CN220568887U - 一种用于sld光源多通道全温在线测试系统 - Google Patents
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Abstract
本申请公开一种用于SLD光源多通道全温在线测试系统，包括高低温试验箱、多路光源驱动模块、多个待测SLD安装座、光信号分配器、光功率计、光谱仪和上位机；多路光源驱动模块和多个待测SLD安装座设置在高低温试验箱中，其中多路光源驱动模块给放置在多个待测SLD安装座上的SLD供电，所述SLD上电后通过光信号分配器分别将光信号输出到光功率计和光谱仪，光功率计和光谱仪的输出端连接上位机；上位机与多路光源驱动模块和高低温试验箱电连接。在本申请的测试系统中，可以将待测SLD尾纤和光线跳线熔接在一起，避免了因切割光纤引起的损耗；单次测量数量可以明显增加，提高了测量效率，完善测试数据的完整性，降低了测试过程中的人员需求。
Description
技术领域
本实用新型申请属于电子元器件性能测试技术领域，针对超辐射发光二极管，具体来说，涉及一种用于SLD光源多通道全温在线测试系统。
背景技术
超辐射发光二极管(SLD)是一种光电半导体器件，基于超辐射发光现象辐射宽带光。该器件结构与激光二极管类似，包含一个电流驱动的p-n结和一个光波导。但是非常重要的一点不同是，SLD不存在反射形成的光学反馈，因此不会产生激光。SLD应用在需要平滑的宽光谱和高的空间相干性、相对较高强度光源的领域，比如光纤传感器、光纤陀螺仪等。
但是在SLD产品出厂之前，需要对其进行全温测试，用来评估电子器件的可靠性以及使用寿命。现有的测试方法是采用裸纤适配器和使用SLD的设备连接，会存在如下问题：切换下一个测试产品时需要重新切割光纤，会影响功率大小值；测试光功率和光谱时，需要将裸纤适配器在两台仪器之间切换，每次插损不一致；单次测试的SLD产品数量有限，一般每次不超过10只；测试过程中还需要工作人员进行人工切换。
发明内容
针对现有技术存在的上述问题，本申请旨在提供了一种用于SLD光源多通道全温在线测试系统，该系统可以避免测试过程中的切割损耗，且测试效率高。
为实现上述技术目的，本申请采用的技术方案如下：
一种用于SLD光源多通道全温在线测试系统，包括高低温试验箱、多路光源驱动模块、多个待测SLD安装座、光信号分配器、光功率计、光谱仪和上位机；
所述多路光源驱动模块和多个待测SLD安装座设置在高低温试验箱中，其中多路光源驱动模块给放置在多个待测SLD安装座上的SLD供电，所述SLD上电后通过光信号分配器分别将光信号输出到光功率计和光谱仪，光功率计和光谱仪的输出端连接上位机；
所述上位机与多路光源驱动模块和高低温试验箱电连接。
采用上述技术方案的测试系统，测试时，先将若干待测SLD通过光纤跳线接入到待测SLD安装座上，然后上位机实时采集高低温试验箱内的温度并对其进行调节控制，当高低温试验箱内的温度达到预设温度时，上位机通过控制多路光源驱动模块对每个待测SLD进行供电，待测SLD上电后会产生光信号，并分别输出到光功率计和光谱仪测量光信号大小和光谱参数，最后把光信号大小和光谱参数发送到上位机进行统计分析。
优选地，所述光信号分配器采用多路光开关，用于控制SLD输出的光信号是否发送到光功率计和光谱仪。该限定可以同时放置多个待测SLD后，通过多路光开关控制哪个待测SLD的光信号能够向后传输进行测量。
优选地，所述多路光源驱动模块包括两个16路光源驱动板，多个待测SLD安装座设有32个，分别对应多路光源驱动模块的32路电源输出端。
优选地，还包括与上位机连接的服务器。
在本申请的测试系统中，可以将待测SLD尾纤和光线跳线熔接在一起，避免了因切割光纤引起的损耗；单次测量数量可以明显增加，提高了测量效率，完善测试数据的完整性，降低了测试过程中的人员需求。
附图说明
图1为一种用于SLD光源多通道全温在线测试系统的结构示意图；
图2为另一种用于SLD光源多通道全温在线测试系统的结构示意图。
图中标记说明：1-高低温试验箱，2-多路光源驱动模块，3-待测SLD，4-多路光开关，5-光功率计，6-光谱仪，7-上位机，8-服务器。
具体实施方式
为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例与附图对本实用新型作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本实用新型的限定。
如图1所示，本实施例提供了一种用于SLD光源多通道全温在线测试系统，包括高低温试验箱1、多路光源驱动模块2、多个待测SLD3安装座(图中未示出)、光信号分配器、光功率计5、光谱仪6、上位机7和服务器8。
多路光源驱动模块2和多个待测SLD3安装座均设置在高低温试验箱1中，使得待测SLD3能够在不同的温度下进行全温测试。
多路光源驱动模块2用于给放置在多个待测SLD3安装座上的SLD供电，使得待测SLD3上电后其能够输出光信号，光信号通过光信号分配器输出两路光信号到光功率计5和光谱仪6，通过光功率计5测量光信号大小，通过光谱仪6测量光谱参数，最后将光信号大小和光谱参数发送到上位机7进行统计分析。
上位机7通过控制线路连接到多路光源驱动模块2工作，在上位机7发出测试控制信号后，多路光源驱动模块2开始给待测SLD3供电。上位机7可以远程控制高低温试验箱1内的温度，与此同时，高低温试验箱1内的温度也需要实时采集发送到上位机7进行监控。
上位机7设有对光信号大小以及光谱参数进行统计分析的软件，可以对数据进行计算、分析、统计并生产报表上传至服务器8进行保存。
上述上位机7是可以发出操控命令的计算机设备，比如个人电脑、服务器8、嵌入式单片机等。
如图2所示，在本实施例中，其与图1所示实施例的不同在于，信号分配器采用了一个多路光开关4，这样待测SLD3产生光信号后并不会直接输出到光功率计5和光谱仪6，而是根据需要通过多路光开关4选择哪一路的待测SLD3输出光信号进行测量，这样多个待测SLD3上电后，可以通过多路光开关4控制哪一路的待测SLD3向后输出光信号并进行测试。当然，多路光开关4的具体选择也是通过上位机7发出命令来控制。
上述实施例中，多路光源驱动模块2有32路，其可以通过两个16路光源驱动板并联组成，这样待测SLD3安装座也可以设有32个来对应多路光源驱动模块2的供电路数，如果设置多路光开关4，也需要一个32：2的光开关分别控制待测SLD3的光信号输出。
在上述实施例中，光功率计5的型号为JW8101，光谱仪6的型号为AQ6370D。
下面简述下附图2所述实施例的工作原理：首先将需要测试的待测SLD3(最多可以放置32个)放入待测SLD3安装座上进行固定，然后上位机7实时采集高低温试验箱1内的温度并对其进行调节控制，当高低温试验箱1内的温度调节到预设温度时，上位机7通过控制多路光源驱动模块2对每个待测SLD3进行供电，待测SLD3上电后会产生光信号，并通过多路光开关4控制其中一个待测SLD3输出的光信号传递到光功率计5和光谱仪6测量光信号大小和光谱参数，最后把光信号大小和光谱参数发送到上位机7进行汇总和统计分析，重复上述操作完成所有待测SLD3的测试，上位机7生成相应报表后可以发送到服务器8中。
以上对本申请提供的一种用于SLD光源多通道全温在线测试系统进行了详细介绍。具体实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以对本申请进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。
Claims (4)
1.一种用于SLD光源多通道全温在线测试系统，其特征在于，包括高低温试验箱(1)、多路光源驱动模块(2)、多个待测SLD(3)安装座、光信号分配器、光功率计(5)、光谱仪(6)和上位机(7)；
所述多路光源驱动模块(2)和多个待测SLD(3)安装座设置在高低温试验箱(1)中，其中多路光源驱动模块(2)给放置在多个待测SLD(3)安装座上的SLD供电，所述SLD上电后通过光信号分配器分别将光信号输出到光功率计(5)和光谱仪(6)，光功率计(5)和光谱仪(6)的输出端连接上位机(7)；
所述上位机(7)与多路光源驱动模块(2)和高低温试验箱(1)电连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于SLD光源多通道全温在线测试系统，其特征在于，所述光信号分配器采用多路光开关(4)，用于控制SLD输出的光信号是否发送到光功率计(5)和光谱仪(6)。
3.根据权利要求1或2所述的一种用于SLD光源多通道全温在线测试系统，其特征在于，所述多路光源驱动模块(2)包括两个16路光源驱动板，多个待测SLD(3)安装座设有32个，分别对应多路光源驱动模块(2)的32路电源输出端。
4.根据权利要求1所述的一种用于SLD光源多通道全温在线测试系统，其特征在于，还包括与上位机(7)连接的服务器(8)。
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