CN220983439U - 一种继电器测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种继电器测试装置，包括：第二电源、双向开关、第一/第二控制组件与容性负载电路；第二电源通过双向开关与第一/第二控制组件串联，形成第一/第二控制回路；第一控制组件包括：第一继电器，第二控制组件包括：第二继电器；第一控制回路通过第一继电器耦合连接被测继电器电路，用于控制导通被测继电器电路；第二控制回路通过第二继电器耦合连接容性负载电路，用于控制导通容性负载电路；容性负载通过被测继电器耦合连接被测继电器电路，形成放电回路。本装置通过切换控制双向开关，即可实现对被测继电器电路与容性负载电路的两个主电路的双向切换控制，通过切换控制即可在一个装置中完成对继电器的两种测试，装置集成度较高。

Description

一种继电器测试装置

技术领域

本实用新型涉及继电器测试技术领域，具体涉及一种继电器测试装置。

背景技术

随着电子技术的发展，继电器应用领域越来越广，包括用于通讯及信号控制的信号继电器，用于家用、工业控制和电力控制的功率继电器，用于电力控制的电力继电器以及用于汽车领域的汽车继电器。

为了确保继电器的可靠性、持久性需要专门的装置在大电流下对继电器触点进行寿命测试，例如：机械寿命测试装置、冲击寿命测试装置。其中，机械寿命测试装置通过控制继电器动作使其开关通断、然后对通断次数进行计数、用于测试继电器的机械寿命的，冲击寿命测试装置通过阻性负载、感性负载或容性负载对继电器进行浪涌冲击测试。

但是上述现有继电器测试装置均只能实现单一的测试功能，相应的测试装置集成度较低，在实际测试中，需要分别采用不同的装置对继电器的机械寿命、浪涌冲击进行单独的测试，进而影响整个继电器测试流程的效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有继电器测试装置均只能实现单一的测试功能、集成度较低的问题，提出一种继电器测试装置，本实用新型所提供的测试装置通过切换控制双向开关即可切换导通两路控制回路，实现对被测继电器电路与容性负载电路的两个主电路的双向切换控制，通过切换控制即可在一个装置中完成对继电器的机械寿命以及容性冲击寿命测试，装置集成度较高。

为了实现上述实用新型目的，本实用新型提供了以下技术方案：

一种继电器测试装置，用于与被测继电器电路连接，所述被测继电器电路包括：第一电源与被测继电器，所述第一电源用于为所述被测继电器上电，

所述继电器测试装置包括：第二电源、双向开关、第一控制组件、第二控制组件与容性负载电路；所述第二电源通过所述双向开关与所述第一控制组件或第二控制组件串联，形成第一控制回路或第二控制回路；

其中，所述第一控制组件，包括：第一继电器，所述第二控制组件，包括：第二继电器；所述容性负载电路，包括：容性负载；

所述第一控制回路通过所述第一继电器耦合连接于所述被测继电器电路，用于控制导通所述被测继电器电路；所述第二控制回路通过所述第二继电器耦合连接于所述容性负载电路，用于控制导通所述容性负载电路；所述容性负载通过所述被测继电器耦合连接于所述被测继电器电路，用于形成放电回路。

根据一种具体的实施方式，上述继电器测试装置中，所述第一继电器包括：第一线圈与第一触点组；

所述第一线圈串接在所述第一控制回路中，所述第一触点组设置在所述被测继电器电路中。

根据一种具体的实施方式，上述继电器测试装置中，所述第二继电器包括：第二线圈与第二触点组；

所述第二线圈串接在所述第二控制回路中，所述第二触点组设置在所述容性负载电路中。

根据一种具体的实施方式，上述被测继电器包括：被测线圈与被测触点组；上述继电器测试装置中，所述容性负载用于与所述被测触点组串联形成所述放电回路。

根据一种具体的实施方式，上述继电器测试装置中，还包括：第一限流电阻；所述第一限流电阻串接在所述放电回路中。

根据一种具体的实施方式，上述继电器测试装置中，还包括：电压测量单元，所述电压测量单元设置在所述容性负载的两端，用于采集所述容性负载在所述放电回路中的电压值。

根据一种具体的实施方式，上述继电器测试装置中，还包括：时序驱动设备，所述时序驱动设备与所述双向开关连接，用于基于预设时序控制所述双向开关与所述第一控制组件串联形成所述第一控制回路。

根据一种具体的实施方式，上述继电器测试装置中，还包括：计数器，所述计数器串接在所述第一控制回路中。

根据一种具体的实施方式，上述继电器测试装置中，所述容性负载电路还包括：第三电源与第二限流电阻，所述第三电源用于在所述容性负载电路导通时为所述容性负载充电；

所述第二限流电阻串联在所述第三电源与所述容性负载之间。

根据一种具体的实施方式，上述继电器测试装置中，所述继电器测试装置包括：多个所述容性负载电路，多个所述容性负载电路用于与所述被测继电器电路中多个相互串联的被测继电器一一对应设置；

所述第二控制组件包括：与多个所述容性负载电路对应设置的第二继电器，多个所述第二继电器相互串联在所述第二控制回路中。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果：

本实用新型实施例所提供的测试装置通过设置双向开关、第一控制组件与第二控制组件、容性负载电路，使得第二电源能够通过双向开关与所述第一控制组件或第二控制组件串联，形成第一控制回路或第二控制回路；并在第一控制组件中配置第一继电器，使得第一控制回路能够通过第一继电器耦合连接于被测继电器电路，形成对被测继电器电路的导通控制；在第二控制组件中配置第二继电器，使得第二控制回路能够通过所述第二继电器耦合连接于所述容性负载电路，形成对容性负载电路的导通控制；同时配置容性负载通过被测继电器与被测继电器电路耦合连接，形成放电回路；据此，本装置通过切换控制双向开关，切换导通两路控制回路，即可对被测继电器电路的通断进行控制、对容性负载电路的充放电进行控制，在一个装置中完成对继电器的机械寿命以及容性冲击寿命测试，装置集成度较高。

附图说明

图1为本实用新型在一个实施例中的继电器测试装置第一结构示意图；

图2为本实用新型在一个实施例中的继电器测试装置第二结构示意图；

图3为本实用新型在一个实施例中的继电器测试装置第三结构示意图；

图4为本实用新型在一个实施例中的继电器测试装置第四结构示意图；

图5为本实用新型在一个实施例中的继电器测试装置第五结构示意图；

图6为本实用新型在一个实施例中的继电器测试装置第六结构示意图；

附图标记：1-被测继电器电路，11-第一电源，12-被测继电器，21-第二电源，22-双向开关，23-第一继电器，24-第二继电器，25-第一限流电阻，26-计数器，3-容性负载电路，31-容性负载，32-第三电源，33-第二限流电阻。

具体实施方式

下面结合试验例及具体实施方式对本实用新型作进一步的详细描述。但不应将此理解为本实用新型上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本实用新型内容所实现的技术均属于本实用新型的范围。

实施例1

图1示出了本实用新型示例性实施例的继电器测试装置，该测试装置用于与被测继电器电路1连接，上述被测继电器电路包括：第一电源11与被测继电器12，上述第一电源用于为所述被测继电器上电；

该继电器测试装置包括：第二电源21、双向开关22、第一控制组件、第二控制组件与容性负载电路3；所述第二电源21通过所述双向开关22与所述第一控制组件或第二控制组件串联，形成第一控制回路或第二控制回路；

其中，所述第一控制组件，包括：第一继电器23，所述第二控制组件，包括：第二继电器24；所述容性负载电路，包括：容性负载31；

所述第一控制回路通过所述第一继电器23耦合连接于所述被测继电器电路，用于控制导通所述被测继电器电路1；所述第二控制回路通过所述第二继电器24耦合连接于所述容性负载电路3，用于控制导通所述容性负载电路3；所述容性负载31通过所述被测继电器12耦合连接于所述被测继电器电路1，用于形成放电回路。

可以理解的是，继电器是一种电子控制器件，它具有控制系统(又称输入回路)和被控制系统(又称输出回路)，常用的电磁式继电器一般由铁芯、线圈、衔铁、触点等组成的；只要在线圈两端加上一定的电压，线圈中就会流过一定的电流，从而产生电磁效应，衔铁就会在电磁力吸引的作用下克服返回弹簧的拉力吸向铁芯，从而带动衔铁的动触点与静触点(常开触点)吸合。当线圈断电后，电磁的吸力也随之消失，衔铁就会在弹簧的反作用力返回原来的位置，使动触点与原来的静触点(常闭触点)吸合；这样吸合、释放，从而达到了在电路中的导通、切断的目的。

因此本实施例中，通过设置双向开关、第一控制组件与第二控制组件、容性负载电路，使得第二电源能够通过双向开关与所述第一控制组件或第二控制组件串联，形成第一控制回路或第二控制回路；并在第一控制组件中配置第一继电器，使得第一控制回路能够通过第一继电器耦合连接于被测继电器电路，形成对被测继电器电路的导通控制；在第二控制组件中配置第二继电器，使得第二控制回路能够通过所述第二继电器耦合连接于所述容性负载电路，形成对容性负载电路的导通控制；同时配置容性负载通过被测继电器与被测继电器电路耦合连接，形成放电回路；据此，本装置通过切换控制双向开关，切换导通两路控制回路，即可对被测继电器电路的通断进行控制、对容性负载电路的充放电进行控制，在一个装置中完成对继电器的机械寿命以及容性冲击寿命测试，装置集成度较高。

使用时，导通被测继电器电路即可使其为所述被测继电器上电进行通断测试，导通容性负载电路即可使其为所述容性负载充电；在容性负载充电完成后，断开容性负载电路，导通被测继电器电路，即可利用充电后的容性负载与被测继电器触点形成放电回路，进行容性负载放电冲击测试；据此，本装置解决了无法利用单一装置同时进行继电器的机械寿命与容性冲击寿命测试的难题。

实施例2

在一种可能的实现方式中，如图2所示，上述第一继电器23包括：第一线圈与第一触点组；

上述第一线圈串接在上述第一控制回路中，上述第一触点组设置在上述被测继电器电路1中。

本实施例中，通过将第一触点组设置在上述被测继电器电路、并将第一线圈串接在第一控制回路中，实现对被测继电器电路的控制。

在一种可能的实现方式中，如图2所示，上述第二继电器24包括：第二线圈与第二触点组；

上述第二线圈串接在上述第二控制回路中，上述第二触点组设置在上述容性负载电路3中。

本实施例中，通过将第二触点组设置在上述容性负载电路、并将第二线圈串接在第二控制回路中，实现对被测继电器电路的控制。

上述被测继电器12包括：被测线圈与被测触点组；其中，上述容性负载用于与上述被测触点组串联形成上述放电回路。

在一种可能的实现方式中，如图3所示，上述继电器测试装置还包括：第一限流电阻25；上述第一限流电阻25串接在上述放电回路中。与容性负载、被测继电器的被测触点组相互串联。

本实施例中，通过第一限流电阻对放电过程中的容性负载进行限流保护，确保容性负载安全性。

在一种可能的实现方式中，上述继电器测试装置还包括：电压测量单元，上述电压测量单元设置在上述容性负载的两端，用于采集上述容性负载在上述放电回路中的电压值。

可以理解的是，根据容性冲击测试原理可知，根据采集到的电压值即可判断继电器的容性冲击性能。

因此本实施例中，通过采集容性负载在放电过程中的电压值，即可用于检测继电器的容性冲击性能，当容性负载电压达到设定的测试电压时，即可认为继电器通过测试，例如：对于动力电池领域的继电器而言，该设定的测试电压通常使用750V。

上述测试装置还包括：时序驱动设备，上述时序驱动设备与上述双向开关连接，用于基于预设时序控制上述双向开关与上述第一控制组件串联形成上述第一控制回路。

本实施例中，通过时序驱动设备基于预设时序控制上述双向开关向上述第一线圈导通，实现了对第一线圈上电时序的通断时序控制，进而实现对被测继电器电路的通断时序控制，基于通断时序控制即可实现对继电器机械寿命的测试。

在一种可能的实现方式中，如图4所示，上述继电器测试装置中还包括：计数器24，上述计数器24计数器串接在上述第一控制回路中。即串联在上述第二电源21与上述第一线圈之间。

可以理解的是，被测继电器电路中的第一电源通常需要为多个被测继电器供电，其电源值较大，同时在通断测试过程中，需要控制多个被测继电器的线圈，叠加的电流较大，如果直接将计数器设置在第一电源与被测计数器之间，则有可能使计数器过载烧毁。

因此本实施例中，通过配置计数器计算寿命测试的次数，在配置计数器的基础上，将计数器设置在第一控制回路中，与被测继电器电路隔离，以使计数器无需直接与被测继电器连接，在通过计数器计算寿命测试的次数的基础上，防止计数器过载烧毁(仅由第一继电器线圈产生叠加电流)。

在一种可能的实现方式中，上述第一电源的电压大于上述第二电源的电压。

本实施例中，在将计数器设置在第一控制回路中与被测继电器电路隔离对计数器进行保护的基础上，通过用于实现控制回路切换的第二电源设置为较小的电源，进一步减小计数器在通断测试过程中过载烧毁的风险。

在一种可能的实现方式中，如图5所示，上述继电器测试装置中，上述容性负载电路包括：第三电源32与第二限流电阻33；上述第三电源用于在上述容性负载电路导通时为上述容性负载31充电；上述第二限流电阻33串联在上述第三电源32与上述容性负载31之间。

本实施例中，通过第二限流电阻对充电过程中的容性负载进行限流保护，确保容性负载的安全性。

可以理解的是，为提高测试集成度，通常将多个被测继电器串联在被测继电器电路中进行集成测试；

据此，在一种可能的实现方式中，为了与串联有多个被测继电器的被测继电器电路相对应，该继电器测试装置包括：多个上述容性负载电路，多个上述容性负载电路用于与上述被测继电器电路中多个相互串联的被测继电器一一对应设置；

上述第二控制组件包括：与多个上述容性负载电路对应设置的第二继电器，多个上述第二继电器相互串联在上述第二控制回路中。

具体的，如图6所示，该继电器测试装置包括：多个相对设置的上述容性负载电路3与第二继电器24；图中，k1为第一继电器，k2、k3、k4即与多个被测继电器相对应的第二继电器；

如图所示，每个上述第二继电器的第二触点组设置在对应的容性负载电路中，多个上述第二继电器的第二线圈之间相互串联在上述第二控制回路中；

多个上述容性负载电路用于与上述被测继电器电路中多个相互串联的被测继电器对应设置。

据此，本实施例中所提供的测试装置通过配置与多个被测继电器一一对应的容性负载单元，即可实现对多个被测继电器的批量容性冲击测试；同时多个被测继电器均与第一继电器串联，可实现对对多个被测继电器的机械寿命测试。

进一步提高测试装置的集成度。

进一步的，为了更详细直观的展现本实用新型实施例所提供的继电器测试装置的集成测试原理，下面对上述实施例1或实施例2的继电器测试装置的测试使用方法进行详细阐述。以图6所示的用于同时对多个被测继电器连接的继电器测试装置为例，该方法具体包括：

S1、机械寿命测试：

启动“第二电源”，使用PLC或者其他控制器控制双向开关按照预设的时序与第一控制回路接通，第一继电器K1线圈上电时序该开关相同。回路中串联了计数器，用于计算寿命测试的次数；

启动“第一电源”，被测继电器线圈的上电时序与第一继电器K1相同。

通过上述步骤，实现了“通断切换控制开关(即双向开关)”同时控制多个继电器进行机械寿命测试。

其中，通过配置计数器可计算寿命测试的次数，而将计数器设置在第一控制回路中，可与被测继电器电路隔离，以使计数器无需直接与被测继电器连接，在通过计数器计算寿命测试的次数的基础上，防止计数器过载烧毁(仅由第一继电器线圈产生叠加电流)。在具体实施时，针对动力电池用继电器，通常需要20万次的寿命测试，被测继电器接通0.5s，再断开0.5s，以此循环20万次。

S2、容性冲击寿命：

S21、启动“第二电源”，将双向开关与第二控制回路接通，实现第二继电器闭合；

S22、启动“第三电源”，给容性负载充电；容性负载两端使用电压表或其他电压测量单元检测实时电压，充电完成后，断开双向开关，第二继电器；

S23、将双向开关与第一控制回路接通；

S24、启动“第一电源”，实现被测继电器闭合；被测继电器闭合的瞬间，容性负载会对该回路进行放电，实现对被测继电器的电流冲击；

重复步骤S21～S24，重复进行容性冲击寿命测试。

综上，基于本实用新型实施例所提供的继电器测试装置，可同时对继电器的机械寿命以及容性冲击性能进行测试，可极大地提高测试集成度、提高测试效率。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种继电器测试装置，用于与被测继电器电路连接，所述被测继电器电路包括：第一电源与被测继电器，所述第一电源用于为所述被测继电器上电，其特征在于，

所述继电器测试装置包括：第二电源、双向开关、第一控制组件、第二控制组件与容性负载电路；所述第二电源通过所述双向开关与所述第一控制组件或第二控制组件串联，形成第一控制回路或第二控制回路；

其中，所述第一控制组件，包括：第一继电器，所述第二控制组件，包括：第二继电器；所述容性负载电路，包括：容性负载；

所述第一控制回路通过所述第一继电器耦合连接于所述被测继电器电路，用于控制导通所述被测继电器电路；所述第二控制回路通过所述第二继电器耦合连接于所述容性负载电路，用于控制导通所述容性负载电路；所述容性负载通过所述被测继电器耦合连接于所述被测继电器电路，用于与闭合导通的被测继电器串联形成放电回路。

2.如权利要求1所述的继电器测试装置，其特征在于，所述第一继电器包括：第一线圈与第一触点组；

所述第一线圈串接在所述第一控制回路中，所述第一触点组设置在所述被测继电器电路中。

3.如权利要求1所述的继电器测试装置，其特征在于，所述第二继电器包括：第二线圈与第二触点组；

所述第二线圈串接在所述第二控制回路中，所述第二触点组设置在所述容性负载电路中。

4.如权利要求1所述的继电器测试装置，其特征在于，所述被测继电器包括：被测线圈与被测触点组；所述容性负载用于与所述被测继电器的被测触点组串联形成所述放电回路。

5.如权利要求4所述的继电器测试装置，其特征在于，还包括：第一限流电阻；所述第一限流电阻串接在所述放电回路中。

6.如权利要求4所述的继电器测试装置，其特征在于，还包括：电压测量单元，所述电压测量单元设置在所述容性负载的两端，用于采集所述容性负载在所述放电回路中的电压值。

7.如权利要求1所述的继电器测试装置，其特征在于，还包括：时序驱动设备，所述时序驱动设备与所述双向开关连接，用于基于预设时序控制所述双向开关与所述第一控制组件串联形成所述第一控制回路。

8.如权利要求1所述的继电器测试装置，其特征在于，还包括：计数器，所述计数器串接在所述第一控制回路中。

9.如权利要求1所述的继电器测试装置，其特征在于，所述容性负载电路还包括：第三电源与第二限流电阻，所述第三电源用于在所述容性负载电路导通时为所述容性负载充电；

所述第二限流电阻串联在所述第三电源与所述容性负载之间。

10.如权利要求1～9任一所述的继电器测试装置，其特征在于，所述继电器测试装置包括：多个所述容性负载电路，多个所述容性负载电路用于与所述被测继电器电路中多个相互串联的被测继电器一一对应设置；

所述第二控制组件包括：与多个所述容性负载电路对应设置的第二继电器，多个所述第二继电器相互串联在所述第二控制回路中。