CN220854987U - 一种电路板测试用针床 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种电路板测试用针床，属于电路板生产技术领域，该电路板测试用针床的床体上设有多个测试位，每个测试位上均设有可移动的针盘，针盘上设有多个用于安装测试针的针孔。该针床能够适应不同电路板的测试需求，使用过程中无需频繁更换，有助于降低电路板的测试成本，提高测试效率。

Description

一种电路板测试用针床

技术领域

本实用新型涉及电路板生产技术领域，尤其涉及一种电路板测试用针床。

背景技术

印刷电路板生产过程中，需要进行性能测试，测试项目通常包括开路检测、短路检测以及电阻功能检测等。印刷电路板测试通常放在测试装置上进行，测试装置上设有针床，针床上的测试针用于与印刷电路板的测试位进行电性连接，以判断电路板的电路是否能够正常工作。但是现有的针床的测试针的位置都是固定的，测试不同的电路板时需要更换不同的针床。而针床的更换麻烦，会降低电路板测试的效率，提高测试成本。

因此，需要改进现有的电路板测试用的针床，以克服现有技术的缺陷。

实用新型内容

为克服相关技术中存在的问题，本实用新型的目的是提供一种电路板测试用针床，该针床能够适应不同电路板的测试需求，使用过程中无需频繁更换，有助于降低电路板的测试成本，提高测试效率。

一种电路板测试用针床，包括：

床体，所述床体上设有多个测试位，每个所述测试位上均设有可移动的针盘，所述针盘上设有多个用于安装测试针的针孔。

在本实用新型较佳的技术方案中，多个所述测试位在所述床体上并行设置，且每个所述测试位中均设有若干个可移动的针盘。

在本实用新型较佳的技术方案中，所述测试位边缘设有导轨，所述导轨上设有滑块，所述针盘设置在所述滑块上。

在本实用新型较佳的技术方案中，所述滑块上设有限制所述滑块滑动的锁紧螺钉。

在本实用新型较佳的技术方案中，所述针盘与所述滑块通过卡扣相互锁紧。

在本实用新型较佳的技术方案中，所述卡扣包括设置在所述针盘上的弹簧扣，所述滑块上设有与所述弹簧扣相互配合的锁槽。

在本实用新型较佳的技术方案中，

所述床体相对的两侧边缘处分别设有若干个定位孔，所述定位孔包括第一通孔以及第二通孔，所述第一通孔与所述第二通孔的直径不同。

在本实用新型较佳的技术方案中，所述测试针为弹簧针。

本实用新型还提供一种电路板测试结构，该测试结构包括如上所述的电路板测试用针床。

本实用新型的有益效果为：

本实用新型提供的一种电路板测试用针床，该针床的床体上设有多个测试位，每个测试位上均设有可移动的针盘，针盘上设有多个用于安装测试针的针孔。由于不同型号、规格的电路板需要检测的点位不一样，而且同一型号的电路板需要测试的点位也很多。因此该针床通过设置可移动的针盘来安装测试针，使得测试过程中可以根据需要检测的点位来调整测试针的位置，以适应不同的电路板测试需求。具有较高的使用灵活性，无需更换针床即能够满足不同的电路板的测试需求，能够提高电路板的测试效率。

附图说明

图1是本实用新型提供的电路板测试用针床的立体图；

图2是本实用新型提供的针盘设置在导轨上的结构示意图；

图3是本实用新型提供的弹簧扣与锁槽配合的结构示意图。

附图标记：

1、床体；11、测试位；111、导轨；112、滑块；1121、锁槽；12、定位孔；121、第一通孔；122、第二通孔；2、针盘；21、针孔；22、锁紧螺钉；23、弹簧扣；3、测试针。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本实用新型的优选实施方式。虽然附图中显示了本实用新型的优选实施方式，然而应该理解，可以以各种形式实现本实用新型而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反，提供这些实施方式是为了使本实用新型更加透彻和完整，并且能够将本实用新型的范围完整地传达给本领域的技术人员。

在本实用新型使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本实用新型。在本实用新型和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

应当理解，尽管在本实用新型可能采用术语“第一”、“第二”、“第三”等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本实用新型范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

实施例

印刷电路板生产过程中，需要进行性能测试，测试项目通常包括开路检测、短路检测以及电阻功能检测等。印刷电路板测试通常放在测试装置上进行，测试装置上设有针床，针床上的测试针用于与印刷电路板的测试位进行电性连接，以判断电路板的电路是否能够正常工作。但是现有的针床的测试针的位置都是固定的，测试不同的电路板时需要更换不同的针床。而针床的更换麻烦，会降低电路板测试的效率，提高测试成本。基于此，本申请提供一种电路板测试用针床，以克服现有技术的缺陷。

如图1-图3所示，该电路板测试用针床包括：床体1，所述床体1上设有多个测试位11，每个所述测试位11上均设有可移动的针盘2，所述针盘2上设有多个用于安装测试针3的针孔21。

具体地，床体1为以长方体状的结构，测试位11设置在床体1的表面。所述床体1相对的两侧边缘处分别设有若干个定位孔12，所述定位孔12包括第一通孔121以及第二通孔122，所述第一通孔121与所述第二通孔122的直径不同。需要说明的是，床体1相对的两侧每一侧上均设有若干个定位孔12，该定位孔12用于将床体1安装在测试装置上。在应用过程中，测试装置上可以设置定位柱，床体1通过定位孔12套接在定位柱上，实现床体1的固定，这使得床体1的安装更方便。另外由于第一通孔121与所述第二通孔122的直径不同，这有助于床体1定向安装在测试装置上，防止床体1的安装方向不对造成使用异常。更佳地，床体1上设有限高台阶，限高台阶靠近定位孔12设置，限高台阶的作用时防止电路板测试过程中电路板过分下压导致针盘2上的测试针3被压坏。

上述的一种电路板测试用针床，该针床的床体1上设有多个测试位11，每个测试位11上均设有可移动的针盘2，针盘2上设有多个用于安装测试针3的针孔21。由于不同型号、规格的电路板需要检测的点位不一样，而且同一型号的电路板需要测试的点位也很多。因此该针床通过设置可移动的针盘2来安装测试针3，使得测试过程中可以根据需要检测的点位来调整测试针3的位置，以适应不同的电路板测试需求。具有较高的使用灵活性，无需更换针床即能够满足不同的电路板的测试需求，能够提高电路板的测试效率。

更具体地，多个所述测试位11在所述床体1上并行设置，且每个所述测试位11中均设有若干个可移动的针盘2。

测试位11为长条状的结构，测试位11沿床体1的长度方向设置。针盘2在测试位11上移动至不同的位置，以使得测试针3能够满足不同的电路板的测试需求。

进一步地，所述测试位11边缘设有导轨111，所述导轨111上设有滑块112，所述针盘2设置在所述滑块112上。更进一步地，所述滑块112上设有限制所述滑块112滑动的锁紧螺钉22。

导轨111沿测试位11的长度方向设置，滑块112能够在导轨111上滑动，因此，针盘2固定在滑块112上后，能够在测试位11中滑动。更佳地，导轨111在测试位11上设置两条，且两条导轨111并行设置。锁紧螺钉22能够将滑块112锁紧在导轨111上，使得滑块112不能移动。这能够保证针盘2移动到目标位置位后能够在电路板测试过程中稳定工作。

在更佳的实施方式中，所述针盘2与所述滑块112通过卡扣相互锁紧。进一步地，所述卡扣包括设置在所述针盘2上的弹簧扣23，所述滑块112上设有与所述弹簧扣23相互配合的锁槽1121。通过卡扣锁紧的针盘2与滑块112，安装方便，便于拆卸。弹簧扣23在针盘2相对的两侧分别设置一个，以保证针盘2能够固定在两条导轨111的滑块112上。

更佳地，所述测试针3为弹簧针。弹簧针卡接在针孔21上。在另一种实施方式中，弹簧针也可以与针孔21螺纹连接。弹簧针包括的针体上设有弹簧头以及设置在针体底部的导线部，弹簧头在受到压力被压回针体时，能够与导线部电连接，实现电路板的电性测试。

本申请还提供一种电路板测试结构，该测试结构包括如上所述的电路板测试用针床。该测试结构可以是测试机，测试机的机体上设有如上所述的针床，应用如上针床的测试机使用方便，可以根据需要移动针盘2的位置，无需更换针床即能够满足不同的电路板的测试需求，电路板测试效率高。

除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本申请的范围。同时，应当明白，为了便于描述，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，

对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种电路板测试用针床，其特征在于，包括：

床体(1)，所述床体(1)上设有多个测试位(11)，每个所述测试位(11)上均设有可移动的针盘(2)，所述针盘(2)上设有多个用于安装测试针(3)的针孔(21)；

多个所述测试位(11)在所述床体(1)上并行设置，且每个所述测试位(11)中均设有若干个可移动的针盘(2)；

所述测试位(11)边缘设有导轨(111)，所述导轨(111)上设有滑块(112)，所述针盘(2)设置在所述滑块(112)上。

2.根据权利要求1所述的电路板测试用针床，其特征在于：

所述滑块(112)上设有限制所述滑块(112)滑动的锁紧螺钉(22)。

3.根据权利要求2所述的电路板测试用针床，其特征在于：

所述针盘(2)与所述滑块(112)通过卡扣相互锁紧。

4.根据权利要求3所述的电路板测试用针床，其特征在于：

所述卡扣包括设置在所述针盘(2)上的弹簧扣(23)，所述滑块(112)上设有与所述弹簧扣(23)相互配合的锁槽(1121)。

5.根据权利要求1所述的电路板测试用针床，其特征在于：

所述床体(1)相对的两侧边缘处分别设有若干个定位孔(12)，所述定位孔(12)包括第一通孔(121)以及第二通孔(122)，所述第一通孔(121)与所述第二通孔(122)的直径不同。

6.根据权利要求1～5任一项所述的电路板测试用针床，其特征在于：

所述测试针(3)为弹簧针。