CN220509065U - 一种用于耐高温rfid电子标签开发的调温试验装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种用于耐高温RFID电子标签开发的调温试验装置,包括加热试验台、电加热器、加热电源、可控功率开关、第一数显智能温控仪、第二数显智能温控仪和微控制器MCU;电加热器用于对加热试验台上的RFID电子标签进行加热;加热电源用于为电加热器供电;可控功率开关用于控制电加热器和加热电源之间的通断;第一数显智能温控仪的输入端设置有第一温度传感器,该第一温度传感器用于测量加热试验台的温度;第二数显智能温控仪的输入端设置有第二温度传感器,该第二温度传感器用于测量RFID电子标签的芯片下表面处的温度;微控制器MCU分别与可控功率开关、第一数显智能温控仪的输出端、第二数显智能温控仪的输出端连接。

Description

一种用于耐高温RFID电子标签开发的调温试验装置
技术领域
本实用新型涉及RFID电子标签技术领域,具体来讲是一种用于耐高温RFID电子标签开发的调温试验装置。
背景技术
在开发耐高温电子标签的过程中,为了测试电子标签的最高工作温度和工作时间的关系,需要不断控制加热台的温度,使其在一定时间内维持在指定温度下,并同时测量加热试验台和RFID电子标签INLAY的局部温度。反复测试手工方法存在耗费时间长,耗费人力较多,调试和测量过程繁琐的缺点,同时容易出错,大大影响了开发试验效率。
实用新型内容
针对现有技术中存在的缺陷,本实用新型的目的在于提供一种用于耐高温RFID电子标签开发的调温试验装置,将耐高温RFID电子标签开发过程中的加热时间、温度控制、温度测试等试验功能集成为一体,从而提高试验效率,提高测试精确度和质量。
为达到以上目的,本实用新型采取的技术方案是:一种用于耐高温RFID电子标签开发的调温试验装置,包括加热试验台,还包括电加热器、加热电源、可控功率开关、第一数显智能温控仪、第二数显智能温控仪和微控制器MCU;所述电加热器与加热试验台连接,用于对加热试验台上的RFID电子标签进行加热;所述加热电源与电加热器连接,用于为电加热器供电;所述可控功率开关用于控制电加热器和加热电源之间的通断;所述第一数显智能温控仪的输入端设置有第一温度传感器,该第一温度传感器用于测量加热试验台的温度;所述第二数显智能温控仪的输入端设置有第二温度传感器,该第二温度传感器用于测量RFID电子标签的芯片下表面处的温度;微控制器MCU分别与、可控功率开关、第一数显智能温控仪的输出端、第二数显智能温控仪的输出端连接。
进一步改进在于:还包括数字计时器,所述数字计时器与微控制器MCU连接。
进一步改进在于:还包括第三数显智能温控仪,所述第三数显智能温控仪的输入端设置有第三温度传感器,该第三温度传感器用于测量RFID电子标签的模块处的温度。
进一步改进在于:所述可控功率开关为接触器、大功率继电器、可控硅SCR或者IGBT元件。
进一步改进在于:所述第一温度传感器、第二温度传感器、第三温度传感器均为高精度热电偶温度传感器,可测量温度范围达到650摄氏度以上。
进一步改进在于:所述第一数显智能温控仪、第二数显智能温控仪、第三数显智能温控仪均为REX-C1000数显智能温控仪。
进一步改进在于:所述微控制器MCU的型号为MCU-APT32F171。
本实用新型的有益效果在于:
1、本实用新型将耐高温RFID电子标签开发过程中的加热时间、温度控制、温度测试等试验功能集成为一体,从而提高试验效率,提高测试精确度和质量。
2、本实用新型可以加速试验时间,提高开发效率,降低人力成本。
附图说明
图1为本实用新型实施例中用于耐高温RFID电子标签开发的调温试验装置的示意图;
图2为本实用新型实施例中用于耐高温RFID电子标签开发的调温试验装置的电路原理图。
附图标记:
1-加热试验台;2-RFID电子标签;3-可控功率开关;4-加热电源;5-电加热器;6-微控制器MCU;7-数字计时器;8-第一温度传感器;9-第二温度传感器;10-第三温度传感器;11-第一数显智能温控仪;12-第二数显智能温控仪;13-第三数显智能温控仪。
具体实施方式
下面详细描述本实用新型的实施例,所述的实施例示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,对于方位词,如有术语“中心”,“横向(X)”、“纵向(Y)”、“竖向(Z)”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示方位和位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于叙述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定方位构造和操作,不能理解为限制本实用新型的具体保护范围。
此外,如有术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或隐含指明技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”特征可以明示或者隐含包括一个或者多个该特征,在本实用新型描述中,“数个”、“若干”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
下面结合说明书的附图,通过对本实用新型的具体实施方式作进一步的描述,使本实用新型的技术方案及其有益效果更加清楚、明确。下面通过参考附图描述实施例是示例性的,旨在解释本实用新型,而不能理解为对本实用新型的限制。
参见图1和图2所示,本实用新型实施例提供一种用于耐高温RFID电子标签开发的调温试验装置,包括加热试验台1,还包括电加热器5、加热电源4、可控功率开关3、第一数显智能温控仪11、第二数显智能温控仪12和微控制器MCU6;
电加热器5与加热试验台1连接,用于对加热试验台1上的RFID电子标签2进行加热;
加热电源4与电加热器5连接,用于为电加热器5供电;
可控功率开关3用于控制电加热器5和加热电源4之间的通断;具体的,可控功率开关3为接触器、大功率继电器、可控硅SCR或者IGBT元件。
第一数显智能温控仪11的输入端设置有第一温度传感器8,该第一温度传感器8用于测量加热试验台1的温度;
第二数显智能温控仪12的输入端设置有第二温度传感器9,该第二温度传感器9用于测量RFID电子标签2的芯片下表面处的温度;
微控制器MCU6分别与可控功率开关3、第一数显智能温控仪11的输出端、第二数显智能温控仪12的输出端连接。具体的,微控制器MCU6的型号为MCU-APT32F171。
参见图1和图2所示,用于耐高温RFID电子标签开发的调温试验装置还包括数字计时器7,数字计时器7与微控制器MCU6连接。
参见图1和图2所示,用于耐高温RFID电子标签开发的调温试验装置还包括第三数显智能温控仪13,第三数显智能温控仪13的输入端设置有第三温度传感器10,该第三温度传感器10用于测量RFID电子标签2的模块处的温度。具体的,第一温度传感器8、第二温度传感器9、第三温度传感器10均为高精度热电偶温度传感器,可测量温度范围达到650摄氏度以上。第一数显智能温控仪11、第二数显智能温控仪12、第三数显智能温控仪13均为REX-C1000数显智能温控仪。
本实用新型的工作原理为:
第一温度传感器测量加热试验台的温度T1,第二温度传感器测量RFID芯片下表面的温度T2,第三温度传感器测量RFID电子标签模块的温度T3。
参见图2和表1所示,当第一温度传感器感测到加热试验台温度低于设定的试验台温度T10(例如650摄氏度),同时第二温度传感器感测到RFID芯片温度低于设定的RFID芯片最高工作温度T20(例如85摄氏度)时,第一数显智能温控仪输出开关接通,第二数显智能温控仪输出开关接通,MCU输入1、输入2均为高电平,经过MCU内部计算处理,MCU输出1输出高电平,MCU输出2输出高电平,可控功率开关接通,电加热器通电加热,数字计时器没有触发信号,不计时。
当第一温度传感器感测到加热试验台温度高于设定的试验台温度(例如650摄氏度),同时第二温度传感器感测到RFID芯片温度低于设定的RFID芯片最高工作温度(例如80摄氏度)时,第一数显智能温控仪输出开关断开,第二数显智能温控仪输出开关保持接通,MCU输入1为低电平、输入2为高电平,经过MCU内部计算处理,MCU输出1输出低电平,MCU输出2输出高电平,可控功率开关断开,电加热器断电停止加热;数字计时器开始计时。
当第二温度传感器感测到RFID芯片温度高于设定的RFID芯片最高工作温度(例如80摄氏度)时,第二数显智能温控仪输出开关断开,MCU输入2为低电平,经过MCU内部计算处理,MCU输出1输出低电平,MCU输出2输出低电平,可控功率开关断开,电加热器断电停止加热;数字计时器停止计时,并保持显示计时数值。
表1微控制器MCU的输出逻辑
在说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“优选地”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点,包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中,在本说明书中对于上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或者示例中以合适方式结合。
通过上述的结构和原理的描述,所属技术领域的技术人员应当理解,本实用新型不局限于上述的具体实施方式,在本实用新型基础上采用本领域公知技术的改进和替代均落在本实用新型的保护范围,应由各权利要求限定之。

Claims (7)

1.一种用于耐高温RFID电子标签开发的调温试验装置,包括加热试验台(1),其特征在于:还包括电加热器(5)、加热电源(4)、可控功率开关(3)、第一数显智能温控仪(11)、第二数显智能温控仪(12)和微控制器MCU(6);
所述电加热器(5)与加热试验台(1)连接,用于对加热试验台(1)上的RFID电子标签(2)进行加热;
所述加热电源(4)与电加热器(5)连接,用于为电加热器(5)供电;
所述可控功率开关(3)用于控制电加热器(5)和加热电源(4)之间的通断;
所述第一数显智能温控仪(11)的输入端设置有第一温度传感器(8),该第一温度传感器(8)用于测量加热试验台(1)的温度;
所述第二数显智能温控仪(12)的输入端设置有第二温度传感器(9),该第二温度传感器(9)用于测量RFID电子标签(2)的芯片下表面处的温度;
微控制器MCU(6)分别与可控功率开关(3)、第一数显智能温控仪(11)的输出端、第二数显智能温控仪(12)的输出端连接。
2.根据权利要求1所述的用于耐高温RFID电子标签开发的调温试验装置,其特征在于:还包括数字计时器(7),所述数字计时器(7)与微控制器MCU(6)连接。
3.根据权利要求1所述的用于耐高温RFID电子标签开发的调温试验装置,其特征在于:还包括第三数显智能温控仪(13),所述第三数显智能温控仪(13)的输入端设置有第三温度传感器(10),该第三温度传感器(10)用于测量RFID电子标签(2)的模块处的温度。
4.根据权利要求1所述的用于耐高温RFID电子标签开发的调温试验装置,其特征在于:所述可控功率开关(3)为接触器、大功率继电器、可控硅SCR或者IGBT元件。
5.根据权利要求3所述的用于耐高温RFID电子标签开发的调温试验装置,其特征在于:所述第一温度传感器(8)、第二温度传感器(9)、第三温度传感器(10)均为高精度热电偶温度传感器,可测量温度范围达到650摄氏度以上。
6.根据权利要求3所述的用于耐高温RFID电子标签开发的调温试验装置,其特征在于:所述第一数显智能温控仪(11)、第二数显智能温控仪(12)、第三数显智能温控仪(13)均为REX-C1000数显智能温控仪。
7.根据权利要求1所述的用于耐高温RFID电子标签开发的调温试验装置,其特征在于:所述微控制器MCU(6)的型号为MCU-APT32F171。
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