CN221007633U - 一种测试信号连接装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种测试信号连接装置，属于信号连接技术领域,包括支撑成套工具，以及固定安装在支撑成套工具上端面的测试连接板，所述测试连接板的上端面一侧固定安装有牛角连接器，所述测试连接板的上端面远离牛角连接器的一侧设置有测试座，所述测试座的内腔设置有被测器件，述测试连接板的正反面均设置带有按测试要求预设的铜箔线路，所述测试座的正下方为平整结构。该实用新型通过采用测试电路和pigopin连接方式，由于PIN1的电容触摸功能测试因其K1连接的电容距离近，分布电容小，灵敏度高，使得对被测产品中良品不良品的判定准确，适用于厂商批量使用，大大提升了工厂的生产效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及信号连接领域，具体而言，涉及一种测试信号连接装置。
背景技术
因国内外半导体设计公司目前产品设计要求外形减小，工作能耗降低，灵敏度提高，性能要更趋完善同时制造成本降低，所以制程工艺不断减小，会导致其芯片在设计时综合考虑各因素的情况下，选择面积小但能满足客户要求的晶圆D I E面积，这样就导致在测试生产环节要求外围配套元件要接近，避免测试环境的干扰或被测器件本身驱动能力不够的原因。
目前大多数测试厂商直接采用金手指连接的方式,其P I N1的电容触摸功能测试因其K1连接的电容距离远，分布电容大，造成测试数据不稳定，产品中良品不良品的判定不准确。因此，如何发明一种测试信号连接装置来改善这些问题，成为了本领域技术人员亟待解决的问题。
实用新型内容
为了弥补以上不足，本实用新型提供了一种测试信号连接装置，旨在改善现有的测试装置在测试时量测测不够准确及稳定的问题。
本实用新型是这样实现的：
本实用新型提供一种测试信号连接装置,包括支撑成套工具，以及固定安装在支撑成套工具上端面的测试连接板，所述测试连接板的上端面一侧固定安装有牛角连接器，所述测试连接板的上端面远离牛角连接器的一侧设置有测试座，所述测试座的内腔设置有被测器件。
优选的，所述测试连接板的正反面均设置带有按测试要求预设的铜箔线路，所述测试座的正下方为平整结构,所述测试连接板的上端面位于测试座的下方设置有PCB板，且所述PCB板的反面焊接有电容一、电容二以及K1开关。
通过采用上述技术方案，使得被测器件方便准确的安装在测试座上。
优选的，电容一的容量为5pF，所述电容二的容量为10pF，所述电容一与被测器件间的距离小于电容二与被测器件间的距离,所述测试座按对应的插孔安装焊接在测试连接板对应的位置，所述被测器件型号为JT8171电子引线控制芯片，所述被测器件按对应的插孔和金手指卡套扣接在测试座上，所述被测器件通过机械结构与测试座上金手指的金属引脚搭接。
通过采用上述技术方案，减少了回路中的电流对电容一的影响,使得被测器件与测试座相连接，以实现对被测器件测试的效果。
优选的，所述被测器件的CAP引脚上并联连接有电容二和电容一，其中被测器件的CAP引脚通过导线与电容二的输入端相连接，电容二的输出端通过导线接地，所述被测器件的CAP引脚上通过导线与电容一的输入端相连接，电容一的输出端通过导线接地，被测器件的CAP引脚和电容一之间设置有K1开关。
优选的，所述被测器件的VBAT引脚上并联有电容三与电压源V1，其中电容三的容值为0.1pF，所述被测器件的VBAT引脚上通过导线与电容三的输入端相连接，所述电容三的输出端通过接地，所述被测器件的VBAT引脚上通过导线与电压源V1的输入端相连接，所述电压源V1的输出端接地，所述被测器件的GND引脚通过导线接地。
优选的，所述被测器件的LED引脚上串联有电流表S1与电压源V2，所述被测器件的LED引脚上通过导线与电流表S1的输入端相连接，所述电流表S1的输出端通过导线与电压源V2的输入端相连接，所述电压源V2通过导线接地，所述被测器件的VOUT引脚上并联有时间测量单元TMU1与电阻R，电阻R阻值为2K，所述被测器件的VOUT引脚上通过导线与时间测量单元TMU1的输入端相连接，所述时间测量单元TMU1的输出端通过导线接地设置，所述被测器件的VOUT引脚上通过导线与电阻2K的输入端相连接，所述电阻2K的输出端通过导线接地设置。
本实用新型的有益效果是：
通过采用本测试电路和p i gop i n连接方式后，P I N1的电容触摸功能测试因其K1连接的电容距离近，分布电容小，灵敏度高，使得对被测产品中良品不良品的判定准确，适用于厂商批量使用，大大提升了工厂的生产效率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施方式的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1是本实用新型实施方式提供的一种测试信号连接装置的整体结构示意图；
图2是本实用新型实施方式提供的一种测试信号连接装置的俯视局部结构示意图；
图3是本实用新型实施方式提供的一种测试信号连接装置的俯视拆分结构示意图；
图4是本实用新型实施方式提供的一种测试信号连接装置的仰视局部结构示意图；
图5是本实用新型实施方式提供的一种测试信号连接装置的JT8171电子引线控制芯片电路图。
图中：1、支撑成套工具；2、测试连接板；3、牛角连接器；4、测试座；41、电容一；42、电容二；43、K1开关；5、被测器件。
具体实施方式
为使本实用新型实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施方式中的附图，对本实用新型实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本实用新型一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本实用新型中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本实用新型保护的范围。
实施例
参照图1-5，一种测试信号连接装置，包括支撑成套工具1，以及固定安装在支撑成套工具1上端面的测试连接板2，测试连接板2的上端面一侧固定安装有牛角连接器3，测试连接板2的上端面远离牛角连接器3的一侧设置有测试座4，测试座4的内腔设置有被测器件5。
参照图3，进一步地；测试连接板2的正反面均设置带有按测试要求预设的铜箔线路，测试座4的正下方为平整结构,测试连接板2的上端面位于测试座4的下方设置有PCB板，且PCB板的反面焊接有电容一41、电容二42以及K1开关43。
参照图4，进一步地；电容一41的容量为5pF，电容二42的容量为10pF，电容一41与被测器件5间的距离小于电容二42与被测器件5间的距离,测试座4按对应的插孔安装焊接在测试连接板2对应的位置，被测器件5型号为JT8171电子引线控制芯片，被测器件5按对应的插孔和金手指卡套扣接在测试座4上，被测器件5通过机械结构与测试座4上金手指的金属引脚搭接。
参照图5，进一步地，被测器件5的CAP引脚上并联连接有电容二42和电容一41，其中被测器件5的CAP引脚通过导线与电容二42的输入端相连接，电容二42的输出端通过导线接地，被测器件5的CAP引脚上通过导线与电容一41的输入端相连接，电容一41的输出端通过导线接地，被测器件5的CAP引脚和电容一41之间设置有K1开关43。
参照图5，进一步地，被测器件5的VBAT引脚上并联有电容三与电压源V1，其中电容三的容值为0.1pF，，被测器件5的VBAT引脚上通过导线与电容三的输入端相连接，电容三的输出端通过接地，被测器件5的VBAT引脚上通过导线与电压源V1的输入端相连接，电压源V1的输出端接地，被测器件5的GND引脚通过导线接地。
参照图5，进一步地；被测器件5的LED引脚上串联有电流表S1与电压源V2，被测器件5的LED引脚上通过导线与电流表S1的输入端相连接，电流表S1的输出端通过导线与电压源V2的输入端相连接，电压源V2通过导线接地，被测器件5的VOUT引脚上并联有时间测量单元TMU1与电阻R，电阻R阻值为2K，被测器件5的VOUT引脚上通过导线与时间测量单元TMU1的输入端相连接，时间测量单元TMU1的输出端通过导线接地设置，被测器件5的VOUT引脚上通过导线与电阻2K的输入端相连接，电阻2K的输出端通过导线接地设置。
该一种测试信号连接装置的工作原理：
参照图5，V1,V2为电压源,TMU1为时间参数测试仪，S1为电流表,V1,V2,S1,TMU1的信号传输和采集均测试连接板2上的牛角连接器3与测试座4连接，通过V1电压源提供3.7V电压，V2电压源提供0V电压后，电路稳定在5mS，然后在5mS内瞬间接通K1开关43让PI N1再并联一个电容入地(触发被测JT8171电子引线控制芯片)，TMU1测试VOUT是否输出高电平脉宽为4.1-4.56ms的PWM信号(或PWM频率为210-250Hz)，同时S1检测LED流出电流是否为6-8mA,若此两项参数指标在此范围内，表示此JT8171电子引线控制芯片是良品；否则为不良品。
需要说明的是，电机具体的型号规格需根据该装置的实际规格等进行选型确定，具体选型计算方法采用本领域现有技术，故不再详细赘述。
以上所述仅为本实用新型的优选实施方式而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种测试信号连接装置，包括支撑成套工具(1)，以及固定安装在支撑成套工具(1)上端面的测试连接板(2)，其特征在于，所述测试连接板(2)的上端面一侧固定安装有牛角连接器(3)，所述测试连接板(2)的上端面远离牛角连接器(3)的一侧设置有测试座(4)，所述测试座(4)的内腔设置有被测器件(5)。
2.根据权利要求1所述的一种测试信号连接装置，其特征在于，所述测试连接板(2)的正反面均设置带有按测试要求预设的铜箔线路，所述测试座(4)的正下方为平整结构,所述测试连接板(2)的上端面位于测试座(4)的下方设置有PCB板，且所述PCB板的反面焊接有电容一(41)、电容二(42)以及K1开关(43)。
3.根据权利要求2所述的一种测试信号连接装置，其特征在于，电容一(41)的容量为5pF，所述电容二(42)的容量为10pF，所述电容一(41)与被测器件(5)间的距离小于电容二(42)与被测器件(5)间的距离,所述测试座(4)按对应的插孔安装焊接在测试连接板(2)对应的位置，所述被测器件(5)型号为JT8171电子引线控制芯片，所述被测器件(5)按对应的插孔和金手指卡套扣接在测试座(4)上，所述被测器件(5)通过机械结构与测试座(4)上金手指的金属引脚搭接。
4.根据权利要求1所述的一种测试信号连接装置，其特征在于，所述被测器件(5)的CAP引脚上并联连接有电容二(42)和电容一(41)，其中被测器件(5)的CAP引脚通过导线与电容二(42)的输入端相连接，电容二(42)的输出端通过导线接地，所述被测器件(5)的CAP引脚上通过导线与电容一(41)的输入端相连接，电容一(41)的输出端通过导线接地，被测器件(5)的CAP引脚和电容一(41)之间设置有K1开关(43)。
5.根据权利要求2所述的一种测试信号连接装置，其特征在于，所述被测器件(5)的VBAT引脚上并联有电容三与电压源V1，其中电容三的容值为0.1pF，所述被测器件(5)的VBAT引脚上通过导线与电容三的输入端相连接，所述电容三的输出端通过导线接地，所述被测器件(5)的VBAT引脚上通过导线与电压源V1的输入端相连接，所述电压源V1的输出端接地，所述被测器件(5)的GND引脚通过导线接地。
6.根据权利要求1所述的一种测试信号连接装置，其特征在于，所述被测器件(5)的LED引脚上串联有电流表S1与电压源V2，所述被测器件(5)的LED引脚上通过导线与电流表S1的输入端相连接，所述电流表S1的输出端通过导线与电压源V2的输入端相连接，所述电压源V2通过导线接地，所述被测器件(5)的VOUT引脚上并联有时间测量单元TMU1与电阻R，电阻R阻值为2K，所述被测器件(5)的VOUT引脚上通过导线与时间测量单元TMU1的输入端相连接，所述时间测量单元TMU1的输出端通过导线接地设置，所述被测器件(5)的VOUT引脚上通过导线与电阻2K的输入端相连接，所述电阻2K的输出端通过导线接地设置。
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