CN220489920U - 一种产品检测装置 - Google Patents

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孙雪莲
范志錂
王刚
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Abstract

本实用新型涉及一种产品检测装置,装置包括支脚检测治具、控制模块和报警器,支脚检测治具包括第一工作台、定位挡块、第一微动开关、多个浮生组件,定位挡块、第一微动开关均设置在第一工作台上,产品可定位在定位挡块上,定位挡块与第一微动开关电连接;浮生组件包括浮生块、第一限位块、滑动件,第一限位块设置在第一工作台上,浮生块位于第一限位块的正上方,浮生块与滑动件连接并通过滑动件可向靠近或远离第一限位块方向移动,第一限位块、浮生块均由金属材质制成;控制模块与浮生块、第一限位块、第一微动开关电连接;报警器与控制模块连接。本实用新型提供的装置,提高检测效率,耗时短,误差小,精度高,保证产品合格率,提高工时效率。

Description

一种产品检测装置
技术领域
本实用新型涉及一种产品检测装置。
背景技术
我司厂内产品LE001、LE002(用于车底盘制控器)冲压完成之后,接下来的操作为:尺寸检测、贴膜、阳极氧化处理、撕膜、打磨,具体为:先经过尺寸检测初步确认合格,再由于产品表面需要阳极氧化处理,但是局部凸包区域需要保持导电特性,不可做表面氧化处理,为了保护此区域,会在氧化处理制程之前,在此凸包区域做贴膜工序;贴膜后进行阳极氧化处理,待氧化处理制程之后,再做撕膜工序;由于氧化制程中保护膜会因为浸泡电解液不同程度脱落,造成凸包区域被不同程度氧化,所以还需要设置人工打磨工序,去除此区域的氧化膜,以保证产品凸包区域的光洁度和导电性能完好。旧有制程繁杂,费工费力,且产品的不良率居高不下。
在对产品支脚尺寸进行检测时,通过人工使用塞规进行检测,针对大批量产品,不仅检测效率低,耗时长,且误差大,精度低。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种产品检测装置,提高检测效率,检测精度高。
为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案是:
一种产品检测装置,产品具有底板、垂直与所述的底板的环形侧板,所述的环形侧板与所述的底板连接,并包围形成一个具有顶部开口的空间,所述的环形侧板远离底板的一侧设置有多个支脚,产品的底板上设置有凸包部,所述的装置包括:
支脚检测治具,所述的支脚检测治具包括第一工作台、定位挡块、第一微动开关、多个浮生组件,所述的定位挡块、第一微动开关均设置在所述的第一工作台上,产品可定位在所述的定位挡块上,所述的定位挡块与所述的第一微动开关电连接;所述的浮生组件包括浮生块、第一限位块、滑动件,所述的第一限位块设置在所述的第一工作台上,所述的浮生块位于所述的第一限位块的正上方,所述的浮生块与所述的滑动件连接并通过所述的滑动件可向靠近或远离所述的第一限位块方向移动,所述的第一限位块、浮生块均由金属材质制成;
控制模块,所述的控制模块与所述的浮生块、第一限位块、第一微动开关电连接;
报警器,所述的报警器与所述的控制模块连接。
优选地,所述的浮生组件还包括固定块,所述的第一工作台的底面开设有向上凹进的容纳槽,所述的固定块设置在所述的容纳槽内,所述的固定块与所述的控制模块通过导线电连接;所述的滑动件包括紧固件、弹性件,所述的紧固件由金属材质制成,所述的紧固件一端与所述的浮生块连接,其另一端与所述的固定块连接,所述的弹性件套设在所述的紧固件外,所述的弹性件一端与所述的浮生块相抵,另一端与所述的第一工作台相抵。
优选地,所述的第一微动开关包括第一微动杆、第一开关元件、第一辊轮、触点,所述的第一开关元件设置在所述的第一工作台上,所述的第一微动杆设置在所述的第一开关元件的上部并与所述的第一开关元件转动连接,所述的第一微动杆的一端设置有所述的第一辊轮,所述的触点位于所述的第一微动杆下方,所述的第一微动杆在所述的第一辊轮受下压力时可与所述的触点接触。
优选地,所述的装置还包括镭射治具和导通检测治具,所述的镭射治具用于去除产品凸包部的氧化层,所述的导通检测治具用于检测去除氧化层后的凸包部的氧化性,所述的镭射治具、导通检测治具均与所述的控制模块连接。
优选地,所述的镭射治具包括第二工作台、第二限位块、第二微动开关、镭射组件,所述的第二限位块、第二微动开关均设置在所述的第二工作台上,所述的第二限位块用于定位产品,所述的第二微动开关、镭射组件均与所述的控制模块连接,所述的镭射组件用于产生镭射光线以去除产品凸包部的氧化层。
优选地,所述的第二微动开关包括第二微动杆、第二开关元件、第二辊轮,所述的第二开关元件设置在所述的第二工作台上,所述的第二微动杆设置在所述的第二开关元件的侧部并与所述的第二开关元件转动连接,所述的第二微动杆的一端设置有所述的第二辊轮。
优选地,所述的导通检测治具包括第三工作台、第三限位块、触头组件,所述的第三限位块、触头组件均设置在所述的第三工作台上,所述的第三限位块用于固定产品,所述的触头组件包括本体、支撑片、弹簧、触头,所述的本体的一侧下方设置有连接杆,该侧上方设置有所述的支撑片,所述的支撑片与所述的本体转动连接,所述的支撑片一端与所述的连接杆通过所述的弹簧连接,所述的支撑片的另一端向上倾斜延伸,该端设置有两个所述的触头,两个所述的触头相对设置,所述的触头远离所述的弹簧的一端设置有触点,所述的触头与所述的控制模块通过导线连接。
优选地,所述的本体由第一本体和第二本体组装,所述的装置还包括连接块,所述的连接块与所述的第三工作台连接,所述的第一本体、第二本体中一个与所述的连接块连接。
优选地,每个浮生组件对应一个线槽,所述的线槽开设在第一工作台的上表面,且向下侧凹进形成用于容置导线的空间。
优选地,其中一个所述的线槽的末端贯通所述的第一工作台的一侧;所述的装置还包括有固线挡块,所述的固线挡块位于所述的线槽末端的开口上方,所述的固线挡块用于限制导线脱离所述的线槽。
由于上述技术方案运用,本实用新型与现有技术相比具有下列优点:
本实用新型提供的产品检测装置,通过设置支脚检测治具,提高检测效率,耗时短,且误差小,精度高,保证产品合格率,提高工时效率。
附图说明
附图1为本实用新型提供的产品检测装置的结构图;
附图2为图1的放大图;
附图3为本实用新型提供的产品检测装置的支脚检测治具的第一视角的结构图;
附图4为本实用新型提供的产品检测装置的第二视角的结构图;
附图5为本实用新型提供的产品检测装置的第三视角的结构图;
附图6为本实用新型提供的产品检测装置的浮生组件的结构图;
附图7为本实用新型提供的产品检测装置的继电器的结构图;
附图8为本实用新型提供的产品检测装置的镭射治具的结构图;
附图9为本实用新型提供的产品检测装置的镭射治具的镭射组件的结构图;
附图10为本实用新型提供的产品检测装置的镭射治具的第一视角的结构图(无镭射组件);
附图11为本实用新型提供的产品检测装置的镭射治具的第二视角的结构图(无镭射组件);
附图12为本实用新型提供的产品检测装置的导通检测治具的第一视角的结构图;
附图13为本实用新型提供的产品检测装置的导通检测治具的第二视角的结构图;
附图14为产品的主视图;
附图15为产品的后视图;
附图16为产品的右视图。
以上附图中:
1-支脚检测治具,11-第一工作台,111-线槽,112-容纳槽,12-定位挡块,13-第一微动开关,131-第一微动杆,132-第一开关元件,133-第一辊轮,134-触点,14-浮生组件,141-浮生块,142-第一限位块,143-滑动件,144-固定块,145-紧固件,146-弹性件,15-固线挡块;
2-镭射治具,21-第二工作台,22-第二限位块,23-第二微动开关,231-第二微动杆,232-第二开关元件,233-第二辊轮,24-镭射组件;
3-导通检测治具,31-第三工作台,32-第三限位块,33-触头组件,331-第一本体和第二本体,332-支撑片,333-弹簧,334-触点;34-等高块;
4-继电器;5-蜂鸣器;6-检测灯;7-通电灯;8-电源开关;9-产品,91-凸包部,92-支脚。
具体实施方式
下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
参见图1至图13所示的产品检测装置,产品9类似盖体,产品截面呈四边形。产品具有底板、垂直与底板的环形侧板,环形侧板与底板连接,并包围形成一个具有顶部开口的空间,环形侧板包括四个侧面,环形侧板远离底板的一侧设置有多个支脚92,环形侧板包括四个侧面,在一种产品中,环形侧板的每个侧面上设置有两个支脚。产品的底板上设置有凸包部91,底板具有相对设置的第一面和第二面,第一面远离支脚,第二面靠近支脚,凸包部位于第二面。
装置包括支脚检测治具1、镭射治具2、导通检测治具3、控制模块、报警器,具体地:
支脚检测治具1用于检测产品支脚的尺寸偏差,支脚检测治具1包括第一工作台11、定位挡块12、第一微动开关13、多个浮生组件14,定位挡块12、第一微动开关13均设置在第一工作台11上,产品可定位在定位挡块12上,定位挡块12与第一微动开关13通过导线电连接。
本例的定位挡块12可设置多个,第一微动开关13与其中一个定位挡块12相邻,该定位挡块12与第一微动开关13电连接。
浮生组件14包括浮生块141、第一限位块142、滑动件143,第一限位块142设置在第一工作台11上,浮生块141位于第一限位块142的正上方,浮生块141与滑动件143连接,浮生块141通过滑动件143可向靠近或远离第一限位块142方向移动,浮生块141、第一限位块142均由金属材质制成,第一限位块142与控制模块电连接。
本例中,在初始状态下,浮生块141上表面与第一工作台11的距离小于定位挡块12上表面与第一工作台11的距离,当产品放置在定位挡块12上,底板与定位挡块12相抵,支脚朝下与浮生块141相抵,产品支脚所在面低于定位挡块12所在面。
控制模块与浮生块141、第一限位块142、第一微动开关13电连接,报警器与控制模块连接,控制模块包括继电器4,继电器4设置多个,继电器4的一个电源端与0V电源电连接,继电器4的另一个电源端与24V电源电连接。
本例的第一微动开关13包括第一微动杆131、第一开关元件132、第一辊轮133、触点134,第一开关元件132设置在第一工作台11上,第一微动杆131设置在第一开关元件132的上部并与第一开关元件132转动连接,第一微动杆131的一端设置有第一辊轮133,在初始状态,第一辊轮133上表面所处位置高于与之相邻的定位挡块12的上表面所处位置;触点134与第一开关元件132连接并位于第一微动杆131下方,当产品放置在定位挡块12上,产品抵压第一微动开关13的第一辊轮133,第一微动杆131在第一辊轮133受下压力时与触点接触,第一微动开关13处于连通(通电)状态,与第一微动开关13电连接的定位挡块12通电,传导至产品(产品由金属制成),再由产品支脚传导至浮生块141,此时浮生块141通电;当第一微动开关13上无产品时,第一微动杆131不与触点接触,第一微动开关13处于断开状态。
本例的第一微动杆131沿水平方向延伸,在初始状态下,第一微动杆131可与水平面之间保持夹角。
使用本例的产品检测装置来检测产品支脚高度尺寸是否在尺寸公差范围之内的具体实施方式为:将产品放置在定位挡块12上,产品的底板的第二面贴合定位挡块12上表面,支脚端部朝向浮生块141,轻按产品,产品带动按压微动开关,通过通电导线接通控制箱内的继电器4触点,使继电器4通电动作,指示灯亮起,表示检测工作进行中,报警器(蜂鸣器5)保持断电状态(没有发出报警信号,如没有发出声音),代表产品尺寸合格。
当产品的一个或者多个支脚的高度尺寸不合格时,按压浮升块时,浮升块和对应的金属第一限位块142接触到,导致第一限位块142通电,由通电导线输出到控制箱内,控制箱内继电器4接收到信号,使报警器报警灯亮,同时发出报警声响,表示产品尺寸不良,超出尺寸公差界限,即支脚过长。
还有一种情况是:当产品的一个或者多个支脚过短,按压产品后,该支脚不与浮升块接触,其余支脚可与浮升块接触,但是浮升块和对应的金属第一限位块142不会接触到,因多个浮生组件14为串联关系,此时报警器报警灯亮,同时发出报警声响,表示产品尺寸不良。
一个产品的支脚设置多个,则浮生组件14设置多个,浮生组件14与支脚一一对应,即浮生组件14的数量与支脚的数量相等。多个浮生组件14的浮生块141的上表面齐平,即位于同一平面。
本例的浮生块141与控制模块电连接的方式为:第一工作台11的底面开设有向上凹进的容纳槽112,固定块144设置在容纳槽112内,固定块144与控制模块通过导线电连接。滑动件143包括紧固件145、弹性件146,紧固件145由金属材质制成,紧固件145一端与浮生块141连接,其另一端与固定块144连接,紧固件145可为螺丝或螺栓螺母组件;弹性件146套设在紧固件145外,弹性件146一端与浮生块141相抵,另一端与第一工作台11相抵。当产品放置在定位挡块12上,若支脚较长时,按压产品,使得浮生块141向下移动,此时弹性件146被压缩,这个过程中,若浮生块141与第一限位块142相抵,浮生块141上电荷通过金属紧固件145传导至固定块144,再通过通电导线接通控制箱内的继电器4触点,使继电器4通电动作;当移出产品后,在弹性件146的弹性力作用下,浮生块141回位。
进一步地,第一工作台11上开设有多个线槽111,线槽111开设在第一工作台11的上表面,且向下侧凹进形成用于容置导线的空间,即线槽111的开口朝上,每个浮生组件14对应一个线槽111;其中一个线槽111的末端贯通第一工作台11的一侧,即与每个浮生组件14的固定块144连接的导线沿着该线槽111与控制模块连接。
第一工作台11的穿出槽上方还设置有固线挡块15,固线挡块15位于线槽111末端的开口上方,用于限制导线脱离线槽111,保证导线有序排列;固线挡块15可为方体形。
将通过支脚检测治具1检测合格后的产品移送至镭射治具2,通过镭射治具2来去除产品凸包部的氧化层。
镭射治具2与支脚检测治具1独立设置,镭射治具2包括第二工作台21、第二限位块22、第二微动开关23、镭射组件24,第二限位块22、第二微动开关23均设置在第二工作台21上,第二限位块22设置多个,第二限位块22均为方体形,多个第二限位块22上表面与第二工作台21的距离相等。第二限位块22用于固定产品位置,第二微动开关23、镭射组件24均与控制模块连接,镭射组件24用于产生镭射光线以去除产品凸包部的氧化层。
第二微动开关23包括第二微动杆231、第二开关元件232、第二辊轮233,第二开关元件232设置在第二工作台21上,第二微动杆231设置在第二开关元件232的侧部并与第二开关元件232转动连接,第二微动杆231的一端设置有第二辊轮233。本例的第二微动杆231沿竖直方向延伸,在初始状态下,第二微动杆231可与竖直面之间保持锐角夹角,这样设置节约空间。
第二微动开关23用于接收和传送信号,当产品放置在第二限位块22上,轻按产品,随之带动按压第二微动开关23,第二微动杆231可与触点接触,第二微动开关23处于连通状态,由于第二微动开关23连接导线,能够输出信号给控制模块,控制模块接收到信号,再传送到镭射组件24,使镭射机启动工作,对凸包相应部位进行镭射加工,使之去除表面阳极氧化层。镭射组件24为本领域技术人员熟知的技术手段,可通过市售获得;当第二微动开关23不与产品接触时,第二微动开关23处于断开状态。
当产品表面经过阳极氧化处理工序之后,整个外表面被阳极氧化层覆盖,为了保证产品局部凸包部位的导电性能,则需要去除凸包部位阳极氧化层。将通过镭射治具2去除了凸包部的氧化层后的产品移送至导通检测治具3,导通检测治具3用于检测去除氧化层后的凸包部的氧化性。
导通检测治具3与控制模块连接,导通检测治具3包括第三工作台31、第三限位块32、触头组件33、等高块34,第三限位块32、触头组件33均设置在第三工作台31上,第三限位块32用于固定产品,触头组件33与控制模块连接,触头组件33包括支撑片332、弹簧333、触头,本体的一侧下方设置有连接杆,该侧上方设置有支撑片332,支撑片332与本体转动连接,支撑片332一端与连接杆通过弹簧333连接,即弹簧333一端连接在连接杆上,弹簧33另一端与固定片一端连接,弹簧沿竖直方向延伸,支撑片332的另一端向上倾斜延伸,该端设置有两个触头,两个触头相对设置且平行,触头远离弹簧的一端设置有触点334,触头、触点均为铜材质,触头与控制模块通过导线连接。
进一步地,本体由第一本体和第二本体331组装,装置还包括连接块,连接块与第三工作台31连接,第一本体和第二本体331中一个与连接块连接。第一本体和第二本体331上设置有连通道,连通道的中部开设通孔,通孔中心线沿水平方向延伸,支撑片332靠近其一端的两侧均设置有轴,两个轴可分别伸入第一本体和第二本体331的连通道实现支撑片332与本体转动连接。这样设置的好处是:将支撑片332与本体先连接,再固定连接块,方便触头组件33安装、拆卸。
进一步地,导通检测治具3还包括等高块34,等高块34的高度大于第三限位块32的高度,等高块34设置多个,等高块34均为方体形,多个等高块34上表面与第三工作台31的距离相等;通过第三限位块32和等高块34来固定好产品位置和高度。第三限位块32设置多个,第三限位块32均为方体形,多个第三限位块32上表面与第三工作台31的距离相等;
当产品放置在第三限位块32和等高块34上,轻按产品,同时触动产品凸包下方的铜材触头,铜材触头通过导线传送信号到控制模块,如果报警器灯亮且发出声响,表示凸包部位氧化层去除完全,导电性能良好。反之,如果报警器不工作,则表示氧化层没有去除完全,凸包部位不具备导电性能,产品不合格。
使用本例的产品检测装置的具体实施方式为:使用支脚检测治具来检测产品支脚尺寸,再对检测合格的产品进行阳极氧化处理,然后通过镭射治具去除产品凸包表面阳极氧化层,最后通过导通检测设备来检测产品凸包的导电性能。通过设置尺寸检测治具和镭射治具、导通检测治具,加入镭射工艺,去除了贴膜、撕膜和打磨等费时费力的繁杂工序,减少工时和人力,实现自动化一体化作业,大大提高了生产效率和产品合格率。
上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施,并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种产品检测装置,产品具有底板、垂直与所述的底板的环形侧板,所述的环形侧板与所述的底板连接,并包围形成一个具有顶部开口的空间,所述的环形侧板远离底板的一侧设置有多个支脚,产品的底板上设置有凸包部,其特征在于,所述的装置包括:
支脚检测治具,所述的支脚检测治具包括第一工作台、定位挡块、第一微动开关、多个浮生组件,所述的定位挡块、第一微动开关均设置在所述的第一工作台上,产品可定位在所述的定位挡块上,所述的定位挡块与所述的第一微动开关电连接;所述的浮生组件包括浮生块、第一限位块、滑动件,所述的第一限位块设置在所述的第一工作台上,所述的浮生块位于所述的第一限位块的正上方,所述的浮生块与所述的滑动件连接并通过所述的滑动件可向靠近或远离所述的第一限位块方向移动,所述的第一限位块、浮生块均由金属材质制成;
控制模块,所述的控制模块与所述的浮生块、第一限位块、第一微动开关电连接;
报警器,所述的报警器与所述的控制模块连接。
2.根据权利要求1所述的产品检测装置,其特征在于,所述的浮生组件还包括固定块,所述的第一工作台的底面开设有向上凹进的容纳槽,所述的固定块设置在所述的容纳槽内,所述的固定块与所述的控制模块通过导线电连接;
所述的滑动件包括紧固件、弹性件,所述的紧固件由金属材质制成,所述的紧固件一端与所述的浮生块连接,其另一端与所述的固定块连接,所述的弹性件套设在所述的紧固件外,所述的弹性件一端与所述的浮生块相抵,另一端与所述的第一工作台相抵。
3.根据权利要求1所述的产品检测装置,其特征在于,所述的第一微动开关包括第一微动杆、第一开关元件、第一辊轮、触点,所述的第一开关元件设置在所述的第一工作台上,所述的第一微动杆设置在所述的第一开关元件的上部并与所述的第一开关元件转动连接,所述的第一微动杆的一端设置有所述的第一辊轮,所述的触点位于所述的第一微动杆下方,所述的第一微动杆在所述的第一辊轮受下压力时可与所述的触点接触。
4.根据权利要求1所述的产品检测装置,其特征在于,所述的装置还包括镭射治具和导通检测治具,所述的镭射治具用于去除产品凸包部的氧化层,所述的导通检测治具用于检测去除氧化层后的凸包部的氧化性,所述的镭射治具、导通检测治具均与所述的控制模块连接。
5.根据权利要求4所述的产品检测装置,其特征在于,所述的镭射治具包括第二工作台、第二限位块、第二微动开关、镭射组件,所述的第二限位块、第二微动开关均设置在所述的第二工作台上,所述的第二限位块用于定位产品,所述的第二微动开关、镭射组件均与所述的控制模块连接,所述的镭射组件用于产生镭射光线以去除产品凸包部的氧化层。
6.根据权利要求5所述的产品检测装置,其特征在于,所述的第二微动开关包括第二微动杆、第二开关元件、第二辊轮,所述的第二开关元件设置在所述的第二工作台上,所述的第二微动杆设置在所述的第二开关元件的侧部并与所述的第二开关元件转动连接,所述的第二微动杆的一端设置有所述的第二辊轮。
7.根据权利要求4所述的产品检测装置,其特征在于,所述的导通检测治具包括第三工作台、第三限位块、触头组件,所述的第三限位块、触头组件均设置在所述的第三工作台上,所述的第三限位块用于固定产品,所述的触头组件包括本体、支撑片、弹簧、触头,所述的本体的一侧下方设置有连接杆,该侧上方设置有所述的支撑片,所述的支撑片与所述的本体转动连接,所述的支撑片一端与所述的连接杆通过所述的弹簧连接,所述的支撑片的另一端向上倾斜延伸,该端设置有两个所述的触头,两个所述的触头相对设置,所述的触头远离所述的弹簧的一端设置有触点,所述的触头与所述的控制模块通过导线连接。
8.根据权利要求7所述的产品检测装置,其特征在于,所述的本体由第一本体和第二本体组装,所述的装置还包括连接块,所述的连接块与所述的第三工作台连接,所述的第一本体、第二本体中一个与所述的连接块连接。
9.根据权利要求1所述的产品检测装置,其特征在于,每个浮生组件对应一个线槽,所述的线槽开设在第一工作台的上表面,且向下侧凹进形成用于容置导线的空间。
10.根据权利要求9所述的产品检测装置,其特征在于,其中一个所述的线槽的末端贯通所述的第一工作台的一侧;所述的装置还包括有固线挡块,所述的固线挡块位于所述的线槽末端的开口上方,所述的固线挡块用于限制导线脱离所述的线槽。
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