设置，所述第二测试模块连接有第二测试探针，所述第二测试模块可朝向所述测试工位或远离所述测试工位移动，以使得所述第二测试探针远离所述第二测试模块的一端与所述测试主板电性连接或与所述测试主板脱离连接。

本实用新型提供的测试装置，通过设置第一测试模块和第二测试模块，第一测试模块连接有第一测试探针，第二测试模块连接有第二测试探针。将第一测试模块设置于测试工位，当测试主板放置于测试工位时，即可使得第一测试模块通过第一测试探针与测试主板电性连接。第二测试模块朝向测试主板移动时，可使得第二测试模块通过第二测试探针与测试主板电性连接。本实用新型中的测试装置，第一测试模块和第二测试模块能够分别与测试主板的不同部位连接，相互独立，并且，通过设置测试探针，能够快速准确地将测试模块与测试主板进行连接，省去了手动将测试模块与测试主板连接的工作，从而提高了测试效率。

在一些可能的实施方案中，还包括设置于所述测试平台的定位机构，所述定位机构用于对放置于所述测试工位的所述测试主板进行定位。

在一些可能的实施方案中，所述定位机构包括两个固定卡扣和第一驱动模块；

两个所述固定卡扣位于所述测试工位，且两个所述固定卡扣位于所述测试主板相对的两侧；

所述第一驱动模块用于驱动两个所述固定卡扣相对靠近或相对远离，以使得当两个所述固定卡扣分别与所述测试主板的两侧抵接时，两个所述固定卡扣配合对所述测试主板进行定位。

在一些可能的实施方案中，所述第一驱动模块包括两个驱动气缸，每一个所述驱动气缸与一个所述固定卡扣连接。

在一些可能的实施方案中，所述固定卡扣包括第一抵接部和第二抵接部，所述第一抵接部用于与所述测试主板的侧壁抵接，所述第二抵接部连接于所述第一抵接部，所述第二抵接部用于与所述测试主板朝向所述第二测试模块的表面抵接。

在一些可能的实施方案中，还包括设置于所述测试平台的第二驱动模块，所述第二驱动模块用于驱动所述第二测试模块朝向所述测试工位或远离所述测试工位移动。

在一些可能的实施方案中，所述第二驱动模块包括下压气缸和安装座，所述安装座与所述下压气缸连接，所述第二测试模块连接于所述安装座，所述下压气缸用于驱动所述安装座朝向所述测试工位或远离所述测试工位移动。

在一些可能的实施方案中，所述第二驱动模块还包括缓冲器，所述缓冲器连接于所述安装座朝向所述测试工位的一侧。

在一些可能的实施方案中，所述测试工位设有与所述测试主板的形状相适应的卡槽，所述测试主板位于所述卡槽内。

在一些可能的实施方案中，还包括设置于所述测试平台的触控显示屏。

附图说明

图1为本实用新型实施例中测试装置的一种结构示意图；

图2为本实用新型实施例中放置测试主板的一种结构示意图；

图3为本实用新型实施例中测试工位处的结构示意图；

图4为本实用新型实施例中定位机构的部分结构示意图；

图5为本实用新型实施例中测试装置的又一种结构示意图。

图中：

10-测试主板；100-测试平台；110-测试工位；120-连接板；200-第一测试模块；210-第一测试探针；300-第二测试模块；301-风扇模块；310-第二测试探针；400-定位机构；410-固定卡扣；411-第一抵接部；412-第二抵接部；420-驱动气缸；500-第二驱动模块；510-下压气缸；520-安装座；521-安装板；530-缓冲器；600-触控显示屏；700-控制开关；800-电控盒。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

参考图1，本实用新型实施例中的测试装置可包括测试平台100、第一测试模块200和第二测试模块300，其中，第一测试模块200和第二测试模块300均设置于测试平台100。

具体的，一并参考图1至图3，测试平台100设有测试工位110，测试工位110可用于放置测试主板10。第一测试模块200设置于测试工位110，第一测试模块200背离测试主板10的一侧连接有第一测试探针210，第一测试探针210远离第一测试模块200的一端露出于第一测试模块200表面，以使得当测试主板10放置于测试工位110时，第一测试探针210远离第一测试模块200的一端与测试主板10电性连接。

第二测试模块300与第一测试模块200之前间隔设置，或者，也可以说，第二测试模块300位于第一测试模块200的上方。第二测试模块300朝向第一测试模块200的一侧连接有第二测试探针310，第二测试探针310远离第二测试模块300的一端露出于第二测试模块300表面。并且，第二测试模块300还可朝向第一测试模块200移动或远离第一测试模块200移动，以使得当第二测试模块300朝向第一测试模块200移动时，第二测试探针310远离第二测试模块300的一端与测试主板10电性连接。这时，第一测试模块200位于测试主板10的底部，第二测试模块300位于测试主板10的顶部，第一测试模块200和第二测试模块300可分别对测试主板10不同的部位进行测试。通过上述设置，可省去手动将测试主板10与各功能模块手动连接的工作，进而有利于提高测试效率。并且，各测试模块之间相互独立，在测试过程中，各测试模块与测试平台100之间相对固定，这样可有效避免撞坏产品内部电子元件，造成测试主板10损坏等风险。

另外，当测试结束后，第二测试模块300远离第一测试模块200移动，这时可便于将完成测试的测试主板10取出，从而开始对下一个测试主板10进行测试。

在一些实施例中，测试工位110还可设置于测试主板10的形状相适应的卡槽，当将测试主板10放置于卡槽内时，卡槽能够对测试主板10起到初步定位的效果。

进一步地，如图1所示，测试平台100还设有定位机构400，当测试主板10放置于测试工位110时，定位机构400可用于对测试主板10进行定位，防止测试主板10在测试过程中发生偏移而影响测试结果。具体的，参考图4，定位机构400包括两个固定卡扣410和第一驱动模块，两个固定卡扣410位于测试工位110，并且，两个固定卡扣410位于测试主板10相对的两侧。第一驱动模块可用于驱动两个固定卡扣410相对靠近或相对远离，当两个固定卡扣410相对靠近时，两个固定卡扣410可配合将测试主板10卡住，从而使得测试主板10被固定。当两个固定卡扣410相对远离时，每一个固定卡扣410与测试主板10脱离接触，这时，可便于将测试主板10从测试工位110取走或者将新的测试主板10放置于测试工位110。

作为一种实施方案，如图4所示，固定卡扣410可包括第一抵接部411和第二抵接部412，其中，两个第一抵接部411相对，并分别用于与测试主板10的侧壁抵接，以在水平方向上起到对测试主板10限位的作用。第二抵接部412连接于第一抵接部411，当测试主板10放置于测试工位110时，第二抵接部412位于测试主板10的上方。第二抵接部412还可相对第一抵接部411转动，以改变第二抵接部412与第一抵接部411之间的相对位置，示例性地，第二抵接部412具有第一工位和第二工位，当第二抵接部412处于第一工位时，第二抵接部412与测试主板10之间具有一定的夹角，此时，测试主板10与第二抵接部412之间能够产生相对运动。当第二抵接部412处于第二工位时，第二抵接部412与测试主板10抵接，这时，第二抵接部412与测试主板10的顶面(测试主板10朝向第二模块的一侧表面)抵接，从而能够在竖直方向上对测试主板10起到限位的作用。由此，通过多方向的限位，两个固定卡扣410能够对测试主板10起到定位的作用。

第二抵接部412还可设置按压部，当需要将第二抵接部412由第一工位切换至第二工位时，作业人员可通过按压上述按压部，从而使得第二抵接部412相对第一抵接部411转动至第二工位，操作简单，易实现。可以理解的，通过设置可转动的第二抵接部412，当两个固定卡扣410分别朝向中间的测试主板10移动时，可使得第二抵接部412处于第一工位，在固定卡扣410移动的过程中，可避免第二抵接部412刮伤测试主板10。同理，当两个固定卡扣410分别远离测试主板10移动时，也可避免第二抵接部412刮伤测试主板10。

参考图5，第一驱动模块包括两个驱动气缸420，每一个驱动气缸420与一个固定卡扣410连接，以用于驱动固定卡扣410移动。驱动气缸420能够精准控制固定卡扣410的移动行程，从而可避免固定卡扣410与测试主板10之间发生碰撞而损伤测试主板10。

在一些实施例中，参考图1和图2，测试平台100还设有第二驱动模块500，第二驱动模块500可用于驱动第二测试模块300朝向第一测试模块200或远离第一测试模块200移动。具体的，测试平台100设有连接板120，第二驱动模块500包括下压气缸510和安装座520，下压气缸510和安装座520均连接于连接板120上。下压气缸510与安装座520连接，以用于驱动安装座520沿朝向测试工位110或远离测试工位110的方向移动。

第二测试模块300连接于安装座520，当安装座520上下移动时，可带动第二测试模块300上下移动，以靠近第一测试模块200或远离第一测试模块200。第二测试模块300正对于测试主板10，以便于第二驱动模块500在驱动第二测试模块300移动时，只需驱动第二测试模块300上下移动即可。

第二驱动模块500还设有缓冲器530，缓冲器530连接于安装座520朝向测试工位110的一侧，当下压气缸510驱动安装座520朝向测试工位110移动时，相较于第二测试探针310与测试主板10接触，缓冲器530更先与测试平台100接触。当缓冲器530与测试平台100接触后，在安装座520继续朝向测试工位110移动的过程中，缓冲器530能够对安装座520提供缓冲力，从而降低安装座520的移动速度，以避免第二测试探针310下降速度过大而损坏测试主板10。

在本实施例中，第一测试模块200例如可以是充电测试模块，第二测试模块300例如可以是风扇测试模块。还值得注意的是，位于测试工位110的第一测试模块200可以为一个，也可以为两个或多个，多个第一测试模块200可并排设置，并分别连接第一测试探针210，从而可与测试主板10的不同部位进行连接。

同样地，第二测试模块300可以为一个，两个或多个，以图2为例，第二测试模块300为两个，其中一个为风扇模块301，另一个为其它功能模块。这时，安装座520包括与连接板120垂直的安装板521，风扇模块301和另一个第二测试模块300分别位于安装座520相对的两侧，二者均连接有第二测试探针310，当安装座520朝向测试工位110移动时，各第二测试探针310分别与测试主板10连接，从而完成不同功能的测试。

参考图1，测试平台100还设有触控显示屏600，触控显示屏600分别与第一测试模块200和第二测试模块300连接，以使得第一测试模块200和第二测试模块300的内容在触控显示屏600进行显示，并便于作业人员进行触控操作。

另外，如图5所示，测试平台100还设有电控盒800，电控盒800能够对测试主板10、第一驱动模块、第二驱动模块500、触控显示屏600等电子元件进行供电，以保证各电子元件正常运行。同时，测试平台100还设有多个控制开关700，每个控制开关700可控制一个电子元件(例如驱动气缸420、触控显示屏600等)开启工作或停止工作。

基于上述各实施例中对测试装置的介绍，本实施例中的测试装置在对测试主板10进行测试时，可参考以下步骤：

步骤S1：将测试主板10放置于测试工位110；

步骤S2：驱动气缸420驱动固定卡扣410移动，以使得固定卡扣410对测试主板10进行定位，并使得第一测试模块200通过第一测试探针210与测试主板10连接；

步骤S3：下压气缸510驱动第二测试模块300移动，以使得第二测试模块300通过第二测试探针310与测试主板10连接；

步骤S4：按下电源的控制开关700，使得测试主板10接通电源；

步骤S5：按下测试主板10的控制开关700，使得测试主板10开机；

步骤S6：依据触控显示屏600上的提示操作，按流程确认测试第一测试模块200和第二测试模块300；

步骤S7：第一测试模块200和第二测试模块300完成测试后，将测试数据上传电脑系统；

步骤S8：测试完成后，按下测试主板10的控制开关700，使得测试主板10关机；

步骤S9：按下电源的控制开关700，使得测试主板10断开电源；

步骤S10：按下复位开关，使得各气缸复位，取出测试主板10。

显然，本领域的技术人员可以对本实用新型实施例进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种测试装置，其特征在于，包括测试平台、第一测试模块以及第二测试模块，所述第一测试模块和所述第二测试模块设置于所述测试平台；

所述测试平台设有用于放置测试主板的测试工位，所述第一测试模块位于所述测试工位，所述第一测试模块背离所述测试平台的一侧连接有第一测试探针，所述第一测试探针远离所述第一测试模块的一端用于与所述测试主板电性连接；

所述第二测试模块与所述第一测试模块间隔设置，所述第二测试模块连接有第二测试探针，所述第二测试模块可朝向所述测试工位或远离所述测试工位移动，以使得所述第二测试探针远离所述第二测试模块的一端与所述测试主板电性连接或与所述测试主板脱离连接。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括设置于所述测试平台的定位机构，所述定位机构用于对放置于所述测试工位的所述测试主板进行定位。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述定位机构包括两个固定卡扣和第一驱动模块；

两个所述固定卡扣位于所述测试工位，且两个所述固定卡扣位于所述测试主板相对的两侧；

所述第一驱动模块用于驱动两个所述固定卡扣相对靠近或相对远离，以使得当两个所述固定卡扣分别与所述测试主板的两侧抵接时，两个所述固定卡扣配合对所述测试主板进行定位。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述第一驱动模块包括两个驱动气缸，每一个所述驱动气缸与一个所述固定卡扣连接。

5.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述固定卡扣包括第一抵接部和第二抵接部，所述第一抵接部用于与所述测试主板的侧壁抵接，所述第二抵接部连接于所述第一抵接部，所述第二抵接部用于与所述测试主板朝向所述第二测试模块的表面抵接。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括设置于所述测试平台的第二驱动模块，所述第二驱动模块用于驱动所述第二测试模块朝向所述测试工位或远离所述测试工位移动。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述第二驱动模块包括下压气缸和安装座，所述安装座与所述下压气缸连接，所述第二测试模块连接于所述安装座，所述下压气缸用于驱动所述安装座朝向所述测试工位或远离所述测试工位移动。

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述第二驱动模块还包括缓冲器，所述缓冲器连接于所述安装座朝向所述测试工位的一侧。

9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试工位设有与所述测试主板的形状相适应的卡槽，所述测试主板位于所述卡槽内。

10.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括设置于所述测试平台的触控显示屏。