CN220751073U - 数显卡尺定栅精度快速检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种数显卡尺定栅精度快速检测装置，包括装夹定位于检测台上的被检测定栅，被检测定栅的上方设有手动检测架，手动检测架通过滑动副安装于检测台上且可沿被检测定栅的方向来回移动；手动检测架的底部设有可与被检测定栅耦合的高精度芯片，高精度芯片的读数屏设置在检测架的顶部；手动检测架与检测台之间设有高精度光栅传感器，高精度光栅传感器的测距标尺安装于检测台上且平行于被检测定栅，高精度光栅传感器的光栅测头安装于手动检测架的底部，光栅测头通过信号线路连接数值显示器。本实用新型采用高精度光栅传感器与高精度芯片在被检测定栅的任意点上读取数值进行比较，从而快速、准确检测被检测定栅的精度。

Description

数显卡尺定栅精度快速检测装置

技术领域

本实用新型涉及量具检测技术，具体为一种数显卡尺定栅精度快速检测装置。

背景技术

数显量具行业标准中，数显卡尺国标GB/T21389-2008、数显高度卡尺国标GB/T21390-2008、数显深度卡尺国标GB/T21388-2008均对测量精度有严格的规定要求，决定各类数显卡尺精度的主要是定栅的精度，控制好定栅刻划的精度尤为重要，在生产过程中，定栅精度是通过对刻线母板进行复杂、繁琐的检测而保证。

由于受工艺条件以及自然环境的影响，大批量生产的定栅的精度变化较大，这对各类数显卡尺产品的精度产生极大的影响，造成大量的不良产品，造成极大的浪费。

目前，全国量具生产厂家还无法对大批量生产的定栅的精度进行有效、快速的检测。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提出了一种数显卡尺定栅精度快速检测装置。

能够解决现有技术问题的数显卡尺定栅精度快速检测装置，其技术方案包括装夹定位于检测台上的被检测定栅，所不同的是：

1、所述被检测定栅的上方设有手动检测架，所述手动检测架通过滑动副安装于检测台上且可沿被检测定栅的方向来回移动。

2、所述手动检测架的底部设有可与被检测定栅耦合的高精度芯片，所述高精度芯片的读数屏设置在检测架的顶部。

3、所述手动检测架与检测台之间设有高精度光栅传感器，所述高精度光栅传感器的测距标尺安装于检测台上且平行于被检测定栅，高精度光栅传感器的光栅测头安装于手动检测架的底部，所述光栅测头通过信号线路连接数值显示器。

所述滑动副的一种结构包括于被检测定栅的两侧安装于检测台上的直线导轨，与各直线导轨滑动配合的滑块安装于手动检测架的底部。

本实用新型的有益效果：

本实用新型数显卡尺定栅精度快速检测装置，采用对高精度光栅传感器和高精度芯片的读数值进行比较，从而在被检测定栅的任意点上读取数值，将光栅数值和芯片数值进行比较，从而达到快速、准确检测被测定栅精度的目的，极大提高了生产效率，减少了浪费，降低了制造成本。

附图说明

图1为本实用新型一种实施方式的结构示意图。

图号标识：1、被检测定栅；2、专用夹具；3、检测台；4、手动检测架；5、测距标尺；6、数值显示器；7、读数屏；8、直线导轨；9、适配器；10、真空泵；11、把手。

具体实施方式

下面结合附图所示实施方式对本实用新型的技术方案作进一步说明。

本实用新型数显卡尺定栅精度快速检测装置，包括检测台3，所述检测台3上通过专用夹具2定位安装有被检测定栅1，所述被检测定栅1的前、后两侧的检测台3上均安装有左、右向的直线导轨8，各直线导轨8上滑动配合有一副滑块(左、右两个)，前、后的两滑块上安装有高于被检测定栅1的手动检测架4，所述手动检测架4的顶部安装有把手11，如图1所示。

所述手动检测架4上贯通设有高精度芯片，所述高精度芯片的感应区于手动检测架4的底部与被检测定栅1耦合，高精度芯片的读数屏7露出在手动检测架4的顶部，如图1所示。

对应于被检测定栅1还设有高精度光栅传感器，所述高精度光栅传感器包括滑动配合的光栅测头和测距标尺5，左、右向的测距标尺5于后直线导轨8与被检测定栅1之间安装于检测台3上(避开专用夹具1)，所述光栅测头安装于手动检测架4底部的对应位置上，光栅测头通过信号线路连接数值显示器6，配置有适配器9的数值显示器6安装于检测台3的后部，如图1所示。

本实用新型对定栅精度的快速检测，是通过将高精度芯片相对被检测定栅1产生位移而得到的数值与高精度光栅传感器相对于被检测定栅1产生位移而得到的数值进行比较，从而确定被检测定栅1的精度是否合格，其检测步骤为：

1、通过真空泵10将被检测定栅1吸附至检测台3上的专用夹具2中并装夹定位。

2、手握把手11向左侧移动手动检测架4带动高精度芯片和高精度光栅传感器的光栅测头同时移动到被检测定栅1的起始点。

3、将高精度芯片的读数屏7清零，将高精度光栅传感器的数值显示器6清零。

4、手握把手11向右移动手动检测架4一个距离，即同时移动高精度芯片和光栅测头而产生相同的位移，读取读数屏7和数值显示器6的数值并作为一组对比数据。

5、重复方案步骤2～4，通过向右移动手动检测架4多个不同的距离而读取多组数据。

6、将同组高精度芯片和高精度光栅传感器的数值进行比较，即可检测出被检测定栅1的机械刻划精度。

高精度光栅传感器的光栅测头移动距离的数据为准确长度，高精度芯片移动距离的数据为被检测定栅1的检测长度，在相同位移距离上，如高精度芯片移动的检测长度与光栅测头移动的准确长度一致，则被检测定栅1的机械刻划精度判定为合格，否则可判定被检测定栅1的机械刻划精度不合格，达到快速实现多点识别被检测定栅1精度的目的。

Claims (2)

1.数显卡尺定栅精度快速检测装置，包括装夹定位于检测台(3)上的被检测定栅(1)，其特征在于：

所述被检测定栅(1)的上方设有手动检测架(4)，所述手动检测架(4)通过滑动副安装于检测台(3)上且可沿被检测定栅(1)的方向来回移动；

所述手动检测架(4)的底部设有可与被检测定栅(1)耦合的高精度芯片，所述高精度芯片的读数屏(7)设置在检测架(4)的顶部；

所述手动检测架(4)与检测台(3)之间设有高精度光栅传感器，所述高精度光栅传感器的测距标尺(5)安装于检测台(3)上且平行于被检测定栅(1)，高精度光栅传感器的光栅测头安装于手动检测架(4)的底部，所述光栅测头通过信号线路连接数值显示器(6)。

2.根据权利要求1所述的数显卡尺定栅精度快速检测装置，其特征在于：所述滑动副包括于被检测定栅(1)的两侧安装于检测台(3)上的直线导轨(8)，与各直线导轨(8)滑动配合的滑块安装于手动检测架(4)的底部。