CN220653372U - 一种光模块并行测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及光模块测试技术领域，提供了一种光模块并行测试系统，包括信号发射单元、分路器单元和至少两条测量路由，两条所述测量路由分别与所述分路器单元连接，所述信号发射单元与所述分路器单元连接；所述测量路由包括测量单元，所述测量单元内包含有待测光模块和第一误码仪，所述待测光模块与所述第一误码仪连接，以形成用于测量待测光模块的并行测试系统。本实用新型通过设置分路器单元，将至少两条测试路由设置在分路器单元上，通过减少误码仪每只待测光模块对应的平均使用数量，进而降低测试成本；本实用新型可以同时对多个光模块进行测量，进而使得本实用新型实施例的测试系统的效率提高。

Description

一种光模块并行测试系统

技术领域

本实用新型涉及光模块测试技术领域，特别是涉及一种光模块并行测试系统。

背景技术

四通道SFP接口(Quad Small Form-factor Pluggable，简写为QSFP28)光模块是目前市场上比较主流的一种100G光模块,其提供4个独立的发送和接收通道的并行信道，传输速率从25Gbps提高到100Gbps，且尺寸比其他100G模块更小，所以受到越来越多的关注100G QSFP28光模块已经衍生出多个类别，分别具有不同的光模块标准并适合不同的传输应用。

如图1所示，表示现有的QSFP28光模块测试系统，在现有的QSFP28光模块测试系统中，采用差分信号进行第一光信号和眼图的测试，每只待测光模块的测试需要使用两台误码仪，误码仪的体积相对较大，在同时对多只待测光模块进行测试时，需要使用更多台误码仪。由于误码仪上搭配有用于传输差分信号的高频线缆，在误码仪数量较多的情况下，使得每只待测光模块对应连接稿频线缆的连连接头数量多，连接空间狭小，操作难度大；另外，测试线缆数量多，切换高频测试指标容易造成不良，相位造成失配，严重影响测试指标，需要经常更换测试线缆，造成测试成本增加。该高频电缆购买成本昂贵，误码仪需要定期维护更新，测试设备成本居高不下。鉴于此，克服该现有技术所存在的缺陷是本技术领域亟待解决的问题。

实用新型内容

本实用新型实施例要解决的问题是如何解决现有测试光模块的系统中，平均每测量一只待测光模块所需要设置至少两个误码仪所造成测试成本高的问题。

本实用新型实施例采用如下技术方案：

本实用新型提出了一种光模块并行测试系统，包括信号发射单元1、分路器单元2和至少两条测量路由3，所述分路器单元2包括公共输入端和至少两个输出端；两条所述测量路由3分别与所述分路器单元2的输出端连接，所述信号发射单元1与所述分路器单元2的公共输入端连接；

所述测量路由3包括测量单元31，所述测量单元31内包含有待测光模块311和第一误码仪312，所述待测光模块311的接收端与所述分路器单元2的输出端连接，所述待测光模块311与所述第一误码仪312连接。

优选的，所述测量单元31还包括示波器单元313，所述示波器单元313与所述待测光模块311的发送端连接；

所述第一误码仪312用于发射误码信号，经过所述待测光模块311传输至所述示波器单元313，用于测量所述待测光模块311的光眼图。

优选的，所述示波器单元313与所述待测光模块311之间设置有开关单元314，用于实现单通道出光选择。

优选的，所述信号发射单元1包括第二误码仪11和第一标准光源单元12；

所述第二误码仪11、所述第一标准光源单元12和所述分路器单元2依次连接，以便于通过所述第一标准光源单元12将所述第二误码仪11发射的误码信号转换为光信号，并通过所述分路器单元2将所述光信号传输到测量路由3内。

优选的，所述第二误码仪11与第一标准光源单元12采用高频电缆连接。

优选的，所述测量路由3还包括第二标准光源单元32；所述第二标准光源单元32设置在所述测量单元31与所述分路器单元2之间。

优选的，所述标准光源单元32内电信号的发送端与所述标准光源单元32内电信号的接收端采取高频线缆连接，以组成自环回路。

优选的，所述第二标准光源单元32与所述测量单元31之间设置有衰减器单元33，用于将从第二标准光源单元32发出的光信号进行衰减，并将衰减后的光信号输入到所述测量单元31内。

优选的，所述分路器单元2的分路数量不小于所述测量路由3的条数。

优选的，所述第一误码仪312与所述待测光模块311采用高频电缆连接。

与现有技术相比，本实用新型实施例的有益效果在于：

本实用新型的光模块并行测试系统通过设置分路器单元2，将至少两条测试路由3设置在分路器单元2上，通过减少误码仪每只待测光模块对应的平均使用数量，进而降低本实用新型的光模块并行测试系统的测试成本。除此之外，本实用新型实施例可以采用多路，可以同时对多个光模块进行测量，进而使得本实用新型实施例的测试系统的效率提高。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是本实用新型实施例提供的现有的QSFP28光模块测试系统的架构示意图；

图2是本实用新型实施例提供的一种光模块并行测试系统的架构示意图；

图3是本实用新型实施例提供的一种光模块并行测试系统内开关单元的设置结构示意图；

1-信号发射单元；11-第二误码仪；12-第一标准光源单元；2-分路器单元；3-测量路由；31-测量单元；311-待测光模块；312-第一误码仪；313-示波器单元；314-开关单元；32-第二标准光源单元；33-衰减器单元。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

在本实用新型的描述中，术语“内”、“外”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型而不是要求本实用新型必须以特定的方位构造和操作，因此不应当理解为对本实用新型的限制。

本实用新型中术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”应做广义理解，例如，“连接”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。此外，术语“耦接”可以是实现信号传输的电性连接的方式。

此外，下面所描述的本实用新型各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

实施例1:

本实用新型实施例1提供了一种光模块并行测试系统，如图2所示，

包括信号发射单元1、分路器单元2和至少两条测量路由3，所述分路器单元2包括公共输入端和至少两个输出端；两条所述测量路由3分别与所述分路器单元2的输出端连接，所述信号发射单元1与所述分路器单元2的公共输入端连接；

所述测量路由3包括测量单元31，所述测量单元31内包含有待测光模块311和第一误码仪312，所述待测光模块311的接收端与所述分路器单元2的输出端连接，所述待测光模块311与所述第一误码仪312连接。

如图2所示，本实用新型实施例的光模块并行测试系统内包括有信号发射单元1、分路器单元2和至少两条测量路由3。通过分路器单元2将每条测量路由3连接，本实用新型实施例的分路器单元2的分路数不小于所述测量路由3的条数(例如，图2所示中，图2中设置有四条路由，分路器单元2的分路数量至少设置有四条)。测量路由3内包括有测量单元31，测量单元31内包含有待测光模块311和第一误码仪312，通过第一误码仪312测量待测光模块311的误码率，通过对应的误码率就可以知晓待测光模块311性能。值得说明的是，本实用新型实施例的测量路由3的条数通常根据实际情况进行设置，例如，如图2所示，可以但不限于设置4条测量路由3，以实现同时测量多个待测光模块311的目的。值得说明的是，参阅图2所示，本实用新型实施例待测光模块311与第一误码仪312通过高速PCB布线的方式连接，对于待测光模块311而言，待测光模块311的接收端和发送端分别表示待测光模块311处于光路中进行传输光信号的两侧。属于公知常识，在此不做赘述；而对于待测光模块311与第一误码仪312属于电性连接，通过高频线缆连接，因此在阐述待测光模块311与第一误码仪连接时，实际上待测光模块311通过PCB布线的方式(高频线缆)与第一误码仪312电性连接。

本实用新型实施例的光模块并行测试系统通过设置分路器单元2，将至少两条测试路由3设置在分路器单元2上，使得减少误码仪每只待测光模块对应的平均使用数量，进而降低本实用新型的光模块并行测试系统的测试成本。除此之外，本实用新型实施例可以采用多路，可以同时对多个光模块进行测量，进而使得本实用新型实施例的测试系统的效率提高。

接下来重点阐述本实用新型实施例的原理，如图2所示，本实用新型实施例的信号发射单元1能发射对应的光信号，所发射的光信号内包含有时序信息，通过将带有时序信息的光信号传输到测量路由3的测量单元31内，并基于时序信息，通过第一误码仪312测量经过待测光模块311后的误码率，就可以知晓带时序的光信号通过待测光模块311后的误码率，进而可以知晓待测光模块311的接收端性能。

为了准确的测量出待测光模块311的误码率，如图2所示，本实用新型实施例所述信号发射单元1包括第二误码仪11和第一标准光源单元12；所述第二误码仪11、所述第一标准光源单元12和所述分路器单元2依次连接，以便于通过所述第一标准光源单元12将所述第二误码仪11发射的误码信号转换为光信号，并通过所述分路器单元2将所述光信号传输到测量路由3内。

如图2所示，本实用新型实施例的信号发射单元1内包括第二误码仪11和第一标准光源单元12，第一标准光源单元12主要用于将第二误码仪11产生的误码信号转换为标准光源的光信号，第二误码仪11发射带有时序的误码信号，经过第一标准光源单元12后，将误码信号转换为对应的光信号。此时光信号内携带有第二误码仪11的时序信息，并且，经过第一标准光源单元12后，可以认为对应的光信号传输到分路器单元2时，不会产生误码率。在将光信号输入到分路器单元2后，通过分路器单元2传输到对应测量单元31的待测光模块311内，然后通过误码仪收集经过待测光模块311的电信号，以测量出经过待测光模块311的误码率，通过所测量的误码率，进而获取待测光模块311的接收端性能；在获取待测光模块311的性能的同时，利用第二标准光源单元32对接收的光信号具有整形和时钟恢复的特性，恢复所接收的光信号的时序，然后将恢复时序的光信号传输到待测光模块内，然后光信号经过待测光模块后，传输到第一误码仪312内，进而测量出待测光模块的误码率，进而通过误码率就能知晓待测光模块的性能。

在光模块的测量系统内，通常还需要测量待测光模块311的光眼图，通过光眼图可以进一步判定待测光模块311的(发射)性能。本实用新型实施例所述测量单元31还包括示波器单元313，所述示波器单元313与所述待测光模块311连接；所述第一误码仪312发射第二误码信号，经过所述待测光模块311传输至所述示波器单元313，用于测量所述待测光模块311的光眼图。本实用新型实施例通过设置示波器单元313，示波器单元313与待测光模块311连接，通过示波器单元313监测经过待测光模块311的光信号，就能测量出待测光模块311的光眼图。具体的，本实用新型实施例第一误码仪312发出误码信号，经过待测光模块311后，传输到示波器单元313内，通过示波器单元313对待测光模块311的光眼图进行显示，通过光眼图测量出待测光模块311的性能。

本实用新型实施例设置有至少两条测量路由3，本实用新型实施例的光模块并行测试系统中，所使用的待测光模块311的型号为QSFP28光模块。在对QSFP28光模块进行光眼图测量的过程中，需要测量出QSFP28光模块的四种不同波长对应的光眼图，如图3所示，本实用新型实施例所述示波器单元313与所述待测光模块311之间设置有开关单元314，用于实现单通道出光选择。如图3所示，本实用新型实施例的待测光模块311为QSFP28光模块，根据本领域QSFP28光模块的公知常识，待测光模块311内含有四种不同波长的光，当对本实用新型实施例的并行测试系统的待测光模块311的光眼图进行测试时，需要逐一测试待测光模块311中四种不同波长的光对应的光眼图，通过开关单元对于不同波长的出光选择，进而测量出不同波长的光眼图。为了便于理解，接下来以具体的例子进行说明，假定本实用新型实施例的待测光模块311(类型为QSFP28光模块)中包含有A、B、C和D四种不同波长的光，对应的开关单元内包含有A、B、C和D四种不同波长的通道出光选择，在对待测光模块311进行光眼图测试时，首先将开关单元切换到A波长的通道进行出光，测量出待测光模块311只有A波长下的光眼图(B、C和D三种波长被开关单元屏蔽，使得只测量出待测光模块311对应A波长的光眼图)，采用同样的方式，依次测量待测光模块311对应B波长的光眼图、测量出待测光模块311对应C波长的光眼图和待测光模块311对应D波长的光眼图，进而获取待测光模块311的光眼图。值得说明的是，参阅图3所示，本实用新型实施例在测量待测光模块311的光眼图时，开关单元314实际上有四种不同波长光路选择，在图3中仅仅使用一个单道开关来表示开关单元314，但应当理解的是，开关单元314中实际上为四种不同波长光路选择的开关单元314，对于四种波长的光路选择，以及光眼图的测试过程，前面已经进行了详细的阐述，在此不做赘述。为了顺利的将光信号传输到待测光模，在实际测量的过程中，本实用新型实施例还需要将分路器单元2传输的光信号进行衰减处理，具体的：所述测量路由3还包括第二标准光源单元32；所述第二标准光源单元32设置在所述测量单元31与所述分路器单元2之间，用于对所述第一标准光源单元12发出的调制光信号进行信号整形和时钟恢复；所述第二标准光源单元32与所述测量单元31之间设置有衰减器单元33，用于将从第二标准光源单元32发出的光信号进行衰减，并将衰减后的光信号输入到所述测量单元31内。

如图3所示，为了能减少误码仪的使用数量，本实用新型实施例测量路由3还包括第二标准光源单元32和衰减器单元33，第一标准光源单元12发出的调整光信号经过有第二标准光源单元32的光电转换后，输出到衰减器单元33内，通过衰减器单元33的作用，对第二标准光源单元32发出的光信号进行衰减，然后将衰减后的光信号输送到对应的测量单元31内。本实用新型实施例通过设置第二标准光源单元32，利用第二标准光源单元32自身具有时钟恢复和信号整形的特性，将有第一标准光源单元12发出的调制光信号进行整形，并恢复调制光信号的时钟，进而将整形和时钟恢复后的光信号传输到衰减器单元33内，通过衰减器单元33的作用后，使得待测光模块311接收，然后通过第一误码仪312测量出待测光模块的性能。

在一种具体的应用场景中，所述第一误码仪312与所述待测光模块311采用高频电缆连接；所述第二误码仪11与第一标准光源单元12采用高频电缆连接。本实用新型实施例的光模块并行测试系统内包括至少两条测试路由3，为了便于理解，假定本实用新型实施例的光模块并行测试系统内存在N条测试路由，则可以同时测量N(N≥2)个待测光模块，光模块并行测试系统内只需要使用N+1个误码仪，假定以每条误码仪到待测光模块或标准光源所使用的高频电缆的长度记为一个标准单位长度，则在本实用新型实施例的光模块并行测试系统内需要使用N+1个标准单位长度的高频线缆(现有的测试系统中，当需要同时测量N个待测光模块时，需要使用2N个误码仪和2N个标准单位长度的高频线缆)，高频线缆相对于光纤而言，价格十分昂贵，本实用新型实施例通过降低每只待测光模块对于高频线缆的平均使用数量，能进一步降低使用成本。值得说明的是，本实用新型实施例所述标准光源单元32内电信号的发送端与所述标准光源单元32内电信号的接收端采取高频线缆连接，以组成自环回路；在一种优选的应用场景中，本实用新型实施例的标准光源单元32的发送端与接收端之间采取高速PCB布线的方式，利用高频线缆将光源单元32的发送端与接收端连接，以尽可能的减少高频线缆的使用量。

本实用新型实施例的光模块并行测试系统通过设置分路器单元2，将至少两条测试路由3设置在分路器单元2上，通过利用QSFP28光模块自身具有时钟恢复和整形的特性，减少误码仪每只待测光模块对应的平均使用数量，进而降低本实用新型的光模块并行测试系统的测试成本。本实用新型实施例可以采用多路，可以同时对多个光模块进行测量，进而使得本实用新型实施例的测试系统的效率提高。除此之外，本实用新型实施例将多路的测试路由3集成到一起，使得平均每只待测光模块对应所使用的高频电缆的数量降低，进而进一步的降低使用成本。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种光模块并行测试系统，其特征在于，包括信号发射单元(1)、分路器单元(2)和至少两条测量路由(3)，所述分路器单元(2)包括公共输入端和至少两个输出端；两条所述测量路由(3)分别与所述分路器单元(2)的输出端连接，所述信号发射单元(1)与所述分路器单元(2)的公共输入端连接；

所述测量路由(3)包括测量单元(31)，所述测量单元(31)内包含有待测光模块(311)和第一误码仪(312)，所述待测光模块(311)的接收端与所述分路器单元(2)的输出端连接，所述待测光模块(311)与所述第一误码仪(312)连接。

2.根据权利要求1所述的光模块并行测试系统，其特征在于，所述测量单元(31)还包括示波器单元(313)，所述示波器单元(313)与所述待测光模块(311)的发送端连接；

所述第一误码仪(312)用于发射误码信号，经过所述待测光模块(311)传输至所述示波器单元(313)，用于测量所述待测光模块(311)的光眼图。

3.根据权利要求2所述的光模块并行测试系统，其特征在于，所述示波器单元(313)与所述待测光模块(311)之间设置有开关单元(314)，用于实现单通道出光选择。

4.根据权利要求2所述的光模块并行测试系统，其特征在于，所述信号发射单元(1)包括第二误码仪(11)和第一标准光源单元(12)；

所述第二误码仪(11)、所述第一标准光源单元(12)和所述分路器单元(2)依次连接，以便于通过所述第一标准光源单元(12)将所述第二误码仪(11)发射的误码信号转换为光信号，并通过所述分路器单元(2)将所述光信号传输到测量路由(3)内。

5.根据权利要求4所述的光模块并行测试系统，其特征在于，所述第二误码仪(11)与第一标准光源单元(12)采用高频电缆连接。

6.根据权利要求4所述的光模块并行测试系统，其特征在于，所述测量路由(3)还包括第二标准光源单元(32)；所述第二标准光源单元(32)设置在所述测量单元(31)与所述分路器单元(2)之间。

7.根据权利要求6所述的光模块并行测试系统，其特征在于，所述标准光源单元(32)内电信号的发送端与所述标准光源单元(32)内电信号的接收端采取高频线缆连接，以组成自环回路。

8.根据权利要求6所述的光模块并行测试系统，其特征在于，所述第二标准光源单元(32)与所述测量单元(31)之间设置有衰减器单元(33)，用于将从第二标准光源单元(32)发出的光信号进行衰减，并将衰减后的光信号输入到所述测量单元(31)内。

9.根据权利要求1-8任一所述的光模块并行测试系统，其特征在于，所述分路器单元(2)的分路数量不小于所述测量路由(3)的条数。

10.根据权利要求1-8任一所述的光模块并行测试系统，其特征在于，所述第一误码仪(312)与所述待测光模块(311)采用高频电缆连接。