CN220399500U - 一种用于分立器件测试的转接板 - Google Patents

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梁光胜
孙川
高远
王舶男
徐婷婷
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Abstract

本实用新型公开了一种用于分立器件测试的转接板,包括转接板、栅极、漏极以及源极,所述栅极、漏极以及源极分别为转接板上的三个引脚,所述源极分为KS与PS,所述KS位于转接板的正面,所述PS位于转接板的背面,所述转接板上方为器件以及电路连接。本实用新型所述的一种用于分立器件测试的转接板,减小共源极电感对器件测试影响,在器件与转接板连接处,将器件的源极分为PS和KS。通过将源极分为PS和KS,PS负责流过漏源电流,KS负责流过栅源电流。对器件开关过程有影响的共源极电感不因转接板而增大,由于使用转接板连接器件可使器件插入的更深,成功减小了共源极电感。

Description

一种用于分立器件测试的转接板
技术领域
本实用新型涉及电力电子器件测量技术领域,特别涉及一种用于分立器件测试的转接板。
背景技术
分立器件测试的转接板是一种进行分立器件动态特性参数检测的支撑设备,随着电力电子器件性能的不断提升,对电力电子器件的动态特性参数研究也变得愈发重要,人们对于分立器件测试的转接板的制造工艺要求也越来越高。
现有的分立器件测试在使用时存在一定的弊端,针对分立器件的传统动态测试,器件直接与测试夹具连接,由于寄生参数的影响,实测波形震荡严重,与器件内部芯片真实发生的波形存在差异。除此之外分立器件封装外形种类多,测试夹具不能适配所有封装。如果需要测试不同封装的器件,往往需要制作大量测试板,为此,我们提出一种用于分立器件测试的转接板。
实用新型内容
解决的技术问题:针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种用于分立器件测试的转接板,减小共源极电感对器件测试影响,在器件与转接板连接处,将器件的源极分为PS和KS。通过将源极分为PS和KS,PS负责流过漏源电流,KS负责流过栅源电流。对器件开关过程有影响的共源极电感不因转接板而增大,由于使用转接板连接器件可使器件插入的更深,成功减小了共源极电感,可以有效解决背景技术中的问题。
技术方案:为实现上述目的,本实用新型采取的技术方案为:一种用于分立器件测试的转接板,包括转接板、栅极、漏极以及源极,所述栅极、漏极以及源极分别为转接板上的三个引脚,所述源极分为KS与PS,所述KS位于转接板的正面,所述PS位于转接板的背面,所述转接板上方为器件以及电路连接。
优选的,所述转接板上器件的栅极连接有G,所述转接板上器件的漏极连接有D,所述转接板上器件的源极与PS、KS相连。
优选的,所述转接板与KS、PS、G和D之间电性连接,所述G与KS之间进行连接,所述KS与PS之间进行连接。
优选的,所述转接板为焊接结构的TO-263封装,所述TO-263封装器件转换为三条腿的G、D、S的引脚排列且适配常见的TO-247测试座。
优选的,所述转接板为封装测试座转接形成,且将器件焊接的位置设为测试座结构。
优选的,所述转接板上器件的源极分为PS与KS,所述PS负责流过漏源电流,KS负责流过栅源电流。
有益效果:与现有技术相比,本实用新型提供了一种用于分立器件测试的转接板,具备以下有益效果:该一种用于分立器件测试的转接板,减小共源极电感对器件测试影响,在器件与转接板连接处,将器件的源极分为PS和KS。通过将源极分为PS和KS,PS负责流过漏源电流,KS负责流过栅源电流。对器件开关过程有影响的共源极电感不因转接板而增大,由于使用转接板连接器件可使器件插入的更深,成功减小了共源极电感;于转接板是独立于测试板的,如果需要寄生参数最小情况下的波形,可将转接板设计为将器件直接焊接的结构,如果需要批量测试,也可将转接板设计为适配其他夹具的结构,可在不改变测试板中测试座的情况下,设计适配多种封装的转接板,整个分立器件测试的转接板结构简单,操作方便,使用的效果相对于传统方式更好。
附图说明
图1为本实用新型一种用于分立器件测试的转接板中共源极电感对器件测试影响的示意图。
图2为本实用新型一种用于分立器件测试的转接板中电路原理示意图。
图3为本实用新型一种用于分立器件测试的转接板中实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图和具体实施方式对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述,但是本领域技术人员将会理解,下列所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例,仅用于说明本实用新型,而不应视为限制本实用新型的范围。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。实施例中未注明具体条件者,按照常规条件或制造商建议的条件进行。所用试剂或仪器未注明生产厂商者,均为可以通过市售购买获得的常规产品。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
如图1-3所示,一种用于分立器件测试的转接板,包括转接板、栅极、漏极以及源极,栅极、漏极以及源极分别为转接板上的三个引脚,源极分为KS与PS,KS位于转接板的正面,PS位于转接板的背面,转接板上方为器件以及电路连接,减小共源极电感对器件测试影响,在器件与转接板连接处,将器件的源极分为PS和KS。通过将源极分为PS和KS,PS负责流过漏源电流,KS负责流过栅源电流。对器件开关过程有影响的共源极电感不因转接板而增大,由于使用转接板连接器件可使器件插入的更深,成功减小了共源极电感。
进一步的,转接板上器件的栅极连接有G,转接板上器件的漏极连接有D,转接板上器件的源极与PS、KS相连。
进一步的,转接板与KS、PS、G和D之间电性连接,G与KS之间进行连接,KS与PS之间进行连接。
进一步的,转接板为焊接结构的TO-263封装,TO-263封装器件转换为三条腿的G、D、S的引脚排列且适配常见的TO-247测试座。
进一步的,转接板为封装测试座转接形成,且将器件焊接的位置设为测试座结构。
进一步的,转接板上器件的源极分为PS与KS,PS负责流过漏源电流,KS负责流过栅源电流。
实施例:
如图1所示,器件开关中会在共源极电感处产生与驱动电压相反的电压,图2展示了转接板的电路原理,将源极分为了KS和PS,图3为转接板结构示意图,转接板为一块电路板,下方为三个引脚分别为栅极、漏极、源极,对应标号”G”、”D”、”PS、KS”,其中”KS”位于转接板的正面、”PS”位于转接板的背面。上方为器件及电路连接,器件的栅极与G相连,器件的漏极与D相连、器件的源极分别与PS、DS相连。
以图3所示TO-263封装采用焊接形式的转接板为例,通过以上转接方式,将TO-263封装器件转换为的三条腿的G、D、S的引脚排列,可适配常见的TO-247测试座。
图3所示为焊接方式连接的转接板,分立器件的其他封装均可以按照该方法进行转换。
该转接板也可设计为通过其他封装测试座转接的转接板,仅需将器件焊接的位置设计成测试座即可,这样可以在仅添加一款转接板的情况下,使一款测试板适配多种封装形式。
工作原理:本申请提供一种用于分立器件测试的转接板,能够有效减少寄生参数的影响并可灵活适配各种封装。
一方面,由于器件自身栅源与漏源存在一段共用的寄生电感,之后称为共源极电感。在器件导通时,漏源电流上升,由于dIDS/dt的存在,在共源极电感处产生了与栅源电压极性相反的电压。在器件关闭时,漏源电流下降,由于dIDS/dt的存在,在共源极电感处也产生了与栅源电压极性相反的电压。共源极电感处由于漏源电流的变化,产生与栅源电压极性相反的电压,该电压阻碍了栅极电压的变化。减小这一部分电感有利于得到器件的真实开关波形。
为了减小共源极电感对器件测试影响,在器件与转接板连接处,将器件的源极分为PS和KS。通过将源极分为PS和KS,PS负责流过漏源电流,KS负责流过栅源电流。对器件开关过程有影响的共源极电感不因转接板而增大,由于使用转接板连接器件可使器件插入的更深,成功减小了共源极电感。
另一方面,由于转接板是独立于测试板的,如果需要寄生参数最小情况下的波形,可将转接板设计为将器件直接焊接的结构,如果需要批量测试,也可将转接板设计为适配其他夹具的结构,可在不改变测试板中测试座的情况下,设计适配多种封装的转接板。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二(一号、二号)等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下,本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。

Claims (6)

1.一种用于分立器件测试的转接板,包括转接板、栅极、漏极以及源极,其特征在于:所述栅极、漏极以及源极分别为转接板上的三个引脚,所述源极分为KS与PS,所述KS位于转接板的正面,所述PS位于转接板的背面,所述转接板上方为器件以及电路连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于分立器件测试的转接板,其特征在于:所述转接板上器件的栅极连接有G,所述转接板上器件的漏极连接有D,所述转接板上器件的源极与PS、KS相连。
3.根据权利要求1所述的一种用于分立器件测试的转接板,其特征在于:所述转接板与KS、PS、G和D之间电性连接,所述G与KS之间进行连接,所述KS与PS之间进行连接。
4.根据权利要求1所述的一种用于分立器件测试的转接板,其特征在于:所述转接板为焊接结构的TO-263封装,所述TO-263封装器件转换为三条腿的G、D、S的引脚排列且适配常见的TO-247测试座。
5.根据权利要求1所述的一种用于分立器件测试的转接板,其特征在于:所述转接板为封装测试座转接形成,且将器件焊接的位置设为测试座结构。
6.根据权利要求1所述的一种用于分立器件测试的转接板,其特征在于:所述转接板上器件的源极分为PS与KS,所述PS负责流过漏源电流,KS负责流过栅源电流。
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