CN220305456U - 一种控制模块和测试电路 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 29
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 22
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 6
- 238000013461 design Methods 0.000 description 5
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 4
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 3
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
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Abstract
本实用新型提供了一种控制模块和测试电路,控制模块包括电路板,至少具有电源引脚、输入引脚、输出引脚以及接地引脚,电源引脚、输入引脚、输出引脚以及接地引脚间隔设置,电源引脚用于接入电源,输出引脚用于与外围电路连接,接地引脚用于接地;继电器电路设置于电路板上,包括电磁继电器电路以及光耦继电器电路中的一种,与电源引脚、输入引脚、输出引脚以及接地引脚连接,继电器电路用于控制输入引脚与输出引脚之间的通断。该控制模块将繁杂的继电器控制电路集成为一个只留有对外连接引脚的模块,如此,该控制模块拆卸方便,能够重复利用,提高了控制模块的利用率。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子技术领域,并且更具体地,涉及一种控制模块和测试电路。
背景技术
随着电子技术的飞速发展,越来越多的集成电路需要测试及筛选,通常可以由多个继电器控制电路构成的测试电路来进行测试及筛选。
而现有的继电器控制电路中的器件繁杂,焊接时间较久,且,焊接后的器件无法重复利用,造成了一定的资源浪费。
实用新型内容
为解决上述问题,本实用新型提供了一种控制模块和测试电路,该控制模块将繁杂的继电器控制电路集成为一个只留有对外连接引脚的模块,如此,该控制模块拆卸方便,能够重复利用,提高了控制模块的利用率。
第一方面,本申请提供一种控制模块,包括:电路板,至少具有电源引脚、输入引脚、输出引脚以及接地引脚,电源引脚、输入引脚、输出引脚以及接地引脚间隔设置,电源引脚用于接入电源,输出引脚用于与外围电路连接,接地引脚用于接地;继电器电路包括电磁继电器电路以及光耦继电器电路中的一种,设置于电路板上,与电源引脚、输入引脚、输出引脚以及接地引脚连接,继电器电路用于控制输入引脚与输出引脚之间的通断。
基于本申请实施例提供的控制模块,做为一个只留有对外连接引脚的模块,当需要对外围电路进行切换测试时,不需要对单个器件进行焊接,只需要将外围电路与电路板上对应的电源引脚、输入引脚、输出引脚以及接地引脚通过排针或排母等焊接器件进行焊接,即控制模块上设置有与各个电源引脚、输入引脚、输出引脚以及接地引脚对应的排针,使用时只需要将对应的排针插在对应的排母上,节约了时间,且,排针与排母之间拆卸方便,拆下的控制模块还能够重复利用,提高了控制模块的利用率,避免了造成资源浪费的问题。同时,还可以将控制模块做成单独的器件添加到集成库中,绘制时只需要从集成库中调用对应的控制模块,简化了操作。
在一种可能的设计方式中,继电器电路包括控制电路以及受控电路;控制电路包括控制元件,控制元件串联接入电源引脚以及接地引脚之间;受控电路包括受控元件,受控元件串联接入输入引脚以及输出引脚之间;其中,控制元件用于控制受控元件的通断,控制元件和受控元件构成电磁继电器电路以及光耦继电器电路中的一种。
基于上述可选方式,受控电路可以通过引脚与外围电路中的待测试电路/元器件连接,控制电路通过控制受控电路的通断,以控制与各个引脚相连的待测试电路/元器件的通断,从而使得控制模块能够实现对外围电路的测试。
在一种可能的设计方式中,电路板还具有控制引脚,控制引脚与电源引脚、输入引脚、输出引脚以及接地引脚间隔设置,控制电路还包括:开关电路,开关电路与控制元件串联接入电源引脚以及接地引脚之间,开关电路的受控端与控制引脚连接,用于根据控制引脚接入的控制信号,控制控制电路的通断。
基于上述可选方式,在控制引脚接入高电平信号时,开关电路导通,使得控制电路导通,以使得控制元件可以控制受控元件导通;在控制引脚接入低电平信号时,开关电路关断,使得控制电路关断,以使得控制元件可以控制受控元件关断。如此,通过向开关电路输入不同的控制信号,即可使得控制模块能够实现对与各个引脚相连的待测试电路/元器件的通断的控制,从而使得控制模块能够实现对外围电路的测试。
在一种可能的设计方式中,开关电路包括:开关元件,开关元件与控制元件串联接入电源引脚以及接地引脚之间,开关元件的受控端与控制引脚连接;第一电阻,第一电阻的第一端与开关元件的受控端连接,第一电阻的第二端与开关元件的输出端连接。
基于上述可选方式,在控制引脚接入高电平信号时,开关元件导通,使得控制电路导通,以使得控制元件可以控制受控元件导通;在控制引脚接入低电平信号时,开关元件关断,使得控制电路关断,以使得控制元件可以控制受控元件关断。如此,通过向开关元件输入不同的控制信号,使得控制模块能够实现对与各个引脚相连的待测试电路/元器件的通断的控制,从而使得控制模块能够实现对外围电路的测试。
在一种可能的设计方式中,开关元件包括三极管以及场效应管中的一种。
基于上述可选方式,开关电路可以选用对应的开关元件以控制控制电路的通断,提高了开关电路的适用性。
在一种可能的设计方式中,继电器电路还包括第二电阻以及发光二极管,第二电阻与发光二极管串联接入电源引脚以及开关元件的输入端之间,发光二极管用于在开关元件导通时发光,以指示开关电路导通。
基于上述可选方式,发光二极管可以在开关元件导通时发光,以指示开关电路导通;发光二极管在开关元件关断时熄灭,以指示开关电路关断,进而使得用户能够实时观察控制模块的连接状态。
在一种可能的设计方式中,继电器电路包括电磁继电器电路;控制元件为线圈,线圈串联接入电源引脚以及接地引脚之间;受控元件为衔铁开关,衔铁开关与线圈对应设置,衔铁开关串联接入输入引脚以及输出引脚之间。
基于上述可选方式,当开关元件导通时,线圈会通过磁场控制衔铁开关导通;当开关元件关断时,线圈会通过磁场控制衔铁开关关断,如此,通过控制开关元件的通断,以控制线圈的通断电,进而控制衔铁开关的通断,从而实现对与各个引脚相连的待测试电路/元器件的通断的控制,从而使得控制模块能够实现对外围电路的测试。
在一种可能的设计方式中,控制电路还包括第一二极管,第一二极管的正极与线圈的负极连接,第一二极管的负极与线圈的正极连接。
基于上述可选方式,第一二极管与线圈的正极以及负极连接,以形成一个泄放回路,从而对电压进行泄放,即当线圈的正极与负极之间的电压大于线圈的耐压值时,线圈能够根据自身的阻抗消耗电压,从而避免出现电源引脚的输入电压过大时,线圈被损坏的问题,进而延长了线圈的使用寿命,以延长控制模块的使用寿命,提高了控制模块的使用率。
在一种可能的设计方式中,衔铁开关至少包括单刀单掷开关、单刀双掷开关、双刀单掷开关以及双刀双掷开关中的一种。
基于上述可选方式,控制模块可以选用对应的衔铁开关以对外围电路进行测试,提高了控制模块的适用性。
第二方面,本申请提供一种测试电路,包括第一方面的任一可选方式所述的控制模块。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的控制模块的框架结构示意图一;
图2是本实用新型实施例提供的控制模块的框架结构示意图二;
图3是本实用新型实施例提供的控制模块的框架结构示意图三;
图4是本实用新型实施例提供的控制模块的框架结构示意图四;
图5是本实用新型实施例提供的控制模块的结构示意图五;
图6是本实用新型实施例提供的控制模块的结构示意图六;
图7是本实用新型实施例提供的控制模块的结构示意图七。
其中,图中各附图标记:
100、控制模块;
110、电路板;
120、继电器电路;121控制电路;1211、控制元件;1212、开关电路;122、受控电路;1221、受控元件;
Q、开关元件;R1、第一电阻;R2、第二电阻;D1、发光二极管;D2、第一二极管。
具体实施方式
以下描述中,为了说明而不是为了限定,提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节,以便透彻理解本实用新型实施例。然而,本领域的技术人员应当清楚,在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本实用新型。在其它情况中,省略对众所周知的系统、装置及电路的详细说明,以免不必要的细节妨碍本实用新型的描述。
随着电子技术的飞速发展,越来越多的电子设备都需要进行测试和筛选,以保证其能够正常使用。例如,终端设备里的电池在使用前需要进行测试,以确定电池是否合格。再例如,集成电路(Integrated Circuit,IC)在使用前都需要进行测试,避免出现集成电路存在故障,导致使用设备故障的问题。随着集成电路的规模越做越大,其电路的引脚数也越来越多,通常可以采用人工的方式对不同的引脚进行重复切换测试,然而,采用人工的方式进行切换测试,测试效率及安全性较低,且,成本较高。为此,现有技术中还常用由多个继电器控制电路构成的测试电路来进行切换测试,以提高测试效率及安全性。然而,现有的继电器控制电路中的器件繁杂,而每个器件都需要进行焊接,如此,焊接时间较久。且,性能较好的器件的成本较高,焊接后会导致器件无法重复利用,造成了一定的资源浪费。
为此,本实用新型提供一种控制模块,该控制模块将繁杂的继电器控制电路集成为一个只留有对外连接引脚的模块,如此,拆卸方便,且,能够重复利用,提高了控制模块的利用率。
下面结合附图对本实用新型提供的控制模块进行示例性的介绍。
如图1所示,为本实用新型实施例提供的控制模块100,包括:电路板110和设置在电路板110上的继电器电路120。电路板110上设置有电源引脚1、输入引脚2、输出引脚3以及接地引脚4,电源引脚1、输入引脚2、输出引脚3以及接地引脚4之间间隔设置。其中,电源引脚1用于接入电源,接地引脚4用于接地,输出引脚3用于与外围电路连接,这里,值得说明的是,外围电路可以是集成电路及其他元器件等需要进行测试的电路设备,对此,本实用新型不做具体的限制。继电器电路120与电源引脚1、输入引脚2、输出引脚3以及接地引脚4连接,继电器电路120用于控制输入引脚2与输出引脚3之间的通断。
可选的,电路板可以是印制电路板(Printed Circuit Board,PCB)、柔性电路板(Flexible Printed Circuit,FPC)及其他电路板,对此,本实用新型不做具体的限制。
如此,控制模块100为一个只留有对外连接引脚的模块,当需要对外围电路进行切换测试时,不需要对单个器件进行焊接,只需要将外围电路与电路板110上对应的电源引脚1、输入引脚2、输出引脚3以及接地引脚4通过排针或排母等焊接器件进行焊接,即控制模块100上设置有与各个电源引脚、输入引脚、输出引脚以及接地引脚对应的排针,使用时只需要将对应的排针插在对应的排母上,操作简单,节约时间,且,排针与排母之间拆卸方便,拆下的控制模块100还能够重复利用,提高了控制模块100的利用率,避免了造成资源浪费的问题。同时,还可以将控制模块100做成单独的器件添加到集成库中,绘制时只需要从集成库中调用对应的控制模块100,简化了操作。
在一个示例中,如图2所示,继电器电路120可以包括控制电路121以及受控电路122,控制电路121串联接入电源引脚1以及接地引脚4之间,受控电路121串联接入输入引脚2以及输出引脚3之间,即受控电路121可以通过引脚与外围电路中的待测试电路/元器件连接,控制电路121通过控制受控电路122的通断,以控制与各个引脚相连的待测试电路/元器件的通断,从而使得控制模块100能够实现对外围电路的测试。
可选的,控制电路121可以包括控制元件1211,控制元件1211串联接入电源引脚1以及接地引脚4之间,受控电路122可以包括受控元件1221,受控元件1221串联接入输入引脚2以及输出引脚3之间,控制元件1211用于控制受控元件1221的通断。
该示例下,如图3所示,电路板110还可以设置有控制引脚5,控制引脚5与电源引脚1、输入引脚2、输出引脚3以及接地引脚4间隔设置。控制电路121还可以包括如图3所示的开关电路1212,开关电路1212与控制元件1211串联接入电源引脚1以及接地引脚4之间,开关电路1212的受控端与控制引脚5连接,用于根据控制引脚5接入的控制信号,控制控制电路121的通断。
在一个示例中,如图4所示,开关电路1212可以包括:开关元件Q和第一电阻R1,开关元件Q与控制元件1211串联接入电源引脚1以及接地引脚4之间,开关元件Q的受控端与控制引脚5连接。第一电阻R1的第一端与开关元件Q的受控端连接,第一电阻R1的第二端与开关元件Q的输出端连接。
可选的,开关元件Q可以是金属氧化物半导体型场效应管(Metal OxideSemiconductor,MOS),例如,绝缘栅增强型NMOS晶体管、绝缘栅增强型PMOS晶体管等。示例性的,以如图5所示,开关元件Q为绝缘栅增强型NMOS晶体管为例,值得说明的是,绝缘栅增强型NMOS晶体管的栅极为开关元件Q的受控端,绝缘栅增强型NMOS晶体管的源极为开关元件Q的输入端,绝缘栅增强型NMOS晶体管的漏极为开关元件Q的输出端。在控制引脚5接入高电平信号时,绝缘栅增强型NMOS晶体管的栅极为高电平,以使得绝缘栅增强型NMOS晶体管的源极与漏极之间导通,从而使得控制电路121导通,以使得控制元件1211可以控制受控元件1221导通;当控制引脚5接入低电平信号时,绝缘栅增强型NMOS晶体管的栅极为低电平,以使得绝缘栅增强型NMOS晶体管的源极与漏极之间关断,从而使得控制电路121关断,以使得控制元件1211可以控制受控元件1221关断。如此,通过向开关元件Q输入不同的控制信号,使得控制模块100能够实现对与各个引脚相连的待测试电路/元器件的通断的控制,从而使得控制模块100能够实现对外围电路的测试。
可选的,开关元件Q可以是三极管(Bipolar Junction Transistor,BJT),例如,NPN型三极管、PNP型三极管等,此处不再赘述。在本实用新型实施例中对开关元件Q的具体形式不做限制。
为了方便用户能够实时观察控制模块100的连接状态,在一个示例中,如图6所示,继电器电路120还可以包括第二电阻R2以及发光二极管D1,第二电阻R2与发光二极管D1串联接入电源引脚1以及开关元件Q的输入端之间。发光二极管D1可以在开关元件Q导通时发光,以指示开关电路1212导通;发光二极管D1在开关元件Q关断时熄灭,以指示开关电路1212关断,进而使得用户能够通过观察发光二极管D1的亮灭,以实时观察控制模块100的连接状态。
值得说明的是,本实用新型实施例所提供的继电器电路120可以包括电磁继电器电路以及光耦继电器电路中的任意一种。对此,本实用新型不做具体的限制。
示例性的,继电器电路120可以是电磁继电器电路。控制元件1211可以为线圈,线圈的一端与电源引脚1连接,线圈的另一端与接地引脚4连接。受控元件1221可以为衔铁开关,衔铁开关与线圈对应设置,衔铁开关串联接入输入引脚2以及输出引脚3之间。该示例下,当开关元件Q导通时,线圈会通过磁场控制衔铁开关导通;当开关元件Q关断时,线圈会通过磁场控制衔铁开关关断,如此,通过控制开关元件Q的通断,以控制线圈的通断电,进而控制衔铁开关的通断,从而实现对与各个引脚相连的待测试电路/元器件的通断的控制,从而使得控制模块100能够实现对外围电路的测试。
可选的,衔铁开关可以是单刀单掷开关、单刀双掷开关、双刀单掷开关以及双刀双掷开关中的一种。示例性的,如图7所示,衔铁开关为双刀双掷开关,双刀双掷开关有两个输入端和四个输出端,控制模块100包括两个输入引脚2以及四个输出引脚3,双刀双掷开关的两个输入端与两个输入引脚2一一对应连接,双刀双掷开关的四个输出端与四个输出引脚3一一对应连接。当将控制模块100的各个引脚与外围电路对应连接时,假设双刀双掷开关的四个输出端分别与外围电路中不同的待测试电路连接,此时,如图7所示,其中两个输出端为常闭端,另外两个输出端为常开端,此时,可以对作为常开端的两个输出端所连的待测试电路进行测试。当需要对作为常闭端的两个输出端所连的待测试电路进行测试时,可以向开关元件Q发送一个高电平信号,使得开关元件Q导通,线圈控制两个输入端发生变化,使得作为常闭端的两个输出端转换为常开端,作为常开端的两个输出端转换为常闭端,进而实现对不同输出引脚所连的待测试电路的测试。这里值得说明的是,当衔铁开关为单刀单掷开关、单刀双掷开关以及双刀单掷开关时,仅需要改变对应的输入引脚和输出引脚的数量,其余结构可以参考上述双刀双掷开关的结构,也可以是其他结构,对此,本实用新型不再赘述。
该示例下,为了保证控制模块100的使用率,在一个示例中,如图7所示,本实用新型实施例提供的控制电路121还可以包括第一二极管D2,第一二极管D2的正极与线圈的负极连接,第一二极管D2的负极与线圈的正极连接。第一二极管D2与线圈的正极以及负极连接,以形成一个泄放回路,从而对电压进行泄放,即当线圈的正极与负极之间的电压大于线圈的耐压值时,线圈能够根据自身的阻抗通过泄放回路消耗电压,从而对线圈正极的电压进行泄放,以在电源引脚1的输入电压过大时,防止线圈损坏,进而延长了线圈的使用寿命,以延长控制模块100的使用寿命,提高了控制模块100的使用率。
在另一个示例中,继电器电路120可以是光耦继电器电路。控制元件1211可以为发光元件,发光元件的一端与电源引脚1连接,发光元件的另一端与接地引脚4连接。受控元件1221可以为光敏元件,发光元件与光敏元件对应设置,光敏元件的一端与输入引脚2连接,光敏元件的另一端与输出引脚3连接。该示例下,当开关元件Q导通时,发光元件发光,并会向光敏元件发射光线,使得光敏元件导通;当开关元件Q关断时,发光元件不发光,光敏元件关断。如此,通过控制开关元件Q的通断,以控制发光元件发光的亮灭状态,进而控制光敏元件的通断,从而实现对与各个引脚相连的待测试电路/元器件的通断的控制,从而使得控制模块100能够实现对外围电路的测试。且,光耦继电器电路的体积较小,重量更轻,利于控制模块100的轻薄化发展。
可选的,发光元件可以是发光二极管(Light Emitting Diode,LED)。
本实用新型实施例还提供一种测试电路,包括上述任一可选方式所述的控制模块。这里,值得说明的是,测试电路可以是集成电路的测试电路及其他需要进行测试的电路,对此,本实用新型不做具体的限制。
应当理解,当在本实用新型说明书和所附权利要求书中使用时,术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在,但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解,在本实用新型说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合,并且包括这些组合。
另外,在本实用新型说明书和所附权利要求书的描述中,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本实用新型说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本实用新型的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此,在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例,而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”,除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”,除非是以其他方式另外特别强调。
以上所述实施例仅用以说明本实用新型的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种控制模块,其特征在于,包括:
电路板,至少具有电源引脚、输入引脚、输出引脚以及接地引脚,所述电源引脚、所述输入引脚、所述输出引脚以及所述接地引脚间隔设置,所述电源引脚用于接入电源,所述输出引脚用于与外围电路连接,所述接地引脚用于接地;
继电器电路,包括电磁继电器电路以及光耦继电器电路中的一种,设置于所述电路板上,电磁继电器电路以及光耦继电器电路中的一种与所述电源引脚、所述输入引脚、所述输出引脚以及所述接地引脚连接,所述继电器电路用于控制所述输入引脚与所述输出引脚之间的通断。
2.根据权利要求1所述的控制模块,其特征在于,所述继电器电路包括控制电路以及受控电路;
所述控制电路包括控制元件,所述控制元件串联接入所述电源引脚以及所述接地引脚之间;
所述受控电路包括受控元件,所述受控元件串联接入所述输入引脚以及所述输出引脚之间;
其中,所述控制元件用于控制所述受控元件的通断,所述控制元件和所述受控元件构成所述电磁继电器电路以及所述光耦继电器电路中的一种。
3.根据权利要求2所述的控制模块,其特征在于,所述电路板还具有控制引脚,所述控制引脚与所述电源引脚、所述输入引脚、所述输出引脚以及所述接地引脚间隔设置,所述控制电路还包括:
开关电路,所述开关电路与所述控制元件串联接入所述电源引脚以及所述接地引脚之间,所述开关电路的受控端与所述控制引脚连接,用于根据所述控制引脚接入的控制信号,控制所述控制电路的通断。
4.根据权利要求3所述的控制模块,其特征在于,所述开关电路包括:
开关元件,所述开关元件与所述控制元件串联接入所述电源引脚以及所述接地引脚之间,所述开关元件的受控端与所述控制引脚连接;
第一电阻,所述第一电阻的第一端与所述开关元件的受控端连接,所述第一电阻的第二端与所述开关元件的输出端连接。
5.根据权利要求4所述的控制模块,其特征在于,所述开关元件包括三极管以及场效应管中的一种。
6.根据权利要求4所述的控制模块,其特征在于,所述继电器电路还包括第二电阻以及发光二极管,所述第二电阻与所述发光二极管串联接入所述电源引脚以及所述开关元件的输入端之间,所述发光二极管用于在所述开关元件导通时发光,以指示所述开关电路导通。
7.根据权利要求2-6任一项所述的控制模块,其特征在于,所述继电器电路包括所述电磁继电器电路;
所述控制元件为线圈,所述线圈串联接入所述电源引脚以及所述接地引脚之间;
所述受控元件为衔铁开关,所述衔铁开关与所述线圈对应设置,所述衔铁开关串联接入所述输入引脚以及所述输出引脚之间。
8.根据权利要求7所述的控制模块,其特征在于,所述控制电路还包括:
第一二极管,所述第一二极管的正极与所述线圈的负极连接,所述第一二极管的负极与所述线圈的正极连接。
9.根据权利要求8所述的控制模块,其特征在于,所述衔铁开关至少包括单刀单掷开关、单刀双掷开关、双刀单掷开关以及双刀双掷开关中的一种。
10.一种测试电路,其特征在于,包括如权利要求1-9任一项所述的控制模块。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202321947932.8U CN220305456U (zh) | 2023-07-24 | 2023-07-24 | 一种控制模块和测试电路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202321947932.8U CN220305456U (zh) | 2023-07-24 | 2023-07-24 | 一种控制模块和测试电路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN220305456U true CN220305456U (zh) | 2024-01-05 |
Family
ID=89345292
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202321947932.8U Active CN220305456U (zh) | 2023-07-24 | 2023-07-24 | 一种控制模块和测试电路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN220305456U (zh) |
-
2023
- 2023-07-24 CN CN202321947932.8U patent/CN220305456U/zh active Active
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Date | Code | Title | Description |
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GR01 | Patent grant | ||
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